PART-3-相图测量方法-相图计算与扩散动力学模拟及其应用实例教学.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,*,PART 3 相图测量方法,相图测定原理,相图测定就是通过实验测量和观察来确定材料中的相平衡关系，并绘制出相图的科学研究。在相图中，每一个相区对应于材料一定的平衡组织状态。,当材料跨越不同的相区时，就会出现组织状态的变化，或者出现新相或者旧相消失。该过程所伴随的物理、化学性质的变化，利用这种变化就可以测定出材料的相平衡关系。,相图测定方法,相图测定方法,动态法,静态法,热分析法,高温动态相分析法,高温物性分析法,合金相分析法,扩散偶微区,分析法,X射线衍射,透射电子衍射,中子衍射,电子背散射衍射,电子探针,电子背散射衍射,纳米刻痕,。,高温金相显微镜,高温X射线衍射,。,动态电阻法,光学显微镜,电子显微镜,热膨胀法,。,示差扫描量热法,热重分析法,差热分析法,相图测定方法选用,实测相图结果的准确度与所使用的方法及仪器本身的精度有密切关系。一种方法可能适合这个体系而不适合另外的体系。选用相图测量方法时必须综合考虑在相变过程中所测量的性质的变化大小和仪器对这一变化的灵敏程度。用的最普遍的是：动态法中的热分析法，与静态法中的合金法、扩散偶法,差热分析法DTA,以一个在整个测定温度范围内无相变的物质作为参考物而在等时距内测定随温度的变化参比物的温度与待测物的温度之差的变化。当无相变发生时，该曲线应为一相应于水平线波动很小的曲线；当发生相变时，则会在此曲线上产生一个明显的峰。当然为了更好地反映相变发生的真实情况，现代的DTA分析仪一般都使用计算机控制加热或者冷却，且将无相变时的曲线形状经过技术处理后尽可能地使之成为一水平线。这种方法不公适用于金属材料相图的研究，而且在陶瓷材料相图的测定中也有相当重要的地位。,一般说来，参比物的选择原则为：金属中选用Pt，在陶瓷中选用Al2O3。但是现代研究方法中是根据体系的特征来选用参比物的；而且还可以选用与待测物成分相近的已知性质的物质作为参比物，这在较精确地测定某体系的相变温度时有其特别的作用。,测温电偶的位置对于相变开始温度的决定有很大的影响。若测温测得的是样品表面温度，则应选初始偏离点；若测定的是样品中心的温度，则选峰值温度；若测得的是平均温度，则实际平衡反应温度即不是初始偏离温度，也不是峰值温度。一般取曲线的底线的切线与相邻的峰值一边的切线的交点，作为相变点。（二元体系相图）,差分扫描量热法(DSC),Differential Scanning Calorimetry)，这种方法中较常用是补偿功率-时间曲线(,W-t)，在动力学研究中应用较广。这类曲线与前几种曲线有质的差别，它不是记录温度或温度的派生量，而是记录的为保证试样和参比样温度恒等所必须提供的补偿功率。但是其曲线形式与前几种是相类似的，即曲线发生明显偏离的点对应于某一相变点。从这类曲线上不仅可以观察到相变的个数和相变温度，也可以由对应的反应峰面积通过计算机计算该反应的相变热。,热重分析DGA,现代热分析装置上一般都带有热分析天平以测定重量随温度或时间的变化，用以探明物质参与某一反应时所发生的重量变迁，从而测得相变点。这种方法在带有气体的相变研究中有重要的地位。如：陶瓷材料的氧含量，高温腐蚀过程中的相变。,合金法,将不同成分的合金样品在一定温度长时间保温后淬火至室温，将高温相组织“冻结”到低温，然后通过相鉴定，确定该成分合金在该温度下的相组成，从而测定相图的方法。合金法的关键是一方面要有足够的冷却速度，另一方面，要选择合适的相分析方法。目前，最常用的相分析方法主要的相鉴定方法有：x射线衍射、电子衍射辅助方法有金相、扫描电镜、能谱、电子探针等。,粉末X 射线相鉴别的原理,粉末X射线照射时样品不断转动。由于样品中粉末晶体取向的完全无规则性，总有一些晶面的取向相对于入射方向符合布拉格条件而产生衍射，用两倍于样品转速的X射线测角仪记录下来就成为X射线衍射谱。衍射谱的峰的位置与强度与相的晶面间距和相含量成一一对应，因此分析衍射谱我们就可以确定样品中的相组成和相含量。,实际上直接由粉末X射线衍射谱确定相含量时，各相体积分数必须高于5%，否则很难将衍射峰与背底区分开。为了精确测定相区边界，应选用射线点阵常数法。,粉末X 射线相鉴别光源选择,在粉末法中，为了获得清晰的衍射花样，要求选择合适的入射波长。在晶体结构复杂时，衍射线条的分辨率愈高愈好，这就要求入射线的波长较长。一般常用的阳极靶是Mo、Cu、Ni、Co、Fe、Cr的K,射线，其波长依次递增。当然，对于多数元素而言，对Cu的K,线吸收较小，背底较淡而线条较清晰。但是必须注意样品中所含元素的原子吸收系数，例如，样品中所含主要元素为V或Cr时，对CuK,、NiK,、CoK,和FeK,的吸收率高，这将使背底加重而使衍射线的分辨困难，而选MoK,时产生的线条往往很密集，因此只能选CrK,作光源。,电子探针微区成分分析法,电子探针分析方法可用以研究非均匀物质的局部成分和结构，包括合金、薄膜、矿石、陶瓷、生物样品等。这是以X射线光谱化学分析和电子显微技术两部分为背景而发展起来的。原理是用一束充分聚焦的电子束打在样品的表面上而量度其受照面积所发生的标识辐射或电子。从标识X射线用X射线分光计可定性的或定量的测定该局部区(如沉积物、扩散区等)的化学成分；从背散射电子用扫描电子显微镜可测定该区物理形貌。在相图的测定方面，基于两相局部平衡概念可以得到两局部平衡相的局部平衡成分。,扩散偶法原理,位于稳态扩散界面两端的两相处于局部平衡。测量界面两边的成分就等于测定出了两相的结线端点成分。根据相律三元扩散偶中只有单相区存在。只要试样制备得足够好，扩散热处理充分，各相长大到电子探针能分析的程度，就足以在一个试样上测定出每一组结线，即获得三元相图等温截面的全部数据。,扩散后组织照片,扩散后的组织示意图与相图,