JJF 1516-2015 非铁磁金属电导率样(标)块校准规范-（高清版）.pdf

中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 5 1 62 0 1 5非铁磁金属电导率样(标)块校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rE l e c t r i c a lC o n d u c t i v i t yS t a n d a r d so fN o n f e r r o u sM e t a l s 2 0 1 5-0 2-0 9发布2 0 1 5-0 5-0 9实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布非铁磁金属电导率样(标)块校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rE l e c t r i c a lC o n d u c t i v i t yS t a n d a r d so fN o n f e r r o u sM e t a l sJ J F1 5 1 62 0 1 5 归 口 单 位:全国电磁计量技术委员会 主要起草单位:中国计量科学研究院 参加起草单位:北京长城计量测试技术研究所北京东方计量测试研究所 本规范委托全国电磁计量技术委员会负责解释J J F1 5 1 62 0 1 5本规范主要起草人:郑联英(中国计量科学研究院)刘 钺(中国计量科学研究院)赵洪刚(中国计量科学研究院)参加起草人:欧阳普忠(北京长城计量测试技术研究所)潘 攀(北京东方计量测试研究所)J J F1 5 1 62 0 1 5目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)3.1 国际退火铜标准(I A C S)(1)4 概述(2)5 计量特性(2)6 校准条件(3)6.1 环境条件(3)6.2 测量标准及其他设备(3)7 校准项目和校准方法(3)7.1 校准前检查(3)7.2 校准原理(3)7.3 校准方法(4)8 校准结果表达(6)9 复校时间间隔(7)附录A 测量不确定度评定示例(8)附录B 非铁磁金属电导率基准样块直流定值系统(1 2)附录C 校准原始记录格式(1 4)附录D 校准证书内页格式(1 6)J J F1 5 1 62 0 1 5引 言 本规范依据J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则、J J F1 0 5 9.12 0 1 2 测量不确定度评定与表示编制。本规范参照以下国际标准相关规定:A S TMB 1 9 3导电材料电阻率测量方法(S t a n d a r dT e s tM e t h o df o rR e s i s t i v i t yo fE l e c t r i c a lC o n d u c t o rM a t e r i a l s)A S TM E1 0 0 4-0 9涡流法测定材料电导率 S t a n d a r dT e s tM e t h o df o rD e t e r m i n i n gE l e c t r i c a lC o n d u c t i v i t yU s i n gt h eE l e c t r o m a g n e t i c(E d d y-C u r r e n t)M e t h o dE N2 0 0 4-7 航空航天系列测试方法之铝及铝合金产品 第7部分:铝及铝合金电导率测量设备校准用标准样块(A e r o s p a c es e r i e st e s tm e t h o df o ra l u m i n u ma n da l u m i-n u ma l l o yp r o d u c t sP a r t 7:R e f e r e n c eb l o c k s f o r t h ec a l i b r a t i o no fm e a s u r i n ge q u i p m e n tu s e d i nt h ed e t e r m i n a t i o no fe l e c t r i c a l c o n d u c t i v i t yo fw r o u g h ta l u m i n u ma n da l u m i n u ma l l o y s)本规范为首次发布。J J F1 5 1 62 0 1 5非铁磁金属电导率样(标)块校准规范1 范围本规范适用于校准非铁磁金属(合金)电导率样(标)块(以下简称样块),校准的电导率范围为0.5%I A C S1 0 1%I A C S或者0.3M S/m5 8.6M S/m。2 引用文件本规范引用了下列文件:A S TM E 1 0 0 4-0 9 涡 流 法 测 定 材 料 电 导 率 S t a n d a r d T e s t M e t h o d f o rD e t e r m i n i n gE l e c t r i c a lC o n d u c t i v i t yU s i n g t h eE l e c t r o m a g n e t i c(E d d y-C u r r e n t)M e t h o dA S TMB 1 9 3-0 2(R e a p p r o v e d2 0 0 8)导电材料电阻率测量方法(S t a n d a r dT e s tM e t h o df o rR e s i s t i v i t yo fE l e c t r i c a lC o n d u c t o rM a t e r i a l s)E N2 0 0 4-7 航空航天系列测试方法之铝及铝合金产品 第7部分:铝及铝合金电导率测量设备校准用标准样块(A e r o s p a c es e r i e st e s tm e t h o df o ra l u m i n u ma n da l u m i-n u ma l l o yp r o d u c t sP a r t 7:R e f e r e n c eb l o c k s f o r t h ec a l i b r a t i o no fm e a s u r i n ge q u i p m e n tu s e d i nt h ed e t e r m i n a t i o no fe l e c t r i c a l c o n d u c t i v i t yo fw r o u g h ta l u m i n u ma n da l u m i n u ma l l o y s)凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3 术语和计量单位3.1 国际退火铜标准(I A C S)在温度为2 0时,当均匀横截面S为1mm2,长度为1m的铜线具有的电阻R为(1/5 8)时,规定为1 0 0%I A C S,计算公式如式(1):=1=1S1R(1)式中:电导率,S/m;电阻率,m;S 铜线横截面,mm2;R 电阻,。因此根据定义1 0 0%I A C S=1m1mm21(1/5 8)=5 8m/(mm2)=5 8M S/m则 1M S/m=1 0 05 8%I A C S1.7 2 41 3%I A C S1J J F1 5 1 62 0 1 54 概述电导率样块,广泛应用于航空航天、冶金、机械及电子等工业部门,选用非铁磁金属材料,例如铜、铝、钛以及它们与其他非铁磁材料的合金,主要用于校准低级样块及校准涡流电导率设备。样块一般为圆形与方形,如图1,几何尺寸应不小于3 0mm3 0mm或3 0mm,厚度不小于5mm。图1 非铁磁金属电导率样块形状电导率样块通常分为基准样块、二级样块及工作样块。基准样块是由国家标准实验室或经过认证的实验室保存,溯源至电学基本量,用于相应的二级样块校准。二级样块是由国家实验室或经过认证的实验室根据基准样块校准过的,用于工作样块的校准。工作样块是经校准过的涡流电导率设备校准的,用于日常电导率仪的测量。5 计量特性非铁磁金属电导率样(标)块电导率计量特性见表1。表1 非铁磁金属电导率样(标)块电导率计量特性样块等级标称范围标称值不确定度基准样块(0.5%I A C S1 0 1%I A C S)0.0 5%二级样块大于1 0 0%I A C S0.5 0%I A C S3 5%I A C S1 0 0%I A C S0.3 5%I A C S1%I A C S3 5%I A C S1.0%小于1%I A C S2.0%工作样块大于1 0 0%I A C S1.0 0%I A C S3 5%I A C S1 0 0%I A C S0.7 0%I A C S1%I A C S3 5%I A C S2.0%小于1%I A C S4.0%2J J F1 5 1 62 0 1 56 校准条件6.1 环境条件a)环境温度:1 82 2;b)相对湿度:3 0%7 5%;c)校准系统周围无明显电磁场干扰。6.2 测量标准及其他设备6.2.1 标准样块a)低端曲线拟合时,电导率值小于或等于2 4%I A C S的低值标准样块不少于5块;b)高端曲线拟合时,电导率值大于或等于2 4%I A C S的高值标准样块不少于9块。6.2.2 油槽油槽控温精度2 00.0 5,工作介质为性能稳定的绝缘油。6.2.3 阻抗电桥a)电阻测量范围:11k,频率范围:1 0k H z 5 0 0k H z;b)电桥不确定度优于0.0 5%。6.2.4 测量探头a)线圈平均直径6mm;b)频率为1k H z时,在空气(油中)的电感量约为2mH,电阻范围为2 02 5。6.2.5 涡流电导率仪a)测量不确定度小于0.5%,分辨率优于0.0 1%I A C S;b)重复性优于0.3%I A C S或者0.1 7 M S/m,3 0m i n内稳定性优于0.3%I A C S或者0.1 7M S/m。7 校准项目和校准方法7.1 校准前检查7.1.1 样块外观完好,无机械损伤,测量平面清洁,无划痕,无非导电膜层及氧化层。7.1.2 样块具有清晰标记,如型号、编号、制造厂及电导率标称值等。7.2 校准原理7.2.1 曲线拟合法样块形状与测量频率确定后,放置样块上的探头测得的阻抗与样块电导率相关,因此可通过测得的阻抗与样块的电导率进行曲线拟合。测量原理:探头线圈由阻抗电桥提供频率为6 0k H z 5 0 0k H z的激励源,通过线圈产生高频交变磁场并作用于样块上,在样块内产生感应涡流且正比于频率与电导率的乘积,涡流所产生磁场又作用于探头线圈,改变其阻抗(电阻),探头线圈阻抗变化与样块电导率有关,测量结果依据最小二乘法由式(2)得到:l n=A0+A1R+A2(R)2+A3(R)3(2)3J J F1 5 1 62 0 1 5 式中:样块电导率,%I A C S(与S/m换算关系见3);A0 曲线常数项;A1 一次项系数;A2 二次项系数;A3 三次项系数;R 探头线圈电阻变化量,。曲线拟合法测量装置由测量探头、阻抗电桥、油槽及计算机等组成,系统框图见图2。图2 曲线拟合法测量框图曲线在不同范围内斜率变化不同,因此将整个测量量程分成两段,即0.5%I A C S2 4%I A C S与2 4%I A C S1 0 1%I A C S。7.2.2 插值法插值法仅用于工作样块校准,选择2块二级样块,其电导率值范围包含被校样块电导率值且数值尽量接近。校准时利用涡流电导率仪对二级样块依次测量后再对被校样块进行测量,测量结果可由式(3)计算得到:x=s 1+s 2-s 1c 2-c 10-c 1()(3)式中:x 被校样块的电导率校准结果,I A C S;s 1 低端基准样块电导率标称值,I A C S;s 2 高端基准样块电导率标称值,I A C S;0 涡流电导率测量设备测定的被校样块电导率值,I A C S;c 1 涡流电导率测量设备测定的低端二级样块电导率值,I A C S;c 2 涡流电导率测量设备测定的高端二级样块电导率值,I A C S。7.3 校准方法7.3.1 曲线拟合法7.3.1.1 系统自校准a)开启油槽,调整温度,使油槽温度稳定在2 00.0 5。b)将自校用基准样块(不少于1 3块,其中电导率范围为0.5%I A C S2 4%I A C S时选用低值不少于5块样块,电导率范围为2 4%I A C S1 0 1%I A C S时选用高值不少于9块样块)(定值方法见附录B)及测量探头置于油槽中(被校样块同时放入),恒温至少3 0m i n。c)设置阻抗电桥工作方式为串行方式电阻测量功能,电导率范围为0.5%I A C S2 4%I A C S时频率设置为1 5 0k H z(或其他频率);电导率范围为2 4%I A C S1 0 1%I A C S4J J F1 5 1 62 0 1 5时频率设置为6 0k H z(或其他频率)。d)测定探头零位电阻R0(油槽中探头线圈不放在样块上时阻抗电桥测得的电阻)。e)将第1块样块轻放在托盘上,将探头轻放在样块正面中心部位,读取阻抗电桥测定的探头线圈的电阻测量值R1 1(第一块基准样块正面电阻)。f)完成R1 1测定后将基准样块翻面,重复d),读取阻抗电桥测定的探头线圈在基准样块反面上的视在电阻R1 2。g)完成第1块样块测量后,将其从托盘挪回原来位置,选择第2块样块轻放在托盘上,重复e)、f)可由阻抗电桥测量探头线圈在其余基准样块正反面上的视在电阻R2 1,R2 2,Ri1,Ri2(i5或9),并计算其平均值R1=R1 1+R1 22,Ri=Ri1+Ri22,以及探头线圈电阻变化量R1=(R1-R0),R2=(R2-R0),Ri=(Ri-R0)。h)利用探头线圈电阻变化量R1,Ri及样块的电导率的相关性进行3次方曲线拟合,依据式(2)得到多项式各系数,并计算出各基准样块交流传递所得的电导率值及其与标准值(直流定值)的差值,根据各个差值可得曲线拟合的标准偏差,至此装置自校准结束,得到的曲线示例见图3。(a)高端曲线拟合结果(b)低端曲线拟合结果图3 曲线示例5J J F1 5 1 62 0 1 5i)检查校准曲线的不确定度若拟合标准偏差0.0 8%I A C S(低端曲线拟合标准偏差0.0 5%I A C S),则自校准有效,否则分析原因,排除干扰重新自校。7.3.1.2 样块校准a)样块须提前放置油槽中,恒温至少3 0m i n,将被校样块轻放在托盘上,探头轻放在样块正面中心部位,参照自校准中的d)测量被校样块的电阻值Rx,重复测量6次以上,计算其平均值Rx。b)计算Rx=(Rx-R0),并代入式(2)计算出被校样块电导率x。c)根据附录A评定测量不确定度。7.3.2 插值法7.3.2.1 系统自校准a)涡流电导率仪、仪器附带自校样块以及二级样块置于同一恒温环境中,设备开机预热至少3 0m i n。b)利用仪器附带自校样块对电导率仪进行自校,检查设备是否正常工作。c)选取两块二级样块,将设备探头轻置于与二级样块测试面中心部位,利用电导率仪对二级样块进行测量,读取显示值c1、c2。7.3.2.2 被校样块的校准a)被校样块置于与系统自校准相同的恒温环境中,恒温3 0m i n以上。b)将设备探头轻放于被校样块测试面中心,用电导率仪测量被校样块的电导率,重复测量1 0次以上,得其平均值0。c)利用测得的数据按照式(3)计算被校样块的电导率。d)根据附录A评定测量不确定度。8 校准结果表达校准结果应在校准证书(报告)上反应,校准证书(报告)应至少包括以下信息:a)标题,如“校准证书”;b)实验室名称和地址;c)进行校准的地点(如果与实验室的地址不同);d)证书或报告的唯一性标识(如编号),每页及总页数的标识;e)客户的名称和地址;f)被校对象的描述和明确标识;g)进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和有关时,应说明被校对象的接收日期;h)如果与校准结果的有效性和应用有关时,应对被校样品的抽样程序进行说明;i)对校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;j)本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;k)校准环境的描述;l)校准结果及其测量不确定度的说明;6J J F1 5 1 62 0 1 5m)对校准规范的偏离的说明;n)校准证书和校准报告签发人的签名、职务或等效标识;o)校准结果仅对被校对象有效的声明;p)未经实验室书面批准,不得部分复制证书或报告的声明。校准原始记录格式见附录C,校准证书内页格式见附录E。9 复校时间间隔建议复校时间间隔为1年。送校单位也可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。7J J F1 5 1 62 0 1 5附录A测量不确定度评定示例A.1 曲线拟合法测量不确定度评定系统曲线拟合校准的不确定度由曲线拟合、被校样块阻抗测量不确定度及样块测量重复性组成。A.1.1 曲线拟合不确定度分析曲线拟合的不确定度包含了基准样块定值不确定度与曲线拟合标准偏差组成,具体分析如下。A.1.1.1 基准样块定值不确定度(定值方法见附录B)基准样块定值不确定度由系统不确定度、样块厚度测量不确定度、样块温升残差及测控温误差组成。a)直流测量系统不确定度非铁磁金属电导率直流测量系统完成基准样块定值,系统由数字电压表D VM1、D VM2、直流恒流源、标准电阻器及油槽等组成,系统框图如图A.1。图A.1 非铁磁金属电导率直流测量系统框图D VM1是一台带有数字滤波功能的高准确度纳伏计,在1mV挡上的测量不确定度优于71 0-5,电压范围3 0V5 0 0V测量不确定度优于1.21 0-4。D VM2为一台数字电压表,电压范围1 0mV2 0mV,测量不确定度优于11 0-5。直流恒流源为交叉电导率标块提供0A2 0A的输入(测量)电流,在3 0m i n内漂移小于(13)1 0-4。在测量过程中,由D VM2读数及标准电阻器电阻值来精密确定电流源供出电流的大小,实际上只要求在D VM1及D VM2二次读数(采样)时间内电流值稳定即可(即并非需要准确的电流值),因为电阻器与标块是串联连接的,它们中流过同一的电流。一般地,这段时间小于1m s,故电流漂移可以忽略。标准电阻器标准值为0.0 0 1,其不确定度优于1.01 0-5,电阻器温度系数约为t=5.41 0-6/,测量时电阻器置于恒温油槽中,因此电阻器温升引入的不确定度可忽略。因此系统不确定度分量及合成标准不确定度uc(S)见表A.1。8J J F1 5 1 62 0 1 5表A.1 电导率直流测量系统的不确定度来源及综合序 号不确定度分类来源不确定度分量1D VM11.21 0-42D VM21.01 0-53电阻器1.01 0-54恒流源可忽略5电阻器温升可忽略合成标准不确定度:ucS()=1.22+0.12+0.121 0-4=1.21 0-4 b)样块厚度测量不确定度标块电导率的计算与其厚度密切相关,厚度测量由相关专业机构测得。标块平均厚度为(47)mm,厚度测量标准差小于0.7 5m,取有限次数(n1 0)测量平均值作为厚度测量结果,则厚度测量的标准不确定度小于1.01 0-4。c)样块温升残差引入不确定度标块温升的原因主要不是因为自身发热,因为标块自身的电阻(不计接线柱与标块接触电阻)最大的是T i标块,约1 0,其他材料标块(如C u、A l等)自身电阻仅为1左右。加热功率小于1mW且油槽中的油是流动的故不致产生明显的温升。由于电流引线自身有一定电阻以及连接处(导电柱与标块及导电柱与电流引线)的接触电阻可能达到m量级,远远大于标块本身电阻,因而在通过1 0A或者2 0A电流时,导线发热,导电柱也发热,使它的温度略高于油温2 0,从而引起温升。对温升结果进行了修正(即更正至2 0时的标准值),残差应小于0.0 4,根据标块温度系数可估计其引入不确定度为0.0 0 4-10.0 4=1.61 0-4。d)测控温影响由于标块电导率的温度系数较大(约41 0-3-1),受温度影响较大,故标块电导率测量必须在控温油槽中进行。油槽工作区内控温精度及温度梯度应达到0.0 1及0.0 2,这样由于控温精度(0.0 1)与温度梯度(0.0 2)引起的标块电导率测量误差分别为41 0-5与81 0-5,由它们引入的不确定度小于11 0-4。因此样块电导率的直流测定不确定度分量及合成标准不确定度uc(S)见表A.2。表A.2 基准样块电导率直流测定的误差来源及综合序号误差来源不确定度分量备 注1样块几何影响1.01 0-4厚度不确定度2直流测量系统1.21 0-4见表A.13样块温升残差1.61 0-4修正后,残差0.0 44测控温影响1.01 0-4温度梯度0.0 2,温度计示值误差0.0 1合成标准不确定度:uc(S)=12+1.22+1.62+121 0-4=2.51 0-49J J F1 5 1 62 0 1 5A.1.1.2 曲线拟合标准偏差曲线拟合标准偏差包括了测量系统的短期漂移影响及间隙效应的影响,对于高端曲线拟合标准偏差应0.0 8%I A C S,低端曲线拟合标准偏差应0.0 5%I A C S,因此由曲线拟合引入的不确定度分量可估计成高端为0.2 0%I A C S,低端为0.1 0%I A C S。由于每块样块因为电导率值不同不确定度也不同,曲线拟合时,电导率值大的样块对不确定度贡献较大,样块电导率值越小贡献也越小,因此曲线拟合的总不确定度针对高值曲线拟合u(H)与低值曲线拟合u(L)可用式(A.1)和式(A.2)表示:u H()=0.2 0%I A C Sx1 0 0(A.1)u L()=0.1 0%I A C Sx2 4(A.2)A.1.2 被校样块阻抗测量不确定度被校样块阻抗直接由R L C电桥(不确定度为0.0 5%)测得,再由式(2)计算得到,因此由阻抗测量不确定度引入的电导率结果不确定度可按式(A.3)计算(忽略高次项):u()=R()uR()=(l n)(R)uR()A1 uR()(A.3)式中|A1|数值范围为(0.0 30.1 6),取值0.2 0,则ux()0.2 0 xu R()=0.2 00.0 5%x=0.0 1%xA.1.3 被校样块测量重复性相同测量条件下对被校样块重复测量1 0次得到标准偏差作为A类标准不确定度u(r)。综上所述,系统曲线拟合法校准被校样块电导率的结果的不确定度由式(A.4)、(A.5)得到:(2 41 0 0)%I A C S电导率高量程时测量装置的总不确定度为:ucH()=u(H)2+u2x()+u2r()=0.2 0%I A C Sx1 0 02+0.0 1%x()2+u2r()(k=2)(A.4)(12 4)%I A C S电导率低量程时测量装置的总不确定度为:ucL()=u L()2+u2x()+u2r()=0.1 0%I A C Sx2 42+0.0 1%x()2+u2r()(k=2)(A.5)A.2 插值法不确定度分析被校样块电导率测量结果按式(3)得到,s0、s1、s2为同一台涡流电导率测量设备测得,所以它们存在负强相关性,从而c0的测量结果不确定度可由基准样块标准值(c1、c2)的不确定度、涡流设备测量(s0、s1、s2)的不确定度以及c0的测量重复性合成。因此c0测量结果不确定度如式(A.6):01J J F1 5 1 62 0 1 5uc()=u2s 1()+u20()+u2c 1()-2u0()uc 1()0-c 1()2+u2c 2()+u2c 1()-2uc 2()uc 1()c 2-c 1()2+u2r()(A.6)式中:u(s 1)基准样块的不确定度;u(0)s0的测量不确定度;u(c 1)s1的测量不确定度;u(c 2)s2的测量不确定度;u(r)被校样块的重复性引入的不确定度。11J J F1 5 1 62 0 1 5附录B非铁磁金属电导率基准样块直流定值系统样块电导率的直流测定其原理图如图B.1所示。图B.1 电导率直流测定原理图全部测量设备置于(2 02)的环境中,油槽温度调准到(2 0.0 00.0 0 5),D VM1、D VM2开机预热稳定时间4h以上,基准样块及标准电阻器浸没在油槽中。为了降低基准样块发热温升,在爪的4个接线孔上安装了四根直径约1 0mm长为4 0mm的紫(纯)铜接线柱兼起散热器作用。测量前(I=0),将D VM1、D VM2清零并观察其零位变化,当稳定后调节电流源输出所需电流 根据样块电导率大小选择(1 0 3 0)A电流,分别从D VM1、D VM2读取电压V1,A B及V2,C D,接着将电流降至0A,保持电压回路不变,改变电流输入极性,将电流升至极性变化前的电流值,待D VM1及D VM2显示值稳定后 约(35)m i n再次读取D VM1、D VM2的测量值V1,A B及V2,C D并计算平均电压,见式(B.1)、(B.2):V1=12(|V1,A B|+|V 1,A B|)(B.1)V 1=12(|V2,C D|+|V 2,C D|)(B.2)式中:V1,A B A、B两端的电压值,V;V1,A B 改变电流输入极性后A、B两端的电压值,V;V1 电流输入极性变化前后测得的A、B两端电压平均值,V;V2,C D C、D两端的电压值,V;V2,C D 改变电流输入极性后C、D两端的电压值,V;V1 电流输入极性变化前后测得的C、D两端电压平均值,V。由于采用了电流反向测量方法,平均电压V1及V 1将不受电压回路热电势及纳伏计D VM1、D VM2零位的影响。为了消除基准样块不对称影响,在完成上述测量后,需将基准样块的电流电压端改变位置(即转动9 0 或称交叉),即电流从A、D输入,D VM121J J F1 5 1 62 0 1 5接至B、C两端,重复上述测量操作步骤可得平均电压V2及V2,见式(B.3)、式(B.4):V2=12(|V1,B C|+|V 1,B C|)(B.3)V 2=12(|V2,A D|+|V 2,A D|)(B.4)式中:V1,B C B、C两端的电压值,V;V1,B C 改变电流输入极性后B、C两端的电压值,V;V2 电流输入极性变化前后测得的B、C两端电压平均值,V;V2,A D A、D两端的电压值,V;V2,A D 改变电流输入极性后A、D两端的电压值,V;V2 电流输入极性变化前后测得的A、D两端电压平均值,V。由上述关系式可得式(B.5)、式(B.6):G1=V1V 11Rs(B.5)G2=V2V 21Rs(B.6)式中:G1 交叉测量前样块的电导计算值,S;G2 交叉测量后样块的电导计算值,S;Rs 标准电阻值,。平均电导值可由式(B.7)得到:G=12G1+G2()=12RsV1V 1+V2V 2 (B.7)式中:G 交叉前后电导平均值,S。将式(B.7)代入可得式(B.8):=G0l n 2d=Gl n 2d=12G1l n 2d+G2l n 2d=121+2()(B.8)式中:交叉前后样块电导率平均值,I A C S;1 交叉前样块电导率,I A C S;2 交叉后样块电导率,I A C S;d 样块厚度,m。因此可得到式(B.9):=121+2()=12G1l n 2d+G2l n 2d=12RsV1V 1+V2V 2 l n 2d(B.9)31J J F1 5 1 62 0 1 5附录C校准原始记录格式C.1 非铁磁金属电导率样块校准记录(曲线拟合法)委托方校准日期证书编号器具名称型号规格制造厂准确度等级地点温度 相对湿度%其他依据其他1 测量标准及其他设备 油槽温度主要计量器具名称型号规格编号有效期至2 曲线拟合结果曲线拟合所用标准块编号标准值d c%I A C SR拟合值a c%I A C S曲线拟合频率曲线拟合标准偏差3 校准结果外观:样块电导率示值基本误差编号标称值/%I A C SR/拟合值/%I A C S不确定度校准员:核验员:41J J F1 5 1 62 0 1 5C.2 非铁磁金属电导率样块校准记录(插值法)委托方校准日期证书编号器具名称型号规格制造厂准确度等级地点温度 相对湿度%其他依据其他1 测量标准及其他设备主要计量器具名称型号规格编号有效期至2 插值法校准结果二级样块编号二级样块标准值%I A C S涡流电导率仪测定值%I A C S3 校准结果外观:样块电导率示值基本误差编号标称值/%I A C S测量值/%I A C S不确定度校准员:核验员:51J J F1 5 1 62 0 1 5附录D校准证书内页格式D.1 校准证书第2页格式证书编号校准机构授权说明校准环境条件及地点:温 度地 点相对湿度%其 他校准所依据的技术文件(代号、名称):校准所使用的主要测量标准名 称测量范围不确定度/准确度等级检定/校准证书编号证书有效期至 注:1.仅对加盖“校准专用章”的完整证书负责。2.本证书的校准结果仅对所校准的对象有效。3.未经实验室书面批准,不得部分复印证书。第页 共页61J J F1 5 1 62 0 1 5D.2 校准证书校准结果页格式证书编号校 准 结 果表1 样块电导率编号标称值%I A C S标准值%I A C S误差%I A C S不确定度(k=2)%I A C S说明:1.校准频率:k H z;2.校准探头平均直径:mm;3.校准时试块置于温度为:的油槽中。以下空白校准结果不确定度的评估和表述均符合J J F1 0 5 9的要求。敬告:1.被校准仪器修理后,应立即进行校准。2.在使用过程中,如对被校准仪器的技术指标产生怀疑,请重新校准。3.根据客户要求和校准文件的规定,通常情况下个月校准一次。校 准 员:核 验 员:第页 共页J J F1 5 1 62 0 1 5