X射线衍射分析技术_第2章 X射线的物理学基础_48页.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,第二章,X,射线的物理学基础,返回,目录,2-1,X,射线的本质,；,2-2,X,射线的产生,；,2-3,X,射线谱,；,2-4,X,射线与物质相互作用,；,2-5,X,射线的探测与防护,；,返回,2-1 X,射线的本质,X,射线的本质是电磁辐射，与可见光完全相同，仅是波长短而已，因此具有波粒二像性。,(1),波动性;,(2),粒子性。,相关习题：,波动性,X,射线的波长范围：,0.01100,表现形式：在晶体作衍射光栅观察到的,X,射线的衍射现象，即证明了,X,射线的波动性。,硬,X,射线：波长较短的硬,X,射线能量较高，穿透性较强，适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软,X,射线：波长较长的软,X,射线能量较低，穿透性弱，可用于分析非金属的分析。,X,射线波长的度量单位常用埃（,）,或晶体学单位（,kX,）,表示；通用的国际计量单位中用纳米（,nm）,表示，它们之间的换算关系为：1,nm=10 =m 1kX=1.00207720.000053A (1973,年值)。,粒子性,特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。,表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应；二次电子等。,X,射线的频率,、,波长,以及其光子的能量,、,动量,p,之间存在如下关系：,式中,h,普朗克常数，等于6.625,J.s;cX,射线的速度，等于2.998,cm/s.,相关习题：,1.试计算波长0.71,A（Mo-K）,和1.54,A（Cu-K）,的,X,射线束，其频率和每个量子的能量？,解答,2-2 X,射线的产生,(1),产生原理；,(2),产生条件；,(3,),过程演示；,(4),X,射线管；,(5),其它,X,射线装置。,产生原理,高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（1左右）能量转变为,X,射线，而绝大部分（99左右）能量转变成热能使物体温度升高。,产生条件,1.产生自由电子；,2.使电子作定向的高速运动;,3.在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减速或停止。,接变压器,玻璃,钨灯丝,金属聚灯罩,铍窗口,金属靶,冷却水,电子,X,射线,X,射线,X,射线管剖面示意图,（回车键演示）,过程演示,X,射线管,1.,X,射线管的结构,；图1-2；,2.,特殊构造的,X,射线管,；,3.,市场上供应的种类,。,X,射线管的结构,封闭式,X,射线管实质上就是一个大的真空（）二极管。基本组成包括：,(1)阴极：阴极是发射电子的地方。,(2),阳极：亦称靶，是使电子突然减速和发射,X,射线的地方。,(3)窗口：窗口是,X,射线从阳极靶向外射出的地方。,(4),焦点：焦点是指阳极靶面被电子束轰击的地方，正是从这块面积上发射出,X,射线。,特殊构造的,X,射线管；,(1)细聚焦,X,射线管；,(2)旋转阳极,X,射线管。,市场上供应的种类,(1)密封式灯丝,X,射线管；,(2)可拆式灯丝,X,射线管,.,2-3 X,射线谱,由,X,射线管发射出来的,X,射线可以分为两种类型：,(1),连续,X,射线,；,(2),标识,X,射线,。,连续,X,射线,具有连续波长的,X,射线，构成连续,X,射线谱，它和可见光相似，亦称多色,X,射线。,产生机理,；,演示过程,；,短波限,；,X,射线的强度,。,产生机理,能量为,eV,的电子与阳极靶的原子碰撞时，电子失去自己的能量，其中部分以光子的形式辐射，碰撞一次产生一个能量为,hv,的光子，这样的光子流即为,X,射线,。单位时间内到达阳极靶面的电子数目是极大量的，绝大多数电子要经历多次碰撞，产生能量各不相同的辐射，因此出现,连续,X,射线谱,。,K,态（击走,K,电子）,L,态（击走,L,电子）,M,态（击走,M,电子）,N,态（击走,N,电子）,击走价电子,中性原子,Wk,Wl,Wm,Wn,0,原子的能量,连续,X,射线产生过程,电子冲击阳级靶,X,射线射出,演示过程,（回车键演示）,短波限,连续,X,射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限,0,.,它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的,X,射线。它只与管电压有关，不受其它因素的影响。,相互关系为：,式中,e,电子电荷，等于 静电单位；,V,电子通过两极时的电压降（静电单位）；,h,普朗克常数，等于,相关习题：,相关习题,试计算用50千伏操作时，,X,射线管中的电子在撞击靶时的速度和动能，所发射的,X,射线短波限为多少？,X,射线的强度,X,射线的强度是指行垂直,X,射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的,光子数目,的,能量总和。,常用的单位是,J/cm2.s.,X,射线的强度,I,是由光子能量,hv,和它的数目,n,两个因素决定的,即,I=,nhv,.,连续,X,射线强度最大值在1.5,0,而不在,0,处。,连续,X,射线谱中每条曲线下的面积表示连续,X,射线的总强度。也是阳极靶发射出的,X,射线的总能量。图1-7,实验证明，,I,与管电流、管电压、阳极靶的原子序数存在如下关系：且,X,射线管的效率为:,标识,X,射线,是在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线，它和可见光中的单色相似，亦称单色,X,射线。,1.,标识,X,射线的特征,;,2.,产生机理,;,3,.,过程演示,;,4.,K,系激发机理,;,5.,莫塞莱定律,；,6.,标识,X,射线的强度特征,。,标识,X,射线的特征,当电压达到临界电压时，标识谱线的波长不再变，强度随电压增加。如钼靶,K,系标识,X,射线有两个强度高峰为,K,和,K，,波长分别为0.71,A,和0.63,A.,产生机理,标识,X,射线谱的产生相理与阳极物质的原子内部结构紧密相关的。原子系统内的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中，当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时，于是在低能级上出现空位，系统能量升高，处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，并以光子的形式辐射出标识,X,射线谱。,K,态（击走,K,电子）,L,态（击走,L,电子）,M,态（击走,M,电子）,N,态（击走,N,电子）,击走价电子,中性原子,Wk,Wl,Wm,Wn,0,原子的能量,标识,X,射线产生过程,K,激发,L,激发,Ka,辐射,K,辐射,L,辐射,过程演示,（任意键演示）,K,系激发机理,K,层电子被击出时，原子系统能量由基态升到,K,激发态，高能级电子向,K,层空位填充时产生,K,系辐射。,L,层电子填充空位时，产生,K,辐射；,M,层电子填充空位时产生,K,辐射。,由能级可知,K,辐射的光子能量大于,K,的能量，但,K,层与,L,层为相邻能级，故,L,层电子填充几率大，所以,K,的强度约为,K,的5倍。,产生,K,系激发要阴极电子的能量,eVk,至少等于击出一个,K,层电子所作的功,Wk。Vk,就是激发电压。,莫塞莱定律,标识,X,射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构，是物质的固有特性。且存在如下关系：,莫塞莱定律：标识,X,射线谱的波长,与原子序数,Z,关系为：,标识,X,射线的强度特征,K,系标识,X,射线的强度与管电压、管电流的关系为：,当,I,标/,I,连最大，工作电压为,K,系激发电压的35倍时，连续谱造成的衍射背影最小。,2-4 X,射线与物质相互作用,X,射线与物质相互作用时，产生各种不同的和复杂的过程。就其能量转换而言，一束,X,射线通过物质时，可分为三部分：一部分被散射，一部分被吸收，一部分透过物质继续沿原来的方向传播。,X,射线的散射,；,X,射线的吸收,；,X,射线的衰减规律,；,吸收限的应用,；,X,射线的折射,；,总结,。,X,射线的散射,X,射线被物质散射时，产生两种现象,：,相干散射,；,非相干散射,。,相干散射,物质中的电子在,X,射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射,X,射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。,非相干散射,X,射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，,X,射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。,非相干散射是康普顿（,A.H.Compton）,和我国物理学家吴有训等人发现的，亦称康普顿效应。非相干散射突出地表现出,X,射线的微粒特性，只能用量子理论来描述，亦称量子散射。它会增加连续背影，给衍射图象带来不利的影响，特别对轻元素。,X,射线的吸收,物质对,X,射线的吸收指的是,X,射线能量在通过物质时转变为其它形式的能量，,X,射线发生了能量损耗。物质对,X,射线的吸收主要是由原子内部的电子跃迁而引起的。这个过程中发生,X,射线的光电效应和俄歇效应。,光电效应,；,俄歇效应,。,光电效应,以,X,光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被击出的电子称为,光电子,，辐射出的次级标识,X,射线称为,荧光,X,射线,。,产生光电效应，,X,射线光子波长必须小于,吸收限,k,。,俄歇效应,原子在入射,X,射线光子或电子的作用下失掉,K,层电子，处于,K,激发态；当,L,层电子填充空位时，放出,E-E,能量，产生两种效应：,(1)荧光,X,射线；,(2)产生二次电离，使另一个核外电子成为二次电子俄歇电子。,X,射线的衰减规律,当一束,X,射线通过物质时，由于散射和吸收的作用使其透射方向上的强度衰减。衰减的程度与所经过物质中的距离成正比。式,质量衰减系数,m,表示单位重量物质对,X,射线强度的衰减程度。,质量衰减系数与波长和原子序数,Z,存在如下近似关系：,K,为常数,m,随,的变化是不连续的其间被尖锐的突变分开。突变对应的波长为,K,吸收限。,吸收限的应用,吸收限主要是由光电效应引起的：当,X,射线的波长等于或小于,时光子的能量,E,到击出一个,K,层电子的功,W，X,射线被吸收，激发光电效应。使,m,突变性增大。,吸收限与原子能级的精细结构对应。如,L,系有三个副层，有三个吸收限。,滤波片的选择:(1)它的吸收限位于辐射源的,K,和,K,之间，且尽量靠近,K 。,强烈吸收,K，K,吸收很小；(2)滤波片的以将,K,强度降低一半最佳。,Z,靶40时,Z,滤片=,Z,靶-2；,阳极靶的选择:（1）阳极靶,K,波长稍大于试样的,K,吸收限；（2）试样对,X,射线的吸收最小。,Z,靶,Z,试样+1。,X,射线的折射,X,射线从一种介质进入另一种介质产生折射，折射率,M,非常接近1,M,约为0.999990.999999,。,X,射线与物质相互作用的总结,热能,透射,X,射线衰减后的强度,I,0,散射,X,射线,电子,荧光,X,射线,相干的,非相干 的,反冲电子,俄歇电子,光电子,康普顿效应,俄歇效应,光电效应,2-5 X,射线的探测与防护,（1),X,射线的探测,；,（2）,X,射线的安全防护,。,X,射线的探测,荧光屏法；,照相法；,辐射探测器法：,X,射线光子对气体和某些固态物质的电离作用可以用来检查,X,射线的存在与否和测量它和强度。按照这种原理制成的探测,X,射线的仪器电离室和各种计数器。工作原理在第7章介绍。,X,射线的安全防护,X,射线设备的操作人员可能遭受电震和辐射损伤两种危险。,电震的危险在高压仪器的周围是经常地存在的，,X,射线的阴极端为危险的源泉。在安装时可以把阴极端装在仪器台面之下或箱子里、屏后等方法加以保证。,辐射损伤是过量的,X,射线对人体产生有害影响。可使局部组织灼伤，可使人的精神衰颓、头晕、毛发脱落、血液的组成和性能改变以及影响生育等。安全措施有：严格遵守安全条例、配带笔状剂量仪、避免身体直接暴露在,X,射线下、定期进行身体检查和验血。,