JJF 1105-2018 触针式表面粗糙度测量仪校准规范-（高清正版）.pdf

中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 1 0 52 0 1 8触针式表面粗糙度测量仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rC o n t a c t(S t y l u s)I n s t r u m e n t so fS u r f a c eR o u g h n e s sM e a s u r e m e n tb yP r o f i l eM e t h o d 2 0 1 8-0 2-2 7发布2 0 1 8-0 8-2 7实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布触针式表面粗糙度测量仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rC o n t a c t(S t y l u s)I n s t r u m e n t so fS u r f a c eR o u g h n e s sM e a s u r e m e n tb yP r o f i l eM e t h o dJ J F1 1 0 52 0 1 8代替J J F1 1 0 52 0 0 3 归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位:上海市计量测试技术研究院上海交通大学中国计量科学研究院北京市计量检测科学研究院 参加起草单位:泰勒霍普森有限公司中国分公司 本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释J J F1 1 0 52 0 1 8本规范主要起草人:王昕歌(上海市计量测试技术研究院)袁怡宝(上海交通大学)施玉书(中国计量科学研究院)吴 迅(北京市计量检测科学研究院)参加起草人:蔡潇雨(上海市计量测试技术研究院)姜志华(上海市计量测试技术研究院)汤海翔(泰勒霍普森有限公司中国分公司)J J F1 1 0 52 0 1 8目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 概述(1)4 计量特性(3)4.1 传感器触针(3)4.2 传感器滑行轨迹的直线度(3)4.3 残余轮廓(3)4.4 示值误差(3)4.5 示值重复性(3)4.6 示值稳定性(3)5 校准条件(4)5.1 环境条件(4)5.2 校准项目和校准用标准器及其他设备(4)6 校准方法(4)6.1 传感器触针针尖圆弧半径及角度(4)6.2 传感器滑行轨迹的直线度(4)6.3 残余轮廓(4)6.4 示值误差(4)6.5 示值重复性(5)6.6 示值稳定性(6)7 校准结果表达(6)8 复校时间间隔(6)附录A 触针式粗糙度仪示值误差校准结果的不确定度评定(示例)(7)附录B 传感器触针静态测力和传感器导头的计量特性的校准(1 1)附录C 触针式表面粗糙度测量仪指示表与记录器计量特性的校准(1 3)附录D c和s波段传输特性(1 5)附录E 校准证书内页信息及格式(1 7)J J F1 1 0 52 0 1 8引 言 J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则、J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、J J F1 0 5 9.12 0 1 2 测量不确定度评定与表示共同构成本规范修订工作的基础性系列计量技术法规。本规范是对J J F1 1 0 52 0 0 3 触针式表面粗糙度测量仪校准规范(以下简称原规范)的修订。与原规范相比,除编辑性修改外,主要变化如下:增加了引言部分。将引用文件替换至现行有效版本。增加了台式触针式表面粗糙度测量仪和便携式触针式表面粗糙度测量仪的结构示意图,修改了触针式仪器的典型框图。修改了有关传感器触针计量特性的要求。根据G B/T6 0 6 22 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性,将原规范“传感器触针静态测量力”修改为“传感器触针静态测力”,并在附录中表述其计量特性、校准用标准器及校准方法;删除了对传感器“静态测力变化率”项目的相关校准内容。修改了传感器滑行轨迹直线度的计量特性要求及校准方法。修改了“传感器导头”相关计量特性,在附录B中表述。修改了示值误差的计量特性要求及表述方法。修改了正文中仪器“示值重复性”“示值稳定性”的计量特性要求、表述方法及校准方法。修改了附录C中记录器的垂直放大率及水平放大率的重复性的表述,相应计量特性要求也进行了修改。根据J J F1 0 5 9.12 0 1 2 测量不确定度评定与表示,重新评定了触针式表面粗糙度测量仪示值误差测量结果的不确定度。本规范的历次版本发布情况:J J F1 1 0 52 0 0 3;J J G3 0 11 9 8 2。J J F1 1 0 52 0 1 8触针式表面粗糙度测量仪校准规范1 范围本规范适用于触针式表面粗糙度测量仪的校准。2 引用文件本规范引用下列文件:G B/T3 5 0 52 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数G B/T6 0 6 22 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性G B/T1 0 6 1 02 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法G B/T1 8 7 7 72 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性G B/T1 9 0 6 7.12 0 0 3 产品几何量技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 测量标准 第1部分:实物测量标准G B/T1 9 6 0 02 0 0 4 产品几何量技术规范(G P S)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的校准凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3 概述触针式表面粗糙度测量仪(以下简称触针式粗糙度仪)一般由传感器、驱动器、电子信号处理装置、计算机、打印机等组成。部分模拟式的触针式粗糙度仪带有指示表和记录器。其工作原理是:仪器的驱动器带动传感器沿被测表面作匀速滑行,传感器通过锐利触针感受被测表面的几何形状变化,并转换成电信号。该信号经放大和处理,再转换成数字信号贮存在计算机系统的存贮器中。计算机对此总轮廓进行数字滤波,分离出表面粗糙度轮廓并计算其参数。测量结果可由显示器输出,也可由打印机输出。模拟式的触针式粗糙度仪可由指示表读出测量结果,记录仪输出表面轮廓。触针式粗糙度仪典型框图见图1。根据传感器的不同原理,触针式粗糙度仪可分为电感式、压电式、光电式、激光式和光栅式等。传感器还可分为有导头式传感器和无导头式传感器。有导头式传感器仅适用于测量表面粗糙度,而无导头式传感器除可用于测量表面粗糙度外,还可用于测量波1J J F1 1 0 52 0 1 8纹度、原始轮廓参数和表面几何形状。根据仪器的结构、外形、重量和使用方法,触针式粗糙度仪分台式和便携式两种,其结构示意图见图2、图3。图1 触针式粗糙度仪的典型框图图2 台式触针式粗糙度仪结构示意图1立柱;2驱动器;3传感器;4触针;5底座;6被测工件2J J F1 1 0 52 0 1 8(a)(b)图3 便携式触针式粗糙度仪结构示意图1传感器;2驱动器;3显示屏;4操作按键4 计量特性4.1 传感器触针4.1.1 针尖圆弧半径及角度针尖半径:(20.5)m、(51)m、(1 02.5)m。圆锥角度:6 0+1 0-5 或9 0+5-1 0,有出厂技术要求的应符合出厂技术要求。4.2 传感器滑行轨迹的直线度应不超过出厂技术要求。4.3 残余轮廓残余轮廓R a应不超过表1规定,有出厂技术要求的应不超过出厂技术要求。表1 仪器主要计量特性要求示值误差(5n m+0.0 5A)(5n m+0.0 7A)(5n m+0.1A)(5n m+0.1 5A)残余轮廓0.0 0 50.0 0 50.0 1 00.0 1 0示值重复性1%1.5%3%6%注:1.A为标准多刻线样板表面粗糙度参数R a的标准值,R a单位为m。2.示值误差分别对应出厂最大允许误差为5%,7%,1 0%和1 5%的仪器。4.4 示值误差触针式表面粗糙度测量仪示值误差要求见表1。4.5 示值重复性示值重复性要求见表1。4.6 示值稳定性4h内其示值稳定性应不大于示值误差允许限的绝对值。对于自动关机型的触针式仪器,该项目不作要求。3J J F1 1 0 52 0 1 8注:由于校准工作只给出测量结果,不判断合格与否,上述计量特性仅供参考。5 校准条件5.1 环境条件5.1.1 温度应在(2 03)范围内,湿度不超过6 5%RH。5.1.2 校准室内应无影响测量的灰尘、振动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。5.1.3 被校仪器及校准用标准器及测量设备在室内连续平衡温度的时间不少于4h。5.1.4 校准前,对于台式触针式粗糙度仪连续通电预热时间应不少于3 0m i n。5.2 校准项目和校准用标准器及其他设备触针式粗糙度仪校准项目和校准用标准器及其他设备见表2。表2 触针式粗糙度仪校准项目和校准用标准器及其他设备序号校准项目校准用标准器及其他设备1传感器触针针尖圆弧半径及角度影像测量仪,4 0 0倍以上2传感器滑行轨迹的直线度平面平晶,1级,或长平晶3残余轮廓平面平晶,1级,或长平晶4示值误差5示值重复性6示值稳定性标准多刻线样板U9 5:(3n m+0.0 2A)(5n m+0.0 5A)注:A为标准多刻线样板表面粗糙度参数R a的标准值,R a单位为m6 校准方法6.1 传感器触针针尖圆弧半径及角度传感器触针针尖圆弧半径及角度可采用影像法测量。6.2 传感器滑行轨迹的直线度驱动器带动传感器通过触针沿平晶工作表面匀速滑行,滑行长度为传感器水平方向全行程,从轮廓曲线图上确定滑行轨迹的直线度。6.3 残余轮廓选用仪器最小取样长度,在平晶工作表面上匀速滑行至少5个取样长度,读取R a。当仪器配置多个传感器时,应对每个传感器残余轮廓分别进行校准。6.4 示值误差用一组标准多刻线样板,在仪器相应量程和取样长度上分别对R a进行测量。样板应尽可能覆盖仪器的全部取样长度。当样板不能覆盖仪器全部取样长度时,应至少选择仪器的0.2 5mm、0.8mm、2.5mm三段取样长度进行测量。测量时,传感器滑行方向应垂直于样板表面加工纹理,见图4,评定长度通常可取为5倍的取样长度。4J J F1 1 0 52 0 1 8图4 传感器滑行方向示意图在样板工作区域内的三个不同位置上各测量3次。取9次测量的平均值作为仪器对该样板的测量值,该值与样板标准值的差值为仪器的示值误差,见公式(1),示值误差要求见表1。R a=R a-R a0(1)示值误差也可用相对误差来表示,见公式(2)。作为标准器的标准多刻线样板表面应均匀、且没有明显划伤,其不确定度要求见表2。R a参数值与取样长度值的对应关系见表3。R a=R a-R a0R a01 0 0%(2)式中:R a 示值相对误差;R a 读数平均值;R a0 标准多刻线样板标准值。当仪器配置多个传感器时,应对每个传感器示值误差分别进行校准。表3 R a参数值与取样长度lr的对应关系R a/mlr/mmln/mm(ln=5lr)0.0 2R a0.10.2 51.2 50.1R a2.00.84.02.0R a1 0.02.51 2.51 0.0R a1 2.58.04 0.0(1 2.5R a8 0.0)(8.0)(4 0.0)注:1.表中lr为取样长度,ln为评定长度。2.具备条件,量程也可扩展到1 2.5mR a8 0.0m,校准方法参照6.4。6.5 示值重复性选取仪器0.2 5 mm取样长度,用一块相应的标准多刻线样板,在样板某一固定位置重复测量4次,在仪器上读取测得的仪器R a,取最大值与最小值之差的二分之一对测量平均值的百分比为仪器示值重复性。5J J F1 1 0 52 0 1 86.6 示值稳定性选取仪器0.2 5mm取样长度,用一块相应的标准多刻线样板,在样板某一固定位置每隔1h测量1次R a,共测5次。5次测量结果中最大值与最小值之差为仪器示值稳定性。7 校准结果表达经校准后的触针式表面粗糙度测量仪出具校准证书,校准证书的内页格式和信息见附录E。8 复校时间间隔由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸多因素所决定的,因此送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔,建议为1年。6J J F1 1 0 52 0 1 8附录A触针式粗糙度仪示值误差校准结果的不确定度评定(示例)A.1 测量方法触针式粗糙度仪的示值R a是用一组标准多刻线样板进行校准得到的。在仪器各取样长度上测量相应标准多刻线样板的R a,与标准多刻线样板校准证书上给出的R a0进行比较,得到相应测量条件下的仪器示值误差。A.2 测量模型R a=R a-R a0(A.1)式中:R a 仪器示值误差,m;R a 仪器读数平均值,m;R a0 标准多刻线样板的标准值,m。标准多刻线样板与被校触针式粗糙度仪技术指标见表A.1和表A.2。表A.1 标准多刻线样板技术指标样板样板校准值R a0/m扩展不确定度/m(k=2)11 2.0 90.2 4 524.3 20.0 8 930.3 5 30.0 1 0140.0 8 60.0 0 47表A.2 被校触针式粗糙度仪技术指标仪器R a示值的数字分辨力最大允许误差0.0 0 01m(5n m+0.0 5A)A.3 不确定度来源不确定度各分量来源见表A.3。表A.3 不确定度分量来源不确定度分量符号不确定度分量名称u1u1 0仪器数字分辨力引入的不确定度分量u1 1仪器测量重复性引入的不确定度分量两分 量中取 较 大值为u1u2标准多刻线样板测量误差引入的不确定度分量7J J F1 1 0 52 0 1 8 表中u1与u2为各自独立的分量。A.4 方差和灵敏系数有u2c(R a)=c(R a)2u2(R a)+c(R a0)2u2(R a0)(A.2)式中 c(R a)=R a/R a=1,c(R a0)=R a/R a0=-1。故u2c(R a)=u2(R a)+u2(R a0)=u21+u22(A.3)A.5 实测记录实测记录见表A.4。表A.4 实测记录测量条件取样长度/mm8.02.50.8 00.2 5评定长度/mm4 0.01 2.54.0 01.2 5标准样板R a0/m1 2.0 94.3 20.3 5 30.0 8 6位置测量序号R a/m111 2.0 9 04.3 2 50.3 5 50.0 8 7021 2.0 9 54.3 3 00.3 5 40.0 8 6531 2.1 1 04.3 2 00.3 5 30.0 8 60211 2.1 2 54.3 1 80.3 5 10.0 8 6621 2.1 1 54.3 2 20.3 5 30.0 8 6531 2.1 2 04.3 2 00.3 5 20.0 8 67311 2.1 2 04.3 1 90.3 5 00.0 8 7021 2.1 2 24.3 2 10.3 4 90.0 8 7231 2.1 2 44.3 2 30.3 5 10.0 8 68平均值1 2.1 1 34.3 2 20.3 5 20.0 8 67平均值标准差0.0 0 390.0 0 190.0 0 05 80.0 0 01 8A.6 不确定度分量评定A.6.1 仪器数字分辨力引入的不确定度分量u1 0u1 0=2 3=0.0 0 012 3m=0.0 0 00 2 9m(A.4)A.6.2 仪器测量重复性引入的不确定度分量u1 1仪器测量重复性引入的不确定度分量u1 1可由下式计算:u1 1=sp/n=1m(n-1)mj=1ni=1(xi j-xj)/n(A.5)8J J F1 1 0 52 0 1 8计算结果见表A.4。式中xi j指R a的各次测量值(mn)个,xj指R a第j组的平均值,这里m=3,n=3。由于测量重复性所引入的不确定度分量大于仪器分辨力引入的不确定度分量,所以后者已包含在重复性不确定度分量中,即u1=u1 1。A.6.3 由标准多刻线样板测量误差引入的不确定度分量u2标准多刻线样板测量误差引入的不确定度分量可根据相关技术资料或校准证书给出的扩展不确定度来计算。本次评定根据校准证书:U=3n m+0.0 2R a,k=2则四块样板引入的不确定度分量分别为:当R a0为1 2.0 9m时,U=0.2 4 5m,包含因子k=2,则u2=0.2 4 5m2=0.1 2 3m当R a0为4.3 2m时,U=0.0 8 9m,包含因子k=2,则u2=0.0 8 9m2=0.0 4 5m当R a0为0.3 5 3m时,U=0.0 1 01m,包含因子k=2,则u2=0.0 1 01m2=0.0 0 51m当R a0为0.0 8 6m时,其扩展不确定度U=0.0 0 47m,包含因子k=2,则u2=0.0 0 47m2=0.0 0 24mA.7 不确定度分量一览表(见表A.5)表A.5 不确定度分量一览表不确定度来源标准不确定度/m符号数值仪器测量重复性u1R a0:1 2.0 90.0 0 39R a0:4.3 20.0 0 19R a0:0.3 5 30.0 0 05 8R a0:0.0 8 60.0 0 01 8标准多刻线样板测量误差u2R a0:1 2.0 90.1 2 3R a0:4.3 20.0 4 5R a0:0.3 5 30.0 0 51R a0:0.0 8 60.0 0 249J J F1 1 0 52 0 1 8A.8 合成标准不确定度用R a0为1 2.0 9m的样板校准时,uc=u21+u22=0.0 0 392+0.1 2 32m=0.1 2 3m用R a0为4.3 2m的样板校准时,uc=u21+u22=0.0 0 192+0.0 4 52m=0.0 4 5m用R a0为0.3 5 3m的样板校准时,uc=u21+u22=0.0 0 05 82+0.0 0 512m=0.0 0 51m用R a0为0.0 8 6m的样板校准时,uc=u21+u22=0.0 0 01 82+0.0 0 242m=0.0 0 24mA.9 扩展不确定度取k=2,仪器示值误差校准结果扩展不确定度见表A.6。表A.6 扩展不确定度一览表样板R a0/m仪器取样长度/mm扩展不确定度U/m1 2.0 98.00.2 4 64.3 22.50.0 9 00.3 5 30.80.0 1 020.0 8 60.2 50.0 0 4801J J F1 1 0 52 0 1 8附录B传感器触针静态测力和传感器导头的计量特性的校准B.1 传感器触针静态测力计量特性传感器触针静态测力不超过0.0 0 07 5N。有出厂技术要求的应符合出厂技术要求。B.2 传感器触针静态测力校准方法传感器触针静态测力可采用级电子天平测量。也可采用满足测量不确定度要求的其他方法测量。将触针针尖轻轻地压在电子天平上,调整传感器的高低位置,当针尖静止在表面上且处于相应量程的中间位置时,读出电子天平的示值,再乘以重力加速度g,测量示意图如图B.1所示。图B.1 传感器触针静态测力测量示意图1触针;2力传感器;3显示屏B.3 传感器导头的计量特性B.3.1 导头压力通过导头施加到被测表面上的力应该不大于0.5N。有出厂技术要求的应符合出厂技术要求。B.3.2 导头工作面粗糙度导头的工作面不应有波纹、划痕、毛刺等疵病,其粗糙度R z不超过0.1m。有出厂技术要求的应符合出厂技术要求。B.3.3 导头半径传感器导头在测量方向上的半径应该不小于所用标称截止波长的5 0倍。如果使用两个同时工作的导头,它们的半径应该不小于标称截止波长的8倍。有出厂技术要求的应符合出厂技术要求。B.4 校准方法B.4.1 导头压力将传感器导头压在电子天平上,并使传感器处于水平位置。读出电子天平的示值,11J J F1 1 0 52 0 1 8再乘以重力加速度g,即为导头压力。B.4.2 传感器导头工作面粗糙度传感器导头工作面粗糙度用干涉显微镜测量,外观用2 0倍放大镜观察。B.4.3 导头半径传感器导头端部半径可用半径样板或投影仪进行测量。21J J F1 1 0 52 0 1 8附录C触针式表面粗糙度测量仪指示表与记录器计量特性的校准C.1 计量特性C.1.1 指示表测量前指针指零,零值误差最大允许误差见仪器出厂技术指标。积分值指示式仪器,在测量行程终了时,指针停在某一位置上。如指针漂移,在6s内不超过满刻度的1%。C.1.2 记录器C.1.2.1 垂直放大率最大允许误差:4%。C.1.2.2 垂直放大率的重复性:1%。C.1.2.3 非线性误差:1 0%。C.1.2.4 水平放大率最大允许误差:1 0%。C.1.2.5 水平放大率的重复性:2.5%。C.2 校准项目和校准方法C.2.1 指示表与记录器校准项目和标准器见表C.1。表C.1 指示表与记录器校准项目和校准用标准器序号校准项目校准用标准器1指示表秒表2记录器垂直放大率误差单刻线标准样板或阶梯量块3记录器垂直放大率的重复性单刻线标准样板或阶梯量块4记录器非线性误差单刻线标准样板或阶梯量块5记录器水平放大率误差单刻线标准样板(带辅助刻线)6记录器水平放大率的重复性单刻线标准样板(带辅助刻线)C.2.2 校准方法C.2.2.1 指示表试验观察。C.2.2.2 记录器垂直放大率误差用一组标准单刻线样板(或阶梯量块),在满量程的8 0%9 0%区间进行测量。在样板工作区域内的3个不同位置上各测量3次,取其平均值,按式(C.1)计算垂直放大率误差:v=H-H0H01 0 0%(C.1)31J J F1 1 0 52 0 1 8式中:v 垂直放大率误差;H0 标准单刻线样板(或阶梯量块)的标准值;H H/KV;H 按记录图形测量的位移量;KV 垂直放大率名义值。C.2.2.3 记录器垂直放大率的重复性在小量程高放大率条件下,选用一块相应的标准单刻线样板,对样板某一固定位置测量4次,其最大值与最小值之差的二分之一对测量平均值的百分比为垂直放大率的示值重复性。C.2.2.4 记录器非线性误差在大量程低垂直放大率条件下,用记录器对深度H0近5m的标准单刻线样板(或阶梯量块)在记录纸的五等分内分别进行测量记录,按5次记录图形求得最大值与最小值之差与(H0/10 0 0)垂直放大率的百分比即为记录器的非线性误差。C.2.2.5 记录器水平放大率误差用标准单刻线样板的辅助刻线间距,对各水平放大率进行重复测量3次,取其平均值,按式(C.2)计算水平放大率误差:h=L-L0L01 0 0%(C.2)式中:h 水平放大率误差;L0 标准单刻线样板上辅助刻线的间距标准值;L L/Kh;L 记录图形上辅助刻线间距的距离;Kh 水平放大率名义值。C.2.2.6 记录器水平放大率的重复性用标准单刻线样板的辅助刻线,在任一水平放大率对样板某一固定位置重复测量4次,其最大值与最小值之差的二分之一对测量平均值的百分比为水平放大率的示值重复性。41J J F1 1 0 52 0 1 8附录Dc和s波段传输特性D.1 c和s波段传输特性D.1.1 粗糙度轮廓长波段截止波长c、短波段截止波长s和针尖半径之间关系(见表D.1)表D.1 c、s和针尖半径之间关系c/mms/mc/s针尖半径最大值/m最大采样间距/m0.0 82.53 020.50.2 52.51 0 020.50.0 82.53 0 020.52.5 08.03 0 051.58.0 02 53 0 01 05D.1.2 粗糙度轮廓中线传输特性a1a0=e-c 2(D.1)式中:a0 滤波前正弦波粗糙度轮廓幅值;a1 中线中的该正弦波轮廓幅值;正弦波轮廓波长;=0.4 6 97。D.1.3 粗糙度轮廓波段传输特性a2a0=1-e-c 2;a2a0=1-a1a0(D.2)式中:a2 滤波后正弦波粗糙度轮廓幅值。D.1.4 粗糙度轮廓波段传输特性a3a0=e-s 2(D.3)式中:a3 s滤波后正弦波粗糙度轮廓幅值。c和s波段传输特性见表D.2。D.2 c和s波段传输特的校准方法可用小振幅振动台进行校准。方法如下:将传感器触针轻轻置于振动台的工作台上,由标准信号发生器输出正弦波信号激励振子振动,由示波器或数字电压表读出幅值,分别对仪器的各切除长度进行测量读数。由式(D.4)和式(D.5)确定比值a2a0与a3a0。51J J F1 1 0 52 0 1 8表D.2 c波段传输特性和s波段传输特性*/c粗糙度轮廓:(a2/a0)/(%)/s粗糙度轮廓:(a3/a0)/(%)0.11 0 0 0.21 0 0 0.31 0 0 1/39 8.01/32.00.59 3.70.56.30.77 5.70.72 4.31.05 0.01.05 0.01.52 6.51.57 3.52.01 5.92.08 4.12.51 0.52.58 9.53.07.43.09 2.6 *国家标准G B/T1 8 7 7 72 0 0 9没有规定传输特性的上下偏差。校准时,参阅仪器相对示值误差最大允许值,确定实际传输特性偏差的允许范围。一般建议上下偏差不超过2%。a2a0=R a2A2/1 0 0%(D.4)a3a0=R a3A2/1 0 0%(D.5)式中:R a2、R a3 分别为c和s波段时仪器读出的示值,m;A 波距为的正弦信号幅度,m。61J J F1 1 0 52 0 1 8附录E校准证书内页信息及格式E.1 校准证书至少包括以下信息:a)标题:“校准证书”;b)实验室名称和地址;c)进行校准的地点;d)证书或报告的唯一性标识(如编号),每页及总页的标识;e)客户的名称和地址;f)被校对象的描述和明确标识;g)进行校准日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时,应说明被校对象的接收日期;h)如果与校准结果的有效性和应用有关时,应对抽样程序进行说明;i)对校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;j)本次校准所用计量标准的溯源性及有效性说明;k)校准环境的描述;l)校准结果及测量不确定度的说明;m)对校准规范的偏离的说明;n)校准证书或校准报告签发人的签名、职务或等效标识;o)校准结果仅对被校对象有效的声明;p)未经实验室书面批准,不得部分复制证书的声明。E.2 推荐的校准证书内页格式见表E.1。表E.1 校准证书内页格式证书编号:校准环境条件温度:相对湿度:%地点:其他:序号校准项目校准结果1传感器触针针尖圆弧半径及角度2传感器滑行轨迹的直线度3残余轮廓4示值误差5示值重复性6示值稳定性测量结果不确定度:校准员:核验员:J J F1 1 0 52 0 1 8