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实验一 8位算术逻辑运算实验一、实验目1、掌握算术逻辑运算器单元ALU（74LS181）工作原理。2、掌握简朴运算器数据传送通路构成原理。3、验证算术逻辑运算功能发生器74LSl8l组合功能。4、按给定数据，完毕实验指引书中算术逻辑运算。二、实验内容1、实验原理实验中所用运算器数据通路如图1.1所示。其中运算器由两片74LS181以并串形成8位字长ALU构成。运算器输出通过一种三态门74LS245 （U33）到ALUO1插座，实验时用8芯排线和内部数据总线BUSD0D7插座BUSl6中任一种相连，内部数据总线通过LZDOLZD7显示灯显示；运算器两个数据输入端分别由二个锁存器74LS273（U29、U30）锁存，两个锁存器输入并联后连至插座ALUBUS，实验时通过8芯排线连至外部数据总线EXD0D7插座EXJlEXJ3中任一种；参加运算数据来自于8位数据开并KD0KD7，并通过一三态门74LS245（U51）直接连至外部数据总线EXD0EXD7，通过数据开关输入数据由LD0LD7显示。 图1.1中算术逻辑运算功能发生器74LS18l（U3l、U32）功能控制信号S3、S2、Sl、S0、CN、M并行相连后连至SJ2插座，实验时通过6芯排线连至6位功能开关插座UJ2，以手动方式用二进制开关S3、S2、S1、S0、CN、M来模仿74LSl8l（U31、U32）功能控制信号S3、S2、S1、S0、CN、M；其他电平控制信号LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB以手动方式用二进制开关LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB来模仿，这几种信号有自动和手动两种方式产生，通过跳线器切换，其中ALUB、SWB为低电平有效，LDDRl、LDDR2为高电平有效。另有信号T4为脉冲信号，在手动方式下进行实验时，只需将跳线器J23上T4与手动脉冲发生开关输出端SD相连，按动手动脉冲开关，即可获得实验所需单脉冲。2、实验接线本实验用到4个重要模块：（1）低8位运算器模块（2）数据输入并显示模块（3）数据总线显示模块（4）功能开关模块（借用微地址输入模块）。依照实验原理详细接线如下：（1）ALUBUS连EXJ3；（2）ALU01连BUSl；（3）SJ2连UJ2； （4）跳线器J23上T4连SD； （5）LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB四个跳线器拨在左边(手动方式)；（6）AR跳线器拨在左边，同步开关AR拨在“1”电平。3、实验环节（1）连接线路，仔细查线无误后，接通电源。（2）用二进制数码开关KD0KD7向DRl和DR2寄存器置数。办法：关闭ALU4输出三态门(ALUB=1)，启动输入三态门(SWB=0)，输入脉冲T4按手动脉冲发生按钮产生。设立数据开关详细操作环节图示如下：LDDR1=1LDDR2=0T4= 数据开关置数开输入三态门数据存入寄存器DR1ALUB=1SWB=0KD7KD000110101数据开关置数开输入三态门数据存入寄存器DR2ALUB=1SWB=0LDDR1=0LDDR2=1T4= KD7KD001001000阐明：LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB四个信号电平由相应开关LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB给出，拨在上面为“1”，拨在下面为“0”，电平值由相应显示灯显示，T4由手动脉冲开关给出。 （3）检查DRl和DR2中存入数据与否对的，运用算术逻辑运算功能发生器74LSl 8l逻辑功能进行验算，即M=1。详细操作如下：关闭数据输入三态门SWB=1，打开ALU输出三态门ALUB=0，当置S3、S2、S1、S0、M为11111时，总线批示灯显示DR1中数，而置成10101时总线批示灯显示DR2中数（4）验证74LSl81算术运算和逻辑运算功能（采用正逻辑）在给定DRl35、DR2=48状况下，变化算术逻辑运算功能发生器功能设立，观测运算器输出，填入实验报告表中，并和理论分析进行比较、验证。三、实验电路本实验中使用运算器数据通路如图1.1所示。四、74LS181功能表实验中用到运算器74LS181功能表如表1.1所示。表1.1 运算器74LS181功能表（正逻辑）4位ALUS3 S2 S1 S0（算数运算）（逻辑运算）n=1无进位n=0有进位0 0 0 00 0 0 10 0 1 00 0 1 10 1 0 00 1 0 10 1 1 00 1 1 11 0 0 01 0 0 11 0 1 01 0 1 11 1 0 01 1 0 11 1 1 01 1 1 1F=AF=A+BF=A+BF=减1F=A加（A*B）F=（A+B）加（A*B）F=A减B减1F=（A*B）减1F=A加A*BF=A加BF=（A+B）加A*BF=A*B减1F=A加AF=（A+B）加AF=（A+B）加AF=A减1F=A加1F=（A+B）加1F=（A+ B）加1F=0F=A加（A*B）加1F=(A+B)加(A* B)加1F=A减BF=（A*B）F=A加A*B加1F=A加B加1F=(A+ B)加A*B加1F=A*BF=A加A加1F=(A+B)加A加1F=(A+ B)加A加1F=AF= AF=（A+B）F= A*BF=0F= (A*B)F= BF=(AB)F=(A* B)F= A+BF= (AB)F=BF=A*BF=1F=A+BF=A+BF=A其中：“+”表达或运算；“*”表达与运算；“”表达异或运算图1.1 运算器数据通路五、实验数据1、实验数据记录加数1 DR1加数2DR2S3S2 S1S0M0（算术运算）M1（逻辑运算）Cn=1无进位Cn=0有进位35480000000100100011010001010110011110001001101010111100110111101111FF F FF F FFFF F F F F F F FF F F F F F F F F F F F F F F FFFFFFF F F F F F F F F F 加数1DR1加数2DR2S3S2 S1S0M0（算术运算）M1（逻辑运算）Cn=1无进位Cn=0有进位354800000001010101111011110011011111F（35）F（7D）F（B2）F（34）F（FF）F（6A）F（B2） F（34） F（36）F（7E）F（B3） F（35） F（00）F（6B） F（B3）F（35）F（CA）F（82）F（B7）F（35） F（00） F（FF）F（B7）F（35）2、 理论计算成果 六、思考题1、在向DR1和DR2寄存器置数时S3、S2、S1、S0、M、Cn如何设立？2、DR1置数完毕后，如果不关闭控制端，LDDR1会如何？3为什么在读取74LS181输出成果时要打开输出三态门控制端ALUB ？实验二 带进位控制8位算术逻辑运算实验一、实验目1、验证带进位控制算术逻辑运算发生器74LSl8l功能。2、按指定数据完毕几种指定算术运算。 二、实验内容1、实验原理带进位控制运算器实验原理如图2.1所示，在实验一基本上增长进位控制某些，其中高位74LS181（U31）进位CN4通过门UN4E、UN2C、UN3B进入UN5B输入端D，其写入脉冲由T4和AR信号控制，T4是脉冲信号，在手动方式下进行实验时，只需将跳线器J23上T4与手动脉冲发生开关输出端SD相连，按动手动脉冲开关，即可获得实验所需单脉冲。AR是电平控制信号（低电平有效），可用于实现带进位控制实验。从图中可以看出，AR必要为“0”电平，D型触发器74LS74（UN5B）时钟端CLK才有脉冲信号输入。才可以将本次运算进位成果CY锁存到进位锁存器74LS74（UN5B）中。2、实验接线实验连线(1)(5)同实验一，详细如下：（1）ALUBUS连EXJ3；（2）ALUO1连BUSl；（3）SJ2连UJ2；（4）跳线器J23上T4连SD；（5）LDDRl、LDDR2、ALUB、SWB四个跳线器拨在左边（手动方式)；（6）AR、299B跳线器拨在左边，同步开关AR拨在“0电平，开关299B拨在“1”电平；（7）J25跳线器拨在右边。（8）总清开关拨在“1”电平。若总清开关拨在“0”电平，Cy清零。3、实验环节（1）仔细查线无误后，接通电源。（2）用二进制数码开关KDOKD7向DRl和DR2 寄存器置数。办法：关闭ALU输出三态门ALUB=1，启动输入三态门SWB=0，输入脉冲T4按手动脉冲发生按钮产生。如果选取参加操作两个数据分别为55H、AAH，将这两个数存入DR1和DR2详细操作环节如下：LDDR1=1LDDR2=0T4= 数据开关置数开输入三态门数据存入寄存器DR1ALUB=1SWB=0KD7KD001010101LDDR1=0LDDR2=1T4= 数据开关置数开输入三态门数据存入寄存器DR2ALUB=1SWB=0KD7KD010101010（3）开关ALUB=0，启动输出三态门，开关SWB=1，关闭输入三态门，同步让LDDR1=0，LDDR2=0。（4）如果本来有进位，CY=1，进位灯亮，但需要清零进位标志时，详细操作办法如下：u AR信号置为“0”电平，DRl寄存器中数应不大于FF。u S3、S2、S1、S0、M状态置为0 0 0 0 0。u 按动手动脉冲发生开关，CY=0，即清进位标志。注：进位标志批示灯CY亮时，表达进位标志为“1”，有进位；进位标志批示灯CY灭时，表达进位位为“0”，无进位。（5）验证带进位运算及进位锁存功能 这里有两种状况：l 进位标志已清零，即CY=0，进位灯灭。 使开关CN=0，再来进行带进位算术运算。例如环节（2）参加运算两个数为55H和AAH，当S3、S2、S1、S0状态为10010，此时输出数据总线显示灯上显示数据为DRl加DR2再加初始进位位“1” （因CN=0），相加成果应为ALU=00，并且产生进位，此时按动手动脉冲开关，则进位标志灯亮，表达有进位。 使开关CN=1，当S3、S2、S1、S0状态为10010，则相加结累ALU=FF，并且不产生进位。l 本来有进位，即CY=1，进位灯亮。此时不考虑CN状态，再来进行带进位算术运算。同样环节（2）参加运算两个数为55H和AAH，当S3、S2、S1、S0、M状态为10010，此时输出数据总线显示灯上显示数据为DRl加DR2再加当迈进位标志CY，相加成果同样为ALU=00，并且产生进位，此时按动手动脉冲开关，则进位标志灯亮，表达有进位。三、实验电路带进位控制运算器实验原理电路如图2.1所示。四、验证两种操作下带进位运算功能实验数据记录 Cy=0 进位灯灭DR1DR2S3 S2 S1 S0M=0,CN=0(带进位算术运算) 运算成果运算后进位状态Cy理论计算成果8CH9FH0 0 0 00 0 0 10 1 1 01 0 0 11 1 0 01 1 0 1 Cy=1 进位灯亮DR1DR2S3 S2 S1 S0M=0，Cy=1(带进位算术运算) 运算成果运算后进位状态 Cy理论计算成果8CH9FH0 0 0 00 0 0 10 1 1 01 0 0 11 1 0 01 1 0 1五、思考题1、如何在进位运算操作前对进位标志清零？2、在进行进位运算操作时，在何种状况下要对进位标志清零？3、分析硬件电路阐明在什么条件下，才干锁存8位运算后进位标志？图2.1 带进位控制运算器数据通路实验三 16位算术逻辑运算实验一、实验目1、验证算术逻辑运算功能发生器 74LS18116位运算组合功能。2、掌握16位运算器数据传送通路构成原理。3、按规定和给出数据完毕几种指定算术逻辑运算。二、实验内容1、实验原理16位运算器数据通路如图3.1所示，其中运算器由四片74LS181以并串形成16位字长ALU构成。低8位运算器输出通过一种三态门74LS245（U33）到ALUO1插座，实验时用8芯排线和内部数据总线BUSD0D7插座BUS16中任一种相连，低8位数据总线通过LZD0LZD7显示灯显示；高8位运算器输出通过一种三态门74LS245（U33）到ALUO1插座，实验时用8芯排线和高8位数据总线BUSD8D15插座KBUS1或KBUS2相连，高8位数据总线通过LZD8LZD15显示灯显示；参加运算四个数据输入端分别由四个锁存器74LS273（U29、U30、U29、U30）锁存，实验时四个锁存器输入并联后用8芯排线连至外部数据总线EXD0D7插座EXJ1EXJ3中任一种；参加运算数据源来自于8位数据开并KD0KD7，并通过一三态门74LS245（U51）直接连至外部数据总线EXD0EXD7，输入数据通过LD0LD7显示。2、实验接线本实验需用到6个重要模块： 低8位运算器模块； 数据输入并显示模块； 数据总线显示模块； 功能开关模块（借用微地址输入模块）； 高8位运算器模； 高8位（扩展）数据总线显示模块。依照实验原理详细接线如下（接线同实验一）： ALUBUS连EXJ3； ALUO1连BUS1； SJ2连UJ2； 跳线器J23上T4连SD； LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB四个跳线器拨至左侧（手动方式）； AR跳线器拨至左侧，同步开关AR拨至“1”电平； ALUBUS 连EXJ2； ALUO1 连KBUS1； 跳线器J19、J25拨至左侧（16位ALU状态）； 高8位运算器区跳线器ZI2、CN0、CN4连上短路套。 ALUO1连KBUS1； 跳线器J19、J25拨至左侧（16位ALU状态）； 高8位运算器区跳线器ZI2、CN0、CN4连上短路套。图3.1 16位运算器数据通路图3、实验环节（1）连接线路，仔细查线无误后，接通电源。（2）用二进制数码开关KD7KD0向DR1、DR2、DR3、DR4寄存器置数。办法：关闭ALU输出三态门应使ALUB=1（即开关ALUB=1），启动输入三态门应使SWB=0（即开关SWB=0），选通哪一种寄存器用相应开关LDDR1LDDR4（高电平有效），其中LDDR3、LDDR4开关在高8位运算器上部，输入脉冲T4按手动脉冲发生按钮。设立数据开关详细操作环节图示如下：KD7-D0=11111110数据开关置数ALUB=1SWB=0开输入三态门LDDR1=1LDDR2=0数据存入寄存器DR1KD7-D0=00000010数据开关置数ALUB=1SWB=0开输入三态门数据存入寄存器DR2LDDR1=0LDDR2=1KD7-D0=00000001数据开关置数ALUB=1SWB=0开输入三态门数据存入寄存器DR3KD7-D0=00000001数据开关置数ALUB=1SWB=0开输入三态门数据存入寄存器DR4LDDR1=0LDDR2=0LDDR3=1LDDR4=0LDDR2=0LDDR3=0LDDR4=1LDDR1=0T4=T4=T4=T4=阐明：LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB、LDDR3、LDDR4六个信号电平由相应开关LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB、LDDR3、LDDR4给出，拨至上面为“1”，拨至下面为“0”，电平值由相应显示灯显示；T4由手动脉冲开关给出。（3）验证74LS18116位算术运算和逻辑运算功能（采用正逻辑）。开关SWB=1，关闭输入三态门；开关ALUB=0，打开输出三态门；LDDR1LDDR4四个开关全拨至“0”电平。阐明：如果要实现16位带进位控制算术逻辑运算，只需在实验二基本上将开关AR=1置成AR=0即可。依照表3.1所示内容，置功能开关S3、S2、S1、S0、M、CN变化74LS181算术运算和逻辑运算功能设立，观测运算器输出，将观测成果填入表3.1中，并将理论计算成果写入表3.2中，进行比较验证。加数1高位 DR3加数1低位 DR1加数2高位 DR4加数2低位 DR2S3 S2 S1 S0M0（算术运算）M1（逻辑运算）Cn=1无进位Cn=0有进位01FE 01020000000100100011010001010110011110001001101010111100110111101111FF F FF F FFFF F F F F F F FF F F F F F F F F F F F F F F FFFFFFF F F F F F F F F F 表3.1 实验成果 加数1高位 DR3加数1低位 DR1加数2高位 DR4加数2低位 DR2S3 S2 S1 S0M0（算术运算）M1（逻辑运算）Cn=1无进位Cn=0有进位01 FE 010200000001010101111011110011011111F( 01FE )F( 01FE ) F( 02FA )F( 00FB ) F( 0101 )F( 03FC )F( 03FC ) F( 01FD ) F( 01FF )F( 01FF ) F( 02FB ) F( 00FC ) F( 0102 ) F( 03FD ) F( 03FD ) F( 01FE ) F(FE01 )F(FE01 )F(FEFD )F( 00FC )F( 0102 ) F( FFFF ) F( FFFF ) F( 01FE ) 表3.2 理论计算成果 注意：本实验做完后，拔掉连线ALUBUS和ALUO1，去掉短路套ZI2、CN0、CN4。三、设计内容1、若有两个16位二进制数 ：00FFH和2D5AH， 规定通过74LS181运算，计算这两数相与成果。（1）实现办法（2）实验环节（3）实验成果（4）理论计算成果2、若有两个16位二进制数 ：1234H和A987H， 规定通过74LS181运算，计算这两数之和。（1）实现办法（2）实验成果（3）理论计算成果3、若被减数为7C69H和减数为1234H， 规定通过74LS181运算，计算这两数之差。（1）实现办法（2）实验成果（3）两数之差4、若被减数为1234 H和减数为7C69H， 规定通过74LS181运算，计算这两数之差。和题4成果比较。（1）实验环节（2）实验成果（3）实验成果表达是什么（4）比较题4和题3成果，并加以阐明。实验四 移位运算器实验一、实验目验证移位控制器组合功能。二、实验内容1、实验原理移位运算实验原理如图4.1所示。本实验使用了一片74LS299（U34）作为移位发生器，其八位输入输出端引到8芯排座ALUO2，实验时用8芯排线连至数据总线插座BUS4。299B信号由开关299B提供，控制其使能端，T4为其时钟脉冲，手动方式实验时将T4与手动脉发生器输出端SD相连，即J23跳线器上T4连SD。由信号S0 、S1、M控制其功能状态，详细见表4.1。图4.1 移位运算实验原理图表4.1 74LS299功能表2、实验接线 ALUO2连BUS4； EXJ1连BUS3； SJ2连UJ2； 跳线器ALUB、299B、SWB拨至左侧（手动位置），且开关ALUB拨至“1”电平，299B拨至“0”电平。 跳线器J23T4连SD； 总清开关拨到“1”位置。3、实验环节 连接实验线路，仔细查线无误后接通电源。 置数，详细环节如下： 移位，参照表4.1变化S0、S1、M、299B 状态，按动手动脉冲开关以产生时钟脉冲T4，观测移位成果。KD7-D0=00110101数据开关置数SWB=0开输入三态门S0=1S1=1数据置入移位寄存器SWB=1关输入三态门T4=四、实验数据记录1、移位寄存器初始数据为：35H第1次按动手动脉冲开关，移位寄存器数据为：第2次按动手动脉冲开关，移位寄存器数据为：第3次按动手动脉冲开关，移位寄存器数据为：第4次按动手动脉冲开关，移位寄存器数据为：2、实验成果登记表置入移位寄存器数据进位Cy299B S1 S0 M 移位操作移位后成果理论计算成果 9AH00 0 1 0100 0 1 1100 1 0 0100 1 0 11五、思考题若移位寄存器存储一种8位数，通过如何移位运算后可使移位寄存器存储数据保持不变？实验五 存储器实验一、实验目掌握静态随机存取存储器RAM工作特性及数据读写办法。二、实验内容1、实验原理主存储器单元电路重要用于存储实验机机器指令，如图5.1所示，它数据总线连到外部数据总线EXD0EXD7上；它地址总线由地址寄存器单元电路中地址寄存器74LS273（U37）给出，地址值由8个LED灯LAD0LAD7显示，高电平点亮，低电平熄灭；在手动方式下，输入数据由8位数据开关KD0KD7提供，并经一三态门74LS245（U51）连至外部数据总线EXD0EXD7，实验时将外部数据总线EXD0EXD7用8芯排线连到内部数据总线BUSD0BUSD7，分时给出地址和数据。它读信号直接接地；它写信号和片选信号由写入方式拟定。该存储器中机器指令读写分手动和自动两种方式。手动方式下，写信号由W/R提供，片选信号由CE提供；自动方式下，写信号由控制CPUP1.2提供，片选信号由控制CPUP1.1提供。由于地址寄存器为8位，故接入6264地址为A0A7，而高4位A8A12接地，因此其实际使用容量为256字节。6264有四个控制线：CS1为第一片选线、CS2为第二片选线、OE读出使能线及WE写使能线。其功能如表5.1所示。CS1片选线由CE控制（相应开关CE）、OE读出使能线直接接地、WE写使能线由W/R控制（相应开关WE）、CS2直接接+5V。图5.1中信号线LDAR由开关LDAR提供，手动方式实验时，跳线器LDAR拨至左侧，脉冲信号T3由实验机上时序电路模块TS3提供，实验时只需将J22跳线器连上即可，T3脉冲宽度可调。2、实验接线 总清开关拨到“1”位置。MBUS连BUS2；EXJ1连BUS3；跳线器J22T3连TS3；跳线器J16SP连H23；跳线器SWB、CE、WE、LDAR拨至左侧（手动位置）。图5.1 主存储器单元电路表5.1 6264功能表工作方式I/O输入DIDO/OE/WE/CS1非选取XHIGH-ZXXH读出HIGH-ZDOLHL写入DIHIGH-ZHLL写入DIHIGH-ZLLL选取XHIGH-ZHHL3、实验环节 连接实验线路，仔细查线无误后接通电源。 形成时钟脉冲信号T3。办法如下：在时序电路模块中有两个二进制开关“运营控制”和“运营方式”。将“运营控制”开关置为“运营”状态、“运营方式”开关置为“持续”状态时，按动“运营启动”开关，则T3有持续方波信号输出，此时调节电位器W1，用示波器观测，使T3输出实验规定脉冲信号；本实验中“运营方式”开关置为“单步”状态，每按动一次“启动运营”开关，则T3输出一种正单脉冲，其脉冲宽度与持续方式相似。 向存储器00地址单元中写入数据11，详细操作环节如下：SWB=0CE=1LDAR=1T3= 数据开关置数开输入三态门数据置入地址寄存器CE=1SWB=0SWB=1KD7D0=00000000LDAR=0SWB=00SWB=0CE=0WE=1LDAR=0T3= 数据开关置数开输入三态门数据置入存储器RAMSWB=1KD7D0=00010001如果要对其他地址单元写入内容，办法同上，只是输入地址和内容不同。 读出刚才写入00地址单元内容，观测内容与否与写入一致。详细操作环节如下：SWB=0CE=1LDAR=1T3= 数据开关置数开输入三态门数据置入地址寄存器CE=1SWB=0SWB=1KD7D0=00000000SWB=1CE=0LDAR=0WE=0 数据从存储器读出三、实验数据记录1、依照存储器读写原理，填写下表。控制信号写地址 写内容 读内容SWB开关LDAR开关CE 开关WE开关2、记录向存储器写入数据操作过程。按照前面简介实验环节向存储器地址为00H， 01H，02H，03H，04H，05H单元分别写入数据：55H，33H，44H，66H，08H，F0H。3、写出读出存储器单元内容操作过程并记录如下地址单元读出内容。地址内容地址内容0000000000000100000000010000010100000010000010000000001100000100四、依照电路图分析向存储器置数和从存储器读数工作原理。五、思考题1、存储器地址是放在哪个芯片中，为什么在输入地址时，控制开关CE=1、 LDAR=1？2、在读存储器内容时控制信号SWB=1、CE=0、WE=0、LDAR=0含义是什么？实验六 数据通路实验一、实验目1、理解数据通路概念及特性。2、掌握数据通路传播控制特性。二、实验内容1、实验原理数据通路就是将不同设备，如存储器、输入设备、输出设备、寄存器等连至总线上。这些设备输出都需要三态输出控制，如按照传播规定恰当有序控制它们，便可以实现数据通路传播。实验框图如图6.1所示。数据总线数据输入开关地址寄存器AR存储器RAM数码管显示R0寄存器图6.1 数据通路框图2、实验接线 REGBUS连EXJ2； EXJ1连BUS1，MBUS连BUS2； 跳线器SWB、LDAR、CE、WE拔至左侧（手动位置）； 拔掉跳线器J13，J14，J18，J24，J22，J23。 用单芯线连接J13（中间端LDR0）到UJ2最右端，J14（中间端R0B）到UJ2右端第二针，J18（中间端OUTWR）连UJ2右端第三针，J24（中间端LEDB）连UJ2右端第四针，即UA0控制LDR0、UA1控制R0B、UA2控制OUTWR、UA3控制LEDB。3、实验环节 连接实验线路，仔细查线无误后接通电源。 初始状态设为：关闭所有三态门（SWB=1，CE=1，R0B=1，LEDB=1），其他控制信号为LDAR=0，LDR0=0，WE=0，OUTWR=1。 送数据63到寄存器R0，数据20送地址寄存器，然后将R0寄存器内数送入存储器，最后将存储器内容输出到LED上显示，详细操作环节如下：（ 为正脉冲，用开关设立：初始为“0”然后置“1”再置“0” ） 自定数据，按以上环节操作验证。三、实验数据记录1、 画出实验过程中数据通路。2、 记录数据传播过程。四、依照实验成果分析数据在数据通路中传播过程。五、思考题1、 实验环节中输入两个数据分别表达什么？有什么不同？2、若不采用输出到数码管上显示，有否办法可验证写入存储器单元内容与否对的。