2023年材料测试方法选择判断填空题库.doc

第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ ）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特性X射线称（ ）A. K；B. K；C. K；D. L。3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ ）A Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ ）A.短波限0；B. 激发限k；C. 吸取限；D. 特性X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ ） （多选题） A光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，0和k都随之减小。（ ）2. 激发限与吸取限是一回事，只是从不同角度看问题。（ ）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（ ）4. 产生特性X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处在激发状态。（ ）5. 选择滤波片只要根据吸取曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（ ）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 X射线和 X射线。2. X射线与物质互相作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。 3. 通过厚度为H的物质后，X射线的强度为 。 4. X射线的本质既是 也是 ，具有 性。 5. 短波长的X射线称 ，常用于 ；长波长的X射线称 ，常用于 。第二章一、 选择题1.有一倒易矢量为，与它相应的正空间晶面是（ ）。A. （210）；B. （220）；C. （221）；D. （110）；。2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶K（K=0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）。A是否满足布拉格条件；B是否衍射强度I0；CA+B；D晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）。A4；B8；C6；D12。二、 正误题1.倒易矢量能唯一地代表相应的正空间晶面。（ ）2.X射线衍射与光的反射同样，只要满足入射角等于反射角就行。（ ）3.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（ ）4.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（ ）5.结构因子F与形状因子G都是晶体结构对衍射强度的影响因素。（ ）三、 填空题1. 倒易矢量的方向是相应正空间晶面的 ；倒易矢量的长度等于相应 。2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表达该 满足 条件，能产生 。3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外尚有 ， ， ， 。4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ，对于粉末多晶的相对强度为 。5. 结构振幅用 表达，结构因素用 表达，结构因素=0时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 。四、 名词解释倒易点阵系统消光衍射矢量形状因子相对强度第三章五、 选择题1.最常用的X射线衍射方法是（ ）。A. 劳厄法；B. 粉末多法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。2.德拜法中有助于提高测量精度的底片安装方法是（ ）。A. 正装法；B. 反装法；C. 偏装法；D. A+B。3.德拜法中对试样的规定除了无应力外，粉末粒度应为（ ）。A. 250目；C. 在250-325目之间；D. 任意大小。4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（ ）。A. 保持同步11 ；B. 21 ；C. 12 ；D. 10 。5.衍射仪法中的试样形状是（ ）。A. 丝状粉末多晶；B. 块状粉末多晶；C. 块状单晶；D. 任意形状。六、 正误题1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（ ）2.在衍射仪法中，衍射几何涉及二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。（ ）3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会减少接受强度。（ ）4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（ ）5.衍射仪法和德拜法同样，对试样粉末的规定是粒度均匀、大小适中，没有应力。（ ）七、 填空题1. 在粉末多晶衍射的照相法中涉及 、 和 。2. 德拜相机有两种，直径分别是 和 mm。测量角时，底片上每毫米相应 和 。3. 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 、 和 共同组成。4. 可以用作X射线探测器的有 、 和 等。5. 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。第四章八、 选择题1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ ）。A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。2. X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ ）进行核对。A. Hanawalt索引；B. Fenk索引；C. Davey索引；D. A或B。3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（ ）。A. 相机尺寸误差；B. 底片伸缩；C. 试样偏心；D. A+B+C。4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（ ）。A. 第一类应力（宏观应力）；B. 第二类应力（微观应力）；C. 第三类应力；D. A+B+C。5.Sin2测量应力，通常取为（ ）进行测量。A. 拟定的角；B. 0-45之间任意四点；C. 0、45两点；D. 0、15、30、45四点。九、 正误题1.要精确测量点阵常数。必须一方面尽量减少系统误差，另一方面选高角度角，最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据解决。（ ）2. X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是由于没有两种物相的衍射把戏是完全相同的。（ ）3.理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。（ ）4.只要材料中有应力就可以用X射线来检测。（ ）5.衍射仪和应力仪是相同的，结构上没有区别。（ ）十、 填空题6. 在一定的情况下， ，sin ；所以精确测定点阵常数应选择 。7. X射线物相分析涉及 和 ，而 更常用更广泛。8. 第一类应力导致X射线衍射线 ；第二类应力导致衍射线 ；第三类应力导致衍射线 。9. X射线测定应力常用仪器有 和 ，常用方法有 和 。10. X射线物相定量分析方法有 、 、 等。第五章十一、 选择题1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（ ）。A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。2. 可以消除的像差是（ ）。A. 球差；B. 像散；C. 色差；D. A+B。3. 可以提高TEM的衬度的光栏是（ ）。A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。4. 电子衍射成像时是将（ ）。A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；C. 关闭中间镜；D. 关闭物镜。5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是（ ）。A. 物镜的物平面；B. 物镜的像平面C. 物镜的背焦面；D. 物镜的前焦面。十二、 正误题1.TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。（ ）2.孔径半角是影响分辨率的重要因素，TEM中的角越小越好。（ ）3.有效放大倍数与仪器可以达成的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。（ ）4.TEM中重要是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消除像差，故TEM中的像差都是不可消除的。（ ）5.TEM的景深和焦长随分辨率r0的数值减小而减小；随孔径半角的减小而增长；随放大倍数的提高而减小。（ ）十三、 填空题11. TEM中的透镜有两种，分别是 和 。12. TEM中的三个可动光栏分别是 位于 ， 位于 ， 位于 。13. TEM成像系统由 、 和 组成。14. TEM的重要组成部分是 、 和观 ；辅助部分由 、 和 组成。15. 电磁透镜的像差涉及 、 和 。十四、 名词解释景深与焦长 点分辨与晶格分辨率消像散器选区衍射第六章十五、 选择题1.单晶体电子衍射把戏是（ ）。A. 规则的平行四边形斑点；B. 同心圆环；C. 晕环；D.不规则斑点。2. 薄片状晶体的倒易点形状是（ ）。A. 尺寸很小的倒易点；B. 尺寸很大的球；C. 有一定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘。3. 当偏离矢量S0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（ ）。A. 球面外；B. 球面上；C. 球面内；D. B+C。4. 能帮助消除180不唯一性的复杂衍射把戏是（ ）。A. 高阶劳厄斑；B. 超结构斑点；C. 二次衍射斑；D. 孪晶斑点。5. 菊池线可以帮助（ ）。A. 估计样品的厚度；B. 拟定180不唯一性；C. 鉴别有序固溶体；D. 精确测定晶体取向。6. 假如单晶体衍射把戏是正六边形，那么晶体结构是（ ）。A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。十六、 判断题1.多晶衍射环和粉末德拜衍射把戏同样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。（ ）2.单晶衍射把戏中的所有斑点同属于一个晶带。（ ）3.由于孪晶是同样的晶体沿孪晶面两则对称分布，所以孪晶衍射把戏也是衍射斑点沿两则对称分布。（ ）4.偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是由于S=0时是精确满足布拉格方程，所以衍射强度最大。（ ）5.对于未知晶体结构，仅凭一张衍射把戏是不能拟定其晶体结构的。还要从不同位向拍摄多幅衍射把戏，并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。（ ）6.电子衍射和X射线衍射同样必须严格符合布拉格方程。（ ）十七、 填空题16. 电子衍射和X射线衍射的不同之处在于 不同、 不同，以及 不同。17. 电子衍射产生的复杂衍射把戏是 、 、 、 和 。18. 偏离矢量S的最大值相应倒易杆的长度，它反映的是角 布拉格方程的限度。19. 单晶体衍射把戏标定中最重要的一步是 。20. 二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的把戏中在 产生衍射把戏，但体心立方和面心立方结构的把戏中 。十八、 名词解释偏离矢量S 180不唯一性 菊池线 高阶劳厄斑第七章十九、 选择题1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ ）。A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。2. 当t=5s/2时，衍射强度为（ ）。A.Ig=0；B. Ig0；D. Ig=Imax。3. 已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏矢量是（ ）。A. b=（0 -1 0）；B. b=（1 -1 0）；C. b=（0 -1 1）；D. b=（0 1 0）。4. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（ ）。A. 质厚衬度；B. 衍衬衬度；C. 应变场衬度；D. 相位衬度。5. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（ ）。A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小；C. 与真实粒子同样大小；D. 远远大于真实粒子。二十、 判断题1.实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（ ）2.厚样品中存在消光距离g，薄样品中则不存在消光距离g。（ ）3.明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。（ ）4.晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观测到这个缺陷。（ ）5.等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观测中的干扰，应当通过更好的制样来避免它们的出现。（ ）二十一、 填空题21. 运动学理论的两个基本假设是 和 。22. 对于抱负晶体，当 或 连续改变时衬度像中会出现 或 。23. 对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的 导致衍射波振幅增长了一个 ，但是若 =2的整数倍时，缺陷也不产生衬度。24. 一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行 ，但孪晶的平行线 ，而层错的平行线是 的。25. 实际的位错线在位错线像的 ，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是由于位错线像的宽度是 宽度。二十二、 名词解释中心暗场像 等厚消光条纹和等倾消光条纹 不可见性判据 应变场衬度第八章二十三、 选择题1. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ ）。A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸取电子；D.透射电子。2. 在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（ ）。A.和电子束垂直的表面；B. 和电子束成30的表面；C. 和电子束成45的表面；D. 和电子束成60的表面。3. 可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（ ）。A. 背散射电子；B. 吸取电子；C. 特性X射线；D. 俄歇电子。4. 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（ ）。A. 波谱仪；B. 能谱仪；C. 俄歇电子谱仪；D. 特性电子能量损失谱。5. 波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（ ）。A. 快速高效；B. 精度高；C. 没有机械传动部件；D. 价格便宜。二十四、 判断题1.扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜同样。（ ）2.扫描电子显微镜的分辨率重要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（ ）3. 扫描电子显微镜的衬度和透射电镜同样取决于质厚衬度和衍射衬度。（ ）4. 扫描电子显微镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的分析观测。（ ）5.波谱仪是逐个接受元素的特性波长进行成分分析；能谱仪是同时接受所有元素的特性X射线进行成分分析的。（ ）二十五、 填空题26. 电子束与固体样品互相作用可以产生 、 、 、 、 、 等物理信号。27. 扫描电子显微镜的放大倍数是 的扫描宽度与 的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 衬度，而裂纹、凹坑则是 衬度。28. 分辨率最高的物理信号是 为 nm，分辨率最低的物理信号是 为 nm以上。29. 电子探针涉及 和 两种仪器。30. 扫描电子显微镜可以替代 进行材料 观测，也可以对 进行分析观测。二十六、 名词解释1. 背散射电子、吸取电子、特性X射线、俄歇电子、二次电子、透射电子。2. 电子探针、波谱仪、能谱仪。如何操作透射电子显微镜使其从成像方式转为衍射方式答：透射电子显微镜中的成像操作就是把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，这时只要把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射把戏，成像方式就转为衍射方式了。 哪些因素影响透射电镜的分辨率？假如透射电镜的分辨率极高，此时它的景深和焦长如何？答：透射电镜分辨率涉及衍射效应和像差两方面，其中重要影响因素为波长和孔径半角。假如透射电镜分辨率极高，这时景深和焦长将减小为什么晶体缺陷（如层错、位错等）在衍衬像中有时可见有时又不可见？与抱负晶体相比，不管是何种类型缺陷的存在，都会引起缺陷附近某个区域内点阵发生畸变。缺陷晶体附近的点阵畸变范围内衍射振幅的表达式比抱负晶体多了一个附加位相角=2gR。假如gR=整数(0,1,2,)，则e-i=1，(=2的整数倍)此时缺陷的衬度将消失，即在图像中缺陷不可见。假如gR整数,则e-i1，(2的整数倍。)此时缺陷的衬度将出现，即在图像中缺陷可见。具体可见例子层错和位错。倒易点阵在晶体点阵（正点阵）基础上按一定相应关系构建的一个空间点阵。g*方向垂直于相应正点阵中的（HKL）晶面g*长度等于相应（HKL）晶面面间距的倒数gHKL*唯一代表正空间中的相应的一组（HKL）晶面。标定已知某低碳合金钢基体（选区）电子衍射把戏，试标定。（已知铁素体为体心立方、a=0.287nm，相机常数C=L=1.41mm.nm）