JJF 1932-2021 椭偏仪校准规范-（高清版）.pdf

中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 9 3 22 0 2 1椭 偏 仪 校 准 规 范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rE l l i p s o m e t e r s 2 0 2 1-1 2-0 8发布2 0 2 2-0 6-0 8实施国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 发 布椭偏仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rE l l i p s o m e t e r sJ J F1 9 3 22 0 2 1 归 口 单 位:全国光学计量技术委员会 主要起草单位:中国计量科学研究院中国兵器工业第二五研究所 参加起草单位:中国电子科技集团公司第四十一研究所上海市计量测试技术研究院陕西省计量科学研究院 本规范委托全国光学计量技术委员会负责解释J J F1 9 3 22 0 2 1本规范主要起草人:刘文德(中国计量科学研究院)陈 赤(中国计量科学研究院)王 雷(中国兵器工业第二五研究所)参加起草人:孙权社(中国电子科技集团公司第四十一研究所)叶军安(上海市计量测试技术研究院)李 奕(陕西省计量科学研究院)J J F1 9 3 22 0 2 1目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)4 概述(2)5 计量特性(3)5.1 波长示值误差(3)5.2 光谱带宽(3)5.3 入射角示值误差(3)5.4 椭偏角测量重复性(3)5.5 波片延迟量示值误差(3)5.6 椭偏角示值误差(3)6 校准条件(3)6.1 环境条件(3)6.2 测量标准及其他设备(3)7 校准项目和校准方法(4)7.1 校准前检查(4)7.2 波长示值误差(4)7.3 光谱带宽(4)7.4 椭偏角测量重复性(4)7.5 入射角示值误差(4)7.6 波片延迟量示值误差(5)7.7 椭偏角的示值误差(6)8 校准结果表达(6)9 复校时间间隔(7)附录A 校准证书内页格式(供参考)(8)附录B 校准原始记录格式(供参考)(1 0)附录C 不确定度评定示例(1 2)附录D 硅表面氧化硅的椭偏光学模型(1 5)附录E 波片调节示例(1 6)J J F1 9 3 22 0 2 1引 言J J F1 0 0 1 通用 计 量 术 语 及 定 义、J J F1 0 5 9.1 测 量 不 确 定 评 定 与 表 示和J J F1 0 7 1 国家计量校准规范编写规则共同构成支撑本规范编订的基础性系列规范。本规范为首次发布。J J F1 9 3 22 0 2 1椭偏仪校准规范1 范围本规范适用于波长范围在2 5 0n m20 0 0n m内的椭偏仪的校准。2 引用文件本规范引用了下列文件:J J F1 4 9 7 偏光仪校准规范G J B/J5 4 6 3 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程S EM IE 1 4 1-0 7 0 5 用于集成计量的椭偏仪设备特性指南(G u i d e f o r s p e c i f i c a t i o no fe l l i p s o m e t e re q u i p m e n t f o ru s e i n i n t e g r a t e dm e t r o l o g y)H a n d b o o ko fE l l i p s o m e t r y,椭 偏 术 手 册,HG T o m p k i n sa n dE AI r e n e(e d s.),W i l l i a m A n d r e wP u b l i s h i n g,2 0 0 5E l l i p s o m e t r ya n dP o l a r i z e dL i g h t,椭偏术和偏振光,RMAA z z a ma n dNMB a s h a r a,N o r t h-H o l l a n dP h y s i c sP u b l i s h i n g,1 9 7 7凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3 术语和计量单位3.1 入射面 p l a n eo f i n c i d e n c e入射光束和反射光束张成的面 S EM IE 1 4 1-0 7 0 5椭偏装置6。入射(反射)角规定为入射(反射)光与样品表面法线之间的夹角,参见图1(a)。(a)入射面示意图 (b)椭偏角示意图图1 入射面和椭偏角示意图n样品表面法线;入射角;rs、rps、p偏振复振幅反射系数的模;s、ps、p偏振复振幅反射系数的相位1J J F1 9 3 22 0 2 13.2 椭圆偏振角 e l l i p s o m e t r i ca n g l e(,)简称椭偏角,也可分别称为偏振角和相位差 G J B/J5 4 6 3原理2.2,单位为度(),参见图1(b)。椭偏角是材料的偏振光学特性参量。以反射为例,假设p和s表示平行或垂直于入射面的两正交偏振分量,复振幅反射系数的比值rp/rs t a n()e x p(i)。本规范规定和的取值范围分别为 0 9 0 和-1 8 0 1 8 0 。H a n d b o o ko fE l l i p s o m e t r y,椭偏角的表示1.3.13.3 延迟器 r e t a r d e r也称为补偿器(c o m p e n s a t o r),是能在入射偏振光束两正交偏振分量间引入相对相位差(一般称为延迟量,单位为度、弧度)的光学器件。延迟器包括波片、光弹相位调制器、液晶相位调制器、电光调制器、菲涅尔棱镜、S o l e i l-B a b i n e t补偿器、B e r e k补偿器等。E l l i p s o m e t r ya n dP o l a r i z e dL i g h t,5.2.1.2R e t a r d e r s3.4 偏振态发生器 p o l a r i z a t i o ns t a t eg e n e r a t o r能够产生特定偏振态光的装置,在椭偏仪中常为线偏振起偏器,或起偏器与延迟器的组合。3.5 偏振态分析器 p o l a r i z a t i o ns t a t ea n a l y z e r能够部分或完全确定入射光偏振态参数的装置,在椭偏仪中常为线偏振检偏器,或检偏器与延迟器的组合。4 概述椭偏仪常用于微电子、光电子、薄膜光学、偏振光学等领域的椭偏角光谱测量与分析,按工作原理、结构形式等,可划分为反射、透射式,或单波长、多波长、光谱式,或消光式、旋转偏振光学元件式、相调制型等,或固定入射角、可变入射角式,等等。椭偏仪测量椭偏角的基本原理是,由仪器发出特定偏振态的偏振光,经被测对象表面反射(透射)后,再经偏振、相位延迟元件获得光强度的变化,经仪器分析得到椭偏角。现代椭偏仪一般由准直光源、偏振态发生器、偏振态分析器、(分光)探测系统、样品台、样品对准系统以及计算机组成,如图2所示。根据光与物质相互作用的物理模型建立描述偏振态变化的数学模型,可由椭偏角反演分析物理模型的参数,得到材料、表面等被测对象的性质。由于物理模型常常不唯一,模型的人为选择等因素也会影响分析结果,因此基于椭偏光谱的椭偏仪校准是所有分析的前提和保障。图2 椭偏仪结构示意图(反射模式)1准直光源;2偏振态发生器;3偏振态分析器;4(分光)探测系统;5被测样品;6样品台;7样品对准系统2J J F1 9 3 22 0 2 15 计量特性5.1 波长示值误差对光谱式椭偏仪:在(2 5 08 5 0)n m波段,不超过0.5n m(光谱扫描式)或1.0n m(多通道式);在(8 5 020 0 0)n m波段,不超过4.0n m。5.2 光谱带宽一般不超过1 0n m。5.3 入射角示值误差一般不超过0.0 5。5.4 椭偏角测量重复性以空气为自然基准测量,在(4 0 08 0 0)n m波段,和的测量重复性一般不超过0.0 3;其他波段,测量重复性一般不超过0.0 6。5.5 波片延迟量示值误差在6 3 3n m波长,对延迟量名义值9 0 的波片,一般不超过4。5.6 椭偏角示值误差在6 3 3n m波长测量椭偏角标准样品时,和的示值误差不超过0.5。以上指标不适用于合格性判别,仅供参考。6 校准条件6.1 环境条件6.1.1 环境温度:(2 05)。6.1.2 相对湿度:不大于8 0%。6.1.3 电源电压:(2 2 01 1)V。6.1.4 校准现场背景光源、振动干扰应对测量无影响,或影响可忽略。6.2 测量标准及其他设备6.2.1 波长标准光源:根据需要选择合适的波长标准光源,如低压汞灯、低压钠灯、H e-N e激光器等。6.2.2 角度标准器:至少具有两光学反射面,其夹角大小满足入射角校准的需要,见7.5。可以是经检定合格的正多面棱体,或经校准的专用棱体;被校准的入射角度一般为7 0 或7 5。6.2.3 延迟量标准样品:快轴方位已标出的波片,在工作波长6 3 3n m下,延迟量名义值为9 0,不确定度优于0.2(k=2),其计量特性可参照J J F1 4 9 7偏光仪校准规范。6.2.4 椭偏角标准样品:单晶硅表面S i O2薄膜(至少包含名义厚度5 0n m、1 2 0n m各一片),中央区域至少有5mm5mm范围内椭偏角(波长6 3 3n m)的非均匀性优于0.3%(标准偏差/平均值),年变化量小于2%,表面干净光洁,以干净塑料专用容器保存。6.2.5 其他(必要时):自准直仪(检定合格,见7.5),适用于所考察波段的辅助起偏棱镜(消光比达到1 0 00 0 01),波片和起偏棱镜的旋转、装夹机构。3J J F1 9 3 22 0 2 17 校准项目和校准方法7.1 校准前检查标准样品表面应光洁无尘埃及明显油污、指纹等,否则应当清洗后再校准(例如,可用丙酮冲洗、高纯干燥气体吹干、使样品在清洁环境中达到稳定;不建议超声清洗)。波片标准样品快轴方向清晰。应有型号、编号等标识。椭偏仪应附带使用和维护说明书,工作正常,无影响性能的机械损伤。仪器预热:一般需至少预热1 0m i n(具体参照使用说明书);光源开启后一般需预热1 0m i n。7.2 波长示值误差将波长标准光源的输出引入探测光路,待信号强度足够或最大化、波长标准光源正常工作5m i n后,用椭偏仪测量特征谱线图谱(相对光谱功率分布)。取峰值波长或半高全宽中心波长作为波长示值i,按式(1)计算波长示值误差。=1NNi=1i-s(1)式中:波长示值误差;N 测量次数,N6;i 波长第i次测量值;s 波长标准值。7.3 光谱带宽扫描汞灯的2 5 3.7n m或5 4 6.1n m特征谱线,记录对应图谱,测量半高全宽作为仪器的光谱带宽。7.4 椭偏角测量重复性椭偏仪入射、反射角设定为9 0;具有机械扫描式单色仪的光谱椭偏仪,在重复测量时,每次均从同一波长起始点开始扫描;按式(2)得到椭偏角平均值和。=1NNi=1i,=1NNi=1i(2)式中,N为重复测量次数,N6。计算实验标准偏差s和s作为椭偏角测量重复性。7.5 入射角示值误差如入射光路出口处有聚焦元件(如微光斑附件),应取下,使入射光接近准直光束。利用入射光从角度标准器工作面反射,并与入射光重合,通过比较入射臂仪器示值与角度标准器标准角度,得到示值误差。典型的校准方法如图3所示。(1)调整角度标准器的0工作面与椭偏仪工作时被测样品表面平行;(2)调节入射臂角度,必要时在保证(1)条件下微调角度标准器方位角,使得入射光经角度标准器工作面反射后与入射光重合,记录此时仪器显示的入射臂角度示值;(3)当重复测量时,需取下角度标准器,重复(1)(3)的过程;4J J F1 9 3 22 0 2 1(4)如果难以实现(2)的操作(例如入射角为固定式),可利用自准直仪对准角度标准器0工作面,调节样品台倾角,使反射光与入射光重合,记录自准直仪在调节前后的示值差值作为入射角示值误差。重复测量N次(N9),所得各次测量结果的标准偏差应小于0.0 5,否则应重新测量。用式(3)计算入射角的示值误差。=1NNi=1i-s(3)式中:入射角的示值误差;N 测量次数,N9;i 入射角第i次测量值;s 入射光对准的工作面与0工作面的夹角(标准值)。图3 入射角校准示意图入射角示值(仪器读数);s入射光对准的工作面与0工作面夹角(标准值)7.6 波片延迟量示值误差图4 波片测量示意图P椭偏仪起偏器;C 1波片标准样品椭偏仪入射设置为9 0,将波片标准样品C 1置于椭偏仪光路中(见图4),调节光轴(快轴)平行于入射面,测量所得椭偏角就是C 1延迟量的测量值。波片调节可参照附录E。椭偏仪设定为工作模式,测量波片的椭偏角Ci,用式(4)计算延迟量示值误差。5J J F1 9 3 22 0 2 1R e t=1NNi=1Ci-C s(4)式中:R e t 椭偏角的示值误差;N 测量次数,N6;Ci 波片延迟量第i次测量值;C s 波片延迟量标准值。7.7 椭偏角的示值误差椭偏仪入射、反射角设定为7 0 或7 5,椭偏角标准样品置于样品台上,调节样品台使样品表面与自准直仪光轴垂直。测量标准样品椭偏角(,),按式(5)和式(6)计算示值误差。=1NNi=1i-s(5)=1NNi=1i-s(6)式中:,椭偏角,的示值误差;N 测量次数,N6;i,i 第i次椭偏角测量值;s,s 椭偏角标准值。8 校准结果表达校准结果以校准证书(或校准报告)的形式给出。校准证书至少应包括下列信息:1)标题:如“校准证书”;2)实验室名称和地址;3)进行校准的地点;4)证书或报告的唯一性标识(如编号),每页及总页数的标识;5)送校单位的名称和地址;6)被校对象的描述和明确标识;7)进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时,应说明被校对象的接收日期;8)如果与校准结果的有效性或应用有关时,应对被校样品的抽样程序进行说明;9)对校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;1 0)本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;1 1)校准环境的描述;1 2)被校仪器工作的波长范围;1 3)校准结果及测量不确定度的说明;1 4)对校准规范的偏离的说明;6J J F1 9 3 22 0 2 11 5)校准证书或校准报告签发人的签名、职务或等效标识,以及签发日期;1 6)校准结果仅对被校对象有效的声明;1 7)未经实验室书面批准,不得部分复印证书或报告的声明。9 复校时间间隔椭偏仪的复校时间间隔根据使用情况由用户确定,建议复校时间间隔为1年。但当标准样品清洁后、更换重要部件、维修或对仪器性能有怀疑时,应随时校准。7J J F1 9 3 22 0 2 1附录A校准证书内页格式(供参考)证书编号:共 页第 页校准依据技术文件(代号、名称)校准的环境条件:温度:相对湿度:校准地点:校准使用的主要计量器具:名 称测量范围不确定度/准确度证书编号证书有效期至YYYY-MM-D D证书编号:共 页第 页校 准 结 果1.光谱带宽:(光谱线:)2.波长示值误差 单位:n m标准波长测量值平均值示值误差 注:示值误差=平均值-标准值3.入射角示值误差角度标准值:s=序号测量值/()123456平均值示值误差8J J F1 9 3 22 0 2 1 4.波片延迟量示值误差波片延迟量标准值:C s=序号测量值/()123456平均值示值误差 5.椭偏角示值误差样品:(编号:)标准值:s=,s=。入射角:序号/()/()123456平均值示值误差 椭偏角校准结果不确定度的描述:U=(k=2);U=(k=2)。校准员 核验员9J J F1 9 3 22 0 2 1附录B校准原始记录格式(供参考)证书编号:年 月 日送 检 信 息仪器名称型号规格制造厂家出厂编号送检单位名称校 准 前 检 查仪器1.开关、键、钮损伤:无/有()2.显示、软件和存储功能:正常/不正常()3.机械结构外观:正常/不正常()4.其他:样品1.样品完整性:正常/不正常()2.样品表面是否干净:是/否()3.其他:校 准 记 录标准器名 称测量范围不确定度/准确度等级证书编号证书有效期至YYYY-MM-D D技术依据测量条件1.偏振元件方位角设定:起偏器 检偏器 相 位 延 迟 器(类 型:波 片其他:)2.波长 3.如校准椭偏仪用标准样品,则几何条件:样品几何中心其他:4.如校准椭偏仪,仪器状态:光信号水平:积分时间:自适应/手动()其他:01J J F1 9 3 22 0 2 1测量结果样品:入射角:7 0,9 0,其他 样品:入射角:7 0,9 0,其他 序号/()/()序号/()/()112233445566平均值平均值标准值标准值示值误差示值误差椭偏光谱(适用于光谱椭偏仪,仪器软件生成的图或者光谱数据,可另附页)导出参数分析结果(仪器软件采用的光学模型、参数,拟合分析得到的导出参数值)不确定度描述U=(k=2);U=(k=2)(导出参数分析不确定度描述,参照附录D)备注温度 ,相对湿度%,地点:校准员 核验员 11J J F1 9 3 22 0 2 1附录C不确定度评定示例C.1 测量模型入射角、波片延迟量、椭偏角(,)的示值误差的测量模型为:=-s(C.1)R e t()=C()-C s()(C.2)()=()-s()+BW(C.3)()=()-s()+BW(C.4)式中:波长;入射角示值误差;入射角示值算术平均值;s 角度标准样品标准值;R e t 波片延迟量示值误差;C 波片延迟量测量值算术平均值;C s 波片延迟量标准值;,椭偏角的示值误差;,椭偏角测量值算术平均值;s,s 椭偏角标准值;,入射角引入的椭偏角示值误差;,波长引入的椭偏角示值误差;BW,BW 带宽引入的椭偏角示值误差。注意,椭偏角示值误差,与入射角、波长和样品均有关,在给定入射角和波长条件下,采用椭偏角分析导出参数(膜厚、薄膜光学常数等)及其不确定度时,需逐个样品单独进行。C.2 输出量合成标准不确定度u()=u2()+u2(s)(C.5)u(R e t)=u2(C)+u2(C s)(C.6)u()=u2()+u2(s)+u2()+u2()+uBW()(C.7)u()=u2()+u2(s)+u2()+u2()+uBW()(C.8)C.3 标准不确定度分量评定C.3.1 入射角示值误差的不确定度C.3.1.1 入射角标准值s的标准不确定度21J J F1 9 3 22 0 2 1由检定证书,角度标准器准确度等级为四等,根据检定规程,不确定度为1(k=2),因此角度标准器的标准不确定度为:u(s)=12=0.50.0 0 01 C.3.1.2 测量重复性引入的标准不确定度取下角度标准器,重新装载、调整、测量,重复9次,计算平均值的标准偏差,作为入射角测量重复性引入的标准不确定度,即u()=0.0 0 5。C.3.1.3 合成标准不确定度与扩展不确定度由于各标准不确定度分量不相关,故合成标准不确定度为:uc()=u2()+u2S()=0.0 0 5 取包含因子k=2,则扩展不确定度为:U()=ku()=0.0 1(k=2)C.3.2 波片延迟量示值误差测量不确定度C.3.2.1 波片延迟量标准值C s的标准不确定度波片标准样品送上级计量部门校准,其标准延迟量值C s的不确定度为0.2(k=2),则标准不确定度为:u(C s)=0.2/2=0.1 C.3.2.2 测量重复性引入的标准不确定度重新装载波片,重复6次,考察重复性。6 3 2.8n m波长延迟量极差为0.1,单次实验标准差s=0.1/2.5 3=0.0 4,重复性引入的标准不确定度为:u(c)=0.0 4 60.0 2 C.3.2.3 合成标准不确定度与扩展不确定度由于各标准不确定度分量不相关,故合成标准不确定度为:u(R e t)=u2(C s)+u2(c)=0.1 取包含因子k=2,则扩展不确定度为:U(R e t)=ku(R e t)=0.2(k=2)C.3.3 椭偏角示值误差的测量不确定度采用椭偏仪标准样品评价椭偏角示值误差,名义厚度为5 0n m、1 2 0n m的两个样品编号分别为C RM 5 0、C RM 1 2 0。C.3.3.1 测量重复性引入的标准不确定度设定椭偏仪的入射角为7 0。各样品测量重复6次,用极差法确定平均值的不确定度。表C.1 测量重复性引入的标准不确定度C RM 5 0C RM 1 2 0u()/()0.0 10.0 2u()/()0.0 60.0 2C.3.3.2 标准值s,s引入的标准不确定度31J J F1 9 3 22 0 2 1椭偏角标准样品送上级部门校准,椭偏角的标准不确定度如表C.2所示。表C.2 椭偏角标准值引入的标准不确定度C RM 5 0C RM 1 2 0U(s)/()(k=2)0.30.4U(s)/()(k=2)0.40.4u(s)/()0.1 50.2u(s)/()0.20.2C.3.3.3 入射角引入的不确定度根据“空 气/S i O2/S i”的 椭 偏 光 学 模 型(见 附 录D),计 算 入 射 角 在7 0 变 化0.0 5 时椭偏角的变化量绝对值,取最大值、,然后按均匀分布(包含因子取3)计算入射角引入的标准不确定度,如表C.3所示。表C.3 入射角引入的标准不确定度C RM 5 0C RM 1 2 0/()0.0 0 40.0 4/()0.2 40.2 5u()/()0.0 0 20.0 2u()/()0.1 40.1 4C.3.3.4 波长引入的不确定度在6 3 2.9n m处,根据模型计算(参考附录D),波长变化0.1n m对椭偏角的影响按均匀分布处理,引入的标准不确定度如表C.4所示。表C.4 波长引入的标准不确定度C RM 5 0C RM 1 2 0u()/()0.0 0 20.0 1 3u()/()0.0 0 30.0 0 7C.3.3.5 带宽引入的不确定度针对本示例所用仪器,调节狭缝宽度,并用汞灯考察相应带宽,在4.2n m、2.5n m和1.2n m三种带宽下测量6 3 3n m波长下椭偏角,结果表明,椭偏角随带宽的变化(BW、BW)不明显,变化量和标准偏差基本在同一量级,取最大差值按均匀分布考虑,计算带宽引入的标准不确定度为:uBW()=0.0 2/3 0.0 1 uBW()=0.0 5/3 0.0 3 C.3.3.6 合成标准不确定度与扩展不确定度由于各标准不确定度分量不相关,故合成标准不确定度为:u()=u2()+u2(s)+u2()+u2()+u2BW()u()=u2()+u2(s)+u2()+u2()+u2BW()计算扩展不确定度时,取包含因子k=2,结果如表C.5所示。41J J F1 9 3 22 0 2 1表C.5 椭偏角的合成标准不确定度与扩展不确定度波长/n mC RM 5 0C RM 1 2 0u()/()0.1 50.2 0u()/()0.2 50.2 5U()/()(k=2)0.30.4U()/()(k=2)0.50.551J J F1 9 3 22 0 2 1附录D硅表面氧化硅的椭偏光学模型在(2 5 020 0 0)n m波段范围,透明材料的折射率作为波长的函数(色散关系),常用C a u c h y模型描述:n()=A+B1 042+C1 094(D.1)波长的单位为n m,A、B和C为待定参数;此外,也常采用L o r e n t z、T a u c-L o r e n t z等色散模型。单晶硅的光学常数一般取自文献,硅基底S i O2薄膜标准样品如无特殊说明,其表面平行于(1 0 0)晶面。对于实验获得的硅表面二氧化硅薄膜的椭偏光谱数据,可以用上述色散模型,建立光学模型(如“空气/S i O2/S i”模型),构造目标函数,进行非线性最小二乘拟合,得到导出参数(d e r i v e dp a r a m e t e r s)如膜厚、薄膜光学常数等。目标函数的一种定义可以是:2=1(2M-P)Mi=1(C a li-E x pi)2+(C a li-E x pi)2 (D.2)上标E x p和C a l分别表示实验和计算值;M是测量数据点数;P是待拟合模型参数个数。在应用模型拟合分析导出参数时,应特别注意,不同色散模型、光学模型的应用,会改变拟合度、给出参数的不同拟合结果,该差异不涉及仪器本身测量光谱的准确度,但却给参数分析引入系统误差。在分析导出参数不确定度时,推荐采用J J F1 0 5 9.2 用蒙特卡洛法评定测量不确定度。在分析波长、入射角的影响时,可采用上述模型计算评估标准不确定度分量。“空气/S i O2/S i”模 型 的 相 关 数 据 如 下(来 自H a n d b o o ko fo p t i c a lc o n s t a n t so fs o l i d s,e d i t e db yE.D.P a l i k,L o n d o n:A c a d e m i cP r e s s,1 9 8 5)。表D.1 二氧化硅薄膜椭偏模型光学参数波长=6 3 3n m折射率实部折射率虚部空气1.0 0 00.0 0 0二氧化硅(S i O2)1.4 5 70.0 0 0单晶硅(S i)3.8 8 10.0 1 961J J F1 9 3 22 0 2 1附录E波片调节示例7.6中波片调节的一种示例如下。图E.1 波片调节示意图P椭偏仪起偏器;P 1辅助起偏器;C 1波片标准样品图E.1中,y z面为入射面,偏振元件的光轴用实线箭头标出。设定椭偏仪光路中所有可调偏振光学元件的光轴平行于入射面,设定旋转偏振光学元件(如果有)为静止状态,设定可移出光路的固定光轴式偏振光学元件(如果有)为移出状态。下述调节过程中,观察仪器接收信号直流分量的强度变化。(1)调节P 1起偏方向垂直于入射面:将P 1置于光路中,P 1通光面垂直于入射光;旋转P 1光轴使信号强度达到最小值。(2)调节C 1光轴平行于入射面:在P和P 1之间加入C 1,其通光表面垂直于入射光;旋转C 1光轴方位使信号强度重新达到最小值。(3)移去P 1。为调节元件通光面垂直于入射光,可参照7.5,若仪器光路较短不便于实施,可在光路中加入高斯目镜(也称为自准直目镜)或自准直仪(光路可通过分束镜转折),然后调节波片与起偏器P通光面平行。若仪器在P前面还有延迟器,则借助另一起偏棱镜P 2置于该延迟器与C 1之间,首先调节P 2与P消光,以便找到入射面,然后以P 2为准仿照上述步骤调节。J J F1 9 3 22 0 2 1