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半导体物理答案 第三章.doc

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资源描述
任课老师:吴海霞 作业章次:第三章 完成日期:2010年4月9日 姓名: 高 磊 学号: 20070682 班级: 01530701 老师点评: 6.计算硅在-78℃、27℃、300℃时本征半导体费米能级、假定它在禁带中线处合理吗? 10.以施主杂质电离90%作为强电离的标准,求掺砷的n型锗在300K时以杂质电离为主的饱和区掺杂的浓度范围 11.若锗中施主杂质电离能=0.01eV,施主杂质浓度分别为=及。计算1、99%电离;2、90%电离;3、50%电离时温度各为多少? 14.计算含有施主杂质浓度=及受主杂质浓度=的硅在300K时的电子和空穴浓度及费米能级位置 20.制造晶体管一般在高杂质浓度的n型衬底上外延一层n型外延层,再在外延层中扩散硼磷而成。 设n型硅单晶衬底是掺锑的,锑的电离能为0.039eV, 300K时位于导带底下面0.026eV处,计算锑的浓度和导带中电子浓度。
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