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色谱基线漂移演示教学.doc

上传人:快乐****生活 文档编号:3843165 上传时间:2024-07-22 格式:DOC 页数:5 大小:23.50KB 下载积分:6 金币
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色谱基线漂移 精品文档 当流量和温度设置值改变时,可能会发生基线的波动或者漂移。如 果在新的条件下运行之前系统还没有稳定,那么发生基线的波动是$ Q- ^1 U9 a) ^0 o  H3 Q1 m% | 正常的。下面例子假设自从上次改变工作条件以后已经经过了足够0 g! |$ E% N( ^  ?7 M% Y& b5 C 长的稳定时间。, }3 q4 `" x8 }+ k  |/ ^+ \ 波动和漂移经常会伴随噪声,这个问题我们会在后面讨论。 ' m% H. e  q* o3 a1 运行期间基线有规律的向上漂移或者向下漂移: % u& X3 M1 C' b* E' ]) r; I5 ?• 这在程序升温过程中最常见。使用单一柱(没有补偿柱)在 & R% [+ O$ q6 P6 H' I  B! ?5 `中档到低档衰减条件下会出现上述问题。如果使用的是双柱0 V  a* `$ V  C3 |) Z 系统,请核对信号模式是否设定为正确的柱补偿;或者使用7 b+ k! n0 e4 M 电子柱补偿的单柱系统。 ! |# Y0 D1 o8 u" c柱补偿太小(上漂移)或者太大(下漂移)也是可能的。. w6 e% R7 h1 b1 e! \0 M1 i 这种漂移可以通过色谱柱的彻底老化来降到最小。在低温下工 . b5 i/ Y7 A, S$ e8 j3 b9 c* A2 W作会减小漂移但是会延长分析时间。使用温度上限较高的色谱; _" z/ J5 C1 T 等效柱也是可以的 . L8 W! j6 t- r' T2 b2 基线不稳定;上下波动: 4 s- y) b( F5 D可能是系统某处有泄漏。检查隔垫的状况,必要的话就更换它。$ ?2 c# M/ Q8 D( r5 K 检查柱子的连接。 3 f3 N3 E0 v; ^, z- X( _如果是在连接检测器的色谱柱端发生泄漏,则两次运行之间的 * l, N5 M  j; C/ C保留时间是不变的,但是灵敏度降低了。如果是在进样口端发生 9 c0 @1 g; e8 P4 g7 a泄漏,则灵敏度会降低,而保留时间会变长。5 S* y9 [8 K' C# K) h& s% ~! B 噪声就是快速的基线起伏,会加宽基线,使基线出现毛刺状的外6 K+ [4 W$ n( `; P$ C2 j 观。噪声和毛刺是不同的;毛刺是孤立的事件,不像噪声基本是连, H! \0 I, F: e 续的,后面将讨论有关毛刺的问题。 ! x! Y* r& o, D/ K+ P有些噪声是任何检测器都不可避免的。在高衰减值的情况下噪声是+ P+ R  P& M9 ^5 C, R: L 看不到的,但是当衰减减小的时候就会显现出来。噪声会减小检测  h! u) a8 Z7 \3 q, _ 器的灵敏度,所以它应当尽可能的最小化。 ; R5 r1 r! C3 w# x. T2 _2 H2 }1 在原来很平整的基线上突然出现了噪声:5 _- ^; X* u. {3 D7 h8 n# |' o • 考虑最近对系统所做的所有改变。比如减小了衰减,即使绝 & Y( V8 c8 U' Y6 k1 r. U. c对的噪声水平没有改变,也会使噪声看起来更大。 $ ?( x- p# C. C, u& K' _• 新的隔垫会因为释放出低分子量物质而产生噪声。如果随着  B8 ~1 _" o6 ]$ P4 D6 K 进样口温度降低噪声会减小,那么很有可能就是因为这个原 $ p4 _# _- K; s; q/ o因。使用高质量的隔垫并保存在不会使其受到污染的地方。 # W* {# ]; h% s4 z8 b  e) J  m( U• 载气受到污染:如果最近载气瓶更换过,但是旧的瓶子仍然" Y2 s0 O8 b; s 可用并且还余下部分气体,则可以试着使用旧的瓶子看噪声 . G& o# Y0 d5 H6 m# K" [是否会减小。 , p. j! x! U4 W8 A" o如果新的载气被严重污染并使捕集阱达到了饱和,那么在更换 " Y/ ^% k) m; ]9 s  m/ @4 M" w或再生捕集阱之前,使用旧的气瓶基线可能只是改善一点。当使  Y' X, C" |2 L/ p' J! p 用氮气作为载气时这个问题是很常见的。解决方法是从可靠的/ g5 z3 n+ z8 C9 T; O1 x0 N 供应商那里购买气体。 8 o/ n. k) f, m( F1 b+ n: a3 p• 检测器气体被污染(氢气和空气)。 6 K! a, I$ C/ ]! j' h• 风扇或者空调吹过 GC 的气流可能会影响检测器出口的气 % h5 E% K( P& y7 S- e体。; K) A1 r" C7 s2 f* } 这是可能的,尽管这不是噪声最可能的原因,因为检测器保) w7 o) \( }( x$ a; v! D( F5 v2 }* Q) V 护得很好。关掉气源或者屏蔽好检测器出口就可确定是否是; D5 x) r0 Q) B: _2 a- X0 c7 w 这个问题。) n2 r* d: r* w1 B • 检测器的连接松动或者它的信号线松动就会产生噪声。 4 d6 a; R* q2 }+ G0 N• 检测器被污染也产生噪声。 6 K: y( l9 k0 N2 噪声逐渐增强到不可接受的水平:# }. _* p- v1 h, }1 Q 这个症兆表明存在逐渐累积的噪声源,而不是如上面所讨论的 & }% i$ u, {3 d, q# N" ]! ]突然变化。, P( T6 q: n! e! E2 {6 a# f$ R# D 火焰离子化检测器(FID)中容易逐渐积累沉积物。在极端的情6 }4 F9 L+ N4 H/ y+ s 况下,随着噪声水平的增加,还会产生毛刺。! Z' o' p1 H' k# y# ?! E. F 不完全燃烧的溶剂(主要是含氯物质和芳香族化合物)可能形 ' w: O6 q2 Y0 b+ g7 P) e成炭(黑色)沉积物。因此应尽量避免使用这样的溶剂。如果! L% W7 T) }9 g: J9 |- o" ~4 S 必须使用,则要做好经常清洗检测器的准备。% H" y" R! c* z% R5 `! `; s 当来自色谱柱硅酮固定相的流失物在火焰中燃烧时就会形成二" k1 u5 c* B, r 氧化硅(白色)。为了最大限度地避免这个问题,就要使用固定: `, V2 A5 \# U8 A 相载量低的色谱柱、选择使用温度上限高的固定相、使用前彻底 9 d$ m* Y; H* _$ l" S9 S老化色谱柱、分析的时候使用尽可能低的柱箱温度。' q+ D# x6 [8 T 拆开检测器使用一个小刷子来清除这两种沉积物。使用一种溶: t" W, J$ j" t$ ]/ W. _1 R) }0 t8 i, O 剂(基本上所有的溶剂都可以)会帮助冲洗掉颗粒状物。 ) w5 D( T% j" j2 F* `保留时间漂移是指在连续的运行中保留时间持续地增加或者减少。  D: d( D4 i5 L( d 无规律的基线漂移(两个方向上的)将在后面作为保留时间波动来) S/ A: \: {+ d0 |* Q) q 讨论。1 w+ ^4 J/ j4 Y 1 在一系列分析运行中,保留时间突然增加: , w8 b. z( ?% A! X! a• 原因可能是载气流速或柱箱温度的问题;检查设定值是否正 / U6 |5 ]9 ^! n  k4 _7 w确。 % c: S! N  ~7 w0 l! {• 多次进样穿刺后隔垫漏气也是一个可能的原因。如果发生这 % J* J' r5 F. z" y样的情况,就要在运行分析之前更换隔垫。7 o# p( c* ]* x: E! i0 X • 载气瓶可能已经接近空了。0 [6 ^; L# j8 c 2 在一系列运行分析中,保留时间突然减小: 2 b! H, [* t1 y0 V• 这很有可能是柱箱温度或者载气流速设定值改变引起的,检 9 K  ?  j6 u6 e+ E" \查二者的设定值。 一:在恒温操作是基线出现漂移 ; M6 `* U, O! R4 t 1.仪器放置的位置不好$ e& x4 c9 c  z0 `3 |; M6 R# j 2.仪器没有很好接地+ [0 R& j; b/ B, V% T* ] 3.柱固定液流失2 H: @! c4 X+ \, c9 c) { 4.载气漏气   D2 ^$ ?* Z. J# M  k5.柱出口到检测器的连管被污染 / }3 |: K6 Z3 q; u6.载气调节阀有问题或操作不当 1 G, |, E* d: E$ W, O% H6 K7.记录器失灵: X6 K8 L3 x" m  K/ Q* H2 a4 G- I2 o 8.TCD的池体被污染 ' l+ r" ]3 ~7 s0 n4 h9.检测器的底座被污染(FID) & M6 _# u1 o- E. Z, G  r10.检测器箱的温度没有稳定(TCD) ! s7 G0 X. k& c# _11.热导检测元件有问题(TCD) ; Y6 @" S, L8 D% @6 ^; \12.H2  空气调节阀有问题(FID) 1 r$ E( Q. n/ }13.放大器失灵(FID) ; m! y3 M0 u1 N- ]( J14.热导检测器供给的电源部件失灵 7 I( q9 N" w+ H- Y% D ! Y' i& T5 P7 {二:基线按一定斜率向一定方向漂移 / i) m1 m2 e1 B1.检测器的稳定增加或减少 ' l+ y8 z4 [, a' g3 l- @2.由于系统漏气,使元件逐渐被氧化3 E3 w4 L) E2 @& x$ [  A) @ 3.TCD的检测元件失灵 ) e  x9 ^  J7 N; h  W4.TCD的桥流电源失灵 ) X2 T8 `0 \% |8 p5.放大器失灵(离子化检测器)( F& |: B. C$ X 6.柱子活化处理不充分 + a3 a! M$ U! o$ E( |9 r7.检测器污染(ECD)3 ^8 D$ t0 B' g$ ?8 L" U 8.流量不平衡(TCD) 6 v3 g! ?# P0 N. L * p9 E6 ~# @. D' k) i 三:基线漂移 6 Z5 U' O" d# c# z: ?/ ^2 S1.活化好的柱出现大的固定相流失 . N1 F, p  m2 `- Q3 s2.柱没有充分活化 0 M0 i- ]1 w5 @, r3.在双柱操作中。两路载气不平衡 ) Q% Z7 [. O2 K5 q4 K# J8 Y4.柱被污染 : G0 g5 X: Y0 `  q/ Z 收集于网络,如有侵权请联系管理员删除
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