ERP脑电数据采集分析操作过程.doc

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脑电数据采集
1． 双击桌面""图标,进入到记录软件界面。
2． 根据实际采用的电极帽,如32导的电极帽或64导的电极帽,在"File"的下拉菜单中的"Open workspace…"打开相应的文件"32CAP.rwksp"或"64CAP.rwksp"。
3． 给被试带上电极帽,点击"",检测电极阻抗值。做脑电事件相关电位要求每个电极阻抗值在5K欧姆以下。
4． 阻抗值通过后,点击""图标,开始监控脑电图,显示波形。
5． 点击""图标,保存数据。
6． 实验结束后,点击""图标,停止数据保存。
7． 点击""图标,关闭波形显示窗口,数据记录完毕。
脑电事件相关电位〔ERP分析
1 双击桌桌""图标,进入分析软件界面。
2 在"File"的下拉菜单中,点击"New"选项,在弹出的对话框中设置数据路径：
Raw Files：原始记录数据存储路径,
History Files：随后操作过程存储路径,
Export Files：数据输出后的存储路径。
确定后,保存为一个文件名,下次要调用此数据时,直接在"File"的下拉菜单中点击"Open"打开所保存的文件即可。原始记录的数据将在左边窗口显示。
3 双击左边窗口书本样下面的"Raw Data"显示原始数据波形。
4 随后可根据以下步骤分析得到脑电事件相关电位波形
A. 变更参考电极 New Reference ：现在的电极帽都是以FCz做为参考电极,而实际分析ERP波形时,大部分都是根据A1A2做为参考电极〔BP的电极帽TP9相当A1,TP10相当A2,所以根据实际要求进行更换参考电极。
B. 眼电纠正 Ocular Correction ：将眨眼或眼动带来的肌电影响进行纠正。
C. 伪迹去除 Raw Data Inspection ：去除由于设备或被试动作带来的伪差信号。
D. 滤波 Filters： 根据所要分析的信号频率,适当设定波形带宽,滤除不必要的信号。
E. 分段 Segmentation ：根据标志将要进行叠加平均的脑电信号提取出来。
F. 基线校正 Baseline Correction
G. 叠加平均 Average
5 变更参考电极：在"Transformations"下拉菜单 "Channel Preprocessing"中的选择"New Referece",按以下弹出窗口操作：
最后点击完成。
6 眼电纠正：在"Transformations"下拉菜单中的选择"Ocular Correction",按以下弹出窗口操作：
点击"OK"完成。
7 伪迹去除：在"Transformations"下拉菜单中的选择"Raw Data Inspection",按以下弹出窗口操作：
Manual Inspection：人工伪迹去除,
Semiautomatic Inspection：半自动伪迹去除
Automatic Inspection：全自动伪迹去除
在"Channels"一栏中,除了两导眼电信号外,应将其余的脑电信号导联全部选择上。
在"Criteria"一栏中,设定半自动、自动分析的检测标准。"Gradient<x>"为两个采样点的梯度变化值；"Max-Min<x>"为波形变化最大绝对值；"Amplitude"为波形变化刻度值；"Low Activity<x>"为波形最小变化值。
8 滤波： 在"Transformations"下拉菜单选择"Filters",在弹出的窗口中操作：
Low Cutoff：设置低切滤波值,其中Frequency［Hz］为频率,Time Constant［s］为时间常数,两个参数只要设置其中一个即可,它们可根据F＝1/<2πT>互相转换。
High Cutoff：设置高切滤波值。
Notch：设置交流电滤波,根据所采集数据时的交流电压所定,如美国为110V,选择60Hz,而中国为220V,选择50Hz。
Enable Individual Channel Filters：选择后可对每一通道单独设置带宽值。
9 分段：在"Transformations"下拉菜单"Segment Analysis Functions"中的选择"Segmentation",按以下弹出窗口操作：
最后点击"Finish"完成。
10 基线校正：在"Transformations"下拉菜单"Segment Analysis Functions"中的选择"Baseline Correction",按以下弹出窗口操作：
11 叠加平均：在"Transformations"下拉菜单"Segment Analysis Functions"中的选择"Average",按以下弹出窗口操作：
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