正畸投影测量课件.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,X,线头影测量是测量,X,线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,X,线头影测量的主要应用,1、研究颅面生长发育,2、牙颌、颅面畸形的诊断分析,3、确定错合畸形的矫治设计,4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化,5、外科正畸的诊断和矫治设计,常用的,x,线头影测量标志点,7,7,3,8,常用的基准平面,1,前颅底平面,2,眼耳平面,3Bolton,平面,常用的测量平面,1,颅底平面,2,腭平面,3,合平面,1,下颌角点与颏顶点间的连线,(Go-Gn),2,通过颏下点与下颌下缘相切的线条,3,下颌下缘最低部的切线,1,下颌升枝平面,2Y,轴,3,面平面,常用的硬组织测量项目,SNA,角,SNB,角,ANB,角,面角,21,Y,轴角,下颌平面角,颌凸角,上颌长,翼上颌裂,-,蝶鞍点,下颌长,髁突后切线,_,蝶鞍点,上中切牙角,下中切牙角,上中切牙凸距,上中切牙凸距,下中切牙凸距,下中切牙凸距,1,全面高,2,上面高,3,下面高,Downs分析法,谢 谢,!,