APF控制器测试专项方案.doc

DSP板硬件电路板初步检查
Ø 目：初步检查电路板各某些工作正常
Ø 人员：
Ø 内容：
1） 器件参数检查
2） 15V/5V电源测试
3） DSPA,DSPB与仿真器连接状况及简朴运营状况
4） FPGA初步程序下载，简朴运营状况测试
5） 通过DSP仿真器，测试DSPA对FGPA各缓冲区读写状况
6） 通过DSP仿真器，测试DSPB对FPGA各缓冲区读写状况
DSPA主体某些程序初步测试
Ø 目：初步测试DSPA主体某些程序及其与外围通信某些连接状况
Ø 人员：
Ø 内容：
1） 主体程序基本运营状况测试
2） 与人机界面连接和通信状况
DSPA电流补偿算法某些程序初步测试
Ø 目：初步测试DSPA电流补偿算法某些程序及其与外围通信某些连接状况
Ø 人员：
Ø 内容：
1） 电流补偿算法某些程序基本运营状况测试
DSPA程序初步联调
FPGA控制AD采样环节测试
Ø 目：
1）拟定AD7658芯片工作正常
2）FPGA可以正的确现总体控制时序河AD采样时序
3）同步信号电路工作正常
4）各路AD采样成果和同步角度构造可以对的放入到相应缓冲区中
Ø 人员：
Ø 方式：连接到HIL测试平台，通过测试程序实现
Ø 内容：
1） 控制时序：用示波器观测各信号时序，CONVA,CONVB,CONVC,EXINTA,EXINTB,ADCS1,ADCS2,ADRD等信号，对比总体控制时序图和AD采样控制时序图
2） 通过HIL平台，给出各路模仿信号，通过DSP仿真器从DSP侧读取AD采样成果缓冲区。通过HIL为各路模仿通道给出不同直流电压信号（-5V~0V~5V），测试AD采样成果顺序和采样值对的性。
3） 通过HIL平台，给出交流正弦波形，用示波器观测测试硬件某些PLL电路工作对的性，并通过DSP仿真器从DSP侧读取AD采样成果缓冲区中wt信息。
DSPA电流补偿算法某些程序HIL测试
Ø 目：
1）拟定各路模仿量AD采样工作正常
2）测试各种给定负荷电流状况下补偿参照电流计算状况
3）测试各种给定状况下电流有效值计算状况
Ø 人员：
Ø 方式：连接到HIL测试平台
Ø 内容：
1） 通过DSP仿真器测试，在CCS中观测各模仿通道采集数据缓冲区波形。
2） HIL设立为各种不同工作条件（例如：负荷电流可以分别调节正序幅值、相位、负序幅值，谐波模式、整流负荷模式等）,测试补偿参照电流计算成果对的性(始终检查到DPRAMA2B缓冲区相应各数据。
3） HIL设立为各种不同工作条件，测试各模仿量有效值计算成果。
DSPA主体某些程序测试
Ø 目：
1）在可以实现条件下，测试DSPA主体某些程序设计
Ø 人员：
Ø 内容：
1）测试DSPA与显示模块通信连接设计
2）测试人机界面设立参数状况和状态显示状况
3）测试DSPA与FPGA之间信号互换状况
4） 测试DSPA程序流程与逻辑依照有关设计阐明
DSPA整体程序HIL测试
Ø 目：
1）测试DSPA程序整体运营状况，侧重于人机界面显示、参数设立、补偿电流计算等整体运营状况
Ø 人员：
Ø 方式：连接到HIL测试平台
Ø 内容：
1） 通过HIL给出各种工作条件，测试各种整体功能，例如：有效值计算后成果显示、参数设立后对实际计算成果影响等等。
FPGA功能测试
Ø 目：测试FPGA重要功能设计实现状况
Ø 人员：
Ø 内容：依照FPGA功能设计逐项测试，重要涉及
1） 数据缓冲区功能
2） 故障逻辑和状态逻辑解决功能
3） PLOCK逻辑解决功能
4） SOE事件解决功能
5） AD采集功能（前面已经测试过）
DSPB功能HIL测试
Ø 目：测试DSPB电流闭环控制功能
Ø 人员：
Ø 内容：模仿给出参照电流各命令信息，通过DSPB控制程序进行闭环电流控制，产生参照电压，通过FPGA发出脉冲，送到HIL平台中，实现电流闭环控制功能。
DSP控制板闭环控制功能联合HIL测试
Ø 目：DSP控制板涉及闭环控制功能各环节联合测试
Ø 人员：
Ø 内容：通过HIL给出各种工作条件，测试涉及闭环控制功能各环节，涉及：参数设立、状态显示、参照电流计算、直接电流控制、脉冲发生等。
信号板功能测试
Ø 目：信号板重要功能测试
Ø 人员：
Ø 方式：继电保护测试仪
Ø 内容：
1） 模仿量采集某些
2） 逻辑某些：开入/开出
3） 过流保护
控制器模仿采集某些校准
Ø 目：DSP板和信号板联合测试模仿量采集某些
Ø 人员：
Ø 方式：继电保护测试仪
Ø 内容：
1） 采集
2） 校准
控制器逻辑某些联合测试
Ø 目：DSP板和信号板联合测试逻辑某些
Ø 人员：
Ø 方式：模仿各种开入、开出和故障信号
Ø 内容：
1） 设立
2） 显示
3） 保护
4） 信号传递