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XX板硬件测试报告V1.0编写：审核：批准：XXX有限公司XX年XX月XX日版本信息类型版本软件名称备注SCHPCBBOMDRIVERAPP修改记录修订日期修订版本修订说明修订人测试仪器与设备测试仪器厂家设备型号数量功能测试序号功能模块测试项测试要求1串口2USB3音频4复位5SD6wifi性能测试序号功能模块测试项测试标准1DDR1、兼容性测试2、压力测试3、变频测试2CPU1、主频超频测试2、多线程测试34测试结果备注测试结果备注时钟信号测试(一)位号时钟测试项测试要求测试结果Y90024MHz边沿单调性电平幅度频率正脉宽负脉宽上升时间下降时间占空比抖动测试结论pass时钟信号测试(二)位号时钟测试项测试要求测试结果Y280126MHz边沿单调性电平幅度频率正脉宽负脉宽上升时间下降时间占空比抖动测试结论passSDIO信号测试位号信号名测试项测试要求测试结果J2100DATA上冲(Vmax)下冲(Vmin)上升时间(Tr)下降时间(Tf)数据建立时间(TDsu)数据保持时间(TDh)CLK单调性上升时间(Tr)下降时间(Tf)频率(f)正脉宽负脉宽CMD上冲(Vmax)下冲(Vmin)有效建立时间(TDsu)有效保持时间(TDh)频率(f)正脉宽负脉宽UART信号测试位号信号名测试项测试要求测试结果CN2501RXD上冲(Vmax)下冲(Vmin)输入高电平(Vih)输入低电平(Vil)上升时间(Tr)下降时间(Tf)TXD上冲(Vmax)下冲(Vmin)输出高电平(Vih)输出低电平(Vil)上升时间(Tr)下降时间(Tf)I2C信号测试位号信号名测试项测试要求测试结果U2602I2C_SDA上冲(Vmax)下冲(Vmin)输入高电平(Vih)输入低电平(Vil)上升时间(Tr)下降时间(Tf)数据建立时间(TDsu)数据保持时间(TDh)I2C_SCL上冲(Vmax)下冲(Vmin)输入高电平(Vih)输入低电平(Vil)上升时间(Tr)下降时间(Tf)频率(f)正脉宽负脉宽SPI信号测试位号信号名测试项测试要求测试结果MOSI上冲(Vmax)NC下冲(Vmin)NC输入高电平(Vih)NC输入低电平(Vil)NC上升时间(Tr)NC下降时间(Tf)NC数据建立时间(TDsu)NC数据保持时间(TDh)NCCLK上冲(Vmax)NC下冲(Vmin)NC输入高电平(Vih)NC输入低电平(Vil)NC上升时间(Tr)NC下降时间(Tf)NC频率(f)NC正脉宽NC负脉宽NCCS上冲(Vmax)NC下冲(Vmin)NC输入高电平(Vih)NC输入低电平(Vil)NC有效建立时间(TDsu)NC有效保持时间(TDh)NC频率(f)NC正脉宽NC负脉宽NCI2C_SCL备注备注时钟信号测试(一)pass时钟信号测试(二)pass备注SDIO信号测试备注备注UART信号测试I2C信号测试备注SPI信号测试电源纹波噪声以及电压精度测试序号测试项测试要求电压精度纹波噪声（R&N）单调性过冲1BUCK10.91.2V30mV单调一致2BUCK20.91.2V30mV单调一致3BUCK31.5V0.075V50mV单调一致4BUCK43.30.3V80mV单调一致5LDO11.80.25V50mV单调一致6LDO30.91.2V30mV单调一致上电时序测试上电时序要求测试结果测试结果测试结论通过功耗测试序号测试要求1待机2满载测试点测试结果电压纹波噪声（R&N）单调性过冲电源纹波噪声以及电压精度测试上电时序测试测试结果通过功耗测试备注备注1.获取的系统版本为：5.1.12.获取的系统api版本为：22可靠性测试序号 测试模块测试项测试条件1环境适应性高温试验1.高温贮存：+85贮存时间：24H2.工作温度：+65工作时间：12H2低温试验1.低温贮存：-55贮存时间：24H2.工作温度：-40工作时间：12H3湿热试验4盐雾试验5振动试验6冲击试验7EMC测试浪涌抗扰性测试8静电抗扰性测试9射频辐射抗扰性10加速环境试验加速寿命试验（ALT）测试标准测试数量1、GB/T2423.2-2008 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温2、GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法试验N：温度变化1、GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温2、GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法试验N：温度变化1、GB/T 2423.3-2006 环境试验 第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验2、GB/T2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热(12h12h循环)GB/T2423.17-2008 GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka：盐雾GB/T2423.10-2008 GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T17626.5-2008 GB/T 17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.2-2006 GB/T 17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB/T17626.3-2006 GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验可靠性测试