无损检测二级考试.doc

第三部分 超声波检测一.是非题：246题二.选择题：256题三.问答题： 70题四.计算题： 56题一是非题 （在题后括弧内，正确的画 ，错误的画）1.1 由于机械波是由机械振动产生的，所以超声波不是机械波。 （ ）1.2 只要有作机械振动的波源就能产生机械波。 ( )1.3 振动是波动的根源，波动是振动状态的传播。 ( )1.4 介质中质点的振动方向与波的传播方向互相垂直的波称为纵波。 ( )1.5 当介质质点受到交变剪切应力作用时,产生切变形变，从而形成横波。 ( )1.6 液体介质中只能传播纵波和表面波，不能传播横波。 ( )1.7 根据介质质点的振动方向相对于波的传播方向的不同，波的波形可分为纵波、横波、表面波和板波等。 ( )1.8 不同的固体介质，弹性模量越大，密度越大，则声速越大 ( )1.9 同一时刻,介质中振动相位相同的所有质点所联成的面称为波前。 ( )1.10 实际应用超声波探头中的波源近似于活塞波振动，当距离波源的距离足够大时，活塞波类似于柱面波。 ( )1.11 超声波检测中广泛采用的是脉冲波，其特点是波源振动持续时间很长，且间歇辐射。 ( )1.12 次声波、声波、超声波都是在弹性介质中传播的机械波，在介质中的传播速度相同，他们的主要区别主要在于频率不同。 ( )1.13 同种波型的超声波，在同一介质中传播时，频率越低，其波长越长。 ( )1.14 分贝值差表示反射波幅度相互关系，在确定基准波高后，可以直接用仪器的衰减器读数表示缺陷波相对波高。 ( )1.15 一般固体中的声速随介质温度升高而降低。 ( )1.16 超声波在同一介质中横波比纵波检测分辨力高，但对于材料的穿透能力差。 ( )1.17 超声波在同一固体材料中，传播纵波、横波时声阻抗都相同。 ( )1.18 超声场中任一点的声压与该处质点传播速度之比称为声阻抗。 ( )1.19 固体介质的密度越小，声速越大，则它的声阻抗越大。 ( )1.20 在普通钢焊缝检测中，母材与填充金属声阻抗相差很小，若没有任何缺陷，是不会产生界面回波的。 ( )1.21 波的叠加原理说明,几列波在同一介质中传播并相遇时,可以合成一个波继续传播。( )1.22 超声波垂直入射到光滑平界面时，声强反射率等于声强透过率，两者之和等于 1 。 ( )1.23 超声波垂直入射到光滑平界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压，说明能量守恒。 ( )1.24 超声波垂直入射到光滑平界面时，在任何情况下，透射波声压总是小于入射波声压。 ( )1.25 超声波垂直入射到光滑平界面时，其声压反射率或透过率仅与界面两种介质的声阻抗有关 。 ( )1.26 超声波垂直入射到Z2Z1的光滑平界面时,若声压透射率大于1 ,说明界面有增强声压的作用。 ( )1.27 声压往复透射率高低直接影响检测灵敏度高低，往复透射率高,检测灵敏度高,( )1.28 超声波垂直入射到光滑平界面时，声压往复透过率大于声强透过率。 ( )1.29 超声波垂直入射到光滑平界面时,界面两侧介质声阻抗相差愈小，声压往复透射率愈低。 ( )1.30 当钢中气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高也随着增加。 ( )1.31 当超声波声束以一定角度倾斜入射到不同介质的界面上,产生同类型的反射和折射波，这种现象就是波形转换。 ( )1.32 超声波倾斜入射到界面时，界面上入射声束的折射角等于反射角。 ( )1.33 超声波倾斜入射到界面在第一临界角时，第二介质中只有折射横波。 ( )1.34 只有当第一介质为液体时，才会有第三临界角。 ( )1.35 当横波倾斜入射到固/固截面时,纵波反射角为900时所对应的横波入射角称为第三临界角。 此时第一介质中没有反射横波。( )1.36 横波倾斜入射到钢水界面，水中既无折射横波，又无折射纵波。 ( )1.37 为使工件中只有单一的横波，斜探头入射角应选择为第一临界角或第二临界角。( )1.38 超声波入射到 C1 C2 的凸曲面时（从入射方向看），其折射波发散。 ( )1.39 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃/水界面为凸曲面。 ( )1.40 超声波的扩散衰减主要取决于波阵面的形状，与传播介质的性质无关。 ( )1.41 引起超声波衰减的主要原因波速扩散、晶粒散射、介质吸收。 ( )1.42 超声平面波不存在材质衰减。 ( )1.43 对同一介质而言，横波的衰减系数比纵波大得多。 ( )1.44 在同一介质中，传播纵波、横波时的声阻抗不一样。 ( )1.45 超声波入射到C1C2的凸界面时，其透射波聚集。 ( )1.46 超声波垂直入射到光滑平界面时，入射声压等于透射声压和反射声压之和。 ( )2.1 超声场近场区内声压分布不均匀、起伏变化是由于波的干涉造成的。 ( )2.2 超声场近场区内的缺陷一概不能发现。 ( )2.3 声源辐射的超声能量,总是声束中心线上的声压最高。 ( )2.4 超声波的半扩散角大，超声能量集中，声束的指向性好，检测灵敏度高，对缺陷定位准确。 ( )2.5 超声场可分为近场区和远场区，波源轴线上最后一个声压极大值的位置至波源的距离称为超声场的近场区长度。 ( )2.6 因为近场区内处于声压极小值处的较大缺陷回波可能较低,而处于声压极大值处的较小的缺陷回波可能较高， 应尽可能避免在近场区检测。 ( )2.7 超声频率不变，晶片面积越大,超声的近场长度越短。 ( )2.8 超声场远场区声压随距离增加单调减小是由于介质衰减的结果。 ( )2.9 在其他条件相同时，横波声束的指向性比纵波好，横波的能量更集中一些，因横波波波长比纵波短。 ( )2.10 同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。( ) 2.11 横波斜探头声场假想声源的面积大于实际声源面积。 ( )2.12 检测时采用低频是为了改善声束指向性，提高检测灵敏度。 ( )2.13 因为超声波存在扩散衰减，所以，检测时应尽可能在进场区进行。 ( )2.14 在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。 ( )2.15 当其他条件一定时，若超声波频率增加，则近场区长度和半扩散角都增加。 ( )2.16 横波探头晶片尺寸一定，K值增大时，近场区长度减小。 ( )2.17 超声波的能量主要集中在20以内的锥形区域，此区域称为主声束。 ( )2.18 一般声束指向角越小，则主声束越窄，声能量越集中，从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准确判断缺陷的位置。 ( )2.19 在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波近似看成平面波，其平均声压不变。 ( )2.20 频率、晶片尺寸等条件相同时，在同一介质中，横波声束指向性比纵波差。 ( )2.21 其它条件相同时，钢中横波声场近场长度随探头的折射角增大而减小。 ( )2.22 纵波声场存在近场区，横波声场不存在近场区。 ( )2.23 超声波的声束指向性不仅与频率有关，而且与波形有关。 ( )2.24 面积相同、频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场区场区相同 ( )2.25 面积相同、频率相同的圆晶片和方晶片，声束指向性也相同 ( )2.26 在同样的检测条件下，当自然缺陷的反射回波，与某人工规则反射体的反射回波等高时，则该人工规则反射体的尺寸，就是此自然缺陷的实际尺寸。 ( )2.27 短横孔是长度明显小于声束截面积的横孔，其孔径和长度一定，波高与距离的变化规律与平底孔相同。 ( )2.28 检测条件一定，平底孔的波高与其面积成正比，与距离成反比。( )2.29 长横孔是长度大于声束截面积的横孔，其孔径一定，距离增加一倍其回波下降9dB. ( )2.30 对轴类工件作外圆径向纵波检测时，曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不同。 ( )2.31 当 X 3 N 时，超声波在内孔检测圆柱体,其回波声压小于同距离大平底回波声压。( )2.32 实用 AVG 曲线只适用于特定的探头,使用时不需要进行归一化处理。 ( )2.33 在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。 ( )2.34 通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离,适用于不同规格的探头。( )3.1超声波探伤仪的A型显示、B型显示、C型显示都属于波形显示。 ( )3.2 超声波仪器的C型显示能显示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能显示其深度。 ()3.3 探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件检测面上扫查的电路。 ( )3.4调节超声波探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。 ( )3.5 调节超声波探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续精确的调节时基线代表的检测范围,以对缺陷准确定位。 ( ) 3.6 衰减器是用来调节检测灵敏度的，衰减器读数按衰减方式标出的，读数越大，灵敏度越高。( )3.7调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。( )3.8脉冲重复频率的调节与被探工件厚度有关，对厚度大的工件，应采用较低的重复频率。( )3.9所谓数字式超声波探伤仪主要是指发射，接受电路的参数控制和接收信号的处理、显示均采用数字化方式的仪器。 ( )3.10数字式超声波探伤与模拟式超声波探伤仪最根本的区别是，探头接收的超声信号需经数/模转换，将数字信号转换为模拟信号，处理后显示出来。 ( )3.11 在数字式超声波探伤仪中,脉冲重复频率又称为采样频率。 ( )3.12超声波探头中的关键部件是晶片，它的作用是电能和声能的互换。 ( )3.13 超声波探头发射超声波时产生正压电效应，接收超声波时产生逆压电效应。 ( )3.14 压电材料中，单晶材料发射灵敏度较高，多晶材料接受灵敏度较高。 ( )3.15超声波探头所使用晶片的压电效应不受温度的影响。( )3.16 焊接接头超声波检测用斜探头，当楔块底面后部磨损较大时，其折射角将变大。( )3.17双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。 ( )3.18 纵波双晶直探头检测工件时，对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。 ( ) 3.19双晶探头只能用于纵波检测。 ( )3.20聚集探头根据焦点形状不同分为点聚焦和线聚焦。 ( )3.21与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。 ( )3.22使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。 ( )3.23由于水中只能传播纵波，所以水浸探头只能进行纵波检测。( )3.24水浸聚焦探头检测工件时，实际焦距比理论计算值大。 ( )3.25工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。 ( )3.26探头的工作频率是指探头每秒钟内发射超声脉冲的次数。 ( )3.27标准试块的材质、形状、尺寸及精度，使用单位可以根据自行确定。 ( )3.28 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-标准试块对检测系统进行 校准。 ( )3.29 CS试块是一种适用于检测面为曲面的锻件检测标准试块。 ( ) 3.30 CSK-A试块上50 、44、40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。 ( ) 3.31 CSK-A、CSK-A、 CSK-试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。 ( )3.32 CSK-A试块上的人工反射体是16 。 ( )3.33 斜探头的入射点是指其主声束轴线与检测面的交点。 ( )3.34 测定探头的K值或s应在近场区内进行，因为近场内声压最高点在声束轴线上，测试误差小。 ( ) 3.35 斜探头的K值常用CSK-A试块上的50和1.5横孔来测定。 ( )3.36测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平10%，再进行测试。 ( )3.37测定“始脉冲宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大。 ( )3.38 仪器的垂直线性是指仪器显示屏上时基线显示的水平刻度与实际声程之间成正比的程度。 ( )3.39调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。 ( )3.40 灵敏度余量就是仪器与探头的综合灵敏度。 ( )3.41盲区是指从探测面到能发现缺陷的最小距离，与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度有关。 ( )3.42 盲区内缺陷一概不能发现。 ( )3.43为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。( )4.1 脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。 ( ) 4.2 多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。( )4.3液浸法检测适用于表面粗糙的试件，探头不易磨损，耦合稳定，检测结果重复性好，便于实现自动化检测。 ( ) 4.4 纵波法实质上就是使用直探头进行垂直入射检测的方法。 ( )4.5 管材和焊接接头的超声检测方法主要是垂直入射法，而横波法是垂直入射法的一种有效的辅助检测方法。 ( )4.6 手工超声检测法与自动超声检测法相比具有检测结果准确，重复性好的优点。 ( )4.7 超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的，两者的区别主要在探头的数量。 ( )4.8 仪器水平线性的好坏直接影响到对缺陷当量大小的判断。 ( )4.9 超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。 ( )4.10探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。（ )4.11一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式，使声束轴线尽量与缺陷平行。 ( )4.12 实际检测中，检测面积大的工件时，为了提高检测效率宜采用小晶片探头。 ( ) 4.13 检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。 （ ) 4.14超声耦合是指超声波在检测面上的声强透射率。 （ )4.15曲面工件检测时，检测面曲率半径越小，耦合效果越好。 ( )4.16 对于表面不太平整,曲率较大的工件,为了减小耦合损失,宜选用大晶片探头 。 ( )4.17 超声检测前，探伤仪校准的主要内容是仪器的扫描速度和检测系统的水平线性校准。( )4.18 横波扫查速度的校准方法有两种：水平调节法和深度调节法。 ( )4.19模拟式超声波探伤仪横波检测较厚工件焊缝常用深度调节法进行校准。（ )4.20 按水平距离校准横波扫描速度必须在CSK-A试块上进行。 ( )4.21 数字超声检测系统校准实际上就是探头入射零点的校准和K值测量。 （ )4.22 检测灵敏度意味着发现小缺陷的能力，因此超声检测的灵敏度越高越好。 ( )4.23灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。 （ )4.24 在超声检测中，校准检测灵敏度的常用方法有波高比较法和曲线对比法。两者相比，波高比较法实际应用很方便，定量快速、准确。 ( )4.25 锻件利用试块法校准灵敏度主要应用于无底波、厚度尺寸小于3N的工件检测。（ )4.26 用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。 ( )4.27 基准灵敏度和定量灵敏度是一回事， ( )4.28 在焊接接头的超声检测中通常初始检测采用扫查灵敏度进行粗扫查，这个扫查灵敏度不得低于定量线灵敏度。 ( )4.29 实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将检测灵敏度降低。 ( )4.30 在选择扫查方式时，应保证工件的整个检测区域有足够的声束覆盖，并使扫查过程中声束尽量与缺陷垂直。 （ )4.31当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化。（ )4.32 仪器及探头的性能、耦合与衰减、工件几何形状和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影响缺陷的定量。 （ )4.33超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小。 （ ) 4.34在焊接接头超声检测中,依据缺陷的静态波形可准确地判断缺陷性质。 ( )5.1 板材加工过程中产生的缺陷有分层、非金属夹杂物、折叠、重皮、白点、裂纹等。( )5.2在板材超声检测中，若出现缺陷的多次反射波，则说明板内一定有白点。 ( )5.3 在板材超声检测中，其耦合方式有直接接触法和液浸法。 ( )5.4 为提高工作效率，应采用较大直径的探头对较薄的钢板进行检测。 ( )5.5由于板材在轧制过程中，缺陷往往沿压延方向延伸，因此探头移动方向应与压延方向垂直。 ( )5.6 JB/T4730.32005标准规定,对板厚不大于20mm碳素钢钢板超声波检测时,用CBI试块将工件等厚度部位第一次底波高度调整到满刻度的50%,再提高14dB作为基准灵敏度。( )5.7 JB/T4730.32005标准规定，板厚大于 10 mm 到 40 mm钢板的超声检测探头，应选用探头晶片尺寸为14 20 mm ，公称频率为 2.5 MHz的单晶直探头。 ( )5.8钢板常用的扫查方式为全面扫查、列线扫查、边缘扫查、格子线扫查。( )5.9钢板检测时，通常只根据缺陷波情况判定缺陷。( )5.10 JB/ T4730.32005标准规定,对钢板进行超声检测时，如发现缺陷指示面积小于 9 cm2，钢板可评为级。 ( )5.11 JB/ T4730.32005标准规定,钢板进行横波检测时,对板厚超过50mm的钢板,应在试块的上下底面各加工一个尖角槽。 ( )5.12 JB/ T4730.32005标准规定,钢板检测时若单个缺陷的指示长度小于40mm时，可不作记录。()5.13JB/ T4730.32005标准规定,若1m1m钢板中只有10mm长的一处裂纹,该钢板可评定为级。 ( )5.14 利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。( )5.15 复合钢板超声检测时，可以从基板一侧检测,也可从复板一侧检测。 ( )5.16 复合钢板超声波检测主要对象是检测基板和复板层各自的缺陷。 ( )5.17 复合钢钢板缺陷的等级评定主要是针对未贴合缺陷而言的。 ( )5.18 复合板进行沿钢板宽度方向扫查时，间隔为100mm的平行线。( )5.19JB/T4730.32005标准规定，将探头置于复合板完全结合部位,调节第一次底波高度为显示屏满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。 ( )5.20 JB/T4730.32005标准规定，复合板检测时，第一次底波低于示波屏满刻度的5%，且未结合缺陷反射波大于20%时，该部位称为未结合。 ( )5.21 无缝钢管中常见缺陷有裂纹、折叠、分层等。 ( )5.22小径管采用液浸法进行超声检测时，以横向缺陷检测为主。 ( )5.23 小径管采用液浸法进行超声检测时, 水层距离应根据聚焦探头的焦距确定。 ( ) 5.24 201.5mm 的无缝钢管可以按照 JB/T4730.32005标准进行超声波检测。( )5.25 JB/T4730.32005标准规定，无缝钢管的超声检测时，每根钢管应从管子两端沿相反方向各检测一次。 ( ) 6.1 锻件缺陷主要有缩孔、疏松、夹杂、白点、折叠、裂纹等。( )6.2轴类锻件，一般来说用纵波直探头作轴向探测，检测效果最佳。 ( )6.3 使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应用正反两个方向扫查。( )6.4对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。 ( )6.5 对筒类锻件采用纵波直探头从端面检测主要发现与轴线平行的径向缺陷。 ( )6.6 筒类锻件为检测与检测面成一定倾角的径向缺陷，应采用横波斜探头进行检测。( )6.7锻件的晶粒比较细小，单晶直探头常采用频率2.5MHz5MHz，双晶直探头常采用频率5MHz。( )6.8 锻件检测时如出现“林状回波”，应选用频率较高的探头，如5MHz探头。 ( )6.9JB/T4730.32005标准规定，压力容器用碳钢和低合金钢锻件超声波检测时，若工件检测距离小于 45 mm ，则应采用 CB标准试块检测。 ( )6.10模拟式超声波探伤仪可利用已知尺寸的试块或锻件用始波和一次反射波进行扫描速度的校准。 ( )6.11锻件超声检测时，波高比较法的检测灵敏度校准方法有两种，一种是试块法，另一种是底波法。 ( )6.12 用底波法校准锻件检测灵敏度适用于锻件被检部位厚度小于3N 锻件。 ( )6.13 用底波法校准锻件检测灵敏度与实际扫查在同一面上，可不用考虑表面耦合补偿。( ) 6.14 用试块法校准锻件检测灵敏度，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时,要进行耦合补偿。 ( )6.15 利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。 ( ) 6.16 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。 ( )6.17 在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。( ) 6.18 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。 ( )6.19 在锻件检测中,显示屏上的反射波可分为单个、分散、密集、游动缺陷反射波及底面回波。( ) 6.20 锻件超声检测中，当缺陷回波很高、并有多次重复反射,而底波严重下降甚至消失,说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。 ( )6.21 锻件超声检测中，常见的非缺陷回波分为三角反射波、迟到波、密集缺陷反射波。 ( ) 6.22 JB/T4730.32005标准规定,检测面是曲面时，应采用CS试块来测定由于曲率不同引起的声能损失。 ( )6.23 JB/T4730.32005承压设备无损检测标准规定，碳钢和低合金钢锻件超声检测时，应记录当量直径超过3mm 的单个缺陷的波幅和位置。 ( )6.24 JB/T4730.32005 标准规定，碳钢和低合金钢各类锻件超声检测时，应记录大于或等于4 mm 当量直径的缺陷密集区。 ( )6.25JB/T4730.32005标准规定，碳钢和低合金钢锻件的缺陷等级评定包括单个缺陷的等级评定，缺陷引起的底波降低量等级评定和密集区缺陷等级评定。 ( )6.26 JB/T4730.32005