电子元器件检验规范.docx

文件编号
IRAY-ZY-SC-009
版本
A0
电子元器件检验规范
生效日期
2011-10-8
页码
第6页 共3页

1. 目的
对本公司来料电子元器件按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。

2. 范围
适用于本公司所有电子元器件的检验。

3. 职责
检验员按检验规范对原材料进行检验和判定并对检验结果的正确性负责。

4. 检验
4.1检验方式。
a) 抽样检验；
b) 如果与供应商对抽样标准有其他约定，则按照约定进行。
4.2抽样方案
a) 尺寸，按GB2828.1-2003，特殊抽样检验S-3,AQL=0.65进行；
b) 性能，按GB2828.1-2003，特殊抽样检验S-2,AQL=0.4进行；
c) 外观（主要），按GB2828.1-2003，特殊抽样检验S-2,AQL=0.4进行；
d) 外观（次要），按GB2828.1-2003，特殊抽样检验S-1,AQL=1.0进行。
e) 发生检验不良时后续连续三批实行加严一次抽样规则，如连续三批检验合格，返回正常抽样规则，否则继续实行加严一次抽样规则。
4.3检验要求
4.3.1包装、标识：
在待检区，目测所检查的外包装标识，与入库单核对零件名称及代号, 核对无误后，用刀片拆开外包装箱检查，型号是称否一致，并检查生产批号。
4.3.2外观：
a) 零件包装,无损坏,符合零件包装要求；
b) 零件，无损伤、变型、各个焊锡端，引脚无氧化现象；
c) 生产日期检查：电阻、电容、电感、保险丝、滤波器、震荡器、集成电路（非湿敏器件）生产使用有效期为24个月内；排针器件、湿敏器件生产使用有效期为18个月内；FPC生产使用有效期为12个月内；PCB生产使用有效期为3个月内。
4.3.3尺寸：FPC、插件电感、以及特殊要求的元器件根据技术文件重点尺寸检查，并记录相应数据；贴片电阻、贴片电容、IC不需要测量尺寸只需核对封装形式。
4.3.4电性能：
a) 电阻、电容、电感必须量取相应的阻值、容值、感值，并记录好相应的数据；
b) 除电阻、电容、电感外，其他电子零件只做LABEL标识及包装检验，如特别要求尺寸检验参考DATASHEET或零件图纸。
4.4注意事项
a) 检验人员进行检验时必需佩带防静电环、防静电手套及相关的防静电防护装备；
b) 电阻、电容、电感需用万用表及LCR测试仪测量其性能，对于其它无法测量性能的零件，均需核对其名称、型号、封装。必要时要求供应商提供相应的性能测试报告。
5.检验工具
万用表、LCR数字电桥、卡尺、显微镜、放大镜、静电环等。
6．缺陷判定的详细标准
6.1外观、尺寸缺陷判定标准；
6.1.1编带包装要求不符、变型、散乱；
6.1.2 元器件型号规格、封装形式与BOM表是否一致
6.1.2元器件表面是否有污垢；
6.1.3引脚是否有变型、氧化；
6.1.4丝印是否有错误、模糊不清；
6.1.5尺寸是否不符(FPC、插件电感、以及特殊要求的元器件)。
6.2性能缺陷判定标准
6.2.1电阻类
6.2.1.1电阻量是否不符，参考《BOM清单》
6.2.2 电容类
6.2.2.1检验电压是否不符，并用万用表测试电容有无短路，参考《BOM清单》
6.2.2.2 电容量是否不符，参考《BOM清单》
6.3 电感
6.3.1电感值是否不符，参考《BOM清单》
6.4其他元器件
6.4.1除电阻、电容、电感外，其它电子零件只做LABEL标识及包装检验，例如FPC等特别要求尺寸检验的元器件参考供方承认书规格或《技术文件》。
7.检验步骤
7.1 目测
7.1.1检验员取盘(袋),需重点核对其标签、包装形式以及编带的清洁度、完整性。
7.1.2拆开编袋,用镊子夹取零件,置于放大镜下,目视零件外观,有无污垢,破损,氧
化等情况.
7.2尺寸
7.2.1用卡尺测量尺寸,标准参考零件DATASHEET、《BOM清单》或者《技术文件》。.
7.3性能测试
7.3.1用万用表及LCR电桥测量仪器测试.
8.缺陷定义
a) A类不合格:指对本公司产品,性能.安全,利益有严重影响不合格项目.(不允许接受)
b) B类不合格:指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目.(同一零件上不允许出现两个及两个以上的缺陷,否则判不接收.)
9.相关文件
《BOM清单》
《技术文件》
《不合格品控制程序》
《进料检验流程》
《样本量字码》
《抽样验方案》
10.相关记录
《进货检验报告》
批量
特殊检验水平
一般检验水平
S-1
S-2
S-3
S-4
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
2———8
9———15
16———25
26———50
51———90
91———150
151———280
281———500
501———1200
1201———3200
3201———10000
10001———35000
35001———15000
15001———500000
500001及以上
A
A
A
A
B
B
B
B
C
C
C
C
D
D
D
A
A
A
B
B
B
C
C
C
D
D
D
E
E
E
A
A
B
B
C
C
D
D
E
E
F
F
G
G
H
A
A
B
C
C
D
E
E
F
G
G
H
J
J
K
A
A
B
C
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
Q
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
Q
R
样 本 量 字 码

正常一次检验抽样方案
样本量
字 码
样本量
接 受 质 量 限（AQL）
0.10
0.15
0.25
0.40
0.65
1.0
1.5
2.5
4.0
6.5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
A
B
C
2
3
5

0 1

0 1

0 1

D
E
F
8
13
20

0 1

0 1

0 1

1 2

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
G
H
J
32
50
80

0 1

0 1

0 1

1 2

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
7 8
5 6
7 8
10 11
K
L
M
125
200
315

0 1

1 2

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
7 8
5 6
7 8
10 11
7 8
10 11
14 15
10 11
14 15
21 22

14 15
21 22
N
P
Q
500
800
1250
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
7 8
5 6
7 8
10 11
7 8
10 11
14 15

10 11
14 15
21 22

14 15
21 22

21 22

R
2000
5 6
7 8
10 11
14 15
21 22

---使用箭头下面的第一个抽样方案。如样本量等于或超过批量，则执行100%检验。
---使用箭头上面的第一个抽样方案。
Ac---接受数
Re---拒收数

加严一次检验抽样方案
样本量
字 码
样本量
接 受 质 量 限（AQL）
0.10
0.15
0.25
0.40
0.65
1.0
1.5
2.5
4.0
6.5
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
A
B
C
2
3
5

0 1
0 1

D
E
F
8
13
20

0 1

0 1

0 1

1 2

1 2
2 3
G
H
J
32
50
80

0 1

0 1

0 1

1 2

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
8 9
K
L
M
125
200
315

0 1

0 1

1 2

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
8 9
5 6
8 9 12 13
8 9 12 13 18 19

12 13
18 19
N
P
Q
500
800
1250

1 2
2 3
1 2
2 3
3 4
2 3
3 4
5 6
3 4
5 6
8 9
5 6
8 9 12 13

8 9 12 13 18 19

12 13 18 19

18 19

R
2000
3 4
5 6
8 9
12 13
18 19

---使用箭头下面的第一个抽样方案。如样本量等于或超过批量，则执行100%检验。
---使用箭头上面的第一个抽样方案。
Ac---接受数
Re---拒收数

公司内部文件 严禁外传

文件编号
IRay-Q2-ZL-001
版本
A1
电子元器件检验规范
生效日期
2011.10.8
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