数电实验TTL门的逻辑变换.doc

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实验一 TTL门的逻辑变换
实验目的
（1） 掌握各种TTL门电路的逻辑功能。
（2） 掌握验证逻辑门电路功能的方法。
（3） 掌握空闲输入端的处理方法.
实验设备
（1） 数字电路实验箱
（2） 74LS00
实验原理
门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、与门及与非门、或非门、异或门等。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。如:74LS00是二输入端四与非门,说明这个集成电路包含了四个二输入端的与非门.
实验内容
1. TTL信号的产生.
在函数发生器上设置5Vpp的方波,并偏移2。5V。
2. 与非门的测试.
分别测试74LS00的四个与非门.
3. 用74LS00实现与门、或门和异或门功能。
实验数据
1. 逻辑与
当A为高电平，B为低电平时，A与B为低电平。如下图所示：

当A和B都为高电平时，A与B为高电平.如下图所示：

2. 逻辑或
当A和低电平作或运算时,结果为A。如下图所示：

当A和高电平作或运算时，结果为高电平。如下图所示：

3. 逻辑异或
当高电平和低电平作逻辑异或运算时，结果为高电平。如下图所示：

当高电平和高电平作逻辑异或运算时，结果为低电平。如下图所示：

实验结果

输入
输出
A
B
AB
A+B
AB
0
0
0
0
0
0
1
0
1
1
1
0
0
1
1
1
1
1
1
0

实验思考
用74LS00构成异或门至少要用四个与非门。两个变量的异或表达式化简后虽然包有五个与非门，但可以共用一个与非门(见电路图），故至少需要四个与非门。

注：仿真平台为Multisim 11。0.