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核辐射探测学习题参考答案(修改).doc

上传人:快乐****生活 文档编号:5431662 上传时间:2024-10-31 格式:DOC 页数:9 大小:333.55KB
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资源描述
第一章射线与物质的相互作用 1.不同射线在同一物质中的射程问题 如果已知质子在某一物质中的射程和能量关系曲线,能否从这一曲线求得d(氘核)与t(氚核)在同一物质中的射程值?如能够,请说明如何计算? 解:P12”利用Bethe公式,也可以推算不同带点例子在某一种吸收材料的射程。”根据公式:,可求出。 步骤:1先求其初速度。 2查出速度相同的粒子在同一材料的射程。 3带入公式。 2:阻止时间计算: 请估算4MeVα粒子在硅中的阻止时间。已知4MeVα粒子的射程为17.8μm。 解:解:由题意得 4MeVa粒子在硅中的射程为17.8um 由T≌1.2×10R,Ma=4得 T≌1.2×10×17.8×10× =2.136×10 3:能量损失率计算 课本3题,第一小问错误,应该改为“电离损失率之比”。更具公式1.12-重带点粒子电离能量损失率精确表达式。及公式1.12-电子由于电离和激发引起的电离能量损失率公式。代参数入求解。 第二小问:快电子的电离能量损失率与辐射能量损失率计算: 4光电子能量: 光电子能量:(带入BK) 康普顿反冲电子能量: 5:Y射线束的吸收 解:由题意可得线性吸收系数, 由 其中N为吸收物质单位体积中的原子数 要求射到容器外时强度减弱99.9% =11.513cm 6:已知 t是自变量。 ①求ι增大时,曲线的变化形势。 ②画出f(t)的曲线。 答:①当ι增大时,曲线同一个自变量t值最后将是函数结果减小。 当A>0时,f(t)=的图像为下面图一:其中y1,y2,y3,y4,y5,y6分别为为0.25,0.5,1,2,3,4时的图像 当A<0时,f(t)=的图像为下面图二:其中y1,y2,y3,y4,y5,y6分别为为0.25,0.5,1,2,3,4时的图像 7.计算放射源发射的粒子 在水中的射程。  答:先求粒子在空气中的射程         由 对多种元素组成的化合物或混合物,因为与入射粒子的能量相比,原子间的化学键能可以忽略,所以其等效原子量               式中为各元素的原子百分数。 对空气而言,,在标准状态下,,所以 对水而言 在水中的射程         第二章 辐射探测中的统计概率问题 1、设测量样品的真平均奇数率为,试用泊松分布公式确定在任一秒内得到的技术小于或等于2的概率。 解:由题可知 1、解:由题得 X~(5) 2、解:因为=100 即X~(100) 所以m较大可近似X~N(100,) 所以P{=104} 0.367 =-=2-1=0.3108 3、解:由题意知经一分钟测量后m=400,则统计误差为 标准偏差=20,相对标准偏差0.05 将测量时间延长至9分钟,标准偏差将增大,相对标准偏差会减小(P55) 4.用光子轰击光阳极。已知打出一个光电子的概率p,不打出光电子的概率q=1-p 。设用n表示打出的光电子数,问n是什么样的随机变量,其平均值,方差为何? 答:设一束光中用N个光子,则n 服从二项分布,其平均值为N,方差为N 5,设随机变量ξ遵守泊松分布,且知其平均值m=10,试利用表2 .1计算ξ取大于1值的概率。 解: 方法1:(不利用表2.1) p{ξ=0}=p(0)= P{ξ=1}=p(1)= 所以,ξ取大于1的概率为: P{ξ>1}=1-p{ξ=0}-p{ξ=1}=1— 方法2:(利用表2.1 ) 当n 较大时,泊松分布中, 第四章 闪烁探测器 1.试计算24Na的2.76MevVg射线在NaI(T1)单晶谱仪的输出脉冲幅度谱上,康普顿边缘与单逃逸峰之间的相对位置。 答案:康普顿边缘,即最大反冲电子能量 单逃逸峰: 2.试详细分析上题中g射线在闪烁体中可产生哪些次级过程。 答 : 光电效应(光电峰或全能峰); 康普顿效应(康普顿坪); 电子对生成效应(双逃逸峰)。 上述过程的累计效应形成的全能峰;单逃逸峰。以级联过程(如等)为主的和峰。 3. 当入射粒子在蒽晶体内损失1MeV能量时,产生20300个平均波长为447nm的光子,试计算蒽晶体的闪烁效率。 答案:波长为的荧光光子的能量 闪烁效率 4.假设NaI(T1)晶体的发光时间常数为230ns,求一个闪烁事件发射其总光产额的99%需要多少时间? 答案:闪烁体发光的衰减的指数规律 所以,一个闪烁事件发射其总光产额的99%需要时间: 5.试定性分析,分别配以塑料闪烁体及NaI(T1)闪烁晶体的两套闪烁谱仪所测得0.662MeV g射线谱的形状有何不同? 答:由于塑料闪烁体有效原子序数、密度及发光效率均低于NaI(T1)闪烁晶体,对测得的0.662MeV g射线谱的形状,其总谱面积相应的计数、峰总比、全能峰的能量分辨率均比NaI(T1)闪烁晶体差,甚至可能没有明显的全能峰。 6.试解释NaI(T1)闪烁探测器的能量分辨率优于BGO闪烁探测器的原因,为何后者的探测效率要更高一些? 答:NaI(T1)闪烁探测器的能量分辨率优于BGO闪烁探测器是由于前者的发光效率明显优于后者,仅为的8%。而后者的密度和有效原子序数则优于前者。 7.用NaI(T1)单晶g谱仪测137Cs的662keVg射线,已知光的收集效率,光电子收集效率,光阴极的光电转换效率,NaI(T1)晶体相对于蒽晶体的相对发光效率为230%。又知光电倍增管第一打拿极倍增因子,后面各级的,并认为及均为4%,试计算闪烁谱仪的能量分辨率。 答案: 已知条件改为:。 且不考虑及的影响。 由(9-5-21)式 第五章 半导体探测器 1.试计算粒子在硅中损失100keV的能量所产生的电子-空穴对数的平均值与方差。 答案:常温下,在硅中产生一个电子-空穴对所需的能量: 电子-空穴对数的平均值: 电子-空穴对数的方差: 2当粒子被准直得垂直于硅P-N结探测器的表面时,241Am刻度源的主要射线峰的中心位于多道分析器的461道。然后,改变几何条件使粒子偏离法线35°角入射,此时看到峰漂移至449道。试求死层厚度(以粒子能量损失表示)。 答案: 由手册可查,241Am刻度源的主要射线能量。并假设多道的增益(即每道所对应的能量)为。 设粒子在垂直入射时,在死层厚度内损失能量为,则在偏离法线入射时在死层内损失的能量。可得到方程 解可得 3.算金硅面垒探测器结电容,设其直径20mm,,V=100V。 答案:金硅面垒探测器结由N型硅为原材料,由(10-4-9)式,结电容 4.本征区厚10mm的平面Ge(Li)探测器工作在足以使载流子速度饱和的外加电压下,问所加电压的近似值是多少?若任一脉冲的空穴或电子损失不超过0.1%,问载流子所必须具有的最短寿命是多少? 答案:由载流子达到饱和速度的电场强度,计算得到需加电压伏,似乎太高,一般为5000伏左右。 由于载流子的损失,所以服从指数规律 式中,称为漂移长度,其定义为载流子经过长度为时,载流子浓度降为原来的。由上式 式中 , 5.设电荷收集是完全的、电子学噪声可忽略不计,求Ge(Li)探测器对137Cs0.662MeVg射线的期望能量分辨率(Ge中法诺因子F=0.13,W0=2.96eV)。 答案:能量分辨率 5. 试估计工作在2000V的4mm厚的Si(Li)探测器电荷收集时间的最大值。 答案:在77K下,硅中的空穴的迁移率比电子迁移率小,
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