多通道数据采集仪DAQ应用_使用LabVIEW 和FPGA来创建一 个自动化的微控制器 测试系统_2页.pdf

1/使用LabVIEW 和FPGA来创建一 个自动化的微控制器 测试系统作者:Zalman Rafael-Infineon Technologies D Birundha-Infineon Technologies Shriram Kathavate-Infineon Technologies对于之前的应用程序 测试平台，我们使用 公司内部开发的控制 器板，但该板需要一 套单独的兼容工具链 来下载这些应用程序。此外，我们还很 难对这些工具链的用 户界面进行导航，不 得不使用额外的测试 和测量设备。有了虚拟仪器，我们 可以使用同一套软件 和模块化硬件执行以 下测试：测试常见的协议(SPI,ASC,I C)2测试PWM,ICU测试模拟/数字转换 器测试控制器区域网络(CAN)测试时钟和门控测试多模块同时运行 系统对于需要测试的应用 来说，使用FPGA 的可重编程功能，它 和之间的自动化接口 以及CAN分析仪功 能，我们可以很容易LabVIEW地开发我们的系统。在整个框架上，我们 节省了大量的时间和 成本。在此之前，对 于微控制器的每个模 块/外设，测试十至 二十个案例我们需要花费四至五个小时。使用我们所创建的基 于NI 产品的系 统，相同的一组测试 执行时间在十到十五 分钟内，而且测试质量显著地提高。我们需要合适的测试 平台应用程序以测试 微控制器的不同外 设。比如，为了测试 SPI接口，我们需 要建立SPI主机或者从机作为测试平 台。我们使用 VIs（CAN接 口的CAN VI）来创建每个测试平 台。框架内测试案例LabVIEW FPGA构造则是指各自的 VI。在框架中，我们可以 创建一个 LabVIEW对象 以获取VI引用，对 于每个测试案例的需 求，都为用户配置了 输入控件和显示控件。执行自动化框架 中的测试案例，需要 调用特定的VI，配 置该VI，最后运行 它。该框架无需用户参与 就可以执行测试。比 如，测量PWM信号 的解决方案如下：VI测量占空比和信 号频率，然后将其保 存到Excel文件中。另一种解决方案涉及 从SPI主机接收数 据。作为从机 SPI 的VI 可 以从主机测试设备（DUT）中接收数 据。SPI从机工作在不同的波特率和变 化的数据比特下。用 户可以配置VI,而 其运行取决于测试设 备(DUT)的主 SPI的配置。然而，还有一种解决 方案涉及产生所需的 脉冲个数以测试捕获 和计数模块。VI可 以产生在上升沿或者 下降沿触发的脉冲。在VI运行时，用 户可以配置VI以产 生所需个数的脉冲。结论使用NI公司的产 品，我们可以使用一 套软硬件解决方案，轻而易举地测试不同 的微控制器外设。我 们使用NI的产品，通过向自动化框架提 供易用的接口，使我 们的测试系统自动 化，这样节省了大量 的精力和成本。作者信息:Zalman Rafael使用NI公司的产 品，我们可以使用一套软硬件解决方案，轻而易举地测试不同的微控制器外设。我 们使用NI的产品，通过向自动化框架提供易用的接口，使我 们的测试系统自动化，这样节省了大量 的精力和成本。Zalman Rafael,Infineon Technologies 挑战:集成和自动化一个完 整的微控制器测试流 程。解决方案:使用NI公司产品来 创造一个非人工测试 平台，该平台具有直观用户界面和综合的 测试案例。2/Infineon Technologies Kalyani Platina,3rd floor,Block I#6&24,EPIP Zone Phase II Whitefield,Bangalore印度下一步什么是NI LabVIEW FPGA?采用NI 开放的 PC技术和模块化硬 件来探索自动化测试 策略法律条款本教程由 National Instruments 公司（简称“NI”）开发。尽管 National Instruments 可为该程序提供技术 支持，但是该指南的内容并非完全通过测 试和验证，NI不以 任何方式保证其质 量，也不保证相关产 品或驱动程序的新版 本出现时继续为其提供技术支持。本教程 仅以其“现状”向用 户提供，教程没有任 何担保。教程使用受 网站上 使用条款的约 束。(ni.)com/legal/termsofuse/unitedstates/us/