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实验四可控硅调光电路.doc

上传人:仙人****88 文档编号:11233623 上传时间:2025-07-09 格式:DOC 页数:4 大小:101KB 下载积分:10 金币
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资源描述
实验四 可控硅调光电路 一.实验目的 1. 了解由晶闸管构成的调光电路的结构和工作原理。 2. 观察各部分的电压波形,加深理解晶闸管可控整流电路的工作原理 二.电路原理简述 可控整流电路的作用是把交流电变换为电压值可以调节的直流电,图4-1所示为单相半控桥式整流实验电路,主电路由负载Rd(白炽灯泡)和晶闸管T1组成,触发电路为单结晶体管T2及阻容元件构成的阻容移相触发电路。改变晶闸管T1的导通角,使可调节主电路的可控整流电压(或电流)的数值,这点可由电灯负载的亮度变化看出,晶闸管导通角的大小决定于触发脉冲的频率f,由公式 可知,当单结晶体管的分压比η(一般在0.5~0.8之间)及电容C值固定时,则频率f大小由RW决定,因此,通过调节电位器RW,就可以改变触发脉冲频率,主电路的输出电压也随之改变,从而达到可控调压的目的。关于单结晶体管为何能产生触发脉冲以及它的负阻效应,请参考教材和有关的文献,因篇幅有限,不便详细阐述。 图4-1 用万用表的电阻档可对单结晶体管和晶闸管进行简易测试。图4-2为单结晶体管BT33管脚排列,结构图及电路符号,好的单结晶体管PN结正向电阻REB1、REB2均较小,且REB1稍大于REB2,PN结的反向电阻RB1E、RB2E应很大,根据所测阻值,即可判断出各管脚及管的质量优势。 (a) (b) (c) 图4-2 图4-3为晶闸管BT151管脚排列、结构图及电路符号。晶闸管阳极(A)-阴极(K)及阳极(A)-门极(G)之间的正反向电阻RAK、RKA、RAG、RGA均应很大,而G-K之间为一个PN结,PN结正向电阻应较小,反向电阻应很大。 (a) (b) (c) 图4-3 三.实验设备 名称 数量 型号 1. 交直流稳压电源 1台 MC1095E 2. 通用示波器        1台 3. 万用表 1只 500型/MF47型 4. 直流电流表 1只 5. 二极管 5只 1N4007*5 6. 稳压二极管 1只 9.1V*1 7. 电容 1只 0.047μF*1 8. 电阻 4只 100Ω/2W*1 300Ω/1W*1 510Ω/2W*1 2kΩ/1W*1 9. 电位器 1只 470kΩ*1 10. 可控硅 1只 BT151 11. 单结晶体管 1只 BT33 12. 灯座(配白炽灯泡) 1只 24V/2W 13. 短接桥和连接导线 若干 P8-1和50148 14. 实验用9孔插件方板 297mm×300mm 四. 实验内容与步骤 1. 单结晶体管的简易测试 用万用表R×10Ω档分别测量EB1、EB2间正反向电阻,记入表4-1 2. 晶闸管的简易测试 用万用表R×1kΩ档分别测量A-K、A-G间正反向电阻,用R×10Ω档测量G-K间正反向电阻,记入表4-2。 表4-1 REB1(Ω) REB2(Ω) RB1E(Ω) RB2E(kΩ) 结论 表4-2 RAK(kΩ) RKA(kΩ) RAG(kΩ) RGA(kΩ) RGK(kΩ) RKG(kΩ) 结论 3. 晶闸管导通,关断条件测试 按图4-4连接实验电路。 图4-4 1) 晶闸管阳极加12V正向电压。a.在门极开路和加12V正向电压时观察管子是 否导通(导通时电灯亮,关断时电灯熄灭);b.管子导通后,在去掉+5V门极电压和反接门极电压(接-5V)时,观察管子是否继续导通。 2)晶闸管导通后。a.去掉+12V阳极电压;b.反接阳极电压(接-12V),观察管子是否关断。记录之。 4. 晶闸管可控整流电路 按图4-1连接实验电路,取工频电源电压12V作为整流电路输入电压ui,电位器Rw置中间位置。 1)单结晶体管触发电路 a. 断开主电路(把灯泡取下),接通电源,用示波器依次观察并记录工频电源电压值ui,整流输出电压uo,削波电压uW,锯齿波电压uE,触发输出电压uB1,记录波形时,注意各波形间对应的关系,并标出电压幅度及时间,记录表4-3。 b. 改变移相电位器RW阻值,观察uE及uB1波形的变化及uB1的移相范围,记入表4-3。 表4-3 ui uo uW uE uB1 移相范围 2)可控整流电路 断开工频电源电压,接入负载灯泡Rd,再接通电源,调节电位器RW,使灯泡由暗到中等亮,再到最亮,用示波器观察晶闸管两端电压uT1,负载两端电压ud ,并测量负载直流电压Ud及工频电源电压Ui有效值,记入表4-4。 表4-4 暗 较亮 最亮 ud波形 uT1波形 导通角Q Ud(V) Ui(V) 五.分析与讨论 1. 总结晶闸管导通、关断的基本条件。 2. 列表整理所测的实验数据,绘出所观测到的各部分波形。 3. 按实验内容分析所测的实验结果与理论值的差别,分析产生误差的原因。 4. 分析实验中出现的异常现象。 4-4
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