JJF 1439-2013静力触探仪校准规范-(高清原版）.pdf

中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 4 3 92 0 1 3静力触探仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rS t a t i cC o n eP e n e t r o m e t e r s 2 0 1 3-1 1-2 8发布2 0 1 4-0 2-2 8实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布市场监管总局市场监管总局静力触探仪校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rS t a t i cC o n eP e n e t r o m e t e r sJ J F1 4 3 92 0 1 3 归 口 单 位:全国力值硬度计量技术委员会 主要起草单位:湖北省计量测试技术研究院福建省计量科学研究院 参加起草单位:湖北省建筑科学研究设计院中国科学院武汉岩土力学研究所湖北省土木工程计量校准中心 本规范委托全国力值硬度计量技术委员会负责解释J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局本规范主要起草人:胡 翔(湖北省计量测试技术研究院)池 辉(福建省计量科学研究院)朱 泾(湖北省计量测试技术研究院)钟金德(福建省计量科学研究院)参加起草人:王 敏(湖北省建筑科学研究设计院)胡纯军(中国科学院武汉岩土力学研究所)麻青春(湖北省土木工程计量校准中心)J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语(1)4 概述(1)4.1 静力触探仪的工作原理及用途(1)4.2 结构与分类(2)5 计量特性(3)5.1 外观(3)5.2 探头几何尺寸(3)5.3 绝缘电阻(4)5.4 静力触探仪计量性能(4)6 校准条件(4)6.1 环境条件(4)6.2 校准用设备(4)7 校准方法(4)7.1 外观检查(4)7.2 探头尺寸(5)7.3 探头绝缘电阻试验(5)7.4 计量性能(5)8 校准结果表达(8)9 校准周期(8)附录A 检测附件示意图(9)附录B 校准证书内页格式(1 0)附录C 静力触探仪测量结果不确定度评定示例(1 3)J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局引 言 本规范根据J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则、J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、J J F1 0 5 9.12 0 1 2 测量不确定度评定与表示规定的规则编写。本规范 在 制 订 过 程 中 充 分 考 虑 了J J G 3 9 12 0 0 9 力 传 感 器 检 定 规 程、G B/T1 2 7 4 52 0 0 7 土工试验仪器 触探仪、C E C S0 4:8 8 静力触探技术标准、Y S5 2 2 32 0 0 0 静力触探试验规程 、T B1 0 0 1 82 0 0 3 铁路工程地质原位测试规程有关静力触探仪的术语、符号与定义,以及相关的技术要求、技术指标和检验方法。本规范给出了静力触探仪计量特性的具体校准条件、校准项目和校准方法。本规范为首次发布。J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局静力触探仪校准规范1 范围本规范适用于电阻应变式静力触探仪测量系统(以下简称静力触探仪)的校准。2 引用文件本规范引用了下列文件:J J G3 9 12 0 0 9 力传感器检定规程G B/T1 2 7 4 52 0 0 7 土工试验仪器 触探仪C E C S0 4:8 8 静力触探技术标准Y S5 2 2 32 0 0 0 静力触探试验规程T B1 0 0 1 82 0 0 3 铁路工程地质原位测试规程凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3 术语3.1 静力触探仪 s t a t i cc o n ep e n e t r o m e t e r s以静压力将一定规格的锥形探头匀速地垂直压入土层,按其受到的阻力大小测定评价土层力学性能的土工原位试验仪器。注:本规范所指静力触探仪只针对测量系统。3.2 探头 p r o b e s直接与土层接触、具有规定形状、尺寸、质量和硬度的金属锥形体传感器。3.3 单桥探头 s i n g l eb r i d g ep r o b e s仅可用于测量锥头阻力(比贯入阻力)的传感器。3.4 双桥探头 d o u b l eb r i d g ep r o b e s可用于测量锥头阻力(静力触探端阻)和侧壁摩阻力(侧壁单位摩阻力)的传感器。3.5 孔压静力探头 p i e z o-c o n ep r o b e s简称孔压探头,在探头中另安装透水滤器及测量孔隙水压力的传感元件,可测试探头所受的锥头阻力、侧壁摩阻力和孔隙水压力的传感器。4 概述4.1 静力触探仪的工作原理及用途静力触探仪的探头匀速地垂直压入土层,受到土层阻力使探头测量元件变形,转化为电信号输出,再通过贯入阻力与土的工程地质特征之间的定性关系和统计相关关系,来实现取得土层剖面、提供浅基承载力、选择桩端持力层和预估单桩承载力等工程地质1J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局勘察目的。4.2 结构与分类静力触探仪由探头、探杆、测量仪表等组成。静力触探仪的探头按其结构和功能可分为单桥探头(图1)、双桥探头(图2)和孔压探头(图3)。图1 单桥探头1顶柱;2应变片;3弹性体;4探头筒;5密封圈;6电缆;7锥头图2 双桥探头1弹性体;2应变片;3摩擦筒图3 孔压探头1透水石;2孔压传感器;3弹性体;4应变片 a)单桥探头的结构见图4。图4 单桥探头示意图1锥头;2探杆b)双桥探头和孔压探头的结构见图5。图5 双桥探头和孔压探头示意图1锥头;2摩擦筒;3探杆2J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局5 计量特性5.1 外观静力触探仪探头外观应平整、光滑,无损伤及锈蚀,探杆应平直无弯曲。5.2 探头几何尺寸探头几何尺寸应符合表1、表2中的规定。表1 单桥探头主要规格投影面积A/c m2直径D1/mm基本尺寸公差锥角1侧壁长度L1/mm基本尺寸公差额定负荷/k N1 03 5.7+0.1 8 01 54 3.7+0.2 2 02 05 0.4+0.2 5 0(6 01)5 70.2 81 0,2 0,3 0,4 07 00.3 51 5,3 0,4 5,6 08 10.4 02 0,4 0,6 0,8 0表2 双桥探头和孔压探头主要规格投影面积A/c m2锥 头摩 擦 筒直径D1/mm基本尺寸公差圆柱部分长度L3/mm锥头与摩擦筒间距H/mm锥角1直径D2/mm长度L2/mm基本尺寸公差基本尺寸公差表面积S/c m2额定负荷/k N(锥头/侧壁)1 03 5.7+0.1 8 0451 54 3.7+0.2 2 0232 05 0.4+0.2 5 08(6 0 1)3 5.7+0.1 8 01 3 40.7 01 5 01 0/1.52 0/3.03 0/4.54 0/6.01 7 90.9 02 0 01 0/22 0/43 0/64 0/84 3.7+0.2 2 02 1 91.1 05 0.4+0.2 5 01 8 90.9 53 0 01 5/33 0/64 5/86 0/1 22 0/34 0/66 0/88 0/1 23J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局5.3 绝缘电阻探头绝缘电阻应大于5 0 0。5.4 静力触探仪计量性能具有力值单位显示功能的静力触探仪按表3中检测,其余类型按检测。表3 静力触探仪计量性能项 目技术要求直线度1.0%F S1.0%F S重复性1.0%F S1.0%F S滞后1.0%F S1.0%F S 注:1.以上所有技术要求不是用于符合性判别,仅提供参考。2.表3中,适用于其他类型的静力触探仪;适用于具有力值单位显示功能的静力触探仪。6 校准条件6.1 环境条件a)校准时环境条件应满足:(1 03 0),相对湿度8 0%。b)校准时周围应无影响校准的振动、电磁场或其他干扰源。6.2 校准用设备校准用标准器具和校准项目见表4。表4 校准用标准器具和校准项目序号标准器具技术特性校准项目1标准测力仪0.3级直线度、重复性滞后、示值误差2游标卡尺测量上限3 0 0mm分度值0.0 2mm3万能角度尺测量范围(03 2 0)分度值为5 探头几何尺寸4数字压力仪表(-0.11.6)MP a0.2级孔压指标的校准5绝缘电阻测试仪1 0级绝缘电阻6力加载装置 探头校准力的加载7 校准方法7.1 外观检查通过目测进行检查,应符合5.1的要求。4J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局7.2 探头尺寸用游标卡尺和万能角度尺分别测量探头的几何尺寸,测量结果应符合5.2的要求。7.3 探头绝缘电阻试验绝缘电阻测试仪选择电压5 0V或1 0 0V,分别与探头的电路及本体连接,测量二者之间的绝缘电阻,测量结果应符合5.3的要求。7.4 计量性能7.4.1 静力触探仪单桥探头7.4.1.1 锥头阻力校准a)正确连接静力触探仪的探头和测量仪表,预热(1 01 5)m i n,记录静力触探仪的零点输出值0。b)将专用上、下压头装在探头上,以确保负荷通过压头轴线,安全作用在探头上。上、下压头如附录A所示,上压头按图A.1加工,以便与探头紧密结合;下压头按图A.3加工,内螺纹设计保证探头垂直稳固放置,锁母开槽以避免电缆线受压。c)调整探头、校准框架和标准测力仪,使三者的中心线重合(参见图6)。图6 锥头阻力校准示意图图7 侧壁摩阻力校准示意图 d)施加三次预负荷,对于新探头,可多次预压到额定负荷以减少传感元件残余应力。根据静力触探仪探头的额定负荷确定校准最大负荷,在逐级加(卸荷)过程之中,应防止过载。e)仪表清零,沿探头受力轴线缓慢逐级加、卸荷,至各校准点保持稳定后记录相应进程示值,至测量上限后逐点递减卸除标准力值,至各校准点保持稳定后记取相应回程示值。该校准过程连续进行3次。校准初始负荷点为1 0%F S,校准点不少于5点,推荐为8点,各点应大致均匀分布。5J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局f)根据上述检定结果,直线度、重复性、滞后误差、示值误差技术指标按式(1)(4)计算(参见图8)。直线度:L=Lf1 0 0%(1)重复性:R=Rf1 0 0%(2)滞后:H=Hf1 0 0%(3)示值误差:=F-FsFn1 0 0%(4)式中:L 进程平均校准曲线与平均端点直线偏差的最大值,mV或k N、MP a;R 进程重复校准时各负荷点输出极差的最大值,mV或k N、MP a;H 回程平均校准曲线与进程平均校准曲线偏差的最大值,mV或k N、MP a;f 静力触探仪探头的额定输出值,mV或k N、MP a;F 具有力值单位显示功能静力触探仪的显示值,k N;Fs 施加的标准负荷值,k N;Fn 静力触探仪探头的额定负荷,k N。图8 静力触探仪探头校准曲线图6J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局7.4.2 静力触探仪双桥探头7.4.2.1 锥头阻力校准锥头阻力Qc校准方法同7.4.1。实际应用中多用静力触探端阻qc,考虑锥头的投影面积A,qc按式(5)计算:qc=QcA(5)7.4.2.2 侧壁摩阻力校准检测时卸除锥头与原套筒,把侧壁上压头装在探头上,负荷通过侧壁上压头作用在传力杆上(侧壁阻力示意图参见图7,侧壁摩阻力检测配件如图A.2所示)。静力触探仪双桥侧壁阻力Fs校准方法同7.4.1。实际应用中多用侧壁单位摩阻力fs,考虑双桥探头侧壁摩擦筒的表面积S,fs按式(6)计算:fs=FsS(6)7.4.2.3 锥头阻力和侧壁摩阻力的直线度、重复性、滞后、示值误差锥头阻力和侧壁摩阻力的直线度、重复性、滞后、示值误差的计算同式(1)式(4)。7.4.3 静力触探仪孔压静力探头7.4.3.1 锥头阻力和侧壁摩阻力的校准孔压探头的锥头阻力和侧壁摩阻力的校准步骤同7.4.2。7.4.3.2 孔压指标的校准对探头孔压传感器的校准要在安装有专门校准装置的饱和器中进行(参见图9)。图9 饱和器示意图1饱和液(水)容器;2饱和室;3探头;4真空管路;5真空压力表;6真空泵;7气压阀开关;8气源开关;9高压气瓶;1 0高压气接入管;1 1调压阀;1 2真空阀开关;1 3液(水)阀开关校准方法如下:1)将孔压探头安装在有专门校准装置的饱和器中进行饱和,饱和后不得将探头从7J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局容器中取出。将孔压静探头连接到真空饱和容器内,密封抽真空至约-0.1MP a,保持6 0m i n以上,然后以负压吸入无气液体(一般为脱气水),使透水滤器及其孔压传感器相连的通道充分饱和。2)连接好探头、电缆和测量仪表,同时将仪表示值调零。3)将探头放入密封容器并向密封容器内逐级加压,压力大小由数字压力表读出,并记录仪表读数。4)以0.1MP a开始逐级加压,一般不少于5点,最大压力不宜超过1MP a。然后逐级卸压至零,记录仪表读数。重复此步骤3次。5)有关技术指标的计算同式(1)式(4)。8 校准结果表达校准后,出具校准证书。校准证书至少应包含以下信息:1)标题:“校准证书”;2)实验室名称和地址;3)证书或报告的唯一性标识(如编号),每页及总页数的标识;4)送校单位的名称和地址;5)被校对象的描述和明确标识;6)进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时,应说明被校对象的接收日期;7)对校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;8)本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;9)校准环境的描述;1 0)校准结果及其测量不确定度;1 1)校准证书签发人的签名、职务或等效标识,以及签发日期。9 校准周期校准时间间隔由用户根据使用情况自行确定,建议复校时间为3个月。注:由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸因素所决定的,因此,送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。8J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局附录A检测附件示意图图A.1 锥尖上压头图A.2 侧壁上压头图A.3 下压头(开槽锁母底座)9J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局附录B校准证书内页格式B.1 静力触探仪单桥探头校准结果一、外观外观及常规要求:二、探头规格投影面积A/c m2额定负荷/k N项 目校准结果直径D1/mm锥角1/()侧壁长度L1/mm三、静力触探仪单桥探头的校准试验力()进程示值()回程示值()备 注L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=绝缘电阻():下次校准需带此证书01J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局B.2 静力触探仪双桥探头校准结果一、外观及常规要求:二、探头规格投影面积A/c m2额定负荷/k N项 目校准结果项 目校准结果直径D1/mm直径D2/mm圆柱部分长度L3/mm长度L2/mm锥头与摩擦筒间距H/mm表面积S/c m2锥角1/()三、静力触探仪双桥探头的校准锥 头 阻 力侧 壁 摩 阻 力试验力()进程示值()回程示值()备 注试验力()进程示值()回程示值()备 注锥头阻力侧壁摩阻力L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=绝缘电阻():下次校准需带此证书11J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局B.3 静力触探仪孔压探头校准结果一、外观及常规要求:二、探头规格投影面积A/c m2额定负荷/k N项 目校准结果项 目校准结果直径D1/mm直径D2/mm圆柱部分长度L3/mm长度L2/mm锥头与摩擦筒间距H/mm表面积S/c m2锥角1/()三、静力触探仪孔压探头的校准锥 头 阻 力侧 壁 摩 阻 力孔 隙 水 压 力试验力()进程示值()回程示值()备 注试验力()进程示值()回程示值()备 注压力()进程示值()回程示值()备 注L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=L(%F S)=;R(%F S)=H(%F S)=;(%F S)=绝缘电阻():下次校准需带此证书21J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局附录C静力触探仪测量结果不确定度评定示例C.1 静力触探仪静力触探端阻测量结果的不确定度评定C.1.1 概述C.1.1.1 测量方法:J J F1 4 3 92 0 1 3 静力触探仪校准规范。C.1.1.2 环境条件:温度:(1 03 0),相对湿度8 0%。C.1.1.3 测量标准:0.3级标准测力仪。C.1.1.4 被测对象:静力触探仪。C.1.1.5 测量过程:用0.3级标准测力仪测量静力触探仪锥头阻力,根据静力触探仪投影面积,计算静力触探仪静力触探端阻。C.1.1.6 评定结果的使用:符合上述条件下的测量,一般可参照本评定方法。C.1.2 测量模型在锥头阻力Qc校准时,考虑锥头的投影面积A,实际应用的是静力触探端阻qc,按下式计算:qc=QcA 式中:qc 静力触探端阻;Qc 锥头总阻力;A 锥头投影面积。C.1.3 标准不确定度分量的评定C.1.3.1 输入量Qc的不确定度输入量Qc的不确定度主要是由测量的重复性和标准测力仪的准确度引起的。两者独立互不相关,前者以A类方法进行评定,后者可以由标准测力仪的证书以B类方法评定。C.1.3.1.1 选取一个S Q-1 0 Y静力触探仪为试验对象(其A=1 0c m2),在重复性条件下对静力触探仪锥头施加载荷4MP a,测量3次,得到Qc如表C.1所示。表C.1 测量值序号(i)123Qc示值/k N4.0 0 54.0 1 34.0 0 9 取3次测量平均值,则:Qc=4.0 0 9k N。单次试验标准差以极差法计算(系数C=1.6 9):s=0.0 0 8k N/1.6 9=0.0 0 47k N。由于在实际测量中Qc测量3次,因此,u1=s13=0.0 0 27k N。C.1.3.1.2 由标准测力仪引入的不确定度,估计为均匀分布,因准确度引入的不确定31J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局度分量为:u2=0.3%4k N3=0.0 0 69k NC.1.3.1.3 输入量Qc的标准不确定度u(Qc)的评定u(Qc)=u21(Qc)+u22(Qc)=0.0 0 272+0.0 0 692k N=0.0 0 74k NC.1.3.2 输入量A的不确定度u(A)的评定其不确定度主要来源于表2双桥探头直径D1公差导致投影面积产生的允差。双桥探头直径D1的基本尺寸为3 5.7mm,下偏差为0mm,上偏差为+0.1 8mm,由此产生投影面积的下偏差为0.0 0c m2,上偏差为=(3.5 8 82-3.5 72)4=0.0 1c m2,估计为均匀分布,其引入的不确定度分量为:u(A)=k=0.0 0 53c m2=0.0 0 29c m2C.1.4 合成标准不确定度评定C.1.4.1 灵敏系数由测量模型qc=QcA得:灵敏系数为:c1=qcQc=1A=0.1c m-2c2=qcA=-QcA2=-4.0 0 91 0-2k N/c m4C.1.4.2 标准不确定度汇总标准不确定度汇总见表C.2。表C.2 标准不确定度汇总表分量u(xi)不确定度来源标准不确定度ci|ciu(xi)ciu(xi)%u(Qc)测量的重复性以及标准测力仪的准确度0.0 0 74k N0.1c m-20.0 0 74MP a0.1 9u(A)最大允许误差0.0 0 29c m2-4.0 0 91 0-2k N/c m40.0 0 12MP a0.0 3C.1.4.3 合成标准不确定度的计算由于各输入量彼此独立,互不相关,因此:u2c(qc)=c1u(Qc)2+c2u(A)2uc(qc)=0.1 9%C.1.5 扩展不确定度的评定取包含因子k=2,则Ur e l=kuc=0.4%41J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局C.1.6 测量结果不确定度的报告与表示静力触探仪静力触探端阻在4MP a检测点的测量结果扩展不确定度为Ur e l=0.4%,k=2。C.2 静力触探仪侧壁探头侧壁单位摩阻力测量结果的不确定度评定C.2.1 概述C.2.1.1 测量方法:J J F1 4 3 92 0 1 3 静力触探仪校准规范。C.2.1.2 环境条件:温度:(1 03 0),相对湿度8 0%。C.2.1.3 测量标准:0.3级标准测力仪。C.2.1.4 被测对象:静力触探仪。C.2.1.5 测量过程:用0.3级标准测力仪测量静力触探仪侧壁阻力,根据静力触探仪摩擦筒的表面积,计算静力触探仪侧壁单位摩阻力。C.2.1.6 评定结果的使用:符合上述条件下的测量,一般可参照本评定方法。C.2.2 测量模型在静力触探仪双桥侧壁阻力Fs校准时,考虑双桥探头侧壁摩擦筒的表面积S,实际应用的是侧壁单位摩阻力fs,按下式计算:fs=FsS 式中:fs 探头侧壁单位摩阻力;Fs 双桥探头侧壁阻力;S 双桥探头侧壁摩擦筒的表面积。C.2.3 标准不确定度分量的评定C.2.3.1 输入量Fs的不确定度u(Fs)主要是由测量的重复性和标准测力仪的准确度引起的。两者独立互不相关,前者可以A类方法进行评定,后者可以由标准测力仪的证书以B类方法评定。C.2.3.1.1 选取一个S Q-1 0 Y静力触探仪为试验对象(其S=2 0 0c m2),在重复性条件下对静力触探仪双桥探头侧壁施加至1 0 0k P a,测量3次,得到Fs如表C.3所示。表C.3 测量值序号(i)123Fs示值/k N2.0 0 01.9 9 82.0 0 2 取3次测量平均值,则:Fs=2.0 0 0k N。单次试验标准差以极差法计算(系数C=1.6 9):s=0.0 0 4k N/1.6 9=0.0 0 24k N。由于在实际测量中Fs测量3次,因此,u1(Fs)=s13=0.0 0 14k N。C.2.3.1.2 由标准测力仪引入的不确定度,估计为均匀分布,因准确度引入的不确定度分量为:u2(Fs)=0.3%2k N3=0.0 0 35k N51J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局C.2.3.1.3 输入量Fs的标准不确定度u(Fs)的评定:u(Fs)=u21(Fs)+u22(Fs)=0.0 0 142+0.0 0 352k N=0.0 0 38k NC.2.3.2 输入量S的不确定度u(S)的评定其不确定度主要来源于表2双桥探头摩擦筒直径D2公差和摩擦筒长度公差导致表面积产生的允差。双桥探头直径D2的基本尺寸为3 5.7mm,下偏差为0mm,上偏差为+0.1 8mm;摩擦筒长度的基本尺寸为1 7 9mm,下偏差为-0.9 0mm,上偏差为+0.9 0mm;由此产生投影面积的下偏差为:(3.5 7 1 7.8 1-3.5 7 1 7.9)=-1c m2,上偏差为(3.5 8 81 7.9 9-3.5 71 7.9)=+2c m2,估计为均匀分布,其引入的不确定度分量为:u(S)=k=2-(-1)c m22 3=0.8 7c m2C.2.4 合成标准不确定度的评定C.2.4.1 灵敏系数由测量模型fs=FsS得:灵敏系数为:c1=fsFs=1S=0.0 0 5c m-2c2=fsS=-FsS2=-0.51 0-4k N/c m4C.2.4.2 标准不确定度汇总标准不确定度汇总见表C.4。表C.4 标准不确定度汇总表分量u(xi)不确定度来源标准不确定度ci|ciu(xi)ciu(xi)%u(Fs)测量的重复性以及标准测力仪的准确度0.0 0 38k N0.0 0 5c m-20.1 9k P a0.1 9u(S)最大允许误差0.8 7c m2-0.51 0-4k N/c m40.4 3 5k P a0.4 4C.2.5 合成标准不确定度的计算由于各输入量彼此独立,互不相关,因此:u2c(qc)=c1u(Qc)2+c2u(S)2uc(qc)=0.4 8%C.2.6 扩展不确定度的评定取包含因子k=2,则Ur e l=kuc=1.0%。C.2.7 测量结果不确定度的报告与表示静力触探仪双桥侧壁探头侧壁单位摩阻力在1 0 0k P a检测点的测量结果扩展不确定61J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局度为Ur e l=1.0%,k=2。C.3 静力触探仪孔压探头压力误差测量结果的不确定度评定C.3.1 概述C.3.1.1 测量方法:J J F1 4 3 92 0 1 3 静力触探仪校准规范。C.3.1.2 环境条件:温度:(1 03 0),相对湿度8 0%。C.3.1.3 测量标准:0.2级精密压力表,测量范围:(-0.11.6)MP a。C.3.1.4 被测对象:静力触探仪孔压探头。C.3.1.5 测量过程:将孔压静探头连接到真空饱和容器内,密封抽真空6 0m i n以上,抽真空-0.1MP a,然后以负压吸入无气液体(一般为脱气水),使透水滤器及其孔压传感器相连的通道充分饱和。对探头逐级加压,记录仪表读数,然后逐级卸荷,记录仪表读数,重复测量3次。C.3.1.6 评定结果的使用:符合上述条件下的测量,一般可参照本评定方法。C.3.2 测量模型P=P-P0 式中:P 压力误差,MP a;P 静力触探仪孔压探头指示装置示值平均值,MP a;P0 精密数字压力表示值,MP a。C.3.3 灵敏系数c1=PP=1c2=PP0=-1C.3.4 标准不确定度分量的评定C.3.4.1 输入量P的标准不确定度u(P)的评定其不确定度来源主要是测量重复性引入的不确定度u1(P),可以A类方法评定u1(P);还来源于指示仪器分辨力,它估计为均匀分布,可以用B类方法评定u2(P),依据J J F1 0 5 9.12 0 1 2的规定,重复观测中的任意一个示值都无例外地受到分辨力影响导致测量值的分散。因此,计算u(P)只需取u1(P)和u2(P)的大者即可。选取一量程为1MP a的静力触探仪孔压探头,对0.2 MP a校准点进行3次测量,得到测量列如表C.5所示。表C.5 测量值序号(i)123测量值P/MP a0.2 0 00.2 0 00.2 0 2 取3次测量平均值:P=0.2 0 07MP a。单次实 验 标 准 偏 差 以 极 差 法 计 算(系 数C=1.6 9):s=0.0 0 2 MP a/1.6 9=0.0 0 12MP a。J J F1 4 3 92 0 1 3市场监管总局市场监管总局J J F1 4 3 92 0 1 3 由于在实际测量中P测量3次,因此,u1(P)=s3=0.0 0 07MP a,u2(P)=k=0.0 0 053=0.0 0 03MP a。则:u(P)=u1(P)=0.0 0 07MP aC.3.4.2 输入量P0的标准不确定度u(P0)的评定其主要来源为精密数字压力表的准确度,可根据其证书以B类方法进行评定。0.2级精密数字压力表在0.2MP a点的最大允许误差为0.0 0 32MP a,估计为均匀分布,其引入的不确定度分量为:u(P0)=k=0.0 0 18MP aC.3.5 合成标准不确定度的评定C.3.5.1 标准不确定度汇总标准不确定度汇总见表C.6。表C.6 标准不确定度汇总表分量u(xi)不确定度来源标准不确定度分量/MP au(P)静力触探仪孔压探头示值的重复性0.0 0 07u(P0)证书给出的精密数字压力表的准确度0.0 0 18C.3.5.2 合成标准不确定度的计算输入量P与P彼此独立,不相关,所以u(P)=0.0 0 20MP aC.3.6 扩展不确定度的评定取包含因子k=2,则U=kuc=0.0 0 4MP a。C.3.7 扩展不确定度的报告与表示静力触探仪孔压探头示值在0.2M P a检测点的测量结果扩展不确定度为U=0.0 0 4M P a,k=2。市场监管总局市场监管总局