资源描述
用透射光栅测波长存在的问题
作 者:冷建军
指导老师:毛杰健
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摘要:分析了用透射光栅测波长和光栅常量的实验中,某些因素对测量结果精确度的影响,并提出了提高测量精确度的方法和依据。
关键词:透射光栅;光栅常量;衍射角;光谱级数; 波长
中图分类号:0426
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1、 引言
分光计是用来精确地测量入射光和出射光之间偏转角度的一种仪器。用它可以测量折射率、色射本领、光波波长、光栅常数等物理量。 本实验是利用分光计根据光栅衍射原理测定光栅常数。
实验中,平行光经过透射光栅衍射后,满足光栅方程:
(k=0,±1,±2,…) (1)
其中为光栅常量, 为衍射角, 为衍射光谱的级数。
若用自然光作为光栅入射光,经光栅衍射后,对同一级条纹(相同),光栅色散的主极大位置随波长不同而谱线的位置在空间上分开,排列成红,橙,黄,绿,蓝,靛,紫的光谱带。根据光栅衍射规律:在已知某一颜色波的波长λ时,利用分光计测出第级该颜色波的衍射角,根据方程(1)可以求出光栅常量。对于同一光栅,为一定值,测定出某谱线的衍射角和光谱级数,根据光栅方程求出该谱线的波长。但是由于入射光的组成,光栅刻度,光学系统共轴等因素对测量结果有影响,实验中存在着下列几个问题。
2、 选择光谱级数较小的谱线进行测量
光谱重叠问题是光栅光谱中的一个重要问题。
由于入射光由不同波长的光组成,那么每一波长都将产生和它对应的细窄明亮的条纹,这样就可能造成光谱中不同级数的谱线进行叠加。通常在三级以上有部分光谱叠加。那么在实验中如何选择光谱级次测量呢?
假设光源中只包含两种波长,光,经过透射光栅后,它们的同一级光谱线已经分开,对方程(1)微分:
(2)
K一定时,为定值;K越大,同时越大,越小,其结果增大,所得到的衍射光谱的谱线间的距离随着光谱级数的增高而增大,在测量时,所以应该选取级数较小的光谱进行测量。
为了使测量更精确,可以考虑在光路中使用滤光片,以滤去不需要观察的谱线,使实验更精确。
3、光源谱线频带的宽度,对测量结果的影响
光栅能将不同波长的光分开,如果波长很接近的两条谱线,就不一定能被分辨出来。
因为这与谱线的宽度有关。根据瑞利判据:一条谱线的中心恰有另一条谱线的距谱线中心最近一个极小重合时,两条谱线刚好能分辨。
设表示波长相近的两条谱线的角间隔,表示谱线本身的半角宽度(某一极大中心到相邻的一级极小的角距离),角间隔取决于光栅把不同波长的光分开的本领。对光栅方程进行两边微分:
(3)
于是得波长差为 的两条K级谱线的角间距为:
(4)
对第K级谱线:
(5)
和这一谱线相邻的一级极小的方向 应使得从光栅上下两边缘的两条缝发出的光的光程差比NKλ 还多一个λ。
即:
(6)
用(6)-(5)得:
(7)
在(7)式中:由于的值不大,故
(8)
由(7),(8)两式可得:
(9)
可见,谱线的半角宽度与及和有关,值越大,越小。所以,应选用值大的,即单位宽度内刻痕较多的光栅,能提高测量的精度。
由上述推论可知,光源谱线是具有一定的宽度的,那么测量时该如何操作呢?
假设用一种单色光做实验,单色光中含有一主波长及和该波长相差不大的光。其衍射图样如图1:
o的左右两侧有一系列亮纹,选择其中的左右第一级光谱进行研究。
根据方程(9),测出的光栅常量中必会含有一个值,其中:
(10)
在实验中,可以测 A、C两边, B、C两边, A、D两边,或B、D两边的位置来确定。显然,若测A、D和B、C两边的位置,会使得 有一最大和最小值。
为了解决这个问题,在实验中测量时可以选择第-1 级B边和第1级D边,然后选第-1级A边和第1级的C边测量,最后用两次结果求平均值,可以很好的减小实验误差。
4、不共轴,对测量结果的影响
实验要求光栅衍射面应调节到和观测面度盘平面一致。但在实际作用中,光束不一定垂直照射光栅面,也就是入射光与光栅不共轴。
如果平行光斜入射(即),经光栅衍射后形成明显条纹有两种情况。
4.1衍射光与入射光位于光栅法线同侧
如图2,两缝光程差为 :
光栅方程应为:
(11)
变形得: (12)
(12)式中,当时,最大,右边是定值,故最小。记,即为一最小偏向角。
记,则(11)式可以写成 (13)
4.2衍射光与入射光位于光栅法线异侧
如图3,两缝光程差为 :
光栅方程应为:
(14)
变形得: (15)
若以表示入射光与第K级衍射光的夹角,则
(14)式中要使最小,则要求最大,只有当
综合以上分析,关键在于测出最小偏向角,偏可计算波长。并且可以很好的减小实验误差。
那么实验中该怎么测定最小偏向角?
先固定游标盘,望远镜分划板竖线对准该谱线,记下游标盘读数,再调望远镜,使分划板竖直线对准入射光,记录此时游标盘的读数,二者之差即为该谱线的最小偏向角。
5、结论
由上述讨论可知,实验中提高测量的准确度的方法主要有:一要选取级光谱线测量,并在光路中使用滤光片;二要选用值大的光栅;三要分光计尽量与光栅平面垂直,可提高测量波长的精确度。
参考文献:
[1]姚启钧.光学教程(第三版)[M] .北京:高等教育出版社 2002.
[2]雷肇棣. 物理光学导论[M] . 成都:电子科技大学出版社1985.
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[5]杨述武主编. 普通物理实验[M] .北京:高等教育出版社2000.
[6]中国科学技术大学普通物理实验室编。大学物理实验[M] .合肥:中国科学技术大学出版社 1996
Some problems on measuring wavelength with diffraction grating
Author: Leng Jianjun
Counselor: Mao Jiejian
(Grade 2001 Physics Department of Shangrao Normal Colloge,Shangrao Jiangxi 334001)
Abstract: The sources of error in the experiment of measuring wavelength and grating constant with diffraction grating are analyzed .The improving method and theory base are also provided.
Key words: diffraction grating, grating constant, diffraction angle, order of spectrum, wavelength
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