数电实验TTL门的逻辑变换.doc

个人收集整理 勿做商业用途实验一 TTL门的逻辑变换实验目的（1） 掌握各种TTL门电路的逻辑功能。（2） 掌握验证逻辑门电路功能的方法。（3） 掌握空闲输入端的处理方法.实验设备（1） 数字电路实验箱（2） 74LS00实验原理 门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、与门及与非门、或非门、异或门等。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。如:74LS00是二输入端四与非门,说明这个集成电路包含了四个二输入端的与非门.实验内容1. TTL信号的产生.在函数发生器上设置5Vpp的方波,并偏移2。5V。2. 与非门的测试.分别测试74LS00的四个与非门.3. 用74LS00实现与门、或门和异或门功能。实验数据1. 逻辑与当A为高电平，B为低电平时，A与B为低电平。如下图所示：当A和B都为高电平时，A与B为高电平.如下图所示：2. 逻辑或当A和低电平作或运算时,结果为A。如下图所示：当A和高电平作或运算时，结果为高电平。如下图所示：3. 逻辑异或当高电平和低电平作逻辑异或运算时，结果为高电平。如下图所示：当高电平和高电平作逻辑异或运算时，结果为低电平。如下图所示：实验结果输入输出ABABA+BAB00000010111001111110实验思考用74LS00构成异或门至少要用四个与非门。两个变量的异或表达式化简后虽然包有五个与非门，但可以共用一个与非门(见电路图），故至少需要四个与非门。注：仿真平台为Multisim 11。0.