DA∕T 38-2021 档案级可录类光盘CD-R、DVD-R、DVD+R 技术要求和应用规范.pdf

I C S0 1. 1 4 0. 2 0C C SA1 4中 华 人 民 共 和 国 档 案 行 业 标 准D A/T3 82 0 2 1 代替D A/T 3 82 0 0 8档案级可录类光盘C D - R、D V D - R、D V D+R技术要求和应用规范T e c h n i c a l r e q u i r e m e n t s a n d a p p l i c a t i o n s p e c i f i c a t i o n f o ra r c h i v a l r e c o r d a b l e d i s c C D - R,D V D - R,D V D+R2 0 2 1 - 0 5 - 2 6发布2 0 2 1 - 1 0 - 0 1实施国家档案局发 布9D A/T 3 82 0 2 1 前 言本文件按照G B/T 1. 12 0 2 0 标准化工作导则 第1部分: 标准化文件的结构和起草规则 的规定起草。本文件代替D A/T 3 82 0 0 8 电子文件归档光盘技术要求和应用规范 , 与D A/T 3 82 0 0 8相比,除结构调整和编辑性改动外, 主要技术变化如下: 将档案级可录类光盘C D - R湿热试验后“ 块错误率B L E R1 5 0” 更改为“B L E R0;D V D - R、D V D+R光盘P I E2 8 0或奇偶校验外码失败(P O F)0。3. 3 块错误率 b l o c k e r r o r r a t e;B L E R每秒C 1解码器检测到的具有1个或多个错误符号的帧数目。注: 单位为帧每秒。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 3 5 LM3. 411D A/T 3 82 0 2 1 不可纠正错误 u n c o r r e c t a b l e e r r o r s;E 3 2在C 2解码中不可纠正的错误。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 3 73. 5 奇偶校验内码错误 P I e r r o r;P I E当执行首轮P I行校验时, 一个E C C块中的某一行如果有一个或更多的字节出现错误, 就是一个P I错误。P I E(8 E C C) 是指在8个连续的E C C数据块的出现错误的行数总数。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 4 13. 6 奇偶校验外码失败 P O f a i l s;P O F经过解码器首轮P I行纠错和P O列纠错后仍不能校正E C C数据块内所有的数据。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 4 23. 7 抖晃 j i t t e rC D - R、D V D - R、D V D+R光盘记录后信息坑和信息台扫描时间的标准偏差。对C D - R光盘来说,J i t t e r是3 T1 1 T信息坑和信息台扫描时间的标准偏差。抖晃包括坑抖晃(J i t t e r f o r nT P i t,n=31 1,JnP) 和台抖晃(J i t t e r f o r nT L a n d,n=31 1,JnL) 。对D V D - R、D V D+R光盘来说,D C J i t t e r即数据和时钟之间的抖晃, 是读出高频信号(HF) 与判定基准电平(D e c i s i o n L e v e l) 相交处的计时变化。D C J i t t e r测量所有数据边缘( 指凹坑和台交界处) 与参考时钟脉冲边缘相比较的标准偏差, 用系统时钟长度的百分比来表示。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 4 3, 有修改3. 8 跟踪误差 t r a c k i n g e r r o r;T E参考驱动器测量径向跟踪伺服剩余误差信号与开环跨道信号峰峰值的比值。注: 表征高速旋转光盘径向跟踪能力的参数, 可录光盘在高倍速读写过程中, 光学头需要精确锁定径向轨道位置,跟踪误差太大, 光学头可能失去道跟踪, 导致刻录过程的掉速, 甚至刻录失败。跟踪误差通常和偏心有关, 也和盘片的翘曲有关。 来源:D A/T 7 42 0 1 9,3. 1 53. 9 聚焦误差 f o c u s e r r o r;F E参考驱动器测量垂直聚焦剩余误差信号与开环聚焦信号(S曲线) 峰峰值的比值。注: 表征高速旋转光盘的垂直聚焦能力的参数, 可录光盘在高倍速读写过程中, 光学头在刻录时需要精确聚焦到信息面上, 如果聚焦误差太大, 光学头聚焦可能会偏离信息面, 导致刻录过程的掉速, 甚至刻录失败。聚焦误差通常和垂直偏差有关, 也和盘片的翘曲有关。 来源:D A/T 7 42 0 1 9,3. 1 6 。3. 1 0 批 l o t汇集在一起的一定数量的某种产品、 材料或服务。 来源:G B/T 2 8 2 8. 12 0 1 2,3. 1. 1 33. 1 1 接收质量限 a c c e p t a n c e q u a l i t y l i m i t;A Q L( 验收抽样) 可容忍的最差质量水平。 来源:G B/T 3 3 5 8. 22 0 0 9,4. 6. 1 521D A/T 3 82 0 2 1 4 技术要求4. 1 档案级可录类光盘C D - R4. 1. 1 记录前,T E0. 4 5 n m。4. 1. 2 记录前,F E0. 5 0 n m。4. 1. 3 记录后,B L E R5 0帧每秒,E 3 2=0。4. 1. 4 记录后, 信号对称性(S YM) 应为-0. 1 50. 1 0。注: 对称性(s y mm e t r y;S YM) 表征C D类高频信号中I3中心电平与I1 1调制中心的相对偏差, 详见G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 1 4。4. 1. 5 记录后,J i t t e r:JnP3 5 n s,n=31 1;JnL3 5 n s,n=31 1。4. 1. 6 按照附录A的方法检测, 光盘的B L E R1 6 0帧每秒,E 3 2=0。4. 2 档案级可录类光盘D V D - R、D V D+R4. 2. 1 记录前, T E0. 4 5 n m。4. 2. 2 记录前, F E0. 5 0 n m。4. 2. 3 记录后, P I E8 0, P O F=0。4. 2. 4 记录后, 不对称度(A S YM) 应为-0. 0 50. 1 5。注: 不对称度(s i g n a l a s y mm e t r y;A S YM) :D V D - R、D V D+R光盘记录后高频信号中I33 T信息坑( 岸) 产生的反射信号电平大小 中心电平与I1 41 4 T信息坑( 岸) 产生的反射信号电平大小 中心电平的相对偏差。表征D V D - R、D V D+R光盘记录后高频信号的不对称性, 用I3中心电平与I1 4中心电平的相对位置来描述nT(n=31 1、1 4) 坑与台的长度不对称状况。见图1。图1 不对称度A S YM= (I1 4 H+I1 4 L) /2-(I3 H+I3 L) /2 / (I1 4 H-I1 4 L)式中:(I1 4 H+I1 4 L) /2 I1 4的中心电平;(I3 H+I3 L) /2 I3的中心电平;(I1 4 H-I1 4 L) I1 4幅值。 来源:G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7,2. 1 5, 有修改4. 2. 5 记录后, D V D - R的D C J i t t e r 9%,D V D+R的D C J i t t e r 9%。4. 2. 6 按照附录A的方法检测, P I E1 8 0, P O F=0。4. 3 其他要求4. 3. 1 原材料选择、 生产工艺和出厂质量检测应符合附录B的要求。31D A/T 3 82 0 2 1 4. 3. 2 其他指标应符合G B/T 3 3 6 6 22 0 1 7的要求。5 刻录前检测5. 1 应对空白档案级可录类光盘进行抽检, 检测参数包括T E、F E。检测合格(C D - R符合4. 1. 1、4. 1. 2要求,D V D - R、D V D+R符合4. 2. 1、4. 2. 2要求) 的空白光盘才可用于数据刻录。5. 2 光盘的检测应在温度(2 32)、 相对湿度4 5%5 0%、 大气压力8 6 k P a1 0 6 k P a的环境中进行。检测前光盘应在检测环境中放置2 h以上, 光盘上不应出现凝露现象。5. 3 光盘检测设备的检测光路和检测光学头应符合附录C的要求。5. 4 检测前, 检测设备应用基准光盘校验定标, 保证检测数据的可靠性和一致性。5. 5 同一批光盘, 可按7. 6、7. 7、7. 8的方法进行抽样检测。如果所检批样本不合格数未超过接收数A c, 则认为该批合格, 但样本中的不合格品应废弃。如果所检批样本不合格数达到或超过拒收数R e,则判断整批光盘为不合格品。6 光盘数据刻录6. 1 空白光盘应使用检测合格的空白档案级可录类光盘。6. 2 光盘刻录机6. 2. 1 应使用经检测性能合格的专业光盘刻录机。6. 2. 2 选用的刻录机应能识别档案级可录类光盘的最佳写功率和写策略。6. 3 数据刻录6. 3. 1 数据刻录工作环境应符合9. 2. 1的规定, 并有良好的通风条件。光盘刻录前, 应在工作环境中放置2 h以上。6. 3. 2 光盘数据内容应符合G B/T 1 8 8 9 42 0 1 6的要求。6. 3. 3 应先将电子档案制作成映像文件, 在刻录之前关闭系统其他应用程序, 然后采用全盘一次刻完(D i s c A t O n c e,D AO) 方式进行光盘数据刻录。6. 3. 4 应采用中速刻录光盘数据, 即C D - R光盘采用2 44 0倍速刻录速度,D V D - R、D V D+R光盘采用81 2倍速刻录速度。6. 3. 5 光盘数据刻录完成后应设置成禁止写操作状态。7 刻录后检测7. 1 刻录后应对光盘进行抽检或全检,C D - R光盘的检测参数包括B L E R、E 3 2,D V D - R、D V D+R光盘的检测参数包括P I E、P O F。检测合格( 符合4. 1和4. 2的要求) 的方可保存; 不合格光盘应报废, 重新刻录并检测合格后才可保存。7. 2 光盘的检测环境应符合5. 2的规定。7. 3 光盘检测设备的光路和光学头应符合附录C的要求。7. 4 光盘检测前, 检测设备应用基准光盘校验定标, 保证检测数据的可靠性和一致性。7. 5 相同条件下( 相同软硬件平台、 相同刻录倍速、 相同工作环境等) 刻录产生的同一批光盘, 可依据G B/T 2 8 2 8. 12 0 1 2进行随机抽样检测。41D A/T 3 82 0 2 1 7. 6 AQ L的数值应不大于1, 按一般检验水平来抽检; 根据批量光盘数N, 按照附录D表D. 1样本量字码表的规定确定出样本量字码。7. 7 根据样本量字码和AQ L, 按照表D. 2正常检验一次抽样方案的规定确定出接收数A c、 拒收数R e以及需要抽检的样本量n。7. 8 按系统随机抽样方法确定抽取样本: 首先给批中每个光盘编号1N, 然后确定抽样间隔, 若样本量为n, 则取N/n的整数部分作为抽样间隔, 最后按抽样间隔从批中抽取样本。7. 9 执行上述方法进行抽样检测后, 如果所检批样本不合格数未超过接收数A c, 则认为该批合格, 但应把所抽检的样本中不合格品重新刻录后再交验。全部合格后的批方可保存。如果所检批样本不合格数达到或超过拒收数R e, 则判断整批产品为不合格产品, 整批产品应返工后再交验。合格后才可保存。8 光盘的标签8. 1 如果需要在标签面书写, 应使用内含水性墨水的软笔。标签面完全被软笔字迹色素覆盖的光盘按照附录A的规定进行湿热试验后应符合要求。光盘湿热试验可委托专业机构完成。8. 2 如通过光盘打印的方法制作光盘标签, 应使用支持光盘盘面打印的打印机, 在计算机上排版和操作打印机。标签面完全被打印字迹色素覆盖的光盘按照附录A的规定进行湿热试验后应符合要求。8. 3 不应使用粘贴标签。9 光盘的保存、 使用和维护9. 1 光盘的保存9. 1. 1 光盘应根据光盘盒特性垂直存放或水平存放。9. 1. 2 保存环境的温湿度应符合下列要求: 温度4 2 0 , 相对湿度2 0%5 0%; 温湿度选定后, 每昼夜温度波动幅度不应大于2 , 相对湿度波动幅度不应大于5%。9. 1. 3 保存环境照度应不小于5 0 l x( 垂直面、 高度0. 2 5 m) , 照明光源紫外线含量不大于7 5 W/l m。9. 1. 4 保存环境中有害气体及颗粒物应符合表1所列要求。表1 光盘保存环境中有害气体及颗粒物的要求有害物种类允许值单位二氧化硫(S O2)1 01 0-9( 体积分数)氮氧化物(NOx)1 01 0-9( 体积分数)臭氧(O3)1 01 0-9( 体积分数)乙酸(CH3C OOH)41 0-9( 体积分数)甲醛(HCHO)5 0% Im a x径向:3 5% Im a x切向:5 0% Im a x径向:6 0%7 0%Im a x切向:9 0%Im a x像差0. 0 7 r m s0. 0 3 3 r m s0. 0 3 3 r m s02D A/T 3 82 0 2 1 附 录 D( 规范性)样本量字码及正常检验一次抽样方案 表D. 1、 表D. 2给出了样本量字码、 正常检验一次抽样方案。表 D. 1 样本量字码批量特殊检验水平一般检验水平S - 1S - 2S - 3S - 428AAAAAAB91 5AAAAABC1 62 5AABBBCD2 65 0ABBCCDE5 19 0BBCCCEF9 11 5 0BBCDDFG1 5 12 8 0BCDEEGH2 8 15 0 0BCDEFHJ5 0 11 2 0 0CCEFGJK1 2 0 13 2 0 0CDEGHKL3 2 0 11 0 0 0 0CDFGJLM1 0 0 0 13 5 0 0 0CDFHKMN3 5 0 0 11 5 0 0 0 0DEGJLNP1 5 0 0 0 15 0 0 0 0 0DEGJMPQ5 0 0 0 0 1及以上DEHKNQR12表D.2 正常检验一次抽样方案D A/T 3 82 0 2 1 22