SJZ 21412-2018 雷达录取终端设备测试性设计指南[电子].pdf

中 华人民共和国 电子行业标准FL 0105 SJ/Z 21412-2018雷达录取终端设备测试性设计指南Guide of testability design for radar extract terminal equipment2018-01 -18 发布2018-05-01 实施国家国防科技工业局发布SJ/Z 214122018目 次1 范围 . 12规范性引用文件. . 13术语和定义. .14 缩略语. . . 35 七般要求. . . 36详细要求 . 5SJ/Z 21412-2018. 1刖 B本指导性技术文件由中国电子科技集团公司提出。本指导性技术文件由工业和信息化部电子第四研究院归口。本指导性技术文件起草单位：中国电子科技集团公司第二十八研究所。本指导性技术文件主要起草人：葛聪、严强、唐志群、翟尚礼、周晓明、武志功、张蓉。IISJ/Z 214122018雷达录取终端设备测试性设计指南1范围本指导性技术文件规定了雷达录取终端设备（以下简称终端设备）测试性设计的要求和方法，主要 包括测试性建模、测试性分配、测试性预计、制定测试性设计准则、故障诊断、测试性分析和验证等内 容。本指导性技术文件适用于地面及舰载雷达录取终端设备的测试性设计工作，其他设备的测试性设计 参照使用。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本指导性技术文件的引用而成为本指导性技术文件的条款。凡是注日期的引 用文件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本指导性技术文件，然而，鼓 励根据本指导性技术文件达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文 件，其最新版本适用于本指导性技术文件。GJB 438B-2009军用软件开发文档通用要求GJB 451A-2005可靠性维修性保障性术语GJB 2072-1994维修性试验与评定GJB 2547A-2012装备测试性工作通用要求GJB 3385-1998测试与诊断术语GJB/Z 145-2006维修性建模指南GJB/Z 1391-2006故障模式、影响及危害性分析指南SJ/Z 206 95-2016地面雷达测试性设计指南3术语和定义GJB 451A-2005、GJB 2547A-2012和GJB 3385-1998确立的以及下列术语和定义适用于本指导性技术 文件。3. 1雷达录取终端设备 radar extract terminal equipment以雷达（一般指地面及舰载雷达）目标信息（视频信号或点迹信息）作为数据源，提取目标的坐标 信息形成航迹并输出上报及显示（人机交互）的专用雷达终端设备。3. 2测试性 testability产品能及时、准确地确定其状态（可工作、不可工作或性能下降程度），并隔离其内部故障的一种 设计特性。GJB 2547A-2012,定义3.1.11SJ/Z 21412-20183.3诊断方案 diagnostic concept对产品诊断的总体构想，它主要包括诊断对象、范围、功能、要求、方法、维修级别、诊断要素和 诊断能力。GJB 3385-1998,定义3.1.6 .13.4故障检测率 fault detection rate(FDR)用规定的方法正确检测到的故障数与故障总数之比，用百分数表示。GJB 451A-2005,定义253,143. 5故障隔离率 fault isolation rate(FIR)用规定的方法将检测到的故障正确隔离到不大于规定模糊度的故障数与检测到的故障数之比，用百 分数表示。GJB451A-2005,定义2.5.3.153.6虚警率 false alarm rate(FAR)在规定的期间内发生的虚警数和同一期间内的故障指示总数之比，用百分数表示。GJB 451A-2005,定义2.5.3.16 3. 7在线测试 on-line testing在UUT工作环境中对其进行的测试。GJB 3385-1998,定义3.G3.1.83. 8离线测试 off-line testing在UUT脱离正常工作环境下对其进行的测试。GJB 3385-1998,定义3.131.73. 9加电 BIT power-on BIT在UUT电源接通时启动，并当系统准备好时结束测试的BIT。GJB 3385-1998,定义3.L3.2.83.10周期 BIT periodic BIT以规定时间间隔启动的BIT。GJB 3385-1998,定义3.1.3273.11连续 BIT continuous BIT连续监测主系统工作的BIT。GJB 3385-1998,定义3.132.53. 12启动 BIT initiated BIT由某种事件或操作员启动的BIT。它可能中断主系统的正常工作，可以允许操作员干预。GJB 3385-1998,定义3.132.6 SJ/Z 2141220183. 13维护 BIT maintenance BIT用于故障定位的BIT。一般在系统非正常工作情况下进行测试。4缩略语下列缩略语适用于本指导性技术文件。ATE- automatic test equipment,自动测试设备；BIT - - built-in test,机内测试；BITE - built-in test equipment,机内测试设备；ETE - external test equipment,外部测试设备；FAR - false alarm rate,虚警率；FDR - fault detection rate,故障检测率；FIR- fault isolation rate,故障隔离率；FMECA - failure mode effect and criticality analysis,故障模式、影响及危害性分析;LRU - line replaceable unit,现场可更换单元；SRU - shop replaceable unit,车间可更换单元；UUT-unit under test,被测单元。5 一般要求5.1 终端设备组成终端设备一般由录取处理模块、通讯处理模块、显示处理模块、组合电源模块、键盘鼠标和显示器 等组成，在实际产品的设计中可以根据不同的需求进行增减或功能合并、拆分。一般情况，终端设备的LRU包括：录取处理、通讯处理、显示处理、组合电源、键盘鼠标、显示器 和机箱（含背板及电缆）。5.2 测试性设计的目标开展终端设备测试性设计工作的目标包括：a）确保设备达到规定的测试性要求；b）提高设备的性能监测与故障诊断能力，及时、准确地确定设备工作状态并隔离其内部故障；c）为设备寿命周期管理和测试性持续改进提供必要的信息。5.3 确定诊断方案应提出在每个维修级别满足要求的备选诊断方案，通过分析和权衡评价备选诊断方案，选择最优的 诊断方案，并经用户确认。一般情况下，终端设备基层级采用嵌入式诊断，以监测任务关键功能和安全关键功能，更高的维修 级别采用“嵌入式诊断+外部诊断”，嵌入式诊断和外部诊断的组合应能在每一维修级别上提供100%的 维修能力。诊断方案的确定始于论证阶段，并在方案阶段得到进一步细化。5.4 终端设备测试性定性要求终端设备测试性定性要求主要包括：a）以准确隔离故障的能力为基础进行功能和结构的合理划分；b）每个模块都应具备足够的测试点，以便测量设备内部电路节点，从而使故障检测和隔离达到较 高的水平；3SJ/Z 21412-2018c）具有嵌入式诊断（性能监测、BIT等）能力；d）对故障信息进行指示、报告及存储。5.5 终端设备测试性定量要求终端设备测试性定量要求主要包括：a）故障检测率FDR；b）故障隔离率FIR；c） 虚警率FAR。一般情况下，终端设备的FDR不低于90%,隔离到1个LRU的FIR不低于90%, FAR不超过5%。当用 户提出明确的测试性定量指标要求时，按用户的要求执行。5.6测试性设计工作及流程5. 6 . 1主要工作终端设备测试性设计的主要工作包括：a）测试性建模；b）测试性分配；c）测试性预计；d）故障模式、影响和危害性分析测试性信息；e）制定测试性设计准则；f）测试性设计；g）故障诊断设计；h）测试性验证。5. 6 .2设计流程终端设备测试性设计流程见图1。4SJ/Z 214122018图1终端设备测试性设计流程图6详细要求6 . 1测试性建模测试性模型可包括测试性图示模型和数学模型，具体要求包括：a）测试性图示模型可以是简单的功能流程图、层次框图、多信号流图以及包含测试点或者BIT功 能部分的仿真原理图；b）测试性数学模型可以是描述产品参数和产品特性关系的数学关系式；c）可采用GJB/Z 145-2006或其他有关文件提供的程序和方法建立产品的测试性模型。某型终端设备测试性模型见示例。示例（某型终端设备测试性模型）：5SJ/Z 21412-2018注1：录取处理、通讯处理、显示处理和组合电源等都具有足够的测试点和指示灯。注2：录取处理、通讯处理、显示处理的状态数据和模块之间的交互数据通过显示处理单元在显示器上显示。图X某型终端设备测试性模型示意图组合电源键盘、鼠标网络交换机6 .2测试性分配6 .2.1 分配方法终端设备的测试性指标（包括FDR、FIR）,需要通过适当的分配方法，分配给下一产品层次（一 般为LRU）,并纳入产品设计规范，以便进行测试性设计的技术管理与评价。测试性分配方法包括：等值分配法、基于故障率分配法、加权分配法、综合加权分配法等。终端设 备的测试性分配可优先选用综合加权分配法，同时，应结合实际工程经验对分配结果进行修正。6 .2.2 分配模型此分配模型基于综合加权分配法。故障检测率FDR、故障隔离率FIR的分配模型分别见公式（1）和 公式公）。_ 71s (1-7户DS)YFDI(1)式中：yFDi 第1个LRU的故障检测率的分配值;心-设备总故障率；yFDS设备故障检测率的要求值；K第z个LRU的综合影响系数；6SJ/Z 214122018N设备中所包含的LRU总数; 儿.第i个LRU的故障率。qsQ yfis)为=K 1=1 Ki(2)式中：yFn第z个LRU的故障隔离率的分配值；而s - 设备可检测到的故障模式的故障率之和；W设备故障隔离率的要求值；XDi第1个LRU可检测到的故障模式的故障率之和。6 .2.3 确定综合影响系数K的方法6 . 2. 3.1 概述确定综合影响系数的方法有定量法和评分法两种，当没有影响系数的具体数据时，可采用评分法。6 . 2. 3. 2 定量法 。综合影响系数计算方法见公式（3）,故障率影响系数，故障严酷度类别影响系数、平均故障修复 时间（MTTR）影响系数、测试费用影响系数分别见公式（4）公式（7）。Kk+kFi+kMi+kCi . （3）式中：除第i个LRU的综合影响系数；瓯第z.个LRU的故障率影响系数（第i个LRU的故障率与设备总故障率之比）；kFi 第个LRU的故障严酷度类别影响系数（第1个LRU与设备I类、II类故障模式总数之比）；kMi第2个LRU的MTTR影响系数；ka -第i个LRU的测试费用影响系数。% =kj1 % （4）式中：k）d故障率影响系数；年第i个LRU的故障率。如严修/EE（5）式中：kFi故障严酷度类别影响系数；艮第，个LRU的I类和n类故障模式的总数。左M=a/E。, （6）式中:kMi MTTR影响系数;第2个LRU的平均故障修复时间的倒数，即：ka bj/ 力（7 ）式中：ka测试费用影响系数；b, 第z个LRU的测试费用的倒数，即:。6 .2. 3.3评分法当不能准确地获取综合影响系数时，可以采用评分法获取综合影响系数的估计值。评分法的评分标 准见表1。7SJ/Z 21412-2018表1评分法的评分标准影响评分10-98-76 -54-32-1故障率影响系数3故障率高较高中等较低最低故障严酷度类别影响系数kx影响安全可能影响安全影响任务可能影响任务影响维修MTTR影响系数kMi最短较短中等较长最长测试费用影响系数ka最少较少中等较多最多6 . 3测试性预计6 . 3. 1概述测试性预计的主要目的是通过估计测试性指标是否满足规定要求,来评价和确认已进行的测试性设 计工作，找出薄弱环节，改进设计。测试性预计一般是在工程研制阶段进行。6 .3.2 测试性预计方法测试性预计一般采用工程预计法，其具体步骤如下：a）绘制功能框图，确定测试性预计的功能层次，编制相应层次的测试性预计工作表；b）通过可靠性预计和FMECA分析，获取相应层次各组成部分的故障率、故障模式、故障模式发 生频数比等数据，填入测试性预计工作表；c）分析设备的测试性方案、各种故障检测方法的工作原理和测试范围等，识别每个故障模式能被 哪一种检测方式检测，然后把该故障模式的故障率数据填入测试性预计工作表；d）分析检测出的故障模式能否被隔离，将数据填入测试性预计工作表；e）通过计算公式计算出故障检测率（FDR）和故障隔离率（FIR） 06 .3.3 预计公式故障检测率（FDR）和故障隔离率（FIR）的预计公式见公式（8）和公式（9）。N2 功FDR = -TxlOO% . 1 N“ Z41=1式中：FDR故障检测率；而可被BIT检测到的所有LRU的故障率之和；A 所有LRU的故障率之和；莅h可被BIT检测到的第i个LRU的故障率；为 第i个LRU的故障率；N设备中所包含的LRU总数。NFIR =，=X100%. %式中：FIR故障隔离率；员可被BIT隔离到模糊组大小为L的所有LRU的故障率之和；而一可被BIT检测到的所有LRU的故障率之和；加可被BIT隔离到模糊组大小为L的第i个LRU的故障率。8SJ/Z 214122018当预计的指标不能满足设计要求时，需要对测试点和测试项目进行调整，直到满足为止。调整的方 法包括：增加或改变测试点位置，增加测试项目等。6 .4故障模式、影响和危害性分析测试性信息6 . 4.1概述按照GJB/Z 1391 -2006,在FMECA （故障模式、影响及危害性）的基础上，结合故障的相关信息， 分析终端设备各种故障模式的故障检测和故障隔离需求，为BIT设计和测试性预计提供依据。分析的深度和范围决定于测试性要求、维修级别、设备的复杂程度，对于基层级和中继级均有测试 要求的设备，分析深度可达到SRU。6 .4.2方法故障模式与测试分析的方法如下：a）根据终端设备的设计信息、可靠性预计结果和FMECA结果，确定终端设备组成单元的故障模 式、故障判据和故障率；b）进一步分析确定测量参数和测试点；c）分析适用的测试方法，主要包括BIT、自动测试设备和人工测试等；d）最后将分析结果填入表2中，包括故障模式信息和故障检测、隔离能力需求信息等。表2中第（a）第（h）栏的内容来自于FMECA分析，第（i）第（m）栏的内容填写各种检测方 法可检测的故障模式的故障率，第（n）第（p）栏的内容填写隔离到不同级别的故障模式的故障率。表2故障检测和故障隔离需求分析表（故障率单位：X10-6/h ）序号LRU名称故障 率入故障 模式 FM严酷 度类 别故障 模式 频数 比a故障 模式 的故 障率 ，FM故障 编码故障检测能力入Di故障隔离能力加备注BITATE检测人工检测LRU加电BIT周期/ 连续 BIT启动BIT1SRUnSRU(a)(b)(g)(i)(k)(1)(m)(n)(o)(p)(q)表2的具体描述如下：a）序号：每个LRU对应1个序号；b） LRU名称：应列出设备所有LRU名称及插箱名称；c）故障率九：第个LRU的故障率，该数据来源于可靠性预计的结果；d）故障模式FM：故障的表现形式，如短路、开路、断裂、过度耗损等；e）严酷度类别：故障模式所产生后果的严重程度，故障模式的严酷度共分为4个级别，分别为I 类（灾难的）、II类（致命的）、IH类（中等的）、W类（轻度的）；0 故障模式频数比a： 一个LRU可能有多种故障模式，故障模式频数比a为某种故障模式的故障 率与LRU的总故障率之比；g）某个故障模式的故障率而某个LRU的总故障率与某种故障模式的频数比a之积；h）故障编码：设备中每个故障模式的唯一识别码；1） 加电BIT：加电BIT所能检测的故障率；J）周期/连续BIT：周期BIT或连续BIT所能检测的故障率；k）启动BIT：启动BIT所能检测的故障率（一般在维护时使用）；1） ATE检测：自动测试设备所能检测的故障率；m）人工检测：人工测试所能检测的故障率；9SJ/Z 21412-2018n）故障隔离能力而：可被隔离到不同级别的故障模式的故障率；o） 1SRU、nSRU： LRU中所包含的第1个SRU及第n个SRU。6 .5制定测试性设计准则及测试性设计6 . 5.1概述按照GJB 2547A-2012的要求，按照SJ/Z 20695 2016的方法，制定测试性设计准则并进行测试性设 计，终端设备测试性设计准则应在研制初期制定并由全体设计人员贯彻实施，在执行过程中修改完善， 并作为测试性分析符合性检查的依据。测试性的设计和分析应覆盖设备包含的LRU,对于基层级和中继级均有测试要求的设备，测试性的 设计和分析可达到SRU。6 . 5.2整机测试性设计6 . 5. 2. 1设计准则应针对诊断方案、测试性要求及故障模式确定整机测试性设计准则，整机测试性设计准则包括：a）测试控制（可控性）：1）应提供专用测试输入信号和电路，使测试设备（BITE或ETE）能够控制UUT内部电路或 元器件工作，来检测和隔离内部故障；2）使用连接器的备用插针或专用测试连接器将测试激励和控制信号从测试设备引到电路内 部的节点；3）应确保能在测试设备控制下断开电路板上振荡器，提供时钟信号和驱动所有的逻辑电路；4）反馈回路应能在测试设备控制下断开。b）测试通路（可观测性）：1）应提供测试点、数据通路和电路等测试手段，使测试设备（BITE或ETE）能观测UUT内 部节点的特征数据；2）使用连接器的备用插针或专用测试连接器将内部节点数据传输给测试设备；3）利用指示灯或发光二极管指示重要电路的工作状态（如供电电压工作状态等）；4）利用人机交互界面显示测试性相关信息（包括整机及LRU的工作状态、故障信息及重要的 内部节点信息）；5）宜采用缓冲器和多路分配器保护可能因偶然短路而损坏的测试点。c） BIT设计：1）根据测试性需求和故障模式分析的结果,确定用于终端设备性能或功能测试的项目及用于 故障定位的测试项目；2）机内测试电路应利用终端设备自身的软件和硬件来完成，一般情况下，应尽可能利用软件 实现BIT的功能，实现BIT功能的硬件量不大于终端设备总硬件量的15%；3）机内测试电路的工作，不能影响终端设备的工作性能；4）机内测试电路的故障，不能影响终端设备的正常工作；5）机内测试电路的可靠性应高于被测试电路的可靠性；6）可以用取多次测量结果的平均值的方法来降低虚警率；7）重要信息或信号应能实现周期/连续测试；8）维护BIT在设备非正常工作情况下进行测试，用于故障定位的测试项目应尽可能安排在维 护BIT中完成。d）人工辅助测试（外部测试）设计：1）采用人工辅助测试方式的被测单元，应设置足够、方便且布局合理的检测点，检测点应有 明显标识，以便进行准确的故障检测；10SJ/Z 2141220182）根据被测信号的特征及测试要求，选配适当的外部检测设备，测试设备的测量精度应满足 被测单元的容差要求，以便进行有效的故障检测；3）应考虑各LRU及整机的专用测试接口型号及定义的一致性；4）涉及到人工测试的安全性，应设置保护装置，保证人员和设备安全。6 . 5. 2. 2设计应用某型终端设备的测试输入信号见示例1,可观测性测试手段见示例2,整机状态及故障显示见示例3, BIT测试项目见示例4。示例1 （测试输入信号）：表X某型终端设备测试输入信号序号测试输入信号名称信号类型1雷达仿真信号机内仿真（触发、方位、视频等）2雷达信号（视频）记录仪3询问机仿真信号机内仿真（控制、视频等）4询问机数据仿真设备（计算机仿真）5二次雷达仿真信号二次雷达数箍仿真设备（计算机仿真）6GPS/北斗仿真信号GPS/北斗数据仿真设备（计算机仿真）7测高雷达仿真信号测高雷达数据仿真设备（计算机仿真）示例2 （可观测性测试手段）：表X某型终端设备可观测性测试手段序号可观测性测试手段1专用测试连接器2整机测试孔3整机状态指示灯4整机故障指示灯5LRU测试孔6LRU状态指示灯7LRU故障指示灯8测试性人机交互界面9故障语音提示和告警示例3 （整机状态及故障显示）：11SJ/Z 21412-2018故障破 一一上报1 0上报z R上报3 R上报4 （含主显 O航迹1导由1 6询问机C分显 二忒雷达C GPS厂 雷达 ”一日报端口厂二二二二二羸画一二一厂.方而二_ _ _ _ _J if-一 _，一；自由勤务报 通道号F 士中卷之 羊至U_/ ._，I航迹参数区域斤扰1故障勘务1三维显示I组网勤务注1： “上报1”、“上报2”、“上报3”、“上报4”为数据端口状态/故障指示。注2： “主显”、“分显”为整机状态/故障指示.注3： “航迹1”、“1/01”为LRU状态/故障指示。注4： “询问机”、“二次雷达”、“GPS”、“雷达”为外部设备状态/故障指示。图X某型终端设备状态/故障显示示意图示例4 （BIT测试项目）：表X某型终端设备BIT测试项目编号测试模块测试项目BIT类型加电BIT周期/连续BIT启动BIT维护BIT1.1录取处理模块网络接口测试*1.2存储器测试XXOO1.3FPGA加载正确性测试OXO1.4DSP程序加载正确的测试OXO*1.5模块互通接口测试2.1通讯处理模块网络接口测试2.2RS232接口测试XXOO2.3GPS接口测试.OO2.4询问接口测试OXOO2.5模块互通接口测试2.6FPGA加载正确性测试OXOJ.1显示处理模块网络接口测试*3.2存储器测试XXOO3.3FPGA加载正确性测试OXO*3.4模块互通接口测试*4.1电源模块电源模块性能的测试O注：”表示必选；“。”表示可选；“X”表示不适用12SJ/Z 2141220186 .5.3模块测试性设计6 . 5. 3. 1设计准则应对设备的模块内部进行测试性设计，模块测试性设计准则包括：a）电路划分：1）每一个被测试的功能电路的元器件应安装在同一块电路板上；2）一块电路板如果有多个功能时，每个功能应能独立测试；3）尽量不要把数字电路和模拟电路混合在同一块电路板上,如果数字电路和模拟电路必须包 含在同一块电路板上，数字电路和模拟电路应在结构上尽量分离，并能独立测试；4）尽量把正在测试的电路同不在测试的电路隔离开。b）测试点:1）测试点应设置在前面板等易于测试的位置；2）内部测试点应尽量在不拆卸模块和元器件的情况下就可达到；3）每个测试点上都标记有相应的名称或符号；4）每个LRU应尽量保留专用测试连接器，专用测试连接器应尽量选用快卸式连接器。c）元器件和部件选择:1）应尽可能选用测试性能好、故障模式已知的元器件；2）对有刷新要求的元器件，在测试时应有足够的时钟周期保障动态器件的刷新；3）尽量使用同一逻辑系列的元器件，若不是，在相互连接时应使用通用的信号电平；4）尽量避免使用需要调整的元器件。d）印制电路板结构设计：1）印制电路板上的元器件安装应与电路板上的丝网印刷标记一致；2）元器件之间应留有足够空间，以便测试时测试夹或测试探头能够插入；3）元件排列尽可能成行成列，同类元件尽可能安排在一起，各个集成电路的方向应该一致；4）连接器插针的布置应保证相邻插针短路所引起的损坏程度最小。e）模拟电路设计：1）应考虑在没有额外散热的条件下进行测试；2）应尽量设计无需调整的电路，若一定要进行调整，则应在印制电路板测试时进行，然后锁 定该调整值；3）应避免反复且相互有影响的调整。f）数字电路设计：1）存储器件都应由主时钟引出的时钟信号来驱动；2）总线在没有选中时，应设计为缺省值；3）每个内部电路的扇出数应小于其最大扇出系数；4）每块电路板扇出的扇出数应低于预定值；5）对没有使用的元件的输入端、三态门及集电极开路的元件输出端要通过电阻接地或接电 源，避免直接接地或接电源。6 . 5.3.2设计应用某型终端设备的模块面板指示灯设计见示例。示例（模块面板指示灯）：13SJ/Z 21412-2018表x某型终端设备模块面板指示灯设计序号LRU名称指示灯名称指示灯定义指示灯状态1录取处理板NIOS RUNNIOS工作正常（NIOS主机工作状态）闪烁2RUNING处理机工作正常闪烁3ARP_LED正北中断以正北为准一圈亮、一圈灭4PLOT_LED点迹中断闪烁5FKLED方控中断闪烁6EPLDEPLD加载（门阵列加载状态）加电时亮，加电完成灭7通讯接口板tbtl6通讯接口板COM1-COM16发送数据闪烁8rl-rl6通讯接口板COM1-COM16接收数据闪烁9防雷板T1-T16防雷板COM1-COM16发送数据闪烁10RI-RI 6防雷板COM 1-COM 16接收数据闪烁11显示控制板RUNETX工作正常（ETX主机工作状态）闪烁6 . 5.4软件测试性设计6 . 5. 4.1 概述按照GJB 438B-2009中对软件设计说明文档要求的“CSCI级设计决策”部分进行终端设备软件测试 性设计。终端设备的软件为嵌入式软件，软件测试性设计可结合其相应的硬件平台同时进行，软件测试性设 计包括：软件自身的测试性设计和利用软件实现的整机测试性设计。6 .5. 4.2 一般性要求软件测试性的一般性要求如下：a）通过软件启动自检和软件维护测试启动两种模式，确定测试参数并显示结果；b）软件应具有容错能力，能够隔离异常部分，把影响减到最低；c）软件配置项应具有独立测试能力，能够不依赖于外部系统输入或仅依赖编写的测试程序输入完 成独立测试；d）软件应能根据需要对各模块进行灵活配置；e）能利用人机交互界面实现测试性设计。6 . 5. 4. 3设计准则软件测试性设计准则包括：a）软件自检设计：能够监测设备的工作状态并进行自检，同时记录软件运行日志，自检内容可包 括：1）网络状态；2）数据库连接状态；3）软件配置文件情况；4）计算机CPU、内存运行状态；5）加载占用内存等,b）软件故障隔离设计：当设备运行遇到故障时，能够主动隔离故障部分功能，确保其他模块能够 保持最低限度运行，可隔离的故障包括：1）网络故障；2）数据库故障；3）文件访问异常；14SJ/Z 2141220184）存储故障；5）计算结果异常。c）人机交互测试性设计：常用的人机交互测试性设计包括：1）对软件程序异常（包括用户非法输入、网络故障、数据库故障、文件访问异常、存储故障 等）进行指示、形成报告并存储；2）对整机及LRU的工作状态进行显示；3）对整机及LRU的故障进行显示及告警，需要时，形成报告并存储；4）对节点数据（包括运算过程的视频图像和数据），以图像或报文的格式进行显示；5）对终端设备的参数设置进行人机交互界面设计，并设定相应的权限；6）需要时，利用软、硬件手段，产生仿真输入信号及仿真示波器；7）需要时，对雷达提供的雷达整机BIT信息进行显示。6 . 5. 4. 4设计应用某型终端设备的节点数据显示见示例1,仿真示波器见示例2。示例1 （节点数据显示）：艘i-:视频1平滑后视频1恒虚警后厂视演1杂波图后I艘1快门后i视频1进检测前-.视频2平滑后癖2恒虚警后视频2杂波图 r酶啾门后,视频2进检测前褥坪滑后r嬲3进检蝴 显小自适应RAG值 ；L显小_r iff:-杂波轮廓图-r自适应值显示；显示本区域累计的当前回波数:显示本区联了累计的回波数:：当前是否在杂波区的标志-通信数据检测-题皿E P ASCII显示 清除| 停止显示 启动雷达监控程序|I m U Z B L 0 1 T12 7 1 0 N O 0 0 0 Ihj| j图X某型终端设备节点数据显示示意图示例2 （仿真示波器）：15SJ/Z 21412-2018图X某型终端设备仿真示波器示意图6 .6故障诊断设计6 . 6 . 1概述终端设备的故障诊断可根据需要采用在线测试与离线测试的方法。在线测试应以不影响终端设备工 作为原则，当确有必要检测但又对终端设备正常工作有影响时，可采用离线测试。6 .6 .2在线测试在线测试的要求包括：a）终端设备周期测试和启动测试的频度与每次检测的时间，应满足允许的最大故障测试时间和诊 断方案的要求；b）应能对终端设备的关键功能和影响安全的重要状态进行实时监测；c）应能对终端设备的故障进行检测并将故障隔离到规定的LRU；d）具有冗余备份的终端设备BIT应能提供设备工作状态，并能及时准确控制冗余设备的切换；e） LRU的BIT与设备BIT之间，设备BIT与系统级BIT之间可通过软件或硬件实现对接，其接口应 匹配良好，便于故障的检测与隔离，应编配相应的设备故障码，便于把故障信息传输到系统级 BITo6 . 6 .3离线测试离线测试的要求包括：a）离线测试应能对在线测试无法准确隔离的故障隔离到规定的LRU；b）离线测试检测结束无故障时，被测单元加电后能正常工作；c）离线测试与在线测试之间的接口应匹配良好。6 . 6 . 4设计应用终端设备应尽量采用在线测试，对于确有必要检测但又影响终端设备正常工作的测试项目可采用离 线测试。某型终端设备诊断测试项目见不例。示例（诊断测试项目）：16SJ/Z 214122018表X某型终端设备诊断测试项目编号测试模块测试项目测试类型备注在线测试离线测试1.1录取处理网络接口测试O一1.2存储器测试X爨通过存储器测试软件1.3FPGA加载正确性测试OO1.4DSP程序加载正确的测试OO1.5模块互通接口测试X一1.6点迹处理容量X计算机辅助测试1.7显示航迹容量X计算机辅助测试1.8跟踪精度X计算机辅助测试,2.1通讯处理网络接口测试O一2.2RS232接口测试O2.3GPS接口测试OGPS/北斗数据仿真设备2.4询问接口测试OO询问机数据仿真设备2.5模块互通接口测试X一2.6FPGA加载正确性测试OO ,一3.1显不处理网络接口测试饕O-一3.2存储器测试X通过存储器测试软件3.3FPGA加载正确性测试Oo3.4模块互通接口测试X一4.1电源电源模块性能的测试爨o注：”表示必选，“。”表示可选，“X”表示不适用。6 .7 测试性分析和验证6 .7.1 测试性设计准则的符合性分析在终端设备的设计过程中，应按其测试性设计准则逐条进行设计准则符合性检查，以保证终端设备 的设计与准则相符合，对不符合测试性设计准则要求的设计应采取相应的技术措施，不能采取措施的应 说明原因。测试性设计准则符合性检查表见示例。示例（符合性检查）：表X测试性设计准则符合性检查表序号准则类别准则要求评价评价结果说明1LRU测试性覆盖度6 .5.1口满足 口不满足 口不适用2整机测试性设计6 .521 a)满足 口不满足 口不适用36 .5.2.1 b)口满足 口不满足 口不适用46 .5.2.1 c)满足 不满足 口不适用56 .5.2.1 d)满足 口不满足 口不适用6模块测试性设计6 53.1 a)满足 口不满足 口不适用76 .531 b)口满足 口不满足 口不适用86 53.1 c)满足 口不满足 口不适用96 .5.3.1 d)口满足 口不满足 口不适用106 .5.3.1 e)口满足 口不满足 口不适用116 .5.3.1 f)满足 口不满足 口不适用12软件测试性设计6 54.3 a)满足 口不满足 口不适用136 .5,43 b)口满足 口不满足 口不适用146 54.3 c)口满足 口不满足 口不适用17SJ/Z 21412-20186 .7.2 测试性设计评审测试性设计评审可单独进行，也可与技术评审同时进行。若通过评审，则可转入下一阶段工作；若 评审不通过，则依据评审意见进一步开展测试性设计、分析工作。测试性设计评审的主要内容包括：a）测试性定性要求的符合性；b）测试性定量要求的符合性；c）测试性设计方法和过程的合理性。6 .7.3 测试性设计过程的复核测试性设计完成后，进行测试性设计过程的复核，需要时，形成复核报告。设计过程复核可包括以 下内容：a）所有设计工作的充分性；b）设计工作依据的规范的科学性、有效性；c）设计输出是否满足设计输入的要求。6 .8 测试性试验验证终端设备在进行设计定型试验、批量产品验收的验收试验时可开展测试性验证试验，验证试验尽可 能与维修性试验和可靠性试验等试验相结合，以减少重复试验工作。定量验证试验重点考核BIT的故障检测率、故障隔离率；定性验证试验重点考核测试点和观察点的 设置合理性、是否满足相关测试性设计规范、产品用户手册中关于测试性的适用性。测试性试验的方法和试验数据处理可参考GJB 2072-1994执行。188 O T Z L H Z z、rs中华人民共和国 电子行业标准 雷达录取终端设备测试性设计指南SJ/Z 21412-2018中国电子技术标准化研究院 编制 中国电子技术标准化研究院 发行电话：[phone] 传真：[phone] 地址：北京市安定门东大街1号 邮编：100007 网址：ww. cesi. cn开本：880X1230 1/16 印张：1 字数：36千字 22018年5月第一版2018年5月第一次印刷印数：200册 定价：6 0. 00元版权专有不得翻印举报电话：[phone]