SPC统计过程控制作业执行规范.docx

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iption :

SPC執行作業規範

Reason for Release :

1. 目的
為確保生產制程條件之變異參數均能列入掌握以適當方式管制,即時發現問題與異常,并掌
握趨勢達到預測可能動向與結果,達到改善制程預防不良產品產出之目的.

2. 範圍
本辦法適用於本公司產品中須導入SPC之零組件供應商,產品組裝之制程.

3. 參考文件
無

4. 定義
無

5. 組織與權責

5.1 SQE: 負責協助供應商導入SPC系統,并不定期稽核,參與每月SPC管制界限之檢討會議;

5.2 供應商: 負責SPC系統之實作與每日稽核,每月SPC管制界限之檢討.

5.3 工程部: 決定關鍵輸入/輸出參數.

6. 作業程序

6.1作業流程
附件(一): SPC導入流程

6.2管制參數
6.2.1參數來源
A 由客戶指定或規範之關鍵特性.

6.2.2 參數評選
A 將制程各站相關計量參數依序展開列成矩陣表,如下列關係:

原料

P1 P2 P3 P4
成品

P1
P2
P3
P4
A
P1A

P4A
B
P1B

C
P1C
P2C
P3C

D

P2D
P3D
P4D
E

P4E

B 將各制程對品質貢獻度,即變異所造成的結果,如:不良率,DPPM繪成柏拉圖;
C 由圖表中選定貢獻度最大之二至三個參數項作為制程管制的目標參數.將所選列
表如附件(二):”制程關鍵參數一覽表”,并將之加入附件(三):”品質(Q)制程能力診
斷表”.

6.3管制圖

6.3.1解析用管制圖
A 針對關鍵參數所使用的量測設備,量測者確認其GR&R<25%.
B 將所要管制的參數訂定抽樣計劃決定每次抽檢之單組數量n = ?及區分組數
K = ?(一般設定n = 2~5,連續抽樣總數N≧100, K = 20 )
C 依附件四:”管制圖選用原則”挑選適用的管制圖并開始收集資料與點繪管制圖.
D 當點繪超出規格或不在管制狀況內,須針對各類異常原因撰寫有效的改善計劃.

6.3.2管制用管制圖
A 將狀態穩定之參數,以現有數據繪成直方圖檢驗是否合乎規格呈現常態分配.若
無符合則須檢討制程之人、機、料、法是否須再做變更,待改善後再匯集20組以
上數據計算所要管制參數之管制上、下限并計算Ca, Cp, Cpk.
B 當Cp>2.0,Cpk>1.5時,需檢討是否有必要改變管制的方法,或利用其他手法,如
Pre-control chart, 不良率超近零之管制圖…等.

6.4稽核

6.4.1每日點繪完後,應依判圖準則確認是否有不良,若有則須立即采取矯正措施,使其恢
復正常.

6.4.2每月結束後應檢討是否須修正管制界限.

7.參考文件

7.1附件一: SPC導入流程
7.2附件二: 制程關鍵參數一覽表
7.3附件三: 品質(Q)制程能力診斷表
7.4附件四: 管制圖選用原則

＊ 適度之區分
＊ 儀校規劃
＊ 衡量方法/程序&訓練
附件一: SPC導入流程
否
否
＊ 必須呈常態分配
設計和導入改善措施以降低變異
分析資料以確認
共同因之變異
否
是
考慮改變管制方式
Cp>2.0,
Cpk>1.5
否
分析資料以確認
特殊因之變異
檢討機器設備等等之問題,提升制程能力,并重新開始
設計和導入改善措施以降低變異
是
計算Cp, Cpk
管制內
是
管制用管制圖
滿足規格
消除異常原因
是
N≧100, n = 2~5
滿足規格
繪制直方圖
繪制解析
管制圖
誤差/錯誤可授受
誤差/錯誤
不被授受
＊ 改善儀器設備之衡量方法&訓練
改善行動以降低衡量誤差/錯誤
決定抽樣計劃
(抽樣頻率)
執行GR&R
決定衡量方法

附件二: 制程關鍵參數一覽表
制程關鍵參數一覽表
機種: 零組件:
關鍵輸出參數
關鍵輸入參數
管制表
方法/設備

附件三: 品質(Q)制程能力診斷表
品 質 (Q) 制 程 能 力 診 斷 表
產品: 制程: 數據期間:

品質特性
取樣
頻率
品質現況
品質規格
制程能力
研判
平均值
標準差
上限
下限
Ca
Cp
Cpk
安全區
管理改善區
技術改善區

計量值Ca
Cp
Cpk
等級
處理行動
|Ca| ≦ 12.5%
12.5% < |Ca| ≦ 25%
25% < |Ca| ≦ 50%
50% < |Ca|
2 ≦ Cp
1.33 ≦ Cp <2
1.00 ≦ Cp <1.33
Cp < 1.00
1.5 ≦ Cpk
1.0 ≦ Cpk <1.5
0.67 ≦ Cpk <1.0
Cpk<0.67
A
B
C
D
制程穩定,制程能力佳
制程能力尚可,但須注意變異
制程能力不足,須研討改善對策
制程重大異常,須立即處理,必要時停止生產

附件四: 管制圖之選定原則
管制圖之選定原則
不一定
一定
不一定
一定
n=2~5
X-R
圖
10<n<25
X
X
缺點數
不良數
n=1
n>1
計數值
計量值
μ
圖
N是否較大?
中心線CL之性質?
X-R
圖
～
C
圖
P
圖
pn
圖
n是否一定?
單位大小是否一定?
X-σ
圖
X-Rm
圖
樣本大小
n≧2?
資料是不良數或缺點數?
資料
性質
管制圖之選定

制程關鍵參數一覽表
機種: 零組件:
關鍵輸出參數
關鍵輸入參數
管制表
方法/設備

品 質 (Q) 制 程 能 力 診 斷 表
產品: 制程: 數據期間:

品質特性
取樣
頻率
品質現況
品質規格
制程能力
研判
平均值
標準差
上限
下限
Ca
Cp
Cpk
安全區
管理改善區
技術改善區

計量值Ca
Cp
Cpk
等級
處理行動
|Ca| ≦ 12.5%
12.5% < |Ca| ≦ 25%
25% < |Ca| ≦ 50%
50% < |Ca|
2 ≦ Cp
1.33 ≦ Cp <2
1.00 ≦ Cp <1.33
Cp < 1.00
1.5 ≦ Cpk
1.0 ≦ Cpk <1.5
0.67 ≦ Cpk <1.0
Cpk<0.67
A
B
C
D
制程穩定,制程能力佳
制程能力尚可,但須注意變異
制程能力不足,須研討改善對策
制程重大異常,須立即處理,必要時停止生產