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半导体测试设备监控系统.doc

上传人:xrp****65 文档编号:7685034 上传时间:2025-01-12 格式:DOC 页数:1 大小:20KB 下载积分:10 金币
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资源描述
半导体测试设备监控系统 单 位:东南大学 地 址:南京市四牌楼2号 邮 编:210096 联 系 人:张志胜 电 话:13776677949 成果简介: 该项目获省科技支撑计划支持,以.NET Remoting 、数据库等技术开发了一套生产监控系统,解决了某半导体测试分厂生产效率停滞不前的技术瓶颈。 技术特点:采用三层客户机/服务器(C/S)架构。三层客户机/服务器体系结构通常指表现层,逻辑层和数据层:其中表现层给用户提供一个可视化界面;逻辑层是表现层和数据层的桥梁,它响应界面层的用户请求,执行任务并从数据层获取数据,然后将必要的数据传送给表现层;数据层主要包括数据层定义、维护数据的完整性、安全性,它响应逻辑层的请求,访问数据。 成熟程度:研制阶段。 合作方式:合作开发、技术服务等。
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