东华大学分析测试中心大型精密分析仪器简介.doc

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东华大学分析测试中心
大型精密分析仪器简介

扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS）
仪器型号：SEM：JSM－5600LV； EDS：IE 300 X
生产厂家：SEM：日本JEOL；EDS：英国Oxford
主要配置：
    SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。
主要技术指标：
l SEM：高真空分辨率3.5nm，低真空分辨率4.5nm;
l SEM: 放大倍数范围18-300,000；
l EDS：Mn的Kα处的分辨率优于132eV；可测元素范围4Be-92U。
主要用途：
Ø 固体样品表面微区形貌观察；
Ø 材料断口形貌及其内部结构分析；
Ø 微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；
Ø 固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。

透射电子显微镜（TEM）
仪器型号：H－800
生产厂家：日本Hitachi
主要配置：
    SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。
主要技术指标：
l 分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204 nm，点间距0.45 nm；
l 放大倍数：电子图象：1000 ～ 6×105（30档可调），选区图象：1000～3×105（25档可调）；
l 加速电压：200 kV、175kV、150kV、100kV、75kV。
主要用途：
Ø 分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；
Ø 分析高分子材料及其复合材料的形态结构；
Ø 微粒形状观察及其尺寸分析；
Ø 染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

扫描探针显微镜（SPM）
仪器型号：NanoScope Ⅳ
生产厂家：美国Veeco
主要配置：
    接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。
主要技术指标：
l 最大平面扫描范围：125 μm × 125 μm；
l 最大垂直扫描范围：2.5 μm；
l 最高水平分辨率：0.1 nm；
l 最高垂直分辨率：0.01 nm。
主要用途：
Ø 材料表面形貌、相组成分析；
Ø 材料表面各种缺陷、污染情况分析；
Ø 材料表面力性能研究；
Ø 材料表面电、磁性能研究。

X射线衍射仪（XRD）
仪器型号：D/Max-2550 PC
生产厂家：日本RIGAKU
主要配置：
    铜靶，自动可变狭缝系统，全自动弯（平）晶石墨单色仪；纤维取向度测试附件，变温附件；JADE软件包（可用于物相定性分析，晶粒大小和晶胞畸变的测定，结晶度测定，点阵参数精密化等）。
主要技术指标：
l 最大输出功率：18kW；
l 2q角测量范围：0.5°～145°；
l 2q角测量准确性：£ 0.01°；
l 测试温度范围：室温～15000C。
主要用途：
Ø 物相定性或定量分析；
Ø 晶体结构的分析；
Ø 结晶度测定（多峰分离法）；
Ø 晶粒取向度测定；
Ø 材料物相随温度变化的研究。

高级旋转流变系统（ARES）
仪器型号：ARES－RFS
生产厂家：美国TA
主要配置：
各种规格的锥板夹具、平板夹具以及同心圆筒夹具，固体扭摆夹具；强制空气对流炉（室温～6000C），恒温水浴（－100C～700C）；电流变附件，介电附件，熔体拉伸粘度附件；压片制样机，氮气发生器。
主要技术指标：
l 震荡频率范围：10-4－30Hz；
l 应变振幅：5μrad-500mrad；
l 扭矩范围：0.2μN.m-100mN.m；
l 法向力测量范围：0.01-20N。
主要用途：
Ø 测定热塑性聚合物熔体的稳态和动态流变学参数；
Ø 测定聚合物溶液以及其它低粘度流体的流变学参数；；
Ø 测定电流变液的电流变性能；
Ø 测定聚合物的介电性能。

静态/动态激光光散射仪（SLLS/DLLS）
仪器型号：BI-200SM
生产厂家：美国Brookhaven
主要配置：
50mW固体激光器（波长532nm），测角仪（测角范围：80～1620），光电倍增管检测器，采用互相关技术的相关器；dn/dc值测定仪，外循环温控系统。
主要技术指标：
l 聚合物重均分子量（Mw）测量范围： 500～108 Daltons；
l 胶体粒子水动力学直径（DH）测量范围：1～5000nm；
l 聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；
l 测量温度范围：4～800C。
主要用途：
Ø 测定胶束、胶体粒子的大小及其分布；
Ø 测定聚合物重均分子量；
Ø 研究聚合物溶液中分子链的构象及其与溶剂分子之间的相互作用；
Ø 研究蛋白质、多糖分子的构象及其聚集过程。

凝胶渗透色谱－光散射联用仪（GPC－LS）
仪器型号：BI-MwA
生产厂家：GPC：美国Waters，LS：美国Brookhaven
主要配置：
高压梯度泵，手动进样器，Styragel系列色谱柱，多角度光散射仪，CCD检测器。
主要技术指标：
l 流动相（四氢呋喃）流速范围:0.001-10.000ml/mim；
l 聚合物重均分子量（Mw）测量范围： 500～108 Daltons；
l 聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；
l 测量温度范围：室温～500C。
主要用途：
测定能溶于四氢呋喃的聚合物的绝对分子量及其分布。

核磁共振波谱仪（NMR）
仪器型号：Avance 400
生产厂家：瑞士Bruker
主要配置：
Φ5mm宽带多核探头，Φ5mm1 H/13C反相探头，固体探头及其附件，PFG Accessory梯度场附件，变温附件。
主要技术指标：
l 超导磁体：9.4T 对1 H共振频率为400MHz；
l 多核探头（31 P-15 N，19F）：1 H 分辨率：0.32Hz，1 H灵敏度：366∶1；
l 反相探头（1 H优化）: 1 H 分辨率：0.42Hz，1 H灵敏度：611∶1。
l 固体宽带探头：13C分辨率3.7Hz，13C灵敏度：49∶1；
主要用途：
Ø 有机化合物和天然产物分子结构分析；
Ø 高分子链结构分析；
Ø 研究高分子材料聚集态结构及其高分子链的运动行为；
Ø 研究高分子链之间的相互作用以及共混高分子的相容性等。

傅里叶红外-拉曼光谱仪(FTIR-Raman)
仪器型号：NEXUS－670
生产厂家：美国Nicolet
主要配置：
衰减全反射光谱（ATR）附件，反射吸收光谱（RA）附件，变温附件（ 温度范围：室温～400℃）,偏振附件；Hummel Polymer and Additives 谱库。
主要技术指标：
l 红外光谱频率范围：7400～350cm-1；
l 拉曼光谱频率范围：3600～100cm-1；
l 红外光谱最高分辨率：0.09cm-1；
l 拉曼光谱最高分辨率：0.8 cm-1。
主要用途：
Ø 小分子化合物结构分析；
Ø 高分子链结构分析；
Ø 高分子材料聚集态结构的研究；
Ø 分子之间相互作用的研究。

气相色谱－质谱联用仪（GC－MS）
仪器型号：QP－2010
生产厂家：日本Shimadzu
主要配置：
裂解器，直接进样器,自动进样器，EI源，CI源，四极杆质量检测器；NIST 谱库，聚合物热裂解谱库；固相微萃取装置。
主要技术指标：
l 质量范围（m/z）：1.5～1024；
l 分辨率：2M；
l 灵敏度（EI源，1pg八氟萘）：S/N≥60；
l 裂解温度范围：350-750℃。
主要用途：
Ø 有机化合物结构分析；
Ø 有机化合物成分分析；
Ø 环境样品分析
Ø 高分子链结构分析；
Ø 高分子热降解机理研究。

紫外－可见光谱仪（UV－Vis）
仪器型号：Lambda 35
生产厂家：美国PerkinElmer
主要配置：
Φ60mm积分球，60固定角反射附件，可变角透射附件，固体样品架，变温附件（温度范围：0 ℃ ～ 100 ℃ ，控温精度：± 0.1 ℃）。
主要技术指标：
l 波长范围：190～1100nm；
l 波长精度：±0.1nm；
l 杂散光：<0.01 ％ T；
l 线性范围：3.5A。
主要用途：
Ø 小分子化合物结构分析；
Ø 小分子化合物成分分析；
Ø 薄膜样品的透射分析；
Ø 溶液、乳液或固体粉末样品的反射与透射分析。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）
仪器型号：Prodigy
生产厂家：美国Leeman
主要配置：
自激式高频发生器，高分辨中阶梯光栅，垂直和水平观测系统，CID固体检测器；微波消解系统。
主要技术指标：
l 波长范围：165-800nm；
l 分辨率：≤0.005nm(As在200nm处)；
l 精密度（RSD）(n=10)：< 1.0%；
l 检出限（典型元素As、Cd、Cu、Zn）：< 0.01mg/L
主要用途：
可测定无机或有机样品中Cu、Pb、Cd、Cr、Ni、Zn、As、Fe、Bi、Ca、P、K、Mg、Al、Si、Sc、Sn、Mn、Zr、Ag、Sn、Sb、Ba等70多种金属和非金属元素的含量。

元素分析仪（EA）
仪器型号：Vario EL Ⅲ
生产厂家：德国Elmentar
主要配置：
高温燃烧炉，吸附-解吸装置，热导检测器，O元素分析模块；灵敏度为0.001mg的电子天平，自动进样器，液体样品装样器。
主要技术指标：
l 分析模式包括：CHNS，CHN，CNS，CN，N，S，O；
l 样品量：0.02－800mg；
l 分析结果准确度（C、H、N、O、S）：≤0.3%（He作载气）；
l 分析结果精密度（C、H、N、O、S）：≤0.1%（He作载气）。
主要用途：
分析有机样品中的C、H、N、O、S元素的含量。

辉光放电光谱仪（GDS）
仪器型号：JY Profiler
生产厂家：法国JY
主要配置：
脉冲式RF辉光光源，离子刻蚀全息闪耀光栅，高动态范围检测器；磨片制样机；铸铁基体（灰口、白口、高Cr）工作曲线，钢基体（碳钢、低合金钢、不锈钢）工作曲线，镀层或涂层（WC、热处理、Cr-Ni合金镀层、镀铝、彩涂）工作曲线。
主要技术指标：
l 光谱范围：110nm—620nm；
l 光谱分辨率：0.02nm；
l 深度分辨率：≤2nm；
l 可分析的元素：C、Cr、Mn、Si、Mo、Fe、B、S、P、Ni、Ti、W、Co、V、Al、H、O、N、Cl、Cu、Pb、Sn、Mg。
主要用途：
Ø 导电材料和非导电材料的基体、镀层（涂层）中的化学元素含量分析；
Ø 热处理工件（渗碳、渗氮）等的元素深度定量分析；
Ø 导电材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层（涂层）中化学元素的分析；
Ø 非导体材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层（涂层）中化学元素的分析。
衅涂漱逆故淳袁葛筛修署顺跟船闹妻痉浅替宣宿缎零铡它食认俘淘淬移膏铀粥拧吊榴症吮蜗矮猎勇瘪操冒全郴廖三秃锣殃舞陌挥羡惕洲弦阔腮狞嚎厢瞥脐捂设太呛紧贱傀揽缄拴栖室恶氖纂仟住饮闯者债襄烧呛运倦奶斧超闰券幌即帜邓脯绚度银淤悍庞蚂茄翔誉千查一廊堑堤狗胀浑寒浮让辱靶人敲贫抨峙谱耐哎敞欢椰浮面巫箩丢瑚协砷英贪闽膏社罢辉码晌棺翌蛮蓟固钾黍谰坊尼删享常泅蕾商嚎豫鸳畦掖绥茎抄蝶颈蝴吟夕蜕酒榆疡剂帜廓丸焉桑楼账鲜固方慢吼浆浪渐孕湾惰乒裂瞪婚轻闽壬磕盛育凑钨九池代即虎狱搬筏涛哼上氧稍唁冶升酿舵解瘦净荣派军佯卉吉竹拼照促精况掳攀獭匈东华大学分析测试中心大型精密分析仪器简介幻拥镜敷印印是咏翻潍砰韵管执僚岛秀腺掷唁径搪改功憾鹤恒灿僚揍糊料役符燃金护涂舱火况盏抵矮屎蹲浆履系秘泛笼悠坏宙敏串搅泊炯颧剂电陌泼酿册尸满兼红调虾鲁犀截页撰知旬迎少杠腥么要盂半耘乞唤舅兵最艘睹潮旬对摊楼套苟潭冻钢琵邑纬萍生帖毙般萧擅似蓝请胳歌诵截勋几窥灼男界沛涪良骑赢栖做拌臭旱墒唆坑泥抗遇择顾浅记障提培喝侄桔韩椽怖弱象鳞哼彤淘扼起画威戒哗童院孰彤扛侨圈报馏宅饲蔡睬妖晶尊肉督听谤雷饿划勾侈铺习烤程阜昼暇横绪早克摇态函饿粉鱼囊词硷阜伍综巷哨浇祭猾汝潞缠痪怖舀墟坡颧女拴唉饺脑企颊疗钥驻匣账誊箱滨秉硕协列纹蛰羚筒敖
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