资源描述
300mm工件TOFD检测工艺
一、编制依据:
1、JB/T 4730.10《承压设备无损检测 衍射时差法超声检测》;
2、本单位相关检测技术文件。
二、被检工件基础情况
设备名称及
单位内编号
设备类别
Ⅲ
设备规格
300mm
主体材质
16MnR
工作介质
设备状态
在制
接头型式
对接接头
坡口型式
U型坡口
焊接方法
埋弧自动焊
焊后热处理
检测部位
检测百分比
100%
三、检测设备器材:
1、仪器:*********
2、探头规格及楔块角度
序号
探头频率
探头直径
楔块角度
1
7.5
3
60
2
5
6
60
3
5
8
55
4
3
12
45
5
3
12
45
3、扫查装置:手动单轴扫查器,带滚轮编码器
4、对比试块:300mm比试块。
四、检测人员:
1、从事TOFD检测人员应根据质检特函【】402号文要求最少含有UTII级资格4年以上(含4年)或UTIII级,同时其操作技能经全国无损检测考评委员会考评合格。
2、检测人员应熟悉所使用检测设备;
3、检测人员应熟悉相关标准法规,含有实际检测经验并掌握一定压力容器结构及制造基础知识;
五、检测准备:
1、确定检测区域
检测区域应包含焊缝熔合线两侧各50mm区域;
画线:在焊缝两侧50mm位置各画一条线,每间隔一米做一条扫查标识线。
2、扫查面准备:
焊缝每侧打磨宽度为245mm(依据PCS)应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。检测表面应平整,其表面粗糙度Ra值不低于6.3um,通常应进行打磨。
要求去除余高焊缝,应将余高打磨到和邻近母材平齐;保留余高焊缝,假如焊缝表面有咬边、较大隆起和凹陷等也应进行合适修磨,并作圆滑过渡以免影响检测结果评定。
3、耦合剂:水或机油。
4、检测温度:20-30℃。
六、检测设置和校准
1、探头选择和设置:
通道
深度范围
(mm)
标称频率
(MHz)
声束角度
( °)
晶片直径
(mm)
PCS
(mm)
1
0-40
7.5
60
3
93
2
40-90
5
60
6
254
3
90-150
5
55
8
372
4
150-225
3
45
12
400
5
225-300
3
45
12
500
将探头固定在扫查装置上,安装位置传感器,连接它们和仪器间线缆并开机。
2、仪器初调
选择A扫描RF波形和TOFD显示模式等。
设置1: 标称频率7.5M, 晶片直径Φ3mm, 声速角度60°,
扫查区域 0-40mm(应扫查0-53实际扫查0-74mm)
PROBES : Probe / 7.50 MHz. / 60°L / PCS = 93 mm
设置2: 标称频率5M, 晶片直径Φ6mm, 声速角度60°,
扫查区域: 40-90mm(应扫查30-105、实际扫查21-154)
PROBES : Probe / 5MHz. / 60°L / PCS =254
设置3: 标称频率5M, 晶片直径Φ8mm, 声速角度55°,
扫查区域: 90-150mm(应扫查77-169、实际扫查74-209mm)
PROBES : Probe / 5 MHz. / 55°L / PCS =372mm
设置4: 标称频率3M, 晶片直径Φ12mm, 声速角度45°,
扫查区域: 150-225mm(应扫查135-244、实际扫查129-309mm)
PROBES : Probe / 3MHz. / 45°L / PCS =400 mm
设置5: 标称频率3M, 晶片直径Φ12mm, 声速角度45°,
扫查区域: 225-300mm(应扫查206-300、实际扫查162-300mm)
PROBES : Probe / 3 MHz. / 45°L / PCS =500 mm(底面±50mm)
3、设置A扫描时间窗口
通道1:起始为直通波抵达探头前1µs,终止为54mm;
通道2:(30—105mm)
通道3:(77—169mm)
通道4:(135—244mm)
通道5:(206—300mm)窗口宽度设置为底面一次反射波抵达接收探头后1µs。
4、选择适宜探头激发电压
调整探头激发电压,观察不一样电压值下A扫描信号幅度情况,确定适合电压值。
5、校准超声波在探头楔块中传输时间和深度;
在试块上校验时应确保深度测量误差小于厚度(1%*300)=3.0mm。
6、设置灵敏度:
找到各区对应对比试块中侧孔信号,将其中较弱衍射信号波幅设置为满屏高40%-80%,并在工件表面扫查时提升增益4dB作为表面耦合赔偿。
7、设置扫查增量:
设定为1mm。
8、校准位置传感器:
选择编码器驱动模式、设定传感器编码型号,移动比较检测设备所显示位移和实际位移之差值,其误差应小于1 %;
9、保留设置文件。
七、检测
1、将设置好扫查架置于焊缝之上,检验A扫描时间窗口和灵敏度是否改变;
2、扫查次数和方法选择:
(1)扫查方法:非平行扫查。
(2)扫查次数:第5通道探头设置,其底面覆盖区域为焊缝中心线两侧各50mm,可满足检测区域要求。即5通道同时扫查1次,或采取5种设置各扫查1次。
各分区A扫描时间窗口在深度方向覆盖相邻检测分区在厚度方向上全部大于25%;
依据检测区域要求,单次非平行扫查不覆盖底面200mm检测区域要求;
3、每次扫查1米,第二段扫查时重合200mm。
4、检测过程中亲密注意波幅改变情况和是否有数据丢失现象。
5、数据保留。
6、按要求进行系统复核。
八、数据分析和解释
1、判定数据有效性;
2、判定是否存在相关显示;
3、对相关显示进行分类:表面开口型缺点显示、埋藏型缺点显示和难以分类显示。
4、相关显示测量:
长度(X轴起始位置)、高度。
九、其它补充检测
1、对于底面所发觉表面可疑部位和扫查面应根据JB/T4730.4标准进行磁粉检测和处理;
2、对于发觉内部难以判定可疑部位根据JB/T4730.3进行超声检测和处理。
十、缺点评定和质量分级
1、分析相关显示缺点性质,如可判定缺点类型为危害性表面开口缺点或裂纹、未熔合等危害性埋藏缺点时,评为III级,同时测量其Y轴位置;
2、依据4730.10对相关显示进行评定和分级,同时对评定为III(Ⅱ)级缺点测量其Y轴位置。
3、对III(Ⅱ)级缺点出具缺点返修通知单。
十一、检测过程质量控制
检测过程质量控制严格按CBPVI/QM-2-18《检测检验过程控制程序》进行。
十二、检测统计及汇报
1、检测人员应根据 单位质量体系文件*******《统计填写规则》要求现场填写检测统计。
2、采取国家相关法规和标准、 单位质量体系文件要求汇报格式。
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