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(word完整版)光学冷加工光圈的识别及光胶上盘
光学冷加工光圈的识别
在抛光的过程中，须用光学样板检查工件的面形精度－－光圈。因此,正确的判断光圈的高低程度及局部误差的性质,对于修改工件面形偏差是非常重要的。所谓高光圈，是指样板与工件中心接触，低光圈是指样板与工件边缘接触。并规定：高光圈（凸）为正偏差,低光圈（凹）为负偏差。 {1 6ySfB
1 高低光圈的识别 d- `CP/ `
(1)按压法 根据手持样板按压时干涉条纹移动方向,判断光圈的高低。 L8y＄LLN
低光圈:条纹从边缘向中心收缩。 j＆WVU+Iy
高光圈：条纹从中心向边缘扩散. P0_DVlSu2
（2)点压法 在光圈数少的情况下，可在样板的一侧施加压力，此时的判断为： *y N L`
低光圈：条纹的弯曲中心和移动方向一致. ；F0" ’h
高光圈:条纹的弯曲中心和移动方向相反。 c+ B6C＄q
(3)色序法 在白光下观察时，也可按光圈颜色的序列来识别高低光圈，但不能判断光圈数。 "J4pbfP^
低光圈：从中心到边缘的颜色序列为蓝 红 黄 ＄ i0（boJ
高光圈：从中心到边缘的颜色序列为黄 红 蓝 M+<603'J
2 光圈的度量 (B—II N2nB
(1）当光圈数N>1时，以有效检验范围内直径方向上最多光圈数的一半来度量,根据光圈数可以确定空气隙的大小。用汞灯绿色光作为光源,这时每道圈对应的间隙可近似认为等于0.25微米，即四道圈约为1微米。若采用氦氖激光作为单色光源，则每一圈约为0。316微米，即三道圈近似1微米。 CVRuAN+qr
生产上以自然光作为光源，一般以红色光圈计数较为方便，即表面上有几道红色光圈,就为几道光圈. 〈`W #40^
（2）当光圈数N<1时，对于大曲率半径球面或平面，通常以通过直径方向上干涉条纹的弯曲量（h)相对于条纹的间距（H)的比值（N）来度量,光圈数N=h/H ＠A X（K〉lp
对于较小曲率半径的球面，一般是按光斑的大小与颜色的差异来估算的。在自然光的照明下，当边缘接触，其颜色为灰白色时，则可根据中间颜色按绿黄到淡黄来确定光圈数。 7\Jr7~
3 象散偏差的识别与度量 kCBZ〉> +
被检光学表面在两个相互垂直方向上光圈数不等所产生的偏差，被称为象散偏差 Ak.#Al＠d
4 局部偏差的识别与度量 hkH；pdBh
被检光表面在任一方向上光圈的局部不规则的程度，称为局部偏差
光胶上盘简介
光胶是利用两个抛光面紧密贴合后分子引力的作用，将零件固定在光学工具上的一种方法。它适用于高精度的玻璃平板、棱镜等的加工。 =H &m＃
一、光学工具 YPO］ `， J
生产中常用的光学工具有光胶垫板、长方体、立方体和角度垫板等。 yea9CleI/
利用光学工具光胶零件是根据该工具的角度与零件的角度互补成180度后，又利用光胶垫板与被加工面成一对平行平面的原理，加工中依靠控制其平行差来保证零件的精度，平板零件可直接光胶在光胶垫板上加工. 6 GgzNg
二、光胶工艺过程 Yy \:nGw G
1）先用航空汽油再用无水乙醇擦净零件和光学工具的光胶面,用松鼠毛刷掸去灰尘； I〈IBHz w
2)将长方体放在玻璃垫板上轻轻移动几下,使其有良好的接触.然后将棱镜推到长方体的一侧，使两个光胶面接触并能看到清楚的光圈时，方可适当地按压两者，以排除空气,达到光胶。再以同样的方法在长方体另一侧光胶上棱镜.同理，对立方体则可在四个侧面光胶零件； PuK)q7＊1
3）用刀口尺或平面样板检查平面度。当用刀口尺检查时，允许中间或边部微弱透光，但不能有错扭或较大的缝隙;当用样板检查时（一般是返工件或光玻璃），看到的光圈应分布均匀，否则须重新光胶； （uX`Ol
4）光胶合格后，在不加工的光胶面周围涂上保护漆; `UP^i@>
5）将胶好零件的长方体、立方体或角度垫块均匀、对称地光胶到光胶垫板上，并在光胶面周围涂上保护漆，以防止在加工过程中浸水脱胶。 wq16 $5
三、光胶注意事项 o ～〉 ％ yO
1）光胶工房应保持高度的清洁，室温最好保持在22正负2摄氏度，相对湿度百分之60，室内气压应比室外高； _ ＠ Qk6’
2）相互光胶的两个面应为低光圈且小于0。5，或正负光圈配对的总和少于一道低光圈也可。光胶面面形误差太大，不仅影响光胶的机械强度，而且影响被加工面的面形精度,如果光胶面光圈太低，下盘后加工面光圈易变高，零件表面光圈的变化会影响其平行度和角度精度； WgL［C！^RA
3)利用长方体、立方体光胶棱镜前，棱镜被加工角度的公差应小于2分； Z`＄＠ ]CZ
4）玻璃垫板的表面光洁度应达到5级，光圈低1-—2道。 r.7〉6w5Bf
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光学冷加工工艺资料介绍
e 1q1. 抛光粉 Ijhk(_：1/
1。1 对抛光粉的要求 W]G：k!d=）
a. 颗粒度应均匀，硬度一般应比被抛光材料稍硬; riT@}lAd
b. 抛光粉应纯洁，不含有可能引起划痕的杂质; TKC -Om＆
c. 应具有一定的晶格形态和缺陷,并有适当的自锐性； 。Uw8f。q4%
d。 应具有良好的分散性和吸附性； k_*FR
e. 化学稳定性好，不致腐蚀工件。 }}&；〈n〈9
1.2 抛光粉的种类和性能 AfDL”1 Z
常用的抛光粉有氧化铈（CeO2)和氧化铁(FeO3）。 c_＄n50R
a. 氧化铈抛光粉 颗粒呈多边形，棱角明显，平均直径约2微米，莫氏硬度7～8级，比重约为7。3。由于制造工艺和氧化铈含量的不同，氧化铈抛光粉有白色（含量达到98％以上)、淡黄色、棕黄色等。 s4Qa X=p&
b。 氧化铁抛光粉 俗称红粉，颗粒呈球形，颗粒大小约为0。5～1微米，莫氏硬度4~7级，比重约为5。2。颜色有从黄红色到深红色若干种。 nZ p7g
综上所述，氧化铈比红粉具有更高的抛光效率，但是对表面光洁度要求高的零件，还是使用红粉抛光效果较好。 ＊e=i$xLT
2. 抛光模层（下垫）材料 1，`Z.-%E
常用的抛光模层材料有抛光胶和纤维材料。 <aZl A？
2.1 抛光胶 d:SZm"0
抛光胶又名抛光柏油,是由松香、沥青以不同的组成比例配制而成，用语光学零件的精密抛光。 R+29^
2.2 纤维材料 ＆2&I＆_-s
在光学工件的抛光中，若对抛光面的面形精度（光圈）要求不高时，长采用呢绒、毛毡及其它纤维物质作为抛光模层的材料. H_i〈AE;〈
3。 常用测试仪器 6L\T!y｝TO
光学零件的某些质量指标，如透镜的曲率半径、棱镜的角度，需要用专门的测试仪器来测量。常用的仪器有：光学比较侧角仪、激光平面干涉仪、球径仪和刀口仪等. Om(04w＠t
4。 抛光 <1|* 2：inT
在抛光过程中添加抛光液要适当。太少了参与作用能够的抛光粉颗粒减少,降低抛光效率.太多了，有些抛光粉颗粒并不参与工作,同时也带来大量液体使玻璃边面的温度下降，影响抛光效率.抛光液的浓度也要适当，浓度太低，即水分太多，参与工作的抛光粉颗粒减少并使玻璃表面温度降低，因此降低抛光效率。浓度太高，即水分带少，影响抛光压力，抛光粉不能迅速散步均匀,导致各部压力不等，造成局部多磨，对抛光的光圈（条纹）质量有影响。而且单位面积压力减少，效率降低,抛光过程中产生的碎屑也不能顺利排除,使工件表面粗糙。一般是开始抛光时抛光液稍浓些,快完工时，抛光液淡些，添加次数少些,这有利于提高抛光效率和光洁度。另外，一般认为抛光液的酸度（pH值）应控制在6～8之间，否则玻璃表面会被腐蚀，影响表面光洁度. ］nVyUx％〉|
在抛光过程中检查光圈(条纹）时,如不合格,可以通过调整抛光机的转速和压力、工件与模具（抛光机下盘）的相对速度、相对位移、摆速和羞怯抛光模层等方法进行修改。 9％0hs8c＄Q
a。 提高主轴转速，能增加边缘部位与上模接触区域的抛光强度。经验证明，若速度过高，抛光表面温度升高,从而使抛光模层硬度降低，影响修改光圈(条纹)的效果. O4～>n+iR`
b。 增加荷重以加大压力时，可提高整个抛光模和工件间接触区域的抛光强度,也将使抛光表面的温度升高，降低抛光模层的硬度。 `kCKw ’：］
c. 加大铁笔（上盘主轴）的位移量，可使上盘的中间部位和下盘的边缘部位同时得到修整。 hzSW9+^O
d. 加大摆幅长度，增加摆轴速度会使上盘的中间部位和下盘的边缘部位加速抛光. z^f—XSD
e. 刮槽是减少开槽部分的压力承受面和摩擦面，因此抛光下盘在开槽部分的抛光效力降低。反之,未开槽部分的抛光效力有所增大.均匀开槽时，能使抛光下盘的流动性适合与工件表面的曲率。同时，既能使抛光液含量增加,容易渗入抛光下盘面而增加抛光效力，又能减轻抛光机传动负荷。 8 q4 gp1
综上所述，为了控制和稳定抛光条件，工作场地应保持较为稳定的温度(25°C左右)和湿度(相对湿度为60～70％）。
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