光缆测试报告.doc

MLC项目通信传输系统

光缆测试报告

北京建谊建筑工程有限公司
2010年7月21日

一、 光缆测试说明
1、 通信系统说明
MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。
2、 光纤使用说明
1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；
2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；
3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；
4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；
5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；
6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；
此次测试针对以上6部分进行。
3、 测试仪器
采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。
4、 相关图纸
《MLC项目通信系统光纤传输路由图》
二、 光缆测试内容
光缆测试包括以下内容：
² 光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；
² 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；
具体说明如下：
光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；
3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；
三、 测试目的
序号
测试内容
测试目的
合格标准
备注
1
光缆熔接损耗
检查光纤熔接质量
每个熔接点损耗＜0.08dB
光纤熔接规范
2
西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜25dB
通信设备对光衰减的要求
3
西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜25dB
通信设备对光衰减的要求
4
京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜15dB
通信设备对光衰减的要求

四、 光缆测试记录
1、 西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录
在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：8层MLC机房
测试地点：7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
2.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
3.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
4.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
5.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
6.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
7.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
8.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
9.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
10.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
11.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
12.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
13.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
14.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
15.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
16.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
17.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
18.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
19.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
20.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
21.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
22.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
23.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
24.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

2、 京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：1层MLC机房
测试地点：B1层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
1.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
2.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
3.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
4.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
5.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
6.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
7.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
8.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
9.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
10.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
11.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
12.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
13.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
14.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
15.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
16.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
17.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
18.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
19.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
20.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
21.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
22.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
23.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
24.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：1层MLC机房
测试地点：3层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
1.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
2.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
3.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
4.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
5.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
6.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
7.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
8.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
9.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
10.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
11.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
12.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
13.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
14.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
15.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
16.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
17.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
18.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
19.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
20.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
21.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
22.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
23.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□
24.
每个熔接点损耗＜0.08dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

3、 京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：1层MLC机房
测试地点：7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
2.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
3.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
4.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

多模光缆2测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：1层MLC机房
测试地点：7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
2.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
3.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□
4.
每个熔接点损耗＜0.3dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

4、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减
在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
西直门8层MLC机房
测试地点：
京投大厦西辅楼1层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
1.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
2.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
3.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
4.
链路损耗＜25dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

5、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
西直门8层MLC机房
测试地点：
京投大厦东辅楼3层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
13.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
14.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
15.
链路损耗＜25dB

是□ 否□
16.
链路损耗＜25dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：

6、 京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
京投大厦西辅楼1层MLC机房
测试地点：
京投大厦东辅楼3层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
1.
链路损耗＜15dB

是□ 否□
2.
链路损耗＜15dB

是□ 否□
3.
链路损耗＜15dB

是□ 否□
4.
链路损耗＜15dB

是□ 否□

测试结论：

通过□ 不通过□

施工单位（签字）： 监理单位（签字）：

日 期： 日 期：