光缆测试报告.doc

MLC项目通信传输系统光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日一、 光缆测试说明1、 通信系统说明MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。2、 光纤使用说明1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；此次测试针对以上6部分进行。3、 测试仪器采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。4、 相关图纸MLC项目通信系统光纤传输路由图二、 光缆测试内容光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；三、 测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗0.08dB光纤熔接规范2西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求3西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰减的要求4京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量15dB通信设备对光衰减的要求四、 光缆测试记录1、 西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：2、 京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：B1层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：3层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：3、 京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：多模光缆2测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：4、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦西辅楼1层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗1.链路损耗25dB是 否2.链路损耗25dB是 否3.链路损耗25dB是 否4.链路损耗25dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：5、 西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗13.链路损耗25dB是 否14.链路损耗25dB是 否15.链路损耗25dB是 否16.链路损耗25dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：6、 京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：京投大厦西辅楼1层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗1.链路损耗15dB是 否2.链路损耗15dB是 否3.链路损耗15dB是 否4.链路损耗15dB是 否测试结论： 通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：