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电子元器件的老化测试分析.pdf

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1、科技论坛科技论坛CE MAGAZINE PAGE 58CE MAGAZINE PAGE 59对电网调控运行数据进行加密处理,从而在数据传输和存储过程中大幅度降低被未经授权的人员访问或篡改的风险。此外,采用密钥管理技术也有助于保障加密密钥的安全性和可靠性。值得注意的是,数字加密技术的成熟已经使其在实际中得到广泛的应用。例如,智能电网网络安全态势感知系统就是以安全大数据为基础,全面收集包括安全日志、网络流量、终端日志、业务数据、用户行为、资产状态等多种数据源,并结合外部威胁情报,实现网络安全风险的实时监控、分析、响应和预测。同时,基于人工智能技术的电网调控应用场景也正在逐步显现其潜力。这些创新的应

2、用不仅提高了电网调控的效率和精确度,还为电力系统的稳定运行提供了新的可能。总的来说,随着科技的发展,我们可以期待数据加密技术和相关的智能电网应用在未来能发挥更大的作用。(三)访问控制技术研究及应用探讨访问控制是保障电网调控运行数据安全的重要环节之一。通过研究和应用访问控制技术,可以实现对电网调控运行数据的精确授权和管理。访问控制技术包括身份认证、授权管理和审计跟踪等方面,可以帮助确定哪些用户可以访问特定的数据,以及他们对数据的使用权限。3此外,还可以结合其他安全措施,如防火墙、入侵检测系统等,进一步提高电网调控运行数据的安全性。在实际应用中,访问控制技术被广泛应用于各种电力系统和相关领域。例如

3、,国家电网公司的“智慧电网”建设中采用了多种访问控制技术,以确保电网调控运行数据的安全性和可靠性。除了访问控制技术外,还有一些其他的安全措施可以用于提高电网调控运行数据的安全性。例如,网络安全隔离技术可以将不同的网络区域进行隔离,从而减少网络攻击的风险;网络安全监测技术可以实时监测网络流量和行为,及时发现并应对潜在的安全威胁;网络安全备份与恢复技术可以在数据丢失或损坏时快速恢复数据,保证电网调控运行的连续性和稳定性。(四)其他安全保障技术研究及探讨除了上述提到的数据安全威胁分析、数据加密技术和访问控制技术外,还有一些其他的安全保障技术研究值得关注。例如,数据备份和恢复技术可以确保数据在遭受攻击

4、或丢失后能够及时恢复,避免造成不可挽回的损失。此外,数据加密算法的更新和升级也是保障数据安全的重要手段。随着计算机技术的发展,新型的加密算法能够提供更加高级别的数据保护,防止被黑客破解。此外,还可以探索利用区块链技术实现去中心化的数据存储和共享,从而降低数据被篡改的风险。区块链技术通过分布式的账本和共识机制,确保数据的不可篡改性和可追溯性,能够有效提高数据的安全性和可信度。如果将区块链技术应用于数据存储和共享领域,可以实现数据的安全交换和共享,同时保证数据的真实性和可追溯性,对于金融、医疗、政府等领域都有重要的应用价值。另外,智能监控系统也是一项重要的安全保障技术研究。智能监控系统能够实时监测

5、电网系统的异常情况并及时采取应对措施,从而避免因设备故障或网络攻击等原因导致的电力中断事故。此外,智能监控系统还可以通过数据分析和预测,提前发现潜在的安全风险并采取相应的防范措施。这些技术的研究和应用将有助于进一步提升电网调控运行数据的安全性,为电力系统的稳定运行提供更加坚实的保障。结束语本文对电网调控运行数据的采集与处理方法、分布式存储与管理技术以及自主分析技术研究进行了深入探讨,提出了一些新的思路和方法。通过实验验证,证明了所提出的技术和方法的有效性和可行性。然而,本文仍然存在一些不足之处,例如数据量较小、实验条件有限等。未来的研究应该进一步扩大数据规模,提高实验精度和可靠性,以更好地支持

6、电力系统的智能化调控。4同时,还应该加强与其他相关领域的合作,推动电力系统智能化发展的进程。最后,我们还可以加强与其他相关领域的合作,如人工智能、物联网等,共同推动电力系统智能化发展的进程。参考文献:1 陈功和.电网调控运行数据的分布式自主分析关键技术 J.电力设备管理,2022(17):165-167.2 廖利军.基于电网调控运行数据的分布式自主分析关键技术与应用 J.科学与财富,2017(25):50-50.3 张晓,刘慧勇,王绍华.基于电网调控运行数据的分布式自主分析关键技术与应用 J.华北电力技术,2016(6):18-23.4 黄容容.基于电网调控运行数据的分布式自主分析关键技术与应

7、用 J.区域治理,2019(4):171.电子元器件的老化测试分析张凡 于迎伟【摘 要】电子元器件属于电子设备的基础性元件,对于电子设备的性能可产生直接影响,为了确保电子元器件的品质,进行老化测试是生产厂家的必要任务。采用老化测试的方法,能够提升电子元器件的质量,为满足用户对电子设备的可靠性要求奠定基础。鉴于此,本文简述了电子元器件老化测试的内涵,围绕电子元器件老化测试系统,概述了该类系统的类型和性能影响因素,以电容器一类电子元器件的老化测试为例,讨论了系统设计的实践。【关键词】电子元器件;老化测试;系统设计实践;影响因素;种类作者简介:张凡,本科,陕西恒太电子科技有限公司,助理工程师;于迎伟

8、,本科,陕西恒太电子科技有限公司,工程师。引言伴随现代科技的发展,电子产品与设备的复杂性越发增加,使用范围更加广泛。但由于长期使用与外部环境等方面的影响,电子产品与设备容易出现电子元器件老化的问题,造成其性能与可靠性的下降,因此,对电子元器件进行老化测试,用以评价元器件在差异性条件下的工作稳定性、使用寿命,是电子工程领域内的重要课题。因此,技术人员需要深入研究电子元器件老化测试系统的设计,探索更多用于元器件测试的技术,以此为社会的进步作出贡献。一、电子元器件老化测试的内涵老化测试本质上是一种模拟电子元器件使用流程的测试方法,旨在检测与去除元器件内部的缺陷。在测试过程中,会模拟元器件的实际工作状

9、态,并施加特定的电应力以加速元器件内部的物理和化学反应,从而使潜在的问题如漏电、焊接不良、硅晶片裂纹等提前显现出来。老化测试可以保证元器件参数的稳定性,测试期间需要严格管控电应力参数和环境温度,以防元器件发生失效的现象1。二、电子元器件老化测试系统的概述(一)电子元器件老化测试系统的种类(1)内存老化型:易失性内存:该类型系统的测试工作较为简单,原因在于在无需特殊算法、时序的情况下,便能反复对其擦写操作。测试人员通常要将所有电子元器件写入数据处理后,再逐个选择元器件的种类,读出对应的数据,再开展后续的比较分析工作。在老化测试中能够多次组织速度较慢的刷新测试,因而可节省其他测试环节消耗的时间。刷

10、新测试的步骤为,测试人员先将所有数据写入内存,然后对发现问题的存储单元进行放电操作,再从内存中提取和读回数据,进而发现存在故障问题的存储单元。将该部分测试安排在老化测试之后,可以证实老化后的测试将不进行耗时性的测试工作,具有节省测试时间的效果。非易失性内存:该类系统测试工作难度较大,原因在于在写入数据之前,通常要清除掉内部所有内容,致使系统算法难度有所上升。尽管测试人员之后还要配合运用特殊电压开展擦除工作,但正式老化测试中应用的方法较为相似,均为在数据写入内存后,再凭借复杂算法的力量,进行读回操作处理2。(2)逻辑器件老化型:平行测试:在元器件老化测试中,该类型测试速度最快,主要采用若干信号线

11、同时与元器件输入、输出端口加以衔接而实现,而I/O线的输入端口则受到系统测试环节的控制,该类型测试的实现方式可划分为3类。I.单选元器件:在各老化板内元器件可以同其他元器件分离的状态下,系统便能采取差异性的方法衔接各个元器件。比如,在使用片选引脚的条件下,需要并联处理元器件,每次只能选择一个元器件,从而构成返回信号。该方法的缺陷在于,选择的元器件要具备克服感性、容性复杂对老化板,以及其他未选中元器件影响的能力。II.返回单引脚信号:该类型测试需要以并联操作为核心,让所有元器件处于工作状态,但保留至少一个信号返回至引脚,之后由系统负责选择监测模块,再读取信号返回的线路。该类测试与串行测试存在相似

12、点,但信号引脚在测试中接收到的信息为逻辑电平,或经过和预留值对比后存在的脉冲模式。在检测中接收到的信号主要体现的是元器件自我检查的状态,但在元器件不存在自我检测性能的情况下,而由系统单纯检查某个引脚,则容易对检测的精准性产生负面影响。III.返回多引脚信号:该类型测试同单引脚测试类似,但各元器件可返回更多信号,使得监测中要使用更多返回线路,造成系统的经济成本投入有所增加。该类测试目前适用于缺少内部自检,或者结构较为复杂的元器件老化测试中。串行测试:与平行测试相比,该类型测试尽管速度相对较慢,但操作上更加便捷。在老化板上,除了每个元器件内的串行信号返回线以外,要对所有元器件实施并联测试。在具体测

13、试工作开展科技论坛科技论坛CE MAGAZINE PAGE 60CE MAGAZINE PAGE 61中,由于老化板内通常要继承数据处理的系统,说明还要在数据传输前期做好译码处理工作3。(二)电子元器件老化测试系统性能的影响因素(1)选择的测试方法:理想状态下,电子元器件在老化测试中尽可能减少时间消耗,以提高整体产量。若电能条件较差,可能增加故障问题的发生概率,采用高速反复测试的方式可以大幅度减少老化处理需要的时间。当内部各节点在单位时间内切换次数增加时,元器件受到更大的压力,从而可能导致故障的提前出现。(2)参数测试系统的能力:如果老化测试系统具备速度测试能力,那么在实际检测中就可以获得具有

14、较高相似度的数据信息。这类信息对于可靠性的研究非常有益,可以简化老化测试的流程,提高测试效率4。(3)主机与测试系统间的通信:由于功能测试程序的运行时间通常较长,为了提高测试硬件设计的效率,需要在实际系统设计中提高测试速度。目前,部分老化测试系统仍然使用运行速度相对较慢的串行通信方法,如RS-232C协议。如果将系统改造为双向并行总线系统,将大幅度提高数据的传输速率。(4)时间动态性与参数能力:当老化测试系统能够及时调整参数之时,便存在降低产品在使用后发生故障的可能性,而在部分元器件的结构中,直流电压偏置、动态信号功率的变化,均容易提前引发元器件在晚期使用中才会发生的故障问题5。三、电子元器件

15、老化测试的系统设计实践(一)整体设计以电容器为例,在设计老化测试系统之前,需要明确电容器失效的原因,包括机械应力造成的扭曲破裂、温湿外界环境造成的漏电等,由此确定电容器老化测试系统的组成部分,包括供电电源、开关电源、变压器、0V15V直流电压源、高压模块电源、采样电阻板、数据显示模块、监测采集模块、老化测试夹具、RS232通信模块、USB通信模块、主控计算机等。该系统具备批量可靠性测试电容器的主要功能,如提供温湿度、步进电压等满足老化测试的环境,模拟电容器在工作中具体环境条件下的强化试验。直流电压源要具备提供多测试通道、独立输出0kV1kV工作电压的能力,且高低温交变湿热试验箱的温控范围应该为

16、-40150。监测采集模块应该可以同时观察多个待测电容器的漏电流、工作电压,上位机软件界面中包含命令控制、自动测试、测试数据输出与保存等功能。(二)工作原理(1)将待测电容器固定在高低温交变湿热试验箱内的老化测试夹具上,夹具内存在固定作用的金属探针两侧,引出具有耐高压、高温性能的电压线,其中的2条电压线可以同直流电压源形成主要回路,其他2条电压线则负责衔接监测采集模块。(2)每条测试回路中均串联采样电阻,同时和监测采集模块加以连接,目的在于让电流信号转化为电压信号,从而计算出电容器的漏电流具体参数。(3)经由通信协议的灵活运用,将该系统和直流电压源、监测采集模块、环境测试箱加以衔接,在确认硬件

17、设备连接无差错的情况下,正式开展对电容器的老化测试工作。(三)可程控直流电压源设计该直流电压源内具备多独立输出通道的0V15V可程控直流电压源,纹波不超过10mV,输出电流60mA,经过调整后的精准度可超过0.5%,在输出电压为10V时,扩展不确定度为2.21mV。核心控制单元为IAP15W4K58S4单片机,为了符合I/O接口引脚占用较大的需求,则封装选择型号为LQFP64L的64引脚。在辅助电源设计上,需要将220V 50Hz的市电电压转化为0V15V的可程控直流电压源所需的电压,再凭借整流桥的力量,将交流电转化为直流电。整流桥为IN4007整流二极管4支,通过滤波电路便可过滤掉直流电压内

18、的纹路,在电压稳定之后,直流电压可以通过AMS1117-2.5、AMS1117-5.0的芯片,分别产生2.5V、5V的基准电压和工作电压。(四)串口通信设计由于可程控直流电压源、监测采集单元均采取USB串口通信的方法,实现和计算机构成通信连接的功能,可以说明USB串口通信将作为上位机、下位机之间通信的纽带。且USB为相对常见的串口通信模式,计算机通常存在若干USB接口,能够满足计算机和有关设备的通信需求。该系统内的USB串口通信电路可选择CH340芯片,芯片内存在电源上电复位电路,无需单独提供其他电源复位,支持3.3V、5V的外部电源供电,还支持50bps2Mbps的通讯波特率。串行数据输出引

19、脚将和输入引脚、控制单元的单片机I/O接口加以衔接,外围电路是频率为12MHz的晶振与22pF高频振荡电容,可以为CH340芯片提供频率时钟信号。串口通信电路整体上将经由USB总线接口和计算机连接,实现上位机、下位机之间通信的功能。(五)环境试验箱设计该系统可选择ZB-HT-S-225环境试验箱,具备高低温交变湿热的能力。该环境试验箱具备多种类型的保护装置,操作安全且运行平稳,噪音较小,抗腐蚀和生锈能力较强。存在可外接式的供水系统,提供自动回收使用的功能,便于用户随时观察加湿桶水位。还具有照明视窗灯、耐高温除雾设备,为用户观察试验箱内的具体测试情况提供诸多便捷。内部的电源、控制电路和加湿管路相

20、分离,用于规避漏水引发的安全事故。该环境试验箱以可操作触摸屏为主要的人机交互硬件,或可经过RS232串口通信和主控计算机进行通信连接,为用户提供远程控制的服务。该环境试验箱主控制器的功能可概括为监视画面、曲线显示、操作设置、程式设置、预约设置、画面设置,其中,用户可直接触摸屏幕设定操作选项,显示屏上可显示各项参数和箱内的测试状态,将测试中的温湿度变化以曲线的方式进行显示等。表1为该环境试验箱的主要参数。表 1 ZB-HT-S-225环境试验箱主要参数(六)老化测试夹具设计测试用夹具可划分为固定支架、金属探针、老化板3个部分,支架具有支撑作用,探针用于固定待测电容器,而老化板则是探针和待测电容器

21、的载体。考虑到老化测试需要在可变温湿度环境下开展,说明测试用夹具应具有耐高压、耐高温、耐腐蚀的特点。因此固定支架的材料上可选择316#不锈钢,便于机械结构的焊接,且在高温环境中仍然可以维持物理机械性能而不出现变形的问题。金属探针材料可选择黄铜镀金,探针长度、针头直径应分别控制为4.8cm、5mm,允许通过最大电流为15A,采用弹簧伸缩的原理固定好待测电容器,而探针针杆尾部则和外部接线铜柱加以配合。老化板材料可选择聚四氟乙烯,具有耐高低温、耐腐蚀、高润滑、高绝缘、无毒无害的特点,符合老化测试夹具的基本需求。由于环境试验箱内部空间尺寸限制的缘故,测试用夹具可采取分层结构,每一层均安装2块老化板,2

22、个金属探针构成1个测试工位,同时设置好导轨,便于用户以推拉的形式装载待测电容器。测试用夹具同直流电压源、监测采集模块的连接方法为插拔式,能够防止该系统因长期使用而出现的线路损坏问题,便于用户开展各种设备连线工作,在出现故障问题之时还具有调试便捷的优势。参考该系统的老化测试要求,构成设备之间的连线均可运用AGG硅橡胶高压电线,额定电压、工作温度分别为5kV、-60180,具有方便安装、材质柔软的显著优点。为防止沿用传统走线方法后出现问题,可以在固定支架的后板上安装香蕉头插座,以及对应相同数量的金属探针,便于明确每对金属探针相应的正负极。使用AGG硅橡胶高压电线直接连接香蕉头插座和金属探针,而其他

23、设备则只需要经过香蕉插头,连接各工位对应的香蕉头插座。该走线方法便于用户调试系统、排查故障时,只需将外接插头更换连接位置,而无需接触金属探针,不存在连接线折叠的现象,避免电压线的损坏。结束语综上所述,在科技迅速发展的趋势下,提升电子元器件的稳定性、可靠性对于未来的科技进步具有现实意义。因此,技术人员要做好电子元器件老化测试系统设计工作,为测试的科学开展提供保障条件,通过明确整体设计思路和工作原理,设计好直流电压源、串口通信、环境试验箱、测试用夹具等部分,带动我国电子元器件检测产业的长远发展。然而,我们也应认识到,随着电子元器件的复杂性和微型化趋势,老化测试系统的设计将面临更多的挑战。例如,如何

24、在微型化的元器件上进行精确的测试,以及如何在复杂的环境条件下保持测试的精度和稳定性,都是我们需要关注和研究的问题。因此,未来的研究应该更加深入地探讨这些问题,以便我们能够设计出更加高效、精确的电子元器件老化测试系统。参考文献:1 刘娟,袁咏歆.电子元件老化筛选设备在线检测技术研究 J.电子测试,2022,36(04):91-92,9.2 陆晓峰,陶知,林凡淼等.一种高温动态老化测试的信号驱动板设计与实现 J.电子元器件与信息技术,2021,5(12):44-45.3 王玺,赵谢.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制分析 J.电子元器件与信息技术,2021,5(06):31-32,37.4 李雪

25、.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制分析 J.电子技术与软件工程,2020(20):70-71.5 张全.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制 J.电子元器件与信息技术,2019(03):99-101,106.科技论坛科技论坛CE MAGAZINE PAGE 60CE MAGAZINE PAGE 61中,由于老化板内通常要继承数据处理的系统,说明还要在数据传输前期做好译码处理工作3。(二)电子元器件老化测试系统性能的影响因素(1)选择的测试方法:理想状态下,电子元器件在老化测试中尽可能减少时间消耗,以提高整体产量。若电能条件较差,可能增加故障问题的发生概率,采用高速反复测试的方式可以大幅度减

26、少老化处理需要的时间。当内部各节点在单位时间内切换次数增加时,元器件受到更大的压力,从而可能导致故障的提前出现。(2)参数测试系统的能力:如果老化测试系统具备速度测试能力,那么在实际检测中就可以获得具有较高相似度的数据信息。这类信息对于可靠性的研究非常有益,可以简化老化测试的流程,提高测试效率4。(3)主机与测试系统间的通信:由于功能测试程序的运行时间通常较长,为了提高测试硬件设计的效率,需要在实际系统设计中提高测试速度。目前,部分老化测试系统仍然使用运行速度相对较慢的串行通信方法,如RS-232C协议。如果将系统改造为双向并行总线系统,将大幅度提高数据的传输速率。(4)时间动态性与参数能力:

27、当老化测试系统能够及时调整参数之时,便存在降低产品在使用后发生故障的可能性,而在部分元器件的结构中,直流电压偏置、动态信号功率的变化,均容易提前引发元器件在晚期使用中才会发生的故障问题5。三、电子元器件老化测试的系统设计实践(一)整体设计以电容器为例,在设计老化测试系统之前,需要明确电容器失效的原因,包括机械应力造成的扭曲破裂、温湿外界环境造成的漏电等,由此确定电容器老化测试系统的组成部分,包括供电电源、开关电源、变压器、0V15V直流电压源、高压模块电源、采样电阻板、数据显示模块、监测采集模块、老化测试夹具、RS232通信模块、USB通信模块、主控计算机等。该系统具备批量可靠性测试电容器的主

28、要功能,如提供温湿度、步进电压等满足老化测试的环境,模拟电容器在工作中具体环境条件下的强化试验。直流电压源要具备提供多测试通道、独立输出0kV1kV工作电压的能力,且高低温交变湿热试验箱的温控范围应该为-40150。监测采集模块应该可以同时观察多个待测电容器的漏电流、工作电压,上位机软件界面中包含命令控制、自动测试、测试数据输出与保存等功能。(二)工作原理(1)将待测电容器固定在高低温交变湿热试验箱内的老化测试夹具上,夹具内存在固定作用的金属探针两侧,引出具有耐高压、高温性能的电压线,其中的2条电压线可以同直流电压源形成主要回路,其他2条电压线则负责衔接监测采集模块。(2)每条测试回路中均串联

29、采样电阻,同时和监测采集模块加以连接,目的在于让电流信号转化为电压信号,从而计算出电容器的漏电流具体参数。(3)经由通信协议的灵活运用,将该系统和直流电压源、监测采集模块、环境测试箱加以衔接,在确认硬件设备连接无差错的情况下,正式开展对电容器的老化测试工作。(三)可程控直流电压源设计该直流电压源内具备多独立输出通道的0V15V可程控直流电压源,纹波不超过10mV,输出电流60mA,经过调整后的精准度可超过0.5%,在输出电压为10V时,扩展不确定度为2.21mV。核心控制单元为IAP15W4K58S4单片机,为了符合I/O接口引脚占用较大的需求,则封装选择型号为LQFP64L的64引脚。在辅助

30、电源设计上,需要将220V 50Hz的市电电压转化为0V15V的可程控直流电压源所需的电压,再凭借整流桥的力量,将交流电转化为直流电。整流桥为IN4007整流二极管4支,通过滤波电路便可过滤掉直流电压内的纹路,在电压稳定之后,直流电压可以通过AMS1117-2.5、AMS1117-5.0的芯片,分别产生2.5V、5V的基准电压和工作电压。(四)串口通信设计由于可程控直流电压源、监测采集单元均采取USB串口通信的方法,实现和计算机构成通信连接的功能,可以说明USB串口通信将作为上位机、下位机之间通信的纽带。且USB为相对常见的串口通信模式,计算机通常存在若干USB接口,能够满足计算机和有关设备的

31、通信需求。该系统内的USB串口通信电路可选择CH340芯片,芯片内存在电源上电复位电路,无需单独提供其他电源复位,支持3.3V、5V的外部电源供电,还支持50bps2Mbps的通讯波特率。串行数据输出引脚将和输入引脚、控制单元的单片机I/O接口加以衔接,外围电路是频率为12MHz的晶振与22pF高频振荡电容,可以为CH340芯片提供频率时钟信号。串口通信电路整体上将经由USB总线接口和计算机连接,实现上位机、下位机之间通信的功能。(五)环境试验箱设计该系统可选择ZB-HT-S-225环境试验箱,具备高低温交变湿热的能力。该环境试验箱具备多种类型的保护装置,操作安全且运行平稳,噪音较小,抗腐蚀和

32、生锈能力较强。存在可外接式的供水系统,提供自动回收使用的功能,便于用户随时观察加湿桶水位。还具有照明视窗灯、耐高温除雾设备,为用户观察试验箱内的具体测试情况提供诸多便捷。内部的电源、控制电路和加湿管路相分离,用于规避漏水引发的安全事故。该环境试验箱以可操作触摸屏为主要的人机交互硬件,或可经过RS232串口通信和主控计算机进行通信连接,为用户提供远程控制的服务。该环境试验箱主控制器的功能可概括为监视画面、曲线显示、操作设置、程式设置、预约设置、画面设置,其中,用户可直接触摸屏幕设定操作选项,显示屏上可显示各项参数和箱内的测试状态,将测试中的温湿度变化以曲线的方式进行显示等。表1为该环境试验箱的主

33、要参数。表 1 ZB-HT-S-225环境试验箱主要参数(六)老化测试夹具设计测试用夹具可划分为固定支架、金属探针、老化板3个部分,支架具有支撑作用,探针用于固定待测电容器,而老化板则是探针和待测电容器的载体。考虑到老化测试需要在可变温湿度环境下开展,说明测试用夹具应具有耐高压、耐高温、耐腐蚀的特点。因此固定支架的材料上可选择316#不锈钢,便于机械结构的焊接,且在高温环境中仍然可以维持物理机械性能而不出现变形的问题。金属探针材料可选择黄铜镀金,探针长度、针头直径应分别控制为4.8cm、5mm,允许通过最大电流为15A,采用弹簧伸缩的原理固定好待测电容器,而探针针杆尾部则和外部接线铜柱加以配合

34、。老化板材料可选择聚四氟乙烯,具有耐高低温、耐腐蚀、高润滑、高绝缘、无毒无害的特点,符合老化测试夹具的基本需求。由于环境试验箱内部空间尺寸限制的缘故,测试用夹具可采取分层结构,每一层均安装2块老化板,2个金属探针构成1个测试工位,同时设置好导轨,便于用户以推拉的形式装载待测电容器。测试用夹具同直流电压源、监测采集模块的连接方法为插拔式,能够防止该系统因长期使用而出现的线路损坏问题,便于用户开展各种设备连线工作,在出现故障问题之时还具有调试便捷的优势。参考该系统的老化测试要求,构成设备之间的连线均可运用AGG硅橡胶高压电线,额定电压、工作温度分别为5kV、-60180,具有方便安装、材质柔软的显

35、著优点。为防止沿用传统走线方法后出现问题,可以在固定支架的后板上安装香蕉头插座,以及对应相同数量的金属探针,便于明确每对金属探针相应的正负极。使用AGG硅橡胶高压电线直接连接香蕉头插座和金属探针,而其他设备则只需要经过香蕉插头,连接各工位对应的香蕉头插座。该走线方法便于用户调试系统、排查故障时,只需将外接插头更换连接位置,而无需接触金属探针,不存在连接线折叠的现象,避免电压线的损坏。结束语综上所述,在科技迅速发展的趋势下,提升电子元器件的稳定性、可靠性对于未来的科技进步具有现实意义。因此,技术人员要做好电子元器件老化测试系统设计工作,为测试的科学开展提供保障条件,通过明确整体设计思路和工作原理

36、,设计好直流电压源、串口通信、环境试验箱、测试用夹具等部分,带动我国电子元器件检测产业的长远发展。然而,我们也应认识到,随着电子元器件的复杂性和微型化趋势,老化测试系统的设计将面临更多的挑战。例如,如何在微型化的元器件上进行精确的测试,以及如何在复杂的环境条件下保持测试的精度和稳定性,都是我们需要关注和研究的问题。因此,未来的研究应该更加深入地探讨这些问题,以便我们能够设计出更加高效、精确的电子元器件老化测试系统。参考文献:1 刘娟,袁咏歆.电子元件老化筛选设备在线检测技术研究 J.电子测试,2022,36(04):91-92,9.2 陆晓峰,陶知,林凡淼等.一种高温动态老化测试的信号驱动板设计与实现 J.电子元器件与信息技术,2021,5(12):44-45.3 王玺,赵谢.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制分析 J.电子元器件与信息技术,2021,5(06):31-32,37.4 李雪.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制分析 J.电子技术与软件工程,2020(20):70-71.5 张全.电子元器件的筛选与电子元器件质量控制 J.电子元器件与信息技术,2019(03):99-101,106.

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