GBT7424.23-2021光缆总规范第23部分光缆基本试验方法光缆元构件试验方法国家标准规范.pdf

I C S3 3.1 8 0.1 0M 3 3中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1部分代替G B/T7 4 2 4.22 0 0 8光缆总规范第2 3部分:光缆基本试验方法光缆元构件试验方法O p t i c a l f i b r e c a b l e g e n e r i c s p e c i f i c a t i o nP a r t 2 3:B a s i c o p t i c a l c a b l e t e s t p r o c e d u r e sC a b l e e l e m e n t t e s tm e t h o d s(I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9,O p t i c a l f i b r ec a b l e sP a r t1-2 3:G e n e r i cs p e c i f i c a t i o nB a s i co p t i c a l c a b l e t e s tp r o c e d u r e sC a b l ee l e m e n t t e s tm e t h o d s,MOD)2 0 2 1-1 0-1 1发布2 0 2 2-0 2-0 1实施国 家 市 场 监 督 管 理 总 局国 家 标 准 化 管 理 委 员 会发 布目 次前言1 范围12 规范性引用文件13 术语和定义14 方法G 1:光缆中光单元的弯曲35 方法G 2:光纤带几何尺寸测量 观测法36 方法G 3:光纤带几何尺寸测量 孔规法47 方法G 5:光纤带撕裂(可分性)58 方法G 6:光纤带扭转79 方法G 7:套管弯折81 0 方法G 8:光纤带残余扭转试验1 01 1 方法G 9:析油和蒸发1 11 2 方法G 1 0:光纤可剥离性1 21 3 方法G 1 1:松套管和微管的拉伸性能试验1 6附录A(资料性附录)本部分与I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9相比的结构变化情况2 4参考文献2 5G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1前 言 G B/T7 4 2 4分为以下9个部分:光缆总规范 第1部分:总则;光缆总规范 第2 0部分:光缆基本试验方法 总则和定义;光缆总规范 第2 1部分:光缆基本试验方法 机械性能试验方法;光缆总规范 第2 2部分:光缆基本试验方法 环境性能试验方法;光缆总规范 第2 3部分:光缆基本试验方法 光缆元构件试验方法;光缆总规范 第2 4部分:光缆基本试验方法 电气试验方法;光缆 第3部分:分规范 室外光缆;光缆 第4-1部分:分规范 光纤复合架空地线;光缆 第5部分:分规范 用于气吹安装的微型光缆和光纤单元。本部分为G B/T7 4 2 4的第2 3部分。本部分按照G B/T1.12 0 0 9给出的规则起草。G B/T7 4 2 4.2 0G B/T7 4 2 4.2 4共同代替G B/T7 4 2 4.22 0 0 8 光缆总规范 第2部分:光缆基本试验方法。本部分代替G B/T7 4 2 4.22 0 0 8中的第2 9章第3 5章。本部分与G B/T7 4 2 4.22 0 0 8的第2 9章第3 5章相比,主要技术变化如下:增加了术语和定义(见第3章);修改了方法G 1的试验名称(见第4章,2 0 0 8年版的第2 9章);删除了方法G 4“光纤带尺寸的千分表法”(见2 0 0 8年版的第3 2章);修改了方法G 5试样的取样过程(见7.2,2 0 0 8年版的3 3.2);修改了方法G 5的要求(见7.5,2 0 0 8年版的3 3.5);增加了方法G 6中待规定细节的内容(见8.6);删除了方法G 7设备中的“一台热风扇(选择项)”(见2 0 0 8年版的3 5.3);删除了方法G 7程序中使用热风扇平整试样的规定(见2 0 0 8年版的3 5.4);增加了方法G 7中试验设备的推荐尺寸(见9.3中表1),并对试验设备和程序等内容进行了补充(见9.4);增加了G 8“光纤带残余扭转试验”(见第1 0章);增加了G 9“析油和蒸发”(见第1 1章);增加了G 1 0“光纤可剥离性”以及包含的G 1 0 A、G 1 0 B和G 1 0 C三种方法(见第1 2章);增加了G 1 1“松套管和微管的拉伸性能试验”以及包含的G 1 1 A和G 1 1 B两种方法(见第1 3章)。本部分使用重新起草法修改采用I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9 光缆 第1-2 3部分:总规范 光缆基本试验方法 光缆元构件试验方法。本部分与I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9相比在结构上有较多调整,附录A中列出了本部分与I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9的章条编号对照一览表。本部分与I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9的技术性差异及其原因如下:关于规范性引用文件,本部分做了具有技术性差异的调整,以适应我国的技术条件,调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中,具体调整如下:用修改采用国际标准的G B/T7 4 2 4.2 22 0 2 1代替了I E C6 0 7 9 4-1-2 2:2 0 1 7(见1 2.1.4,1 2.3.4);G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1 用修改采用国际标准的G B/T1 5 9 7 2.3 2代替了I E C6 0 7 9 3-1-3 2(见1 2.1.3,1 2.1.4);用修改采用国际标准的G B/T1 5 9 7 2.4 0代替了I E C6 0 7 9 3-1-4 0(见4.3);用修改采用国际标准的G B/T1 5 9 7 2.4 6代替了I E C6 0 7 9 3-1-4 6(见4.3);增加引用了G B/T2 9 5 1.1 12 0 0 8(见1 3.1.2.4.2);增加引用了G B/T2 9 5 1.1 22 0 0 8(见1 3.1.1,1 3.1.2.5);增加引用了G B/T2 9 5 1.1 32 0 0 8(见1 3.1.2.4.2);增加引用了G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1(见9.4,1 2.2.6);增加引用了I E C6 0 7 9 4-1-1:2 0 1 5(见第3章);删除了I E C6 0 7 9 4-1-2;删除了I E C6 0 7 9 4-1-3 1:2 0 1 8;删除了I E C6 0 8 1 1-4 0 1;增加了第3章术语和定义;删除了I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9第4章“通用要求”;5.5中将光纤带的宽度、厚度和光纤排列要求修改为“应符合有关光纤带的规范规定”;修改了I E C6 0 7 9 4-1-2 3:2 0 1 9中的图1,并将其6.7“光纤带几何尺寸的定义”移至3.3中;8.6待规定细节中增加了“试样长度”和“旋转方式”;9.4中将试验环境条件修改为“应符合G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1中宽松试验条件的规定”;1 0.6待规定细节中增加了“受试试样数”;1 2.2.6中将试验环境条件修改为“应符合G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1中宽松试验条件的规定”;1 3.1.1和1 3.1.2.5中将试样老化处理要求修改为“按照G B/T2 9 5 1.1 22 0 0 8要求”;1 3.1.2.4.2中增加了对松套管厚度、外径和密度等的测量要求;1 3.1.5中增加了“测量结果应取中间值”的要求。本部分还做了下列编辑性修改:将标准名称修改为 光缆总规范 第2 3部分:光缆基本试验方法 光缆元构件试验方法;8.4中增加了有关光纤带旋转方式和次数的注;1 3.1.1中将注1修改为“本试验包含在G B/T2 9 5 1.1 12 0 0 8中”;1 3.1.2.3.1 d)注中将参照的试验方法修改为“例如按照G B/T2 9 5 1.2 12 0 0 8进行的耐臭氧试验和浸矿物油试验”;1 3.2.1中将注1修改为“本试验包含在G B/T2 9 5 1.1 42 0 0 8中”。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国通信标准化技术委员会(S A C/T C4 8 5)归口。本部分起草单位:四川汇源光通信有限公司、成都泰瑞通信设备检测有限公司、成都大唐线缆有限公司、长飞光纤光缆股份有限公司、江苏永鼎股份有限公司、江苏亨通光电股份有限公司、中国信息通信科技集团有限公司、江苏南方通信科技有限公司、通鼎互联信息股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司。本部分主要起草人:赵秋香、罗毅、宋志佗、薛梦驰、时彬、陈晓红、刘骋、李婧、黄正欧、彭媛、段建彬、孙国芳、周道、葛永新、刘玉琴。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:G B/T7 4 2 5(所有部分)1 9 8 7、G B/T8 4 0 5(所有部分)1 9 8 7;G B/T7 4 2 4.11 9 9 8的第3章和第6章;G B/T7 4 2 4.22 0 0 2;G B/T7 4 2 4.22 0 0 8的第2 9章第3 5章。G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1光缆总规范第2 3部分:光缆基本试验方法光缆元构件试验方法1 范围G B/T7 4 2 4的本部分规定了光缆元构件的各试验方法的目的、试样、设备、程序、要求和待规定细节等。本部分适用于光缆和光电混合缆中的光缆元构件。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。G B/T2 9 5 1.1 12 0 0 8 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1 1部分:通用试验方法 厚度和外形尺寸测量 机械性能试验(I E C6 0 8 1 1-1-1:2 0 0 1,I D T)G B/T2 9 5 1.1 22 0 0 8 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1 2部分:通用试验方法 热老化试验方法(I E C6 0 8 1 1-1-2:1 9 8 5,I D T)G B/T2 9 5 1.1 32 0 0 8 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1 3部分:通用试验方法 密度测定方法 吸水试验 收缩试验(I E C6 0 8 1 1-1-3:2 0 0 1,I D T)G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1 光缆总规范 第2 0部分:光缆基本试验方法 总则和定义(I E C6 0 7 9 4-1-2:2 0 1 7,MO D)G B/T7 4 2 4.2 22 0 2 1 光 缆 总 规 范 第2 2部 分:光 缆 基 本 试 验 方 法 环 境 性 能 试 验 方 法(I E C6 0 7 9 4-1-2 2:2 0 1 7,MO D)G B/T1 5 9 7 2.3 2 光纤试验方法规范 第3 2部分:机械性能的测量方法和试验程序 涂覆层可剥性(G B/T1 5 9 7 2.3 22 0 0 8,I E C6 0 7 9 3-1-3 2:2 0 0 1,MO D)G B/T1 5 9 7 2.4 0 光纤试验方法规范 第4 0部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 衰减(G B/T1 5 9 7 2.4 02 0 0 8,I E C6 0 7 9 3-1-4 0:2 0 0 1,MO D)G B/T1 5 9 7 2.4 6 光纤试验方法规范 第4 6部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 透光率变化(G B/T1 5 9 7 2.4 62 0 0 8,I E C6 0 7 9 3-1-4 6:2 0 0 1,MO D)I E C6 0 7 9 4-1-1:2 0 1 5 光缆 第1-1部分:总规范 总则(O p t i c a l f i b r ec a b l e sP a r t1-1:G e n e r i cs p e c i f i c a t i o nG e n e r a l)3 术语和定义I E C6 0 7 9 4-1-1:2 0 1 5界定的以及下列术语和定义适用于本文件。为了便于使用,以下重复列出了I E C6 0 7 9 4-1-1:2 0 1 5中的一些术语和定义。3.1光缆元构件 c a b l e e l e m e n t光缆组成部分中,根据应用场景设计,内含光纤且对光纤有一定保护作用的单元体。注:单元体通常指松套管光纤、紧套光纤、光纤带、分支单元等。1G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 13.2分支光缆 b r e a k o u t c a b l e由子单元组成的光缆。注1:子单元可以是由一种合适护套材料包覆的单独的光缆。注2:在实际应用中,分支光缆可剥除一定长度的外护套,然后子单元可以作为单独的光缆使用。3.3光纤带 r i b b o n 说明:w 光纤带宽度;t 光纤带厚度;d 光纤带中相邻光纤中心间的距离;b 光纤带中两侧光纤中心间的距离;p 光纤带平整度;a 着色光纤的直径。图1 光纤带横截面几何结构示意图3.3.1宽度和厚度 w i d t ha n dt h i c k n e s s包围光纤带横截面的最小矩形的长边和短边的尺寸。注1:光纤带横截面见图1。注2:考虑到光纤几何属性的精度和光纤带几何特性要求的相对较高的精度,玻璃芯/玻璃包层光纤利用包层边缘替代3.3.2和3.3.3光纤中心的测量是可以接受的。在此情况下,测量通常在所有光纤的同一侧进行(例如顶部或底部,左侧或右侧)。3.3.2基线 b a s i s l i n e在光纤带横截面中通过第一根光纤(光纤1)中心和最后一根光纤(光纤n)中心的直线。3.3.3光纤水平间距 h o r i z o n t a l f i b r e s e p a r a t i o n在光纤带横截面中两光纤中心在基线上的垂直投影距离。注:光纤水平间距可分为两个水平间距参数:相邻光纤中心间的距离d和两侧光纤中心间的距离b。3.3.4平整度 p l a n a r i t y光纤中心到基线的垂直间距最大正值和最大负值的绝对值之和。注:光纤中心在基线“之上”时,垂直间距为正,光纤中心在基线“之下”时,垂直间距为负。2G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 14 方法G 1:光缆中光单元的弯曲4.1 目的本试验的目的是通过测定光缆中光单元(光纤、光纤带、松套管、分支单元等)在接头盒或类似装置内弯曲时的附加衰减来表征光单元的弯曲特性。4.2 试样光单元试样的长度应足以实施规定的试验。4.3 设备设备包括:a)一个具有平滑表面的心轴,其直径应符合详细规范的规定;b)一种适合监测衰减变化的装置(依据G B/T1 5 9 7 2.4 0和G B/T1 5 9 7 2.4 6中试验方法)。4.4 程序受试光单元应以最小张力缠绕在心轴上,其圈数应符合详细规范的规定。然后,测量光纤衰减,在扣除光纤的固有衰减后得到由弯曲引起的附加衰减。4.5 要求任何附加衰减应满足详细规范中规定的限制值。4.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)监测衰减的波长;b)心轴直径;c)卷绕圈数;d)装置和衰减监测方法;e)评估时的温度(与室温不同时)。5 方法G 2:光纤带几何尺寸测量 观测法5.1 目的本试验的目的是确定由宽度、厚度和光纤排列来定义的光纤带几何尺寸,作为经特定制造工艺生产的光纤带的型式试验。除非另有规定,本试验一般不用于产品的出厂检验。5.2 试样受试试样数应在详细规范中规定。选定的这些试样应具备统计独立性,并代表被试光纤带总体。5.3 设备设备包括一台有合适放大倍数的显微镜或投影仪。3G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 15.4 程序5.4.1 概述可采用5.4.2和5.4.3中描述的两种方法中任一种。对于规定数量的试样而言,应测量所有试样尺寸得到平均值以及最大值和最小值。宜小心制备试样,不得改变光纤带的结构,以反映光纤包层和光纤带横截面的未扰动图像。5.4.2 方法1试样制备时,在垂直于光纤带的轴线方向切断试样,放入可固化的树脂中或夹持工具内。当需要时,试样应进行研磨和抛光,制备成平滑的垂直端面。保证制备好的试样端面垂直于光路,并用显微镜或投影仪来测量。5.4.3 方法2将光纤带放置在光纤带夹具内,用热剥工具去除2 0mm2 5mm的光纤涂覆层和成带材料,并用浸湿酒精的纱布擦净光纤的剥除部分。调节光纤带在夹具中的位置,在距离光纤带剥离边缘2 5 0m5 0 0m处切断光纤。将光纤带的另一端切断并抛光,用平行光源照亮。在显微镜下调准和测量光纤带的切断端。5.5 要求除非详细规范中另有规定,宽度、厚度和光纤排列应符合有关光纤带的规范规定。5.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)允许的最大值和最小值;b)平均值限值;c)受试试样数。6 方法G 3:光纤带几何尺寸测量 孔规法6.1 目的本试验的目的是验证光纤带的功能特性,用于评估光纤带的整体尺寸。为保证功能特性,边缘粘连型光纤带的尺寸可用孔规进行控制和最终检验。其意图是验证光纤带端部能否插入并适当对准市售剥离工具的导槽。6.2 试样除非详细规范中另有规定,应从受试光纤带中取5个代表性试样,每个试样的最小长度为5 0mm。6.3 设备一个孔规,如图2所示,用来评估光纤带整体尺寸。图1中光纤带宽度值(w)和厚度值(h)应为在合适的质量评估方案中采用方法G 2确立的光纤带尺寸标称值。4G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1单位为微米图2 孔规6.4 程序拿住受试光纤带试样中间部分,将1 0mm端部插入并穿过孔规。6.5 要求光纤带端部1 0mm应能自由地插入并穿过孔规,且不对试样造成机械损伤。6.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)孔规的尺寸;b)受试试样数。7 方法G 5:光纤带撕裂(可分性)7.1 目的本试验的目的是验证不需要光纤可分时光纤带有足够的抗撕裂性,或者验证需要光纤可分时光纤带的光纤有足够可分性。本试验意图是能够用手撕开光纤带且光纤无损伤。7.2 试样光纤带试样应从受试的光纤带或多个受试光纤带中选择,数量应符合详细规范中规定,典型值为3段到5段。每段试样的长度应能足以提供如下详述的试验样品数量。对于n芯光纤带而言,从上述每段试样中取n/2个样品。每个样品的最小长度应为1 0 0mm,与图3一致。将光纤带中的第1根光纤、第1根到第2根光纤、第1根到第3根光纤等,直至第1根到第n/2根光纤作为一个被试光纤单元进行制备。即代表光纤1的样品,代表光纤1到光纤2的样品,代表光纤1到光纤3的样品等。用小刀或其他合适的方法把被试光纤单元分开适当长度,用于夹持,见图3所示。对第一段试样,首先应把第1个样品的1根光纤同光纤带中的其他光纤分开,然后把第2个样品的2根光纤同光纤带中其他光纤分开,再然后是从其他样品中分开带中的3根光纤、4根光纤等,依次类推,直至在最后一个样品中分开带中的n/2根光纤。对所有其他试样做同样的准备工作。5G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1注:如果n为奇数,则在上述中将n/2替换为(n-1)/2。单位为毫米图3 试样制备7.3 设备设备包括:a)一台有合适夹持装置和合适力值记录功能的拉力测量设备;b)一台放大倍数至少为1 0 0倍的显微镜。7.4 程序把样品插入拉力测量设备,如图4所示。受试光纤撕裂两端以大约1 0 0mm/m i n到5 0 0mm/m i n的速率分离撕开,并连续记录5 0mm长度上撕开光纤的力。在需要光纤可分的情况下,应通过显微镜目视检查已分开的各光纤预涂覆层或着色层。对于光纤1、光纤1到光纤2、光纤1到光纤3,依次类推,直至光纤1到光纤n/2的样品,重复上述步骤。图4 可分性试验7.5 要求基本要求是能够撕开而不损坏光纤(含涂覆层损坏或光纤断裂)。对于要求光纤可分的光纤带,分开后,光纤着色层上应能有效去除光纤带包覆层残留物。6G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1对所有着色光纤,在任何2 5mm段内所留的着色层应足以识别各光纤。撕裂力的最小值、最大值和平均值应符合详细规范中的规定。7.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)要求光纤带抗撕裂时允许的最小和平均撕裂力,单位为牛顿(N);b)要求光纤带易撕裂时允许的最大和平均撕裂力,单位为牛顿(N);c)试样数;d)光纤带类型(可分型或不可分型)。8 方法G 6:光纤带扭转8.1 目的本试验的目的是验证光纤带结构的机械完整性和功能完整性,确定光纤带具备经受扭转而不散开的能力。8.2 试样除非详细规范中另有规定,从受试光纤带中取5个代表性试样,每个试样的长度最小为1 2 0mm。8.3 设备试验设备的示例如图5所示,它包括两个垂直放置的夹具,用于夹持试样,同时使试样在最小1N张力下扭转。最小受试长度为1 0 0mm。单位为毫米图5 光纤带扭转试验7G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 18.4 程序将试样固定在设备中,在2s时间内以1 8 0 5 增量做扭转。每个扭转增量之后的最小驻留时间为5s。继续增加扭转,直到详细规范中规定的1 8 0 转动的次数或光纤带散开。注:旋转方式及次数也可按产品详细规范中规定。8.5 要求光纤带散开之前应能承受详细规范中规定的1 8 0 转动的次数。8.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)试样数量;b)1 8 0 转动的次数;c)试样长度,当不同于上述规定时;d)旋转方式(当不同于上述规定时)。9 方法G 7:套管弯折9.1 目的本试验的目的是确定含光纤的套管承受在光缆安装和接头期间遭受到的机械应力的能力。本试验在取自光缆中含光纤的套管上进行。9.2 试样取自光缆的含光纤套管,其长度至少为(L1+5 0)mm。除非另有规定,应试验5个试样。9.3 设备设备包括一台试验装置,如图6所示。用于套管弯折的试验设备尺寸推荐值见表1。表1 试验设备尺寸推荐值套管标称直径mmL1mmL2mm套管标称直径3.13 5 01 0 03.1套管标称直径6.16 5 02 0 06.1套管标称直径1 0.110 5 03 0 08G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1 说明:L1 受试套管长度;L2 开始试验时可移动夹具的套管夹持点和固定夹具的套管夹持点之间的距离;L 移动距离(其长度决定椭圆尺寸的减少量)。注1:由于试样在试验设备内弯曲,其弯曲部分的最小直径是不固定的,而且只受试样固定长度L1和移动长度L的控制。注2:固定导槽保证试样有一个确定的位置。透明罩使试样在进行试验时保持在同一平面内并便于观察。两个罩板间的距离通常是套管直径的三倍。距离过大会使套管在试验期间横向移动,不能确保试验足够严格。图6 套管弯折试验9.4 程序本试验环境条件应符合G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1中宽松试验条件的规定。试样应标出一段长度L1,并且按照如图6所示安装在试验设备内,可移动夹具和固定夹具分开一段距离L2。可移动夹具应以约1 0mm/s的速度从位置1移动到相距L的位置2,然后返回到位置1,构成1个循环。应移动规定的循环次数,并应在最后的循环期间使试样在位置2停留6 0s后再返回到位置1。试验参数L、L1、L2的值和循环次数(5次,除非另有规定)宜模拟运行使用条件,并由用户与供方之间商定。注1:在试验期间试样弯曲成环形时趋向椭圆形而非正圆,为简化对试验参数的理解,假设它形成了一个圆形。基于这个假设,见式(1):L=L1-(L2+D)(1)式中:L 移动距离,单位为毫米(mm);L1 受试套管长度,单位毫米(mm);L2 开始试验时可移动夹具的套管夹持点和固定夹具的套管夹持点之间的距离,单位为毫米(mm);D 套管成环直径,单位为毫米(mm)。注2:作为机械性能试验,由于套管圆环最小直径与大多数光纤类型规定的最小弯曲直径一致,同时也是在接头盒或其他连接设备内的套管成圈后的最小实际值,因此其典型最小值为6 0mm。注3:取D=6 0mm,则可由式(1)计算L(当套管标称直径3.1mm),得出数值约为6 0mm。由于圆环成椭圆形,使得在一个平面内的圆环有效直径更为苛刻,因此对表1中所列标称直径范围内的松套管,取6 0mm作为移动长度L规定的最大值是可行的。L的较低值可以在详细规范中规定。注4:如果本试验用于模拟套管在接头盒中的安装情况,则D值可用接头盒内的可用宽度替代。9G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 19.5 要求在试验期间试样应未见明显弯折。9.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)循环次数(除非另有规定,5次);b)长度L、L1、L2(除非另有规定,L=6 0mm,L1和L2见表1所示);c)试验环境温度。1 0 方法G 8:光纤带残余扭转试验1 0.1 目的光纤带残余扭转试验用以评估已成缆光纤带内永久扭转的程度。1 0.2 试样光纤带试样应取自预处理过(老化过)的试验光缆。试样应足够长,包括5 0c m的标距长度和附加长度,以便两端夹具夹持和连接试验重物。试样数量应符合详细规范规定。1 0.3 设备设备的构造应具有如下特点:a)光纤带应垂直悬挂,夹住顶部,底部在必要时能自由转动和移位;b)应把一个重物加到光纤带试样的底部,标距长度位于顶部夹具和底部重物之间;c)配置的底部重物应对光纤带不造成任何扭转或侧向负载;d)除非另有规定,标距长度应为5 0c m5c m;e)除非另有规定,重物质量应为1 0 0g 5g;f)光纤带标距长度底部相对于顶部轴向旋转时,应提供一个可测量扭转角度的方法。1 0.4 程序除非另有规定,按如下步骤操作:a)光缆于8 52下预处理3 0天后,从光缆中取光纤带试样,对相对湿度不做要求;b)把光纤带的一端夹持到顶部的夹具中;c)光纤带底部夹持上重物;d)当旋转停止且光纤带静止时,测量标距长度底部相对于标距长度顶部的扭转角度;e)依据式(2)计算试样的残余扭转度。T=L(2)式中:T 残余扭转度,单位为度每厘米()/c m;从顶部到底部的最终扭转角度,单位为度();L 实测的标距长度,单位为厘米(c m)。01G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 11 0.5 要求计算出的光纤带残余扭转度应不超过详细规范规定的最大残余扭转度要求。在大多数情况下,残余扭转度不大于8/c m是合适的。1 0.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)受试试样数;b)光缆预处理条件,当不同于上述规定时;c)光纤带标距长度,当不同于上述规定时;d)重物质量,当不同于上述规定时。1 1 方法G 9:析油和蒸发1 1.1 目的本试验的目的是测量与光纤接触的填充复合物在高温下的析油和/或蒸发量。1 1.2 试样用于与光纤接触的填充复合物的准备量应足以进行本试验。试样数应符合详细规范规定。1 1.3 设备设备包括:a)自然通风热老化箱,温度分辨力为1;b)分析天平,分辨力为0.1m g;c)试验装置见图7,包括:1)锥筒:镍网,6 0号网筛(孔目:5.6孔/mm2,线径:0.1 9mm,孔口:0.2 8mm),带一个金属手柄;锥筒也可以由不锈钢网组成(6 0号网筛,孔口0.2 5mm),焊接宽度可达1mm以上;2)烧杯:高桶形,无流出槽,2 0 0m L;当测量蒸发量时不需要盖子,可使用细刚棒代替盖子做支持物;3)一台干燥器。单位为毫米图7 析油和蒸发试验装置11G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 11 1.4 程序称量清洁干燥的烧杯质量,记录为M1。称量装配起来的试验装置(烧杯、锥筒和锥筒支架)的质量,记录为M2。把大约1 0g试样加到锥筒内(上表面应是平滑的凸面,以使流体不停留,并且应在网子的网孔中不聚集)。称量装配起来的试验装置和试样的质量,记录为M3。将装配起来的试验装置和试样放入热老化箱内,其加热温度和持续时间应符合详细规范规定,然后在干燥器中冷却至室温。重新称量装配起来的试验装置和试样的质量,记录为M4。仔细地移出锥筒支架和锥筒,重新称量烧杯和其中试样的质量,记录为M5。根据式(3)和式(4)计算析油量和蒸发量,并报告各重复试验结果的平均值。B=M5-M1M3-M21 0 0%(3)E=M3-M4M3-M21 0 0%(4)式中:B 已流进烧杯的复合物质量与试验前复合物质量的比值(析油量);E 从系统中流失的复合物质量与试验前复合物质量的比值(蒸发量)。注:以百分比(%)表示。1 1.5 要求报告的平均结果应不超过详细规范中给定的最大值。1 1.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)试验环境温度;b)试验加热温度;c)试验持续时间;d)所用的锥筒类型;e)受试试样数。1 2 方法G 1 0:光纤可剥离性1 2.1 方法G 1 0 A:已成缆光纤的剥离力稳定性1 2.1.1 目的本试验通过测量光纤暴露到特定环境条件后可剥离性的变化来确定已成缆光纤涂覆层剥离力的稳定性。1 2.1.2 试样1 2.1.2.1 试样长度光缆或光纤试样的长度应满足规定的试验。1 2.1.2.2 试样制备从光缆中抽出光纤之前,光缆应按详细规范中的规定作预处理。21G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1试验应在两段(最小2m)光缆试样中的光纤上进行。一段用于试验,另一段用于参考测量。应提供足够的试样,使试验在1 0个按详细规范中规定处理过的光纤试样上进行,并且与参考光缆段的光纤试验结果做比较。光纤抽出之后,应小心地去掉粘在光纤上的所有填充复合物(例如用柔软的纸巾擦净)。1 2.1.3 设备设备包括光缆预处理设备(当需要时)和光纤可剥离性设备(依据G B/T1 5 9 7 2.3 2)。1 2.1.4 程序按详细规范中规定的试样预处理和恢复时间之后,应按照G B/T1 5 9 7 2.3 2规定测量光纤涂覆层剥离力。同样应按照G B/T1 5 9 7 2.3 2规定对取自参考光缆段的光纤试样测量光纤涂覆层剥离力,比较两者的试验结果来确定剥离力的变化。另一选择是,试样可按照G B/T7 4 2 4.2 22 0 2 1方法F 9取自老化后的光缆。1 2.1.5 要求剥离力的变化应满足详细规范中规定的要求。1 2.1.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)光缆预处理;b)光纤预处理;c)恢复时间和预处理;d)剥离力的允许变化。1 2.2 方法G 1 0 B:光纤带的可剥性1 2.2.1 目的本试验的目的是依据去除涂覆层后的光纤洁净度和光纤带剥离引起断纤来评价光纤带的可剥性。1 2.2.2 试样试样应是受评估光纤带总体的代表。可以沿着一条光纤带依次取多个试样,但应排除先前在剥离工具中受夹持的光纤带部分。试样应足够长,能容许每个试样最多1 0次最少5次的剥除,剥除长度最少2 5mm。试样预处理的要求应由用户和供方商定。1 2.2.3 设备1 2.2.3.1 概述一台光纤带剥离设备和处理设备(当需要时)。1 2.2.3.2 剥离工具试验结果很大程度取决于剥离工具的设计,工具设计导则为:a)机械剥离工具应提供一个加热面,其工作温度范围为+7 0+1 4 0。在设定的温度下进行剥离操作时,加热面的温度波动应维持在5以内。加热面应在剥离刀片后并定位在需31G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 1要加热的待剥离的光纤带部分。工具的加热时间和保温时间可能很重要,应遵从工具制造商的建议;工具加热温度的设定应遵从光纤带制造商的建议。b)剥离工具或加载夹具应保持一个足以完全剥离的恒定压力。应注意在剥离期间不要打开工具。c)应知道两刀口间的间隙尺寸。这个尺寸及其公差应确保刀片切穿光纤带树脂材料和光纤涂覆层而不损伤光纤包层。d)刀片的状态会极大地影响剥离力峰值和剥离功能。在使用之前和之后,应目视检查刀刃有无缺口和毛刺。e)当刀片损坏或变钝时,或者每当磨损到足以影响试验结果时,应替换刀片。1 2.2.3.3 电机和滑块(当采用时)电机和滑块应容许低振动、快加速地可重复移动。它们应能对受试光纤带或剥离工具无颠簸地传递匀速运动。如果采用手动工具,剥离动作应遵循这些同样的要求。1 2.2.4 定位和夹持装置试样应牢固地夹持固定,不得发生滑移(推荐卡具)。光纤带试样上的光纤应在剥离工具移动时(或垂直、或水平、或旋转)与其保持在同一平面上。1 2.2.5 酒精擦拭应使用浸渍适当酒精溶液的非磨损性布料或纸擦拭剥离后的光纤。1 2.2.6 程序除非另有规定,试验环境条件应符合G B/T7 4 2 4.2 02 0 2 1中宽松试验条件的规定。剥离长度应不少于2 5mm,剥离速度应按照详细规范中的规定(在1 0 0mm/m i n和5 0 0mm/m i n之间)。接通试验设备,使工具的温度稳定。确保剥离工具的两刀片附近的区域没有先前使用后的残留物,确保刀片清洁。遵从工具制造商推荐的加热保温时间之后,剥离光纤带。在剥离之后,用酒精擦拭已剥离的光纤,并在至少放大2倍下目视检查它们。按照表2所示评估剥离后光纤的洁净度和完整性。按详细规范规定的次数进行剥离,计算各试样的平均洁净度等级,修约到最接近的整数。表2 洁净度等级评估表等级试样剥离后的状态1在用酒精擦拭一两次后,没有涂覆材料和光纤带包覆层材料的残渣留下2留下了大量的涂覆材料和光纤带包覆层材料的破碎残渣,需要多次酒精擦拭来去掉光纤上的残渣。光纤能够擦拭干净,不用二次剥离3剥离不完全,有些光纤涂覆层残留物未被触及。需要多次剥离和酒精擦拭来从光纤上去掉所有的可见残渣4剥离失败:一根或多根光纤断裂;未能以要求的速度剥离41G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 11 2.2.7 要求平均洁净度等级应符合详细规范中规定的值。光纤应无断裂。1 2.2.8 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)剥离设备的类型;b)平均保温时间;c)剥离工具的温度;d)剥离速度;e)剥离长度;f)试样预处理;g)要求的平均洁净度等级;h)光纤带芯数。1 2.3 方法G 1 0 C:被覆光纤的可剥性1 2.3.1 目的本试验确定被覆光纤的剥离力的稳定性。包括评价两类被覆层的试验:紧被覆光纤和松被覆光纤,紧被覆光纤的被覆层和光纤的外涂覆层相互紧密接触,松被覆光纤中的被覆层可以抽动并不完全接触光纤涂覆层。1 2.3.2 试样受试的被覆光纤试样应符合方法G 1 0 A的要求。1 2.3.3 设备设备应符合方法G 1 0 A的要求。光纤剥离设备应有足够的间隙以容纳将要剥离的被覆层。在松被覆情况下,光纤剥离设备的切割面尺寸应使被覆层里面的光纤涂覆层不被切割,或者不因剥离操作而受损害。1 2.3.4 程序遵循方法G 1 0 A的程序。如果比较未老化和老化后的试样,则遵循方法G 1 0 A的意图,执行如下的程序:a)为以后的试验留出未老化的对照试样;b)按照详细规范中的规定,对被覆光纤老化,老化时被覆光纤可处在光缆中或具有代表性的实验室环境(适当填充)中,按照G B/T7 4 2 4.2 22 0 2 1方法F 9进行老化;c)老化之后,从光缆或实验室环境取出试样;d)按照方法G 1 0 A剥离对照试样和老化后的试样。1 2.3.5 要求被覆光纤应满足详细规范中的可剥离性或可剥离稳定性要求。51G B/T7 4 2 4.2 32 0 2 11 2.3.6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a)光缆预处理,如果有的话;b)光纤处理;c)恢复时间和预处理;d)剥离力的允许变化量或最大/最小剥离力。1 3 方法G 1 1:松套管和微管的拉伸性能试验1 3.1 方法G 1 1 A:松套管和微管的抗张强度和断裂伸长率1 3.1.1 目的本试验是为了测定在试验条件下的光缆松套管和微管的拉伸强度和断裂伸长率,试验条件包括成品(例如未经过老化处理),以及一种或多种加速老化处理(当需要时),试验条件在相关光缆产品规范中规定。当按照G B/T2 9 5 1.1 22 0 0 8要求对制备好的试样进行老化处理时,需老化处理的试样应取自紧靠未老化试验用试样后面一段。老