东华大学分析测试中心大型精密分析仪器简介.doc

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东华大学分析测试中心
大型精密分析仪器简介

扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS）
仪器型号：SEM：JSM－5600LV； EDS：IE 300 X
生产厂家：SEM：日本JEOL；EDS：英国Oxford
主要配置：
    SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。
主要技术指标：
l SEM：高真空分辨率3.5nm，低真空分辨率4.5nm;
l SEM: 放大倍数范围18-300,000；
l EDS：Mn的Kα处的分辨率优于132eV；可测元素范围4Be-92U。
主要用途：
Ø 固体样品表面微区形貌观察；
Ø 材料断口形貌及其内部结构分析；
Ø 微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；
Ø 固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。

透射电子显微镜（TEM）
仪器型号：H－800
生产厂家：日本Hitachi
主要配置：
    SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。
主要技术指标：
l 分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204 nm，点间距0.45 nm；
l 放大倍数：电子图象：1000 ～ 6×105（30档可调），选区图象：1000～3×105（25档可调）；
l 加速电压：200 kV、175kV、150kV、100kV、75kV。
主要用途：
Ø 分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；
Ø 分析高分子材料及其复合材料的形态结构；
Ø 微粒形状观察及其尺寸分析；
Ø 染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

扫描探针显微镜（SPM）
仪器型号：NanoScope Ⅳ
生产厂家：美国Veeco
主要配置：
    接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。
主要技术指标：
l 最大平面扫描范围：125 μm × 125 μm；
l 最大垂直扫描范围：2.5 μm；
l 最高水平分辨率：0.1 nm；
l 最高垂直分辨率：0.01 nm。
主要用途：
Ø 材料表面形貌、相组成分析；
Ø 材料表面各种缺陷、污染情况分析；
Ø 材料表面力性能研究；
Ø 材料表面电、磁性能研究。

X射线衍射仪（XRD）
仪器型号：D/Max-2550 PC
生产厂家：日本RIGAKU
主要配置：
    铜靶，自动可变狭缝系统，全自动弯（平）晶石墨单色仪；纤维取向度测试附件，变温附件；JADE软件包（可用于物相定性分析，晶粒大小和晶胞畸变的测定，结晶度测定，点阵参数精密化等）。
主要技术指标：
l 最大输出功率：18kW；
l 2q角测量范围：0.5°～145°；
l 2q角测量准确性：£ 0.01°；
l 测试温度范围：室温～15000C。
主要用途：
Ø 物相定性或定量分析；
Ø 晶体结构的分析；
Ø 结晶度测定（多峰分离法）；
Ø 晶粒取向度测定；
Ø 材料物相随温度变化的研究。

高级旋转流变系统（ARES）
仪器型号：ARES－RFS
生产厂家：美国TA
主要配置：
各种规格的锥板夹具、平板夹具以及同心圆筒夹具，固体扭摆夹具；强制空气对流炉（室温～6000C），恒温水浴（－100C～700C）；电流变附件，介电附件，熔体拉伸粘度附件；压片制样机，氮气发生器。
主要技术指标：
l 震荡频率范围：10-4－30Hz；
l 应变振幅：5μrad-500mrad；
l 扭矩范围：0.2μN.m-100mN.m；
l 法向力测量范围：0.01-20N。
主要用途：
Ø 测定热塑性聚合物熔体的稳态和动态流变学参数；
Ø 测定聚合物溶液以及其它低粘度流体的流变学参数；；
Ø 测定电流变液的电流变性能；
Ø 测定聚合物的介电性能。

静态/动态激光光散射仪（SLLS/DLLS）
仪器型号：BI-200SM
生产厂家：美国Brookhaven
主要配置：
50mW固体激光器（波长532nm），测角仪（测角范围：80～1620），光电倍增管检测器，采用互相关技术的相关器；dn/dc值测定仪，外循环温控系统。
主要技术指标：
l 聚合物重均分子量（Mw）测量范围： 500～108 Daltons；
l 胶体粒子水动力学直径（DH）测量范围：1～5000nm；
l 聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；
l 测量温度范围：4～800C。
主要用途：
Ø 测定胶束、胶体粒子的大小及其分布；
Ø 测定聚合物重均分子量；
Ø 研究聚合物溶液中分子链的构象及其与溶剂分子之间的相互作用；
Ø 研究蛋白质、多糖分子的构象及其聚集过程。

凝胶渗透色谱－光散射联用仪（GPC－LS）
仪器型号：BI-MwA
生产厂家：GPC：美国Waters，LS：美国Brookhaven
主要配置：
高压梯度泵，手动进样器，Styragel系列色谱柱，多角度光散射仪，CCD检测器。
主要技术指标：
l 流动相（四氢呋喃）流速范围:0.001-10.000ml/mim；
l 聚合物重均分子量（Mw）测量范围： 500～108 Daltons；
l 聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；
l 测量温度范围：室温～500C。
主要用途：
测定能溶于四氢呋喃的聚合物的绝对分子量及其分布。

核磁共振波谱仪（NMR）
仪器型号：Avance 400
生产厂家：瑞士Bruker
主要配置：
Φ5mm宽带多核探头，Φ5mm1 H/13C反相探头，固体探头及其附件，PFG Accessory梯度场附件，变温附件。
主要技术指标：
l 超导磁体：9.4T， 对1 H共振频率为400MHz；
l 多核探头（31 P-15 N，19F）：1 H 分辨率：0.32Hz，1 H灵敏度：366∶1；
l 反相探头（1 H优化）: 1 H 分辨率：0.42Hz，1 H灵敏度：611∶1。
l 固体宽带探头：13C分辨率3.7Hz，13C灵敏度：49∶1；
主要用途：
Ø 有机化合物和天然产物分子结构分析；
Ø 高分子链结构分析；
Ø 研究高分子材料聚集态结构及其高分子链的运动行为；
Ø 研究高分子链之间的相互作用以及共混高分子的相容性等。

傅里叶红外-拉曼光谱仪(FTIR-Raman)
仪器型号：NEXUS－670
生产厂家：美国Nicolet
主要配置：
衰减全反射光谱（ATR）附件，反射吸收光谱（RA）附件，变温附件（ 温度范围：室温～400℃）,偏振附件；Hummel Polymer and Additives 谱库。
主要技术指标：
l 红外光谱频率范围：7400～350cm-1；
l 拉曼光谱频率范围：3600～100cm-1；
l 红外光谱最高分辨率：0.09cm-1；
l 拉曼光谱最高分辨率：0.8 cm-1。
主要用途：
Ø 小分子化合物结构分析；
Ø 高分子链结构分析；
Ø 高分子材料聚集态结构的研究；
Ø 分子之间相互作用的研究。

气相色谱－质谱联用仪（GC－MS）
仪器型号：QP－2010
生产厂家：日本Shimadzu
主要配置：
裂解器，直接进样器,自动进样器，EI源，CI源，四极杆质量检测器；NIST 谱库，聚合物热裂解谱库；固相微萃取装置。
主要技术指标：
l 质量范围（m/z）：1.5～1024；
l 分辨率：2M；
l 灵敏度（EI源，1pg八氟萘）：S/N≥60；
l 裂解温度范围：350-750℃。
主要用途：
Ø 有机化合物结构分析；
Ø 有机化合物成分分析；
Ø 环境样品分析
Ø 高分子链结构分析；
Ø 高分子热降解机理研究。

紫外－可见光谱仪（UV－Vis）
仪器型号：Lambda 35
生产厂家：美国PerkinElmer
主要配置：
Φ60mm积分球，60固定角反射附件，可变角透射附件，固体样品架，变温附件（温度范围：0 ℃ ～ 100 ℃ ，控温精度：± 0.1 ℃）。
主要技术指标：
l 波长范围：190～1100nm；
l 波长精度：±0.1nm；
l 杂散光：<0.01 ％ T；
l 线性范围：3.5A。
主要用途：
Ø 小分子化合物结构分析；
Ø 小分子化合物成分分析；
Ø 薄膜样品的透射分析；
Ø 溶液、乳液或固体粉末样品的反射与透射分析。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）
仪器型号：Prodigy
生产厂家：美国Leeman
主要配置：
自激式高频发生器，高分辨中阶梯光栅，垂直和水平观测系统，CID固体检测器；微波消解系统。
主要技术指标：
l 波长范围：165-800nm；
l 分辨率：≤0.005nm(As在200nm处)；
l 精密度（RSD）(n=10)：< 1.0%；
l 检出限（典型元素As、Cd、Cu、Zn）：< 0.01mg/L
主要用途：
可测定无机或有机样品中Cu、Pb、Cd、Cr、Ni、Zn、As、Fe、Bi、Ca、P、K、Mg、Al、Si、Sc、Sn、Mn、Zr、Ag、Sn、Sb、Ba等70多种金属和非金属元素的含量。

元素分析仪（EA）
仪器型号：Vario EL Ⅲ
生产厂家：德国Elmentar
主要配置：
高温燃烧炉，吸附-解吸装置，热导检测器，O元素分析模块；灵敏度为0.001mg的电子天平，自动进样器，液体样品装样器。
主要技术指标：
l 分析模式包括：CHNS，CHN，CNS，CN，N，S，O；
l 样品量：0.02－800mg；
l 分析结果准确度（C、H、N、O、S）：≤0.3%（He作载气）；
l 分析结果精密度（C、H、N、O、S）：≤0.1%（He作载气）。
主要用途：
分析有机样品中的C、H、N、O、S元素的含量。

辉光放电光谱仪（GDS）
仪器型号：JY Profiler
生产厂家：法国JY
主要配置：
脉冲式RF辉光光源，离子刻蚀全息闪耀光栅，高动态范围检测器；磨片制样机；铸铁基体（灰口、白口、高Cr）工作曲线，钢基体（碳钢、低合金钢、不锈钢）工作曲线，镀层或涂层（WC、热处理、Cr-Ni合金镀层、镀铝、彩涂）工作曲线。
主要技术指标：
l 光谱范围：110nm—620nm；
l 光谱分辨率：0.02nm；
l 深度分辨率：≤2nm；
l 可分析的元素：C、Cr、Mn、Si、Mo、Fe、B、S、P、Ni、Ti、W、Co、V、Al、H、O、N、Cl、Cu、Pb、Sn、Mg。
主要用途：
Ø 导电材料和非导电材料的基体、镀层（涂层）中的化学元素含量分析；
Ø 热处理工件（渗碳、渗氮）等的元素深度定量分析；
Ø 导电材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层（涂层）中化学元素的分析；
Ø 非导体材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层（涂层）中化学元素的分析。
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