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数字逻辑试验参考指导书.doc

上传人:w****g 文档编号:2832057 上传时间:2024-06-07 格式:DOC 页数:14 大小:490.54KB
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资源描述

1、实验一 实验箱及小规模集成电路使用一 实验目1 掌握实验箱功能及用法2 学会测试芯片逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六非门 1片三 实验内容1 测试芯片74LS00和74LS86逻辑功能并完毕下列表格。 (1) 74LS0014脚接5V电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、8、11接发光二极管。(可以将1、4、9、12接到一种逻辑开关上,2、5、10、13接到一种逻辑开关上。)变化输入状态,观测发光二极管。74LS86接法74LS00基本同样。表1.1 74L

2、S00功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011表1.2 74LS86功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011(2)分析74LS00和74LS86四个门与否都是完好。 2 用74LS00和74LS04构成异或门,规定画出逻辑图,列出异或关系真值表。&123&456GND7&1098&13121114Vcc74LS0011231456GND711098113121114Vcc74LS86GND7Vcc1474LS044316512111213110111891(3)运用74LS00和74LS04设计一种异或门。画出设计

3、电路图。实验二 译码器和数据选取器一 实验目1继续熟悉实验箱功能及用法2掌握译码器和数据选取器逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS138 3线8线译码器 1片74LS151 八选一数据选取器 1片74LS20 四输入与非门 1片三 实验内容1 译码器功能测试(74LS138) 芯片管脚图如图2.1所示,按照表2.1连接电路,并完毕表格。其中16脚接5V,8脚接地,16脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。表2.1输入输出使能端选取端A2A1A011111111110111111111000001000011000101000111001001

4、001011001101001112 数据选取器测试(74LS151)按照表2.2连接电路,并完毕表格。其中16脚接5V,8脚接地;9、10、11,为地址输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;为选通输入端,Y为输出端,接发光二极管。 表2.2选通端地址输入端数据输入端输出A2A1A0D0D1D2D3D4D5D6D7Y10000000111110001111000000010111100000011101011110100010100000101110011000110110011100111111100003 分别用74LS138(配合74LS

5、20)和74LS151实现逻辑函数,规定画出逻辑图。GND816Vcc74LS1511D32D23D24D05Y7G15D414D513D612D711A06Y10A19A2GND816Vcc74LS1381A02A13A24S25S37Y715Y014Y113Y2612Y311Y46S110Y59Y6实验三 加法器和中规模集成电路改造一 实验目1掌握半加器和全加器功能测试2掌握中规模集成电路功能改造。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS151 八选一数据选取器 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS54 四组输入与或非门 1片三 实验

6、内容1 测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)构成半加器逻辑功能(1)按照图3.1进行连线,其中A、B接电平开关,Y、Z接发光二极管。(2)按表规定变化A、B状态,填表。321=1321&654&ABYZ图 3.1表3.1输入端A0011B0101输出端YZ2 测试全加器逻辑功能(1)用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00构成全加器,按图3.2接线,其中A、B、CI接电平开关,S、CO接发光二极管,74LS543、4、5、9、10、11均接地。(2)按表规定变化A、B、CI状态,并填表。1321=1654=1 & 1321&21213ABCISCO图3.2

7、表3.2ABCICOS0000010100111001011101113 测试如下电路逻辑功能,规定写出真值表,得出逻辑表达式并化为最简与或式。11231456GND711098113121114Vcc74LS86&123&456GND7&1098&13121114Vcc74LS00GND816Vcc74LS1511D32D23D24D05Y7G15D414D513D612D711A06Y10A19A2GND714Vcc74LS541A2B3C4D5E6Y13J12I11H10G9F8 74LS54逻辑表达式:实验四 中规模集成电路改造一 实验目掌握中规模集成电路功能改造。二 实验仪器及芯片1

8、 实验箱2 芯片: 74LS151 八选一数据选取器 1片74LS04 六非门 1片三 实验内容1 用74LS151和74LS04实现逻辑函数,并画出逻辑图GND816Vcc74LS1511D32D23D24D05Y7G15D414D513D612D711A06Y10A19A2GND714Vcc74LS0411312112134156111110198实验五 触发器及示波器使用一 实验目1 熟悉并掌握D,J-K触发器构成工作原理和功能测试办法。2 学会对的使用触发器集成芯片。二 实验仪器及芯片1 双踪示波器2 器件: 74LS74 双D触发器 一片 74LS76 双JK触发器 一片三 实验内容

9、边沿触发器测试1在实验箱上将D触发器连接成T触发器2 用示波器CH1通道显示时钟CP信号;用CH1通道显示触发器输出信号Q,观测Q变化发生在CP什么状态?3 把D触发器换成JK触发器,并连接成T触发器,运用示波器观测Q与CP关系4 绘制时序图5 规定画出D和JK触发器改导致T触发器连接图。74LS7421D31CP51QGND714Vcc122D112CP92Q82Q132RD102SD61Q11RD41SD74LS7611CP41J5Vcc151Q161K13GND122K112Q92J21SD62CP31RD72SD82RD102Q141QCPRdSdQQJK图5.2 JK触发器逻辑符号R

10、dSdQQDCP图5.1 D触发器逻辑符号实验六 集成移位寄存器一 实验目 掌握集成双向移位寄存器74LS194逻辑功能。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS194 双向移位寄存器 1片三 实验内容1 并行输入并行输出寄存器逻辑功能测试。接逻辑电平开关,接发光二极管,CP接按键脉冲。74LS194状态功能如表6.1。按照表6.2规定进行输入,观测输出,并在表中记录成果。74LS1941CR4D15D215Q016Vcc13Q212Q311CP9S02SR6D33D07SL8GND10S114Q1图6.1 74LS194管脚图表6.1S1S0工作状态0置零100保持101右移110左移

11、111并行输入2 右移逻辑功能测试按照表6.2规定进行输入,观测输出,并在表中记录成果。3左移逻辑功能测试按照表6.3规定进行输入,观测输出,并在表中记录成果。表6.2 并行输入输出功能测试输 入输 出CPS1S0D0D1D2D3Q0Q1Q2Q3111111110000110011111100表6.3 右移功能测试输 入输 出CPS1S0SRD0D1D2D3Q0Q1Q2Q30111111011000001000110101100表6.4 左移功能测试输 入输 出CPS1S0D0D1D2D3SLQ0Q1Q2Q301111110100001010011001110004用74LS194和74LS0

12、4实现扭环形计数器,画出逻辑图和状态转换图。GND714Vcc74LS0411312112134156111110198实验七 集成计数器一 实验目1 掌握集成计数器74LS161逻辑功能。2 熟悉74LS161管脚排列。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS161 四位二进制计数器 一片三 实验内容1 并行预置输入芯片管脚如图7.1所示。接逻辑电平开关,接发光二极管,CP接按键脉冲,接地,接高电平(5V),P和T一起接高电平(5V)。按照表7.2规定进行输入,观测输出,并在表中记录成果。74LS1614D15D215CO16Vcc13Q112Q211Q32CP6D33D07P8GND

13、10T14Q01CR9LD图7.1 74LS161管脚图表7.1 74LS161功能表CPPT工作状态0置零10预置数1111计数表7.2 计数器预置输入逻辑功能测试输 入输 出CPD3D2D1D0Q3Q2Q1Q0011110000000011011002 计数功能测试接逻辑电平开关,接发光二极管,CP接按键脉冲。规定计数器从1000开始计数,始终到1111。按照表规定进行输入,观测输出,并在表7.3中记录成果。表7.3 计数器计数逻辑功能测试输 入输 出CPD3D2D1D0Q3Q2Q1Q0010001111113 用预置法实现七进制计数器,规定分别用发光二极管和七段数码管显示。使用74LS00和74LS161各一片,画出连线图。只需要画出原理图即可。实验八 用555定期器构成多谐振荡器一 实验目1掌握555定期器逻辑功能。2熟悉555定期器管脚排列。二 实验仪器及芯片1实验箱2芯片:555定期器 一片三 实验内容1用555定期器构成如图多谐振荡器电路(所标出电容、电阻为参照值)。调节R2阻值,用实验箱频率计测量频率f,再用示波器测量T、tW1、tW2.,用万用表测量R1、R2电阻值,计算占空比q,填入表中:fTtW1tW2.R1R2Cq2依照R1、R2、C值,用理论公式计算如下表中各项,并求与理论值相对误差:参数TtW1tW2.相对误差计算公式计算值

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