材料研究与测试方法试卷.doc

*武汉理工大学考试试题纸（ B 卷)课程名称材料研究与测试方法专业班级材科060203题号一二三四五六七八九十总分题分2030102020100备注： 学生不得在试题纸上答题（含填空题、选择题等客观题)一、填空（20分)1、电磁透镜的分辨本领主要取决于电子波的和由焦距与后焦面上光阑孔直径确定的角大小.2、在选区成像时，中间镜的物平面在物镜面上，即光阑平面上；拍摄电子衍射花样时，通过降低镜的 ，使中间镜的物平面处在 镜的面上，即光阑平面上。3、多晶体电子衍射花样为，单晶衍射花样为组成。4、暗场成像是指让通过物镜光阑，而把遮挡掉得到图像衬度的方法。5、在物相定性分析中，检索ASTM卡片时，有两种索引，分别是和.6、在Xray衍射仪中，纪录衍射强度的计数器通常有三种，分别是、.7、像差分成几何像差和色差，几何像差主要是指和。二、简答题（30分）1、简述X-ray反射(衍射）与可见光反射的区别。2、透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何？3、简述单晶电子衍射花样的分析步骤（相机常数未知)。三、以CoK(0.15405nm）线照射某黄铜试样的（400）面：当0时，2150。4;当45时,2150。9，试计算试样表面的宏观应力.（已知:a0.3695nm，E8.83104MPa，=0。35）（10分）四、作图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。（20分）五、画出fcc晶体011晶带的标准电子衍射花样,取Nh2k2l212的斑点。（20分）武汉理工大学教务处试题标准答案及评分标准用纸课程名称材料研究与测试方法（B卷）一、每空1分，共20分1、波长、孔径角；2、像平面、选区光阑、中间镜、激磁电流、物镜、焦平面、物镜光阑；3、一系列不同半径的同心圆、排列整齐的斑点;4、衍射电子、透射电子；5、数字索引、字母索引；6、正比计数器、盖革计数器、闪烁计数器;7、球差、像散。二、30分1、10分答:a、Xray衍射中，只有一定数目的入射角能产生反射。 3分b、Xray衍射中，不仅是晶体表面，内层原子也参与.3分c、强度不同，Xray衍射强度微弱. 2分d、本质不同，Xray衍射是由于相干散射而产生的。2分2、10分答：主要有三种光阑：A聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。作用：限制照明孔径角。（3分)；B物镜光阑。安装在物镜后焦面.作用：提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差;进行暗场成像。（4分）;C选区光阑：放在物镜的像平面位置。作用：对样品进行微区衍射分析。（3分)3、10分答:a、选择靠近中心且不在一直线上的几个斑点，测量其R，利用R2比值规律确定点阵类型和斑点所属h k l; 3分b、进一步确定（h k l).先假定其中一个斑点指数h1 k1 l1 ,而第二个斑点的指数h2 k2 l2.根据夹角公式确定。 3分c、 其余斑点指数通过矢量运算得到。 2分d、任取不在一条直线上的两个斑点，确定晶带轴指数u v w。 2分 三、10分答：2分2dsinsin/2d0。17903（20。0924）0。968875。62分 2分2分 MPa/（） 2分四、20分答:设薄膜有A、B两晶粒。B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件，或B晶粒内满足“双光束条件”，则通过（hkl）衍射使入射强度I0分解为Ihkl和IOIhkl两部分.A晶粒内所有晶面与Bragg角相差较大,不能产生衍射.在物镜背焦面上的物镜光阑，将衍射束挡掉，只让透射束通过光阑孔进行成像(明场），此时，像平面上A和B晶粒的光强度或亮度不同，分别为：IA I0IB I0 - IhklB晶粒相对A晶粒的像衬度为：明场成像: 只让中心透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。 暗场成像：只让某一衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像.中心暗场像：入射电子束相对衍射晶面倾斜角，此时衍射斑将移到透镜的中心位置，该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中心暗场成像。 明场像 5分 暗场像 5分 中心暗场像 5分五、20分答：由晶带定律:h任意，且kl 2分由消光条件:全奇全偶时有斑点 2分则可以分析出可能存在的斑点指数：h0、2时,k、l为偶数.包括：(02）、（02）、(200）、（00）、（22)、(22）、（2）、（2)h1、3时，k、l为奇数. 包括:（11）、（11)、（1）、（1）、（31)、（31）、（1）、（1） 4分再计算夹角:（200）与（02）之间的夹角：，90(200）与(22）之间的夹角：，54.7 2分 10分