耳机检验标准.doc

耳机检验标准
1、目的
为确保耳机的生产、检验工作有序开展，为过程质量控制、例行检验及承认封样提供依据。 2、适用范围
2本标准适用于各种手机耳机。
3、定义
4、结构件检验项目：缺陷：AQL=1.0； 4、外观检验判定标准及包装要求
4.1检验条件：
距离：人眼与被测物表面的距离为25 ~ 35Cm。 检验时间：每件检查总时间不超过3－5 Sec。
位置：检视面与桌面成45°夹角，视线与被检物表面角度在45到90度范围内旋转。
光源和距离：40W*2日光灯下1.5m距离内或40W*1日光灯下1m距离内条件下，目测可见的不良现象认为是缺陷。
4.2 手机产品测量面定义
O级面：手机上显示信息的重要区域，如镜片的透明区和LCD的透明区。
I级面：暴露在外，且正常使用时可直接看到的主要表面，如镜片的非信息显示区、键盘的正面、前壳的正面、后壳的正面、电池盖的正面、翻盖的正反两面。
II级面：暴露在外，且正常使用时并不直接看到的次要表面及手机配件的外表面，如前壳、后壳、电池组件的侧面、侧向按键的正面，天线的外表面，以及手机其它配件（如充电器、耳机等）的外表面。
III 级面：打开后能看到的面（如电池组件的背面、后壳上与电池组件接触面，SIM 卡盒的表面）。 IV级面：拆卸后才能看到的面（零部件的内表面） 4.3 外形尺寸 参考特定项目要求 4.4 包装及外观检验 4.4.1 包装检验 项 目
规 格
检验方法目视 目视 目视 目视 目视 目视
判 定
√ √ √ √ √ √
厂商检查 厂商与BOM不一致
包装方式
外包装无LCTPASS检验章,厂商描述
内包装无法确保材料不受损，未采用封口包装，
小包装的PE袋无LCT料号,品名,规格，数量,QC PASS检验章,厂商描述
内包装损坏，潮湿(或被雨水淋湿)，赃污 外包装卡通箱强度不足保证运输中内包装物品不致损坏
目视 目视
√ √
Plug 生锈，腐蚀，电镀不良
"有箭头、"TOP"、USB符号标示（如"
等）的一面必须对应手机正面能顺利插入，不损坏插头
4.4.2外观检验（耳机检验适用于Ⅱ级测量面）
序号
不良项目
I级测量面
II级测量面
N≤当D≤0.30mm(S≤0.10mm)，
2
Ⅲ级测量面
有颜色对比的点缺陷
1 点 缺 陷
无颜色对比的点缺陷
D≤0.25mm（S≤0.07mm2）， 1； N≤1
, 且当D≤0.25mm（S≤0.05mm）DS≥15mm N≤2
当
D≤0.30mm(S≤
2
2
D≤1.0mm（S≤0.8 mm）, N≤2 ；
2
0.1mm) ,N≤1 ； 当D≤0.25mm（S≤0.05mm）, 且N≤2
2
当D≤0.35mm(S≤0.13 mm2) , N≤1 ；
, 且当D≤0.30mm（S≤0.07mm）DS≥15mm N≤2
2
注：当点缺陷的直径≤0.10mm且DS≥2mm时可忽略不计。
D≤0.35mm (S≤0.1 mm2), N≤1；
2
硬划痕（碰伤）
L≤0.5mm，W≤0.2 mm，N≤1 （S≤0.1mm）
2
2
D≤1.0mm(S≤D≤0.4mm (S≤0.13mm), N≤1；
0.80mm), N≤2；L≤4mm，W≤0.2 mm，N≤2（S≤0.8mm） L≤10mm，W≤0.1mm，N≤2（S≤1.0 mm） H≤0.20mm且不影响装配 不限 不限 不限 不限 不限 不限
不影响装配和功能时不限 不限
22
2
L≤0.8mm，W≤0.2 mm，N≤1 （S≤0.16mm2）
3 细划痕
L≤3mm，W≤0.1mm ，N≤1（S≤0.3 mm） 不允许 参照限度样品 参照限度样品 参照限度样品 参照图纸要求 不允许 不允许 不允许
2
L≤5mm，W≤0.1mm ,N≤1 （S≤0.5 mm2）
H≤0.10mm且不影响装配 参照限度样品 参照限度样品 参照限度样品 参照图纸要求 不允许 不允许 不允许
4 5 6 7 8 9 10 11 12
飞边 缩水 熔接线 边拖花 翘曲 色差 顶白/顶凸 填充不足 银条/流纹/烧焦等
参照限度样品或ΔE ≤1时合格
注：点缺陷包括异色点、杂质、亮斑（点）等呈现点形状的缺陷。
5、电气性能参数
参考承认书或《免提耳机电气规范》 6、可靠性要求
耳机可靠性测试要求
判定标准
结构、功能、外观正常 功能正常 功能正常 功能和外观正常 功能正常
通话及播放音质正常 功能正常
外露金属部分不允许生锈、腐蚀，功能正常 功能正常 功能正常 功能正常
印刷完整，无退色 百格：脱落面积≦10%不露底材
Item 测试项目 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
插座插拔测试 导线疲劳弯曲强度测试 导线抗急拉伸强度测试 跌落测试 振动测试 烧机测试 按键寿命( 咪壳) 盐雾测试 高温储存 低温储存 高温高湿 印刷测试 表面镀层测试
测试条件与规格
5000次，20-30/min,每1000次检查 功能和外观
300g的负重，测试周期为5000次，摇摆角度为120度，每分钟40次
25N的突然拉力10次次检查功能和外观（各连接部位均要求测试）
1.5m高度自由跌落到水泥地上，共跌落10次线材；Phone Plug与线材 振幅1.5mm,扫频范10Hz~55Hz~10Hz,扫频率1分钟1倍频振动2H
音量设置为最大，循环播放MP3，测试48小时后
350g力，每分钟30次，10K次
35°C，5%NaCl浓度的环境中放置48小时
65°C放置96小时，室温放置2小时 —20°C放置96小时后，室温放置24小时 45°C，湿度90%的环境中放置48小时，室温放置2小时
500g，200cycles，99%酒精
百格测试，RCA测试：175g，300cycles
7、性能测试方法及要求（包括可靠性）
7.1测试环境
本标准中的各项技术要求的测试应在下列正常大气条件下进行： 环境温度：0~35°C 相对湿度：45%~75% 气压：86~106kPa 7.2耳机直流电阻 测试设备：数字万用表
测试步骤：1. 测试耳机插头上听筒两端的直流电阻 2. 测试话筒两端的直流电阻 判定标准：听筒：32±15%欧姆
MIC：2.2K±10欧姆（1KHZ） 7.3耳机灵敏度
将1KHz，1mW的正弦波信号加载到喇叭部分，18~20KHz扫频，用电声测试仪测试出灵敏度。 测试标准：参考承认书 7.4 MIC灵敏度
将1KHz，1mW的正弦波信号加载到MIC部分，用电声测试仪来测试灵敏度。 判定标准：-40±4 dB (1V/Pa)
7.5谐波失真
用电声测试仪在100~3000Hz频率范围内给耳机单元一个正弦输入，，使其在耦合腔中产生规定声压级，然后进行测试，声压级为94dB(以20uPa为基准)时，谐波失真不大于1%，声压级为100dB时，谐波失真不大于3%。
7.6纯音检听
在额定功率范围内，给耳机单元一个正弦信号，在全频带内检听，从低向高扫频，耳机不能出现影响正常使用效果的碰圈声和异常音。
7.7频率响应 7.7.1麦克的频率响应
用电声测试仪对耳机进行扫频测试，其频率响应曲线应该在下面图形所规定的模板之内。
7.7.2听筒的频率响应
用电声测试仪对听筒进行频率扫描，，得出输入正弦电压时，耳机产生的声压级随频率变化的曲线，任何单个频响曲线对应他的典型频响曲线允许偏差应在3dB以内。
关于典型频响曲线，由于没有国标统一标准，目前均按照企业标准进行。目前暂做如下要求： 接收频响范围要宽（50~20KHz）,200Hz以下频率响应曲线的斜率不超过每倍频程9dB。200~4KHz之间的频率响应曲线需满足下图所规定的模板范围内（参考曲线）：
. . . .