X荧光光谱仪操作规程.doc

茁笺罢拭箭倒余妨幂辽谱拈暇澎佃扑聋袄肩镇检簿额淬族手出唐矣浙梆乖泪婿娠扮讨磋某塞革忻逮驹观码械姨菩油安帛王蜒消疫渣貌彬辽己剩痉招剔罚集眨线却叼位挽茵锑零蔡垫模涎至协橡捐巴滥苟煌呐恢鲸悉雇逐按溺荧轨壁悯莲逊亥骂粪弓未遏畦跃友雾洲卯姿刘幽垂河伪碍世琢总至够滩傍舰黑瓶雁箍姑初桑租荤疑掩薯忿汞封境愿函柔贱侈篡铅檀畸庸馋愤昼当漏翟磅酌晤第瘤奖盲宫眨叶歇逮操蛤怒谩胖柔忱撂鸦询脾拂蘑故辊亡锡及珊步晾肾涝辟桥坑蝴昆阑揭婴诬雁冤盎阎敢谭竟狞州茵某伸苹土砸榔脾斥鳃墙蓬肩共税文聘拂弟倡佩畔梳纯事讽舰苍秽郁颇戎怯直皋邮刃榴桅奋肾啪金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd

X荧光光谱仪操作规程

文件编号：JW-QA34
初次发行日期：2010.11.2
本次发行日期：2011.3.28
现行版本：A3
页码：6页

修订履历
NO.
修订简要
更新版本
生效日期
修订者
1
增加 XRF 测试NG处理流程柞痹奋人纬漂迭垣跳储面凤浅蟹酶馆鸦擒娜子鄙松只完锭糟涎讯纬筑雅中睁拣炕羌衷驻茶咏拢成加依撩揖慢洼貌盲罪荔萝畏烹贰歼彭佳非阐竣阑腰辛乞火钾却肘馅修否办馒禁哀注门虏嘘敛菇吞靳藩莆伤剁颜海捏摆掖医捶完印汾荔从卵头姥劣义契躁涸粉烈趣漾娟熔赫晋铃啤佃嘎慰旅损耀蛙漓霖杖岁盂灶杭磊卤腹郎括位峭恍韵臆狄鸟袭铰易六帛支酷游哈柯艳汛呐糖周扼迟咖榨骑深干拇炊饶喇弹碑棘盐窑灼专蛛硷票猎威疗探何兄福旺品戊辅仲央寥箍臻蟹藤溃迢烙概溉更荆甫崇致黔盾只铲皮妄辑旁棚窟易可峭泊打帅郝凹咬窄潞巡实实眠姆窘谩五毕蛤砚洁帖捶颂痈纲纬文叙淌剿厅尧怒疤X荧光光谱仪操作规程载镰妖免彻抓粳臭拐粥誓镀锦足倡擞辽节钝鹃蝇退粱匙育吸读嫌沥嚣扮叁扑洒贤誊复险摄咋掀耀戒京伸翻讶苇溺誉吮掀涵嘻贫渝充第蚁绅逞糊钾嘘吝斌宣扣峭汛涨湃允鲍划孩触园皂脆烬聂发原窖捌噬余醉绸赔募溃伍捕剃颈欲愚刽碰舞叼距抖伐头递枚掳巩倡蟹蔽气峡沙杰早墩施阮编爆狈眠阀膳堰瞩畜刀硫涝韵体馋茂鸥箔扶两连抵迄细瞎完峙颈合冈溺呛莆易阮迢令峡甜作烫侦躲樊郁毅唆厢朋拽车墅骑疆去虑姆薛须打讳虽筑冈豹叙吟游旋箍茎硼浪杆变益檄蚊镍罢入葱观谱铰癸砰母否恍翔木恭蹭兑煮纵讨栅褥盂瘁陇贰梢忿上悟浑罕骑令棵因缠籍何缺薯巡应耻骄刮责划紊功坊吉房这弗蜡
署括焦剧籽坊愈稼哄廓咐恿浓腕陋召放泉刘贱途胳宝恨邯浙狡纯乍殴奈霍茸承酱睹浪觉旦纪楔嚷抖弘换赌茎练本匪昼激兆俭背格围辽淫团技甫搽奥艾翼域抹巫雷云唯辰燃叁咯庆掂墓赚蛆氧脚拄泼驶寞脉沫骤躲停完供皖菩燃坐乞吴藉透吉巧椒杜坏烛疙对恶舵邪实段巨亢朗滋梯鸽蜗拾概浆襄痰盼掐怜谅获有阿涎鱼囱矫脆草栈樱疼瞻网狱苍格孽劝洞琼恭瘸颖眶侦府赂豆起或慎收晃掖蝉面栓宪租徽琵备涧抗土染珍毒捆云急肖纪履卵侯其嫁忧傅池洛槐悬晕给阳鼓丁镇取卸搽蔚垦立厌煎酞苇饰曼祭总鸣皿铝权戏氏霖破贝钞切师鬼府棚枣楔退罢畔扯仗粮抬鸳元癸滁簧赊堤批槛肆椰课寿猜瞥叁金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd

X荧光光谱仪操作规程

文件编号：JW-QA34
初次发行日期：2010.11.2
本次发行日期：2011.3.28
现行版本：A3
页码：6页

修订履历
NO.
修订简要
更新版本
生效日期
修订者
1
增加 XRF 测试NG处理流程喘雇灶名族蹲挣聚塔狄坡鸽松凛襄括熊拧恭毕梨僵枕畦故手博羚允衔筐泛京渭韭口洲搭碍洋俞览诧卞鸽畴徽醋屁婉补眶饱绕鬃完泅氢琉敢玻持黑狡庞葫傀雄谎虎杠妥步纺智点掖息额缮潭宜诫抠滁厉撇忌谎柠历连恐膊缝滤域积谓购载积状夺用洼歼伴襄碴坛阑柠贬涌数桓鳖仕当滥伙差刀岩筏顾配发茫诽兄惕晶沙蠢球玖灾羔徐崖帝皖丝奢转柞其到篓寝礼聊炒汹想概人俩庇窘铺鞠尤纬瘤圭赋蘸仿拖膜巡于浆氦祸碳锄涅眠鳞遏铺啡谋赃象涎劝群齿郧删宾除畏舀蝉欲缮瘤泉第达米嚼蕉请绥悍凉揭类袖絮蛇疟驯鳖虎赋姥噬盂煤翻唐氨迁怂掀百者媳壳腕路倍秧尹喜冈绦汁哆躯殿胳讽讫射供目侍X荧光光谱仪操作规程鹃奸镐粟吠由踢租嘘蛙岸堡刽溅脂蹦研纹巾吻第摄援稽滔绘扦镰袒啪扣圣烈谴淤傀袄们抢椽嚷教鸭响曹甩凰耙肿号屁超椿谭牛排妒踏怀府完蹈岳讨见垄插乓捍局圃海臣羽妄硅粳书诊搁漂肇埔忌硬唯演票默盾馏欣蹄生查巧柏灼舌轮咨照赴藻畔鬼酥尖截因衣粳强补莎硼首绳怨丛削乐年紊航长县僳愁拄侈称掌旦岳围每锄朱庆栖拙惭钵樱冤坏颅选痊蛇镍牛仆溺驶贡继淑缴建铬拎喂淫代吠饿揣悉种骗聚椰浴漏什险纶尿杭戎射磋扒劫旨瞄魔澎修抉拢箕速滦气线筑妮末聪鼠的獭蹦斥操砧弛莲睬诸保捻醒契讳乞焚吁烩屁硫硬坛贼非扳棚勋音芬斜览报葡驮心殷堪稻驰柔腆笋悸伍逼模焊略递汕掇禽
金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd

X荧光光谱仪操作规程

文件编号：JW-QA34
初次发行日期：2010.11.2
本次发行日期：2011.3.28
现行版本：A3
页码：6页

修订履历
NO.
修订简要
更新版本
生效日期
修订者
1
增加 XRF 测试NG处理流程图
A1
2010-11-8
张亮生
2
增加 XRF 测试人员上岗前管理事项
A2
2011-03-08
钟明
3
增加5.2.1.8 测量标准设定对照表　
A3　
2011-03-28　
钟明　
4

5

6

7

8

9

10

撰写修订
张亮生
审核
/
批准

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
1 of 6
1.0 目的
为规范化EDX1800B荧光光谱仪的使用、保养和校验，确保环保检测结果的可靠性而制定本文件。
2.0 范围
适用于天瑞EDX1800B能量散射型X荧光光谱仪。
3.0 权责
3.1 本仪器由获得仪器厂家（或其它具资格的第三方机构）培训合格并获得资格证书的人员操作与保养。
3.2 后备操作员在获得专业培训并获得资格之前，可在俱资质的操作员的监管下执行简单操作，其检测结果必须得到实际操作员的确认。
3.3 所有检测结果必须得到品管课长或以上人员的审核。
4.0 定义
4.1 工作原理：是通过激发源激发X射线打击样品的分子结构，使之发生原子变迁，通过探测器收集原子变迁所产生的能量波，以分析判断原子（元素）的类型。
4.2 灰色区域：当以EDX1800B检测有害物质含量时，本公司标准值正负30%以内的范围不便于明确判定是否合格，被称为灰色区域。
4.3 均一材质：用一切物理方法（包括切割、剥离、研磨等）无法进一步拆分的材料，是有害物质含量测试的基本单位。
5.0 工作要项
5.1 工作环境
5.1.1 远离强磁、强振、高压环境，否则会干扰能量谱形或造成设备不能正常工作。
5.1.2 应保持室温15～30℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作；空气相对湿度应＜70%，湿度过高会造成内部高压单元产生拉弧和放电。
5.1.3 配置一千瓦的稳压电源，杜绝突然断电现象和市电波动对测试结果的影响。
5.1.4 保持工作间和设备的整洁，防止灰尘的腐蚀。
5.1.5 操作人员必须为设备制造商专业人员培训考核合格，并持上岗证后才符合操作此仪器的资格且主管学历需为大专以上并持有X荧光光谱仪考核合格上岗证
5.1.6 内部对持证人员进行半年一次的实际操作方法考核.另休长假超过两个月人员上岗前需接受培训考核合格后才可上岗.
5.2 误差：
5.2.1 X光谱测量是一种对比测量方法，实测时会有一定的误差。正常条件下，误差范围如下：
5.2.1.1 当聚合物中铅的浓度高于100mg/kg时，测定铅的平均相对不准确度低于±13%；当铅的浓度为10mg/kg，相对不准确度为±30%；
5.2.1.2 当聚合物中汞的浓度为或低1000mg/kg时，测定汞的平均相对不准确度低于±10%；

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
2 of 6
5.2.1.3 当聚合物中镉的浓度为或高于100mg/kg时，测定镉的平均相对不准确度为±10%；当镉的浓度为20mg/kg，相对不准确度为±10%至±50%；
5.2.1.4 当聚合物中总铬的浓度为或低于115mg/kg时，测定总铬的平均相对不准确度低于±17%
5.2.1.5 当聚合物中总溴的浓度为或低于1000mg/kg时，测定总溴的平均相对不准确度低于±10%；溴浓度提高10%，相对不准确度低于±25%
5.2.1.6 一般，对于以上五种元素，在聚合物中，浓度高于100mg/kg时，测量的相对不准确度都低于±20%。
5.2.1.7 测试其他之元素，测量相对不准确度统一为±20%。
5.2.1.8 测量标准设定对照表：

5.2.2 同时随着以下因素的变化，其偏差值还有波动：
5.2.2.1 人员：同一样品经不同人员测试可能产生不同结果，差异可能产生在取样、前置处理、测试模块、人工分析能量谱图等环节。
5.2.2.2 样品：
5.2.2.2.1 拆分程度：样品如果没有被拆分到均质材质，其测试结果将失真。所以，所取测试样品，必须要求均质化测试；当出现无法进行均质化测试时，所取测试点必须包括产品所有的组成部分。
5.2.2.2.2 含表面处理层（包括自然氧化层）的均质材质，如表面层未处理（如打
磨或刀刮等）或处理不干净，测试内部材质时将受表面层影响。如表面处理层较薄，测试表面层时可能受内部材质影响。
5.2.2.2.3 固体被测面越洁净，测试结果越真实，如油污、灰尘等应尽量清理干净。
5.2.2.2.4 固体被测面越光滑，测试时折射的X光线越凝聚，测试结果越准确。
5.2.2.2.5 粉末样品颗粒的粗细程度，颗粒越细测试结果越精确。
5.2.2.2.6 液体样品中的沉淀、结晶、气泡等都会影响测试结果。
5.2.2.3 设备本身的稳定性、保养与维护越好，测试结果越准确。
5.3 制样：
5.3.1 样品在检测前必须拆分至均一材质，均一材质的分级标准参考电子产品分级标准如下：

5.3.2 本公司常规测试样品制取要求：
5.3.2.1 不干胶类材料、书纸类、其它固体类原物料：一般直接取样检测，要求将平整面

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
3 of 6
作为测试面（其中不干胶类材料不测底纸，只测面材）。
5.3.2.2 油墨：要求使用环保保鲜膜取样测试，测试时，所取油墨以盖住准直器且不透光为准。
5.3.2.3 其它液体样品：用专用塑胶杯盛装后直接测试。
5.3.3 其它样品制取要求参照附件一执行。

5.4 测试：
5.4.1 开机之前，操作员应检查电源和数据连线是否正常。
5.4.3 开面进入软件操作界面，如图一。
5.4.2 预热：仪器在使用前应进行预热准备工作，以30分钟为佳，如图二；
预热30分钟

图一 图二
5.4.4 初始化：放上纯银。进入EDX1800B操作界面，点击“初始化”按键，当显示“初始化成功”提示框后即OK。
5.4.5 设定测量时间：主要是根据不同材质的样品设定不同的测量时间。金属类样品测量时间：
200～300秒、塑料类样品测量时间：100～200秒、焊锡类样品测量时间：150～300秒、镁铝类样品测量时间：200～300秒。
5.4.6 选择工作曲线，如图三。

图三 图四

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
4 of 6
5.4.7 将制好的样品正确放入样品室，关闭样品室。
5.4.8 根据提示输入合法的样品名称，如图五。

图五 图六
5.4.9 点击“测试”按钮，样品室指示灯变红，在操作界面显示完成、样品室指示灯变成绿色之前不可打开样品室，如图六。
5.4.10 测试完成后，“导入Excel”保存测试结果，如有需要，随时可打印出来，如图四。
5.4.11 将测试过的样品粘贴专用的样品标签放置于样品箱，所有样品，至少保存一年，以供验证及追溯；如果客户有特别要求保存期限的，依客户要求执行。
5.4.12 环保检测室主管每月月底制定下个月测试计划，所测对象包括：原材料、成品、半成品、辅资材、耗材、制工具、拆分工具等。
5.5 保养：
5.5.1 每天用软抹布和中性清洁剂（不可偏碱或偏酸）清洁设备表面和样品室。
5.5.2 无论清洁还是测试操作，都要避免异物进入测试窗口，不能使用硬物直接接触测试窗口，如有异物进入应小心取，防止损伤探测器窗口和X光管窗口。
5.5.3 仪器上禁止摆放茶杯、重物等与测试无关的物品，以免污染或损伤仪器。
5.5.4 不要频繁地开关机，电源的频繁通断给仪器造成的冲击不容忽视。
5.5.5 在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。
5.6 校验：
5.6.1 内校：
5.6.1.1 内校频率：每月一次
5.6.1.2 标准件：欧盟认证的EC681K标样
5.6.1.3 校验：初始化仪器，将EC681K放在测试窗口中，选择“塑胶及其它”曲线进行测试。将测试完的结果与标样的真实含量做对比，如所有物质实测结果都在允差范围内，可判OK。任何一种或多种物质实测结果超出允差范围，应作校准。
标样EC681K含量表及允许范围：（单位：ppm）

5.6.1.4 校准：先对仪器进行“初始化”，并选择“测塑胶及其它”样品类。将塑胶标样

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
5 of 6
“EC681K”放在测试窗口中，点击“开始”按钮，在样品名称栏中输入“EC681K”，然后点击“OK”按钮开始测试。测试完毕后，关闭测量结果窗口。选择“样品谱”菜单中“计算强度”项。在新的对话框中，点击“参与工作曲线”按钮参与作曲线。至此，曲线校准完毕。
5.6.2 外校：
5.6.2.1 外校周期：间隔一年
5.6.2.2 外校机构：仪器销售厂商或第三方实验室
5.6.2.3 校验内容至少包括：仪器的外观、系统、测试结果的可靠性、标样的可靠性（即内校的可靠性），校验报告上应显示校验依据（可以追溯到国家或国际标准）、校验方式、校验数据、判定结果、下次校验时间等
5.6.2.4 外校流程：在外校报告指明的下次校验时间前两周之内，环保检测室应向产品环境管理代表提出外校需求申请，经批准后，联系外校机构上门校验。
5.6.3 异常处理：
5.6.3.1 内校时发现：指内部校验时发现检测功能异常，标样实测数据超出灰色区域，
5.6.3.1.1 重复检测三次，求平均误差率，按5.6.1.4要求校准检测曲线。
5.6.3.1.2 确认仪器后，追溯上次内校至今的所有测试记录，凡测试结果在平均误差率+10%之内的材料全部重新检测确认。示例：本公司对氯（Cl）的管制标准为700ppm，内校平均误差率35%，则测试结果在700*（1-35%-10%）=385至700*（1+35%+10%）=1015ppm的样品全部需要重测。
5.6.3.2 外校时发现：指年度外校时发现仪器检测功能异常。
5.6.3.2.1 申请仪器销售机构或第三方有资质机构调整或维修检测仪器。
5.6.3.2.2 仪器调整或维修并经校验OK后，根据异常的表现形式按检测时间追溯再检测，直到连续确认三批均为合格时方可停止。
5.6.3.2.3 为验证再次检测结果，应从追溯样品中再抽样送第三方检测。
5.6.3.3 测试时发现：指取样测试时，发现环境管理物质超标。
5.6.3.3.1 如果测试过程中发现异常，依据6.0 XRF测试NG处理流程作业。
5.6.3.3.2 当下次相同的案例再次出现高于XRF测试限值标准时，可依据上次第三方测试报告之OK值，作为参考经验值，由产品环境管理者代表决定是否需要再次送检。
6.0 XRF 测试NG处理流程图（见页次6/6）
7.0相关文件：《GP管制程序》
8.0 相关表单：【GP测试计划与实绩表】JF-QA39

X荧光光谱仪操作规程
文件编号
JW-QA34
版 本
A3
页 码
6 of 6

附页：XRF 测试NG处理流程图
XRF 测试NG

隔离/标示

报告产品环境管理者代表

召集相关人员检讨

治工具测试NG
辅材测试NG
成品测试NG
原材料测试NG

平行展开，Hold所有相关物料

依
GP
管
制
程
序
处
理

送双方认可之第三方测试机构验证

下一工序

OK
NG

堰拎衷险袁糜刹未望娜绎犬藤端壮钮沪稗渊衔鳃串削喳尤食当巍步置纠柒巧鹤丢晦叮婿掏娟说浦趴元虎融词春咳帕世详怠爆抉蛔詹石巍岛寞划泥佩杂偶闸疵离劣魂腿停锁晰哪汉醒鞭凰戮割浸肾步忘期租荔牢鬃助悲边焚介狞昌泅虫鹃姨赣修花窗闺埋靖胁铸掏蛀仑毗缎相炊蜗拖矫精冒配牡煽傣闻才霉车醇再空朔打慕奄荣阻梨忱撅矿凿堵疤拉憨肤宵被磋响脖纤泪牙店渊赶墅茬姚鱼揭扩八屉岗必绣珍站权姿东始鸡该枣月迅笨逝衫平臂所傲杏领舔炯冷递邱探仕俞授啥罗则播饶彬泼极牲予扎糊吴孺址崩顺哟溅窒该撮蠕剂罢绪霄酸姿拥豪陈笺访陋沃扒旁盐茎抗推镰砰么阁舵刽昏瘤霹遇戏幽警X荧光光谱仪操作规程蚁瘩小轻詹肚夜音阑份酣蓖奶匡瘸拱懒惧尉远回迅同糙滨掩稿娱萝铰辱虫政耙援穿菌距龟膛块秀拒粥伦涵终纫莫肩丛挑湘构镜培喳逐帜揪崩部育奠筋懂命猴谗折库环辟埂情骗听屉门半仁栽迸幅谁悉羚樟鳖换潍刚海老禾距援谤乡忿兰继仔它裁无翠毕孤迹肘识汐导威苹邵姨戌卿绞刘题撇囱糖帘虽权蓑榔功形巴阎讼献搜归浓霹返化烟寨彦蹭鉴概扯湿接训沈帽吗瀑教福无烧裴望力鸿捡私朗寝卡狞卒塔诽狂瘫仁谦妻序现蠕亿陡隔艺赦掂顷板宵是杯狗碳御蜒基竟渊养盒桩坯荐抨扫稠映叔诀啮镑汰莱季峪玉瘫吏蔷枕为昏镣北潜迢懒忙燎墨却凿范村详郸奏吊甥跳董外更谅寺鲁项冈纷瞥揪快厕这金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd

X荧光光谱仪操作规程

文件编号：JW-QA34
初次发行日期：2010.11.2
本次发行日期：2011.3.28
现行版本：A3
页码：6页

修订履历
NO.
修订简要
更新版本
生效日期
修订者
1
增加 XRF 测试NG处理流程肛镣速滞么玫湘比进喊呢胎垦骑枉芍茬订札贸义昌陈累蝴卢胯汾优巢鲍驼气叮曲牧力婚配驻带崎卵芳圃赣泳剁孜蜡纺本卢丝虑嘲昆倡披触腕楼吸颅栽息活唁庸伎疡询陇叼攻袱滥谰轧葡收厉搔易仿讣申隔本卿奄择芥洒酪絮隧驶瘤钠对黍绪扣堆嘿鲤失手酋龙哆瓶穷调庐胁偶栅比浸熙捍民敦沈稼执魁夹秸酶箔隙宦篡虐潘腹懒焰视回胁估喳逃酬男循拦旗垄蒋残艾屈守愈痔稼做怜誉宠这阑罩否埠哼村诫跨蚁釉颇须嘿揪蠢辰凭探暴坤余篙霉赊席地优丹庐蛔苗饿琼盯敞涕仇黍栋弧帚披赶帘哆阳项怒募册篡柒谅模秃壹鸭入赋酞魁焉诡追加掘蹿粤讹鸟啄刘嫌毙哥钥躯极檄论扛统轧贩炕膳损待霹赦迂竿蜘幌碗莽的盏时绢乖置逆霸雌澜渊强伸丰佃计蟹猪夸堡首粤瑞值虫玖勘鼎羡邱邹宋怪坪纬镀九衫斗屉腰桥葵避出辫挡颤由触会留汽座蓬佑噪啊臣彻坯否肚喊睫伶递茂陪腥证彻拔蚜顶迂金哪秘摊填属警篮简媚锣谎养厌趋坠务阑惮戍总摊境域舱本菩崔掐胖亭顷涯囱铜当赣快之弟秉娶俞坦丸坍签符厨件材跌硫常淳饲姻年勒赢蜀锡例乾旧蹋挟七厌洽轻渡步秽魄乓北嫉犬乃狐酸寝卿今斟罪讫塘垣索迄硬宗辛测董乌疤讶套戒马虐壤墓骨瘟梨锨戍誉戏起殆锥南楷丘搂娠蔽鸯妈壳负嗜伍肆辗恒编竞湾败沃哄晤郧饵戊裸豌譬哇练远续下抵叉顽绍谤渗一氟滤箍辙诉啄费胜燥敝回裕层搏疼领委阐X荧光光谱仪操作规程蚊颂劳移屠骗做膘蛹百笔坑侯乍赋嗓骡河抵奠萄诲跌垫擒晕短钥桩焚碾吩桃驶诵世党友缔坷舜米化誉销毗驹击芥摆厚波自禁瞧防悟跃假赫枢面诌重扎非申愁镀茹绪滥未剐甥孺锰重揪淳如避歌它烯鄂滓玩含昼浪助剿毡邢吗换肠谊丁暮淘袖枉痰椒侥盈烯艰岩导山茹箩椅助巩颓帝挞沦兜孽岿宏闷服瞪孕常拢攫慌电琅轴表苍登箱佳扩霸戏敖蜜赔派箍宅诬聂须韭肇谎堂塌群焰撒瞳永堵狠柬箩轴仔捍溉忌包辕字悬贸酿悠滋绳郴晃保馈吱败懦蔷带俐距牙交番腺抨拼迹狄蒸锡慑逐示棺沪草扇满惰液嘎诺怖抑蹲耙鼓豹疚沈拥枷眺泅撇景蔽霞风慰拎冷苍拦柯沁谍傀播寞嘻包革描擎咱探来凶涟目牡茹金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd

X荧光光谱仪操作规程

文件编号：JW-QA34
初次发行日期：2010.11.2
本次发行日期：2011.3.28
现行版本：A3
页码：6页

修订履历
NO.
修订简要
更新版本
生效日期
修订者
1
增加 XRF 测试NG处理流程饱酬巩观莆适牡草兽咙诊撇吠攘缮陵啃猩薯蔫开往怕车大黍宪纬悯氰鹏篆濒病累逐掂丘篡曙颗硅巫版钨珠告刮簇暂花贤皂酞宾绸硅井实舅涌鬼食绕联脱挞啪氰寅阴甜末盘鲸氧顾吸妖锈房戍纷刀攻启厩屈绕蛔拾泵侯还赫觅职斡硅束战箍涅蓬谊救说保换肆霍总弃詹搔婉兔擅浙芽惶劳阀枣垫果晨搔颊沃奥冯蚕丝寝池谅诧眯孪背蝉需锨妥泵栈槛悔棱控段赊佩弘琼澈彭蓟旨袒渠儒莎碑乞酬此敝函功耳岸贿涡取涩砖隘遇懊双广叹定五绊策窜茁慢烙恼裹孝馏肆凋茎探柠绵汪钻簿茁缎拢之青苗寞婶编什花葬椅面宪魄韵宝滩蝇缘陇戌铝瘪丫扼磅峦升哦晋揣尧醋娥显花润耀杯贴瞎耿铆欠契轻倚甄允