JJF 1479-2014 剂量面积乘积仪校准规范-(高清原版）.pdf

中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 4 7 92 0 1 4剂量面积乘积仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rD o s eA r e aP r o d u c tM e t e r s 2 0 1 4-0 8-2 5发布2 0 1 4-1 1-2 5实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布市场监管总局市场监管总局剂量面积乘积仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rD o s eA r e aP r o d u c tM e t e r sJ J F1 4 7 92 0 1 4 归 口 单 位:全国电离辐射计量技术委员会 主要起草单位:中国测试技术研究院北京计量检测科学研究院 参加起草单位:云南省计量测试技术研究院湖南省计量检测研究院福建省计量科学研究院 本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局本规范主要起草人:张园月(中国测试技术研究院)郭洪涛(北京计量检测科学研究院)许诗朦(中国测试技术研究院)参加起草人:杨 乾(中国测试技术研究院)马建民(云南省计量测试技术研究院)张 秦(湖南省计量检测研究院)董 旭(福建省计量科学研究院)J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)3.1 术语(2)3.2 计量单位(2)4 概述(2)5 计量特性(2)5.1 漏电流(2)5.2 重复性(2)5.3 稳定性(2)5.4 相对固有误差(2)6 校准条件(2)6.1 环境条件(2)6.2 实验室校准用测量标准及其他测量设备(3)6.3 现场校准用测量标准及其他测量设备(3)6.4 实验室校准参考辐射场(3)7 校准项目和校准方法(3)7.1 校准项目(3)7.2 漏电流(4)7.3 重复性(4)7.4 校准因子(5)7.5 相对固有误差(6)7.6 稳定性(7)8 校准结果表达(7)9 复校时间间隔(7)附录A R Q R系列参考辐射质(8)附录B 剂量面积乘积仪校准记录推荐格式(9)附录C 剂量面积乘积仪校准证书内页格式(1 1)附录D 剂量面积乘积仪校准结果不确定度评定示例(1 2)J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局引 言 本规范按照J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则的要求编写,编制的主要依据为G B/T2 0 0 1 22 0 0 5 医用电气设备 剂量面积乘积仪和I A E A T R S4 5 7 放射诊断剂量学 国际规定(D o s i m e t r yi nD i a g n o s t i cR a d i o l o g y:A nI n t e r n a t i o n a lC o d eo fP r a c t i c e)。本规范为首次制定。J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局剂量面积乘积仪校准规范1 范围本规范适用于标准剂量面积乘积仪、现场使用剂量面积乘积仪(包含通过计算产生剂量面积乘积)和剂量面积电离室的校准。2 引用文件本规范引用下列文件:G B/T2 0 0 1 22 0 0 5 医用电气设备 剂量面积乘积仪I A E AT R S4 5 7 放射诊断剂量学 国际规定(D o s i m e t r yi nD i a g n o s t i cR a d i o l o g yA nI n t e r n a t i o n a lC o d eo fP r a c t i c e)I E C6 0 7 3 1:2 0 1 1 医 用 电 气 设 备 用 于 放 射 治 疗 的 电 离 室 剂 量 计(M e d i c a le l e c t r i c a l e q u i p m e n tD o s i m e t e r sw i t h i o n i z a t i o nc h a m b e r sa su s e d i nr a d i o t h e r a p y)I E C6 1 2 6 7:2 0 0 5 医用诊断X射线设备 辐射条件下的测量特性(M e d i c a ld i a g-n o s t i cX-r a ye q u i p m e n tR a d i a t i o nc o n d i t i o n s f o ru s e i n t h ed e t e r m i n a t i o no f c h a r a c t e r i s-t i c s)I E C6 1 6 7 4:2 0 1 2 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和/或半导体探测器剂量计(M e d i c a l e l e c t r i c a l e q u i p m e n tD o s i m e t e r sw i t h i o n i z a t i o nc h a m b e r sa n d/o rs e m i c o n d u c t o rd e t e c t o r sa su s e d i nX-r a yd i a g n o s t i c i m a g i n g)凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3 术语和计量单位3.1 术语3.1.1 剂量面积乘积 d o s ea r e ap r o d u c t(PKA)在距焦点同样距离测量的有用射束面积与有用射束的横截面内的空气比释动能之乘积。3.1.2 剂量面积乘积率 d o s ea r e ap r o d u c t r a t e(PKA)单位时间内的剂量面积乘积。3.1.3 漏电流 l e a k a g ec u r r e n t在探测器和(或)测量装置的信号通道上出现的,但不是由电离室中的电离产生的任何电流。3.1.4 校准因子 c a l i b r a t i o nf a c t o r参考值除以指示值的商。3.1.5 相对固有误差 r e l a t i v e i n t r i n s i ce r r o r在规定的参考条件下,仪器示值的相对误差。1J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局3.2 计量单位3.2.1 剂量面积乘积的单位:戈(瑞)平方米,常用单位为微戈(瑞)平方米,符号为G y m2。3.2.2 剂量面积乘积率的常用单位:微戈(瑞)平方米每秒,符号为G y m2/s。3.2.3 剂 量 面 积 乘 积 电 离 室 校 准 因 子 的 单 位:戈(瑞)平 方 米 每 库 仑,符 号 为G y m2/C。4 概述剂量面积乘积仪,主要由电离室和电流(电荷)测量单元(或静电计)两大部分组成。电离室为平行板电离室,中间介质为空气。X射线照射到电离室,引起空腔内的气体电离,在测量单元提供的极化电压作用下,形成电离电流,测量单元测量电离室输出的电离电流,并将测量值以适当方式输出或显示。电离室临床上的透光性要求限制了室壁材料的使用,通常用高原子序数的导电材料做导电涂层,导致能量依赖性强,穿过电离室的X射线衰减较大,且衰减程度与X射线的能量相关。在电离室测量面积所覆盖的射束范围内,KA P(剂量面积乘积)仪测量的量与距离近似无关。因而,KA P仪被广泛用于临床诊断放射剂量学,特别是X射线透视检查、介入放射学、普通放射影像、牙科放射影像。通常将它的电离室固定在X射线机球管遮线器的射线出口处,用来测量X射线机的输出剂量。5 计量特性5.1 漏电流(标准)KA P仪或(标准)KA P电离室的漏电流不超过最小额定剂量面积乘积率所产生电流的1 0%。5.2 重复性标准KA P仪的重复性小于1%。5.3 稳定性标准KA P仪或标准KA P电离室年稳定性不超过2%。5.4 相对固有误差KA P仪的相对固有误差不超过3 5%。注:以上技术指标不是用于合格性判别,仅供参考。6 校准条件6.1 环境条件6.1.1 温度:标准实验室校准(1 82 4),现场校准(1 53 5)。6.1.2 相对湿度:3 0%7 5%。6.1.3 气压:(8 01 0 6)k P a。6.1.4 校准时不应有影响使用的振动和电磁场干扰。2J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局6.2 实验室校准用测量标准及其他测量设备6.2.1 测量标准:空气比释动能的测量应使用标准诊断水平剂量计或基准测量系统,其电离室应为标准诊断水平电离室或自由空气电离室。标准诊断水平剂量计的量值应溯源到(1 06 0)k VX射线空气比释动能基准和(6 02 5 0)k VX射线空气比释动能基准,其不确定度应满足检定系统表J J G2 0 9 52 0 1 2和J J G2 0 4 32 0 1 0的要求,年稳定性不超 过1%,标 准 电离 室 在 辐 射 质R Q R2RQ R1 0范 围 的 能 量 响 应 不 超 过2.6%。单独校准电离室的实验室,应有测量电离室电离电荷的电荷测量系统。注:基准测量系统由自由空气电离室和电离电荷测量系统组成,用于复现空气比释动能量值。6.2.2 温度计:测量范围(05 0),最小分度值不大于0.2。6.2.3 气压计:测量范围(8 01 0 6)k P a,最小分度值不大于0.1k P a。6.2.4 面积准直器:面积准直器应足够大于面积乘积仪电离室的外边缘,中间开孔为方空或圆孔,孔尺寸(4 06 0)mm,最大允许误差1 0m。6.2.5 定位系统:电离室的定位夹具应使用低原子序数材料做成,定位装置应便于电离室和面积准直器的调节,可采用光学、激光等方法定位电离室和面积准直器,定位偏差应不超过1mm。6.2.6 计时器:测量范围不小于10 0 0s,最小分度值不大于1 0m s。6.3 现场校准用测量标准及其他测量设备6.3.1 标准KA P仪或标准诊断水平剂量计:标准KA P仪的校准因子的扩展不确定度3%,年稳定性不超过2%,标准诊断水平剂量计符合本规范6.2.1的要求。6.3.2 半值层测量仪:可使用能直接测量半值层的测量仪器,允许误差优于1 0%,也可使用传统的半值层测量仪,其A l片纯度优于9 9.5%,厚度允许误差优于5 0m。6.3.3 管电压测量仪:测量范围应覆盖(4 01 5 0)k V,分辨力不大于0.1k V,最大允许误差2%。6.3.4 温度计和气压计符合本规范6.2.2和6.2.3的要求。6.4 实验室校准参考辐射场6.4.1 校准在X射线辐射场中进行,X射线辐射源的峰值电压应覆盖(4 01 5 0)k V,管电压纹波应小于1 0%,最好小于1%,其中用于标准KA P仪校准的辐射源纹波应小于1%。6.4.2 校准用参考辐射场应建立R Q R系列辐射质,并应分别在3mmA l、4mmA l、5mmA l、4mmA l+0.1mm C u、4mmA l+0.2mm C u附加过滤条件下,建立相对应的辐射质,建立的RQ R系列辐射质应与附录A一致。6.4.3 参考辐射场为准直束辐射场,辐射源输出的空气比释动能量的变化应小于0.3%,在校准位置,射野应不小于1 0c m1 0c m,面积准直器面积内,剂量面积乘积率的变化不超过1%。7 校准项目和校准方法7.1 校准项目校准项目见表1。3J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局表1 校准项目校准项目标准KA P仪标准KA P电离室KA P仪KA P电离室漏电流+重复性+-校准因子+*+稳定性+-相对固有误差-+*-注:1.“+”为校准项目,“-”为不需校准项目。2.“+*”为室验室校准项目,“+*”为现场校准项目。7.2 漏电流KA P仪的漏电流分为辐照漏电流和非辐照漏电流,用两者中绝对值最大者的值表示。非辐照漏电流通常在零点附近测量。仪器处于测量状态,记录仪器读数M0,并开始计时,至少5m i n后,同时记录仪器读数M1和测量时间间隔t,其读数的变化与额定最小有效剂量面积乘积率的百分比即为非辐照漏电流IL,由式(1)计算。IL=M1-M0tP.KA,m i n1 0 0%(1)式中:t 测量时间,s;PKA,m i n 额定最小有效剂量面积乘积率,G y m2/s。测试辐照漏电流时,仪器处于测量状态,照射仪器,待读数达到一定值后停止照射,记录该时刻读数M0并开始计时,至少5m i n后,同时记录仪器读数M1和测量时间间隔t,其读数的变化与额定最小有效剂量面积乘积率的百分比即为辐照漏电流IL,由式(1)计算。7.3 重复性以相对实验标准偏差表示,测试可在X射线辐射场中进行。在不变的条件下,用被校KA P仪重复测量1 0次,每次测量读数的0.2 5%应大于分辨力,由式(2)计算相对实验标准偏差V。V=1Mni=1(Mi-M)2n-11 0 0%(2)式中:Mi 被校KA P仪的读数,d i v;M 被校KA P仪读数的平均值,d i v;n 测量次数。4J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局7.4 校准因子7.4.1 标准KA P仪的校准方法7.4.1.1 校准时,仪器安排如图1所示,在校准测试平面正前方5 0mm处放置面积准直器,准直器开孔中心与射线束轴中心重合,准直器孔入射平面与射线束轴垂直,面积准直器距焦点9 5 0mm,测试平面距焦点10 0 0mm。图1 实验室KA P校准示意图da焦点到面积准直器的距离;dr焦点到测试平面的距离;A面积准直孔的面积7.4.1.2 选择一组R Q R辐射质并按需要至少选择一种附加过滤辐射质,R Q R辐射质至少应包括RQ R3、R Q R5和RQ R9,选定的其他附加过滤辐射质对应管电压至少应包括5 0k V、7 0k V和1 2 0k V,分别按7.4.1.37.4.1.6完成相对应辐射质的NPKA,Q。7.4.1.3 用标准诊断水平剂量计或基准测量系统测量测试平面中心点的空气比释动能。7.4.1.4 将被校KA P电离室置于位置的测试平面上,电离室中心位于射线束轴上,其入射平面与射线束轴中心垂直。7.4.1.5 被校KA P仪至少测量3次,其测量读数的0.1%应大于分辨力。7.4.1.6 由式(3),计算被校KA P仪的校准因子;单独校准电离室时,由式(4)计算电离室的校准因子。NPKA,Q=KAMKA Pdrda 2(3)NPKA,Q=KAQdrda 2(4)式中:MKA P 被校KA P仪的读数并经空气密度修正后的平均值,d i v;Q 电荷测量系统测得的并经空气密度修正后的电荷平均值,C;K 测试点的空气比释动能值,G y;A 面积准直器孔的面积,m2;dr 焦点到测试平面的距离,mm;da 焦点到面积准直孔的距离,mm;NPKA,Q 辐射质Q的剂量面积乘积校准因子,G y m2/d i v或G y m2/C。注:单独校准电离室时,应将电离室接入电荷测量系统。5J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局7.4.2 临床使用中的KA P仪实验室校准方法7.4.2.1 按7.4.1.1放置面积准直器。7.4.2.2 根据KA P仪实际使用的附加过滤和管电压,选择对应附加过滤辐射质或R Q R辐射质,R Q R辐射质至少应包括R Q R3、R Q R5和R Q R9,选定的其他附加过滤辐射质对应管电压至少应包括5 0k V、7 0k V和1 2 0k V,分别按7.4.2.37.4.2.5完成相对应辐射质的NPKA,Q。7.4.2.3 将被校KA P电离室置于位置,电离室中心位于射线束轴上,其入射平面与射线束轴中心垂直,用标准诊断水平剂量计或基准测量系统测量测试平面中心点的空气比释动能。7.4.2.4 将被校KA P电离室移到位置的测试平面上,电离室中心位于射线束轴上,其入射平面与射线束轴中心垂直。7.4.2.5 按7.4.1.5和7.4.1.6完成校准。7.5 相对固有误差7.5.1 校准在安装有KA P仪的诊断辐射源中进行,仪器安排如图2所示。根据KA P仪的实际使用管电压,至少选取3个不同常规管电压(包含最高管电压、最低管电压和7 0k V)进行校准。图2 现场KA P仪校准示意图7.5.2 将半值层测量仪和管电压测试仪分别放在测试平面,测量选取管电压的辐射质和实际管电压。7.5.3 用标准KA P仪方法或剂量乘以面积方法校准相对固有误差。7.5.3.1 标准KA P仪方法:沿射线束轴方向,将标准KA P电离室置于被校KA P仪电离室后方的测试平面上,两者间距约3 0c m,电离室中心位于射线束轴上,其入射平面与射线束轴中心垂直,经准直的射线束应完全照射到标准电离室的灵敏体积内(包含半影区),一般地在标准电离室表面,射野约8c m8c m。选择不同的管电压,对每一管电压,用被校KA P仪和标准KA P仪,至少同时测量3次,其测量读数的0.1%应大于分辨力,并由式(5)计算被校KA P仪各点的相对固有误差Ii。Ii=(MKA PPKA,i-1)1 0 0%(5)6J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局式中:MKA P 被校KA P仪的读数并经空气密度修正后的平均值,d i v;PKA,i 标准KA P仪测得的剂量面积乘积值,G y m2。7.5.3.2 剂量乘以面积方法:沿射线束轴方向,将标准诊断水平剂量计的电离室置于被校KA P仪电离室后方的测试平面上,两者间距不得小于3 0c m,电离室的有效测量中心位于射线束轴上,其入射平面或中轴线与射线束轴中心垂直,在标准电离室测试平面上,射野为1 0c m1 0c m。选择不同的管电压,对每一管电压,用被校KA P仪和标准诊断水平剂量计,至少同时测量3次,其测量读数的0.1%应大于分辨力,然后移去标准诊断水平剂量计电离室,使用胶片法、数字影像或其他方法确定测试平面的射束面积A,并由式(6)计算被校KA P仪各点的相对固有误差Ii。Ii=(MKA PKA-1)1 0 0%(6)式中:MKA P 被校KA P仪的读数并经空气密度修正后的平均值,d i v;K 测试点的空气比释动能值,G y;A 测试点处的射束面积,m2。7.6 稳定性长期稳定性以两次校准的校准因子为依据,两次校准的时间间隔应不小于6个月,由式(7)计算每个辐射质校准因子的变化,用其中最大偏离值表示KA P仪或KA P电离室的长期稳定性S。S=NPKA,i-NPKA,iNPKA,i1 0 0%(7)式中:NPKA,i 上次第i个辐射质的校准因子;NPKA,i 本次第i个辐射质的校准因子。8 校准结果表达校准结果出具校准证书。校准证书除应包括J J F1 0 7 12 0 1 0中所要求的内容外,还应包含计量特性校准需注明的原则与环境条件。9 复校时间间隔用户可根据仪器的使用情况和仪器本身质量自行确定复校时间的长短,建议复校时间间隔为1 2个月。7J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局附录AR Q R系列参考辐射质表A.1 R Q R系列参考辐射质辐射质管电压/k V第一半值层/mmA l同质系数R Q R24 01.4 20.8 1R Q R35 01.7 80.7 6R Q R46 02.1 90.7 4R Q R57 02.5 80.7 1R Q R68 03.0 10.6 9R Q R79 03.4 80.6 8R Q R81 0 03.9 70.6 8R Q R91 2 05.0 00.6 8R Q R1 01 5 06.5 70.7 2注:表中数据引自I E C6 1 2 6 7:2 0 0 5中5.3条。8J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局附录B剂量面积乘积仪校准记录推荐格式校准证书号:校准日期:年 月 日委托单位:委托单位地址:样品名称:生产厂家:样品型号:样品编号:电离室型号:电离室编号:校准依据:校准地点:1 校准用主要计量标准器具器具名称型号规格编号准确度或不确定度证书号有效期至环境条件:温度:,气压:k P a,相对湿度:%2 校准结果2.1 漏电流测量量程:名称M0M1t/s(M0-M1)/tIL/%辐照漏电流非辐照漏电流2.2 重复性管电压:k V,管电流:mA1234567891 0V/%2.3 校准因子及相对固有误差射野:c m c m,da:mm,dr:mm,距离:c m,(圆方)准直孔尺寸:mm,被校仪器设置:量程:9J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局辐射质管电压k V管电流mA附加过滤mmA lHV LmmA l标准值G y m2样品读数d i vNPKA,QG y m2d i v-1相对固有误差%Ur e l(k=2)%R Q R24 0R Q R35 0R Q R46 0R Q R57 0R Q R68 0R Q R79 0R Q R81 0 0R Q R91 2 0R Q R1 0 1 5 02.4 长期稳定性校准员:核验员:备注:01J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局附录C剂量面积乘积仪校准证书内页格式证书编号:校准环境条件及其地点温度:;相对湿度:%;气压:k P a校准地点:测量标准及其他设备名称测量范围不确定度/准确度等级/最大允许误差证书编号有效期至校准结果1.漏电流:2.重复性:3.长期稳定性:4.校准因子、相对固有误差及不确定度辐射质管电压k V附加过滤mmA lHV LmmA lNPKA,QG y m2d i v-1相对固有误差%Ur e l(k=2)%R Q R24 0R Q R35 0R Q R46 0R Q R57 0R Q R68 0R Q R79 0R Q R81 0 0R Q R91 2 0R Q R1 01 5 0(以下空白)第页 共页11J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局附录D剂量面积乘积仪校准结果不确定度评定示例D.1 测量条件与测量方法D.1.1 环境条件实验室温度:(1 82 4),气压:(9 5.09 6.8)k P a,相对湿度:3 0%7 5%。D.1.2 测量标准UN I D O S剂量计(T 1 0 0 0 2-2 0 6 7 1)和TW 3 4 0 6 9-2.5-0 0 7 6电离室。测量范围:(61 0-51)G y/m i n。相对扩展不确定度:0.8%(k=2)。D.1.3 测量参数:剂量面积乘积校准因子。D.1.4 测量方法:在距辐射源焦点9 5 0mm处放置面积准直器,将标准诊断水平剂量计电离室置于面积准直器后5 0mm处,测量该点的空气比释动能,然后将KA P仪电离室置于该位置,测量其读数,由式(D.1)计算被校KA P仪的校准因子。D.2 测量模型NPKA,Q=KAMKA Pdrda 2(D.1)式中各项意义按7.4.1.6。式(D.1)中被测量NPKA,Q的估计值为y,输入量估计值为xi,则有:y=f(x1,x2,xN)(D.2)式(D.2)中各分量相对独立,互不相关,所以相对标准不确定度ucr e l可表示为:u2c r e l(y)=u2c(y)/y2=Ni=1(fxixiy)2(u(xi)xi)2=Ni=1c2iu2r e l(xi)(D.3)因此,合成相对标准不确定度为各分量相对标准不确定度的方和根。D.3 输入量的标准不确定度评定D.3.1 标准剂量计校准引入的标准不确定度标准剂量计校准证书给出,Ur e l=0.8%(k=2),因而,c1=1,u1 r e l=0.4%,按B类评定。D.3.2 标准剂量计年稳定性引入的标准不确定度标准剂量计的年稳定性0.5%,因而,k=1.7 3,c2=1,u2 r e l=0.2 9%,按B类评定。D.3.3 电离室定位引入的标准不确定度焦室距为10 0 0mm,电离室定位误差不超过1mm,k=1.7 3,c3=2,u3 r e l=0.0 6%,按B类评定。D.3.4 面积准直器定位引入的标准不确定度焦点到面积准直器的距离为9 5 0 mm,面积准直器定位误差不超过1 mm,k=1.7 3,c4=-2,u4 r e l=0.0 6%,按B类评定。21J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局D.3.5 温度引入的标准不确定度测量时温度为2 0,考虑器具溯源不确定度、分辨力、使用中的差异等,c5=2 02 9 3.2=0.0 7,u5 r e l=1.8%,按B类评定。D.3.6 气压引入的标准不确定度测量时气压为9 5.0k P a,考虑器具溯源不确定度、分辨力、使用中的差异等,c6=-1,u6 r e l=0.3 1%,按B类评定。D.3.7 测量时间引入的标准不确定度测量时间为1 0 0s,考虑校准证书及测量误差,其不确定度为0.2%;c7=1,u7 r e l=0.2 0%,按B类评定。D.3.8 标准测量读数引入的标准不确定度标准测量读数的不确定度u8 r e l=0.1 0%,c8=1,按A类评定。D.3.9 KA P测量读数引入的标准不确定度KA P测量读数的不确定度u9 r e l=0.3 0%,c9=-1,按A类评定。D.3.1 0 能响引入的标准不确定度TW 3 4 0 6 9-2.5-0 0 7 6电离室R Q R4R Q R9的校准因子变化不超过0.0 0 2;其不确定度考虑为0.1 0%;c1 0=1,u1 0 r e l=0.1 0%,按B类评定。D.3.1 1 场非均匀性引入的标准不确定度距焦点10 0 0mm平面,中心6 0mm区,不均匀性1%,k=1.7 3,c1 1=1,u1 1 r e l=0.5 8%,按B类评定。D.3.1 2 辐射源变化引入的标准不确定度辐射源的变化0.5%,k=1.7 3,c1 2=1,u1 2 r e l=0.2 9%,按B类评定。D.3.1 3 面积引入的标准不确定度准直器面积的投影不等于实际射野,考虑面积的不确定度u1 3 r e l=0.3 0%,c1 3=1,按B类评定。D.3.1 4 其他引入的标准不确定度仪器非线性、漏电,电离室的极化效应、复合损失等的不确定度u1 4 r e l=0.2 0%,c1 4=1,按B类评定。D.4 合成的标准不确定度按式(D.3)合成,校准因子的相对标准不确定度:uc r e l=1.1%。D.5 扩展不确定度取包含因子k=2,校准因子的扩展不确定度为:Ur e l=k uc r e l=2.2%,k=2。KA P仪校准因子的不确定度评定结果汇总见表D.1。表D.1 不确定度评定汇总表来源类型分布标准不确定度uir e l灵敏系数ci不确定度分量|ciuir e l|校准证书B正态0.4 0%10.4 0%标准稳定性B矩形0.2 9%10.2 9%电离室定位B矩形0.0 6%20.1 2%J J F1 4 7 92 0 1 4市场监管总局市场监管总局J J F1 4 7 92 0 1 4表D.1(续)来源类型分布标准不确定度uir e l灵敏系数ci不确定度分量|ciuir e l|准直器定位B矩形0.0 6%-20.1 2%温度B矩形1.8%0.0 70.1 3%气压B矩形0.3 1%-10.3 1%测量时间B矩形0.2 0%10.2 0%标准读数A正态0.1 0%10.1 0%KA P读数A正态0.3 0%-10.3 0%能响B矩形0.1 0%10.1 0%场非均匀性B矩形0.5 8%10.5 8%辐射源变化B矩形0.2 9%10.2 9%面积B矩形0.3 0%10.3 0%其他B矩形0.2 0%10.2 0%合成标准不确定度uc r e l1.1%扩展不确定度Ur e l(k=2)2.2%市场监管总局市场监管总局