新编射线检测工艺规程模板.doc

标准
射线检测工艺规程
制订
/07/06

1、目标
本工艺规程是依据NB/T47013-《承压设备无损检测》第1部分：通用要求和第2部分：射线检测，并结合我企业实际情况进行制订。凡按中国规范设计、制造锅炉、压力容器需作射线检测时，均应实施本工艺。本工艺自实施之日起，替换CKM-163001/06C。

2、适用范围
本工艺规程要求了2～50mm锅炉、压力容器全熔化焊对接接头和角接接头X射线检测方法及质量等级评定要求。
锅炉、压力容器相关支承件和结构件对接接头射线检测，也可参考使用。

文件编制部门
质控部
编制人

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部门责任人

会签栏

审批人

生效日期

分发部门
部门
份数
部门
份数
经理部
4
管理部
0
技术部
2
生产管理部
0
制造部
1
质控部
2
采购部
0
财务部
0
营业部
0

修订历史
修订
编号
年月日
修订统计
R0
R1
R2
R3
R4
R5
R6
R7
.11.18
.07.01
.06.01
.05.19
.07.01
.07.01
.06.06
.08.30

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3引用标准及规程
GB/T 12604.2 无损检测 术语 射线摄影检测
TSG Z8001- 特种设备无损检测人员资格考评和监督管理规则
GB/T 11533 标准对数视力表
NB/T47013.1- 承压设备无损检测 第1部分：通用要求
NB/T47013.2- 承压设备无损检测 第2部分：射线检测
GB/T 19802 无损检测 工业射线摄影观片灯 最低要求
GB/T 23901.2 无损检测 射线摄影底片像质
GBZ 117 工业 X 射线探伤放射卫生防护标准
GBZ 132 工业γ射线探伤放射防护标准
JB/T 5075 无损检测 射线摄影检测用金属增感屏
JB/T 7902 射线摄影用线型像质计
GB/T 19348.1 无损检测 工业射线摄影胶片 第 1 部分：工业射线胶片系统分类
GB/T 19348.2 无损检测 工业射线摄影胶片 第 2 部分：用参考值方法控制胶片处理
GB 18871 电离辐射防护及辐射源安全基础标准
TSG G0001- 锅炉安全技术监察规程
GB/T 16507- 锅壳锅炉
GB/T 16508- 水管锅炉
TSG R0004- 固定式压力容器安全技术监察规程
TSG R0005- 移动式压力容器安全技术监察规程
GB 150- 压力容器

4术语和定义
4.1透照厚度 W
射线照射方向上材料公称厚度。多层透照时，透照厚度为经过各层材料公称厚度之和。
4.2工件至胶片距离b
沿射线束中心测定工件受检部位射线源侧表面和胶片之间距离。
4.3射线源至工件距离 f
沿射线束中心测定射线源和工件受检部位近源侧表面之间距离。
4.4焦距 F
沿射线束中心测定射线源和胶片之间距离。
4.5射线源尺寸 d
射线源有效焦点尺寸
4.6圆形缺点
长宽比小于 3 气孔、夹渣和夹钨等缺点。
4.7条形缺点
长宽比大于 3 气孔、夹渣和夹钨等缺点。
4.8透照厚度比 K
一次透照长度范围内射线束穿过母材最大厚度和最小厚度之比。
4.9一次透照长度
符合标准要求单次曝光有效检测长度。
4.10底片评定范围
本部分要求底片上必需观察和评定范围。
4.11缺点评定区
在质量份级评定时，为评价缺点数量和密集程度而设置一定尺寸区域，能够是正方形或长方形。
4.12双胶片透照技术
暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采取双片叠加方法进行底片观察透照技术。
4.13小径管
外直径 Do 小于或等于 100mm 管子。

5 检测人员
5.1射线检测人员未经矫正或经矫正近（小数）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数统计值为1.0），测试方法应符合GB11233要求。评片人员视力应每十二个月检验一次。
5.2射线检测人员必需按TSG Z8001-《特种设备无损检测人员资格考评和监督管理规则》要求进行培训考评，取得射线资格证书。而且由企业向中国特种设备检验协会进行执业注册后，只能从事射线检测方法和等级无损检测工作。
5.3射线检测人员资格等级分为Ⅰ级（初级）、Ⅱ级（中级）和Ⅲ级（高级）。
5.4质量等级评定及检测汇报签发应由取得Ⅱ级或Ⅲ级资格证人员担任，且资格证应在使用期内。
5.5 射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识培训，并取得放射工作人员证。

6. 检测设备和器材
6.1 X射线检测设备
型号
焦点尺寸mm
最大穿透厚度mm
XXG-
2.0×2.0
30
XXG-2505
2.0×2.0
40
XXG-2505FZ
2.0×2.0
37
XXG-3005Q
2.5×2.5
50
XXG-3005FZ
1.0×3.5
42
XXH-3005ZB
1.0×3.5
40
6.2 射线胶片
胶片系统根据GB/T19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别， C6为最低类别。胶片系统特征指标见附录B。胶片制造商对所生产胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可根据GB/T19384.2要求，用胶片制造商提供预先曝光胶片测试进行测试和控制。
A级和AB级射线检测技术应采取C5类或更高类别胶片，B级射线检测应采取C4类或更高类别胶片。
6.3观片灯
观片灯关键性能应符合GB/T19802相关要求，最大亮度应能满足评片要求。
6.4 黑度计
6.4.1.黑度计可测最大黑度应大于4.5，测量值误差不超出±0.05。
6.4.2黑度计首次使用前应进行核查，以后最少每6个月应进行一次核查。在工作开始时或连续工作超出8小时后应在拟测量黑度范围内选择最少两点进行检验。
6.4.3.黑度计定时核查方法
a）.接通黑度计外接电源和测量开关，预热10分钟左右。
b）.用标准黑度片零黑度点校准黑度计零点，校准后顺次测量黑度片上不一样黑度各点黑度，统计测量值。
c）.按b条要求反复测量3次。
d）.计算出各点测量值平均值，以平均值和黑度片该点黑度值之差作为黑度计测量误差。
e）.对黑度小于4.5各点测量误差均应不超出±0.05，不然黑度计应核查、修理或报废。
6.4.4黑度计核查要进行统计，黑度计检验无需统计。
6.5 标准密度片
标准密度片应最少有 8 个一定间隔黑度基准， 且能覆盖 0.3-4.5 黑度范围， 应最少每 2 年校准一次。必需尤其注意标准密度片保留和使用条件。
6.6增感屏
6.6.1射线检测应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T 5075要求，增感屏应完全洁净、抛光和无纹道。
6.6.2使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好，应定时用洁净纱布蘸乙醚或四氯化碳擦洗增感屏。
增感屏材料和厚度
X射线源
前屏
后屏
材料
厚度mm
材料
厚度mm
X射线(>100KV～150KV)
铅
0.02～0.10
铅
0.02～0.15
X射线(>150KV～250KV)
铅
0.02～0.15
铅
0.02～0.15
X射线(>250KV～500KV)
铅
0.02～0.20
铅
0.02～0.20

6.7像质计
像质计是用来检验透照技术和胶片处理质量。衡量质量参数是像质计灵敏度值。它等于底片上能识别出最细金属丝线编号。
6.7.1线型像质计型号和规格
通用线型像质计和等径线型像质计型号和规格应符合JB／T7902要求。
6.7.2像质计标志及代号
像质计应含有下列标志：
像质计材料代号——Fe；
像质计材料——碳素钢
适用材料范围——钢

6.8 暗室安全照明时间确定
胶片应在胶片制造商所推荐安全灯光条件下进行暗室处理， 暗室安全照明时间确实定方法可参考附录 E进行。

7. 射线检测技术等级
7.1射线检测技术分为三级：A级---低灵敏度技术;B级---中灵敏度技术;C级---高灵敏度技术
7.2 射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件要求，同时还应满足协议双方约定其它技术要求。承压设备对接焊接接头制造、安装、在用时射线检测，通常应采取 AB 级射线检测技术进行检测。对关键设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作对接焊接接头，可采取 B 级技术进行检测。
7.3 检测一些条件不能满足 AB 级（或 B 级）射线检测技术要求时, 经协议双方约定，在采取有效赔偿方法（比如选择更高类别胶片）前提下，若底片像质计灵敏度达成了 AB 级（或B 级）射线检测技术要求,则可认为按 AB 级（或 B 级）射线检测技术进行了检测。
7.4 承压设备在用检测中，检测一些条件不能满足AB级射线检测技术要求时, 经协议双方
约定,在采取有效赔偿方法（比如选择更高类别胶片）后可采取 A 级技术进行射线检测，但应同时采取其它无损检测方法进行补充检测。

8. 检测工艺文件
8.1射线检测工艺规程：
射线检测工艺规程除满足NB/T47013.1要求外，还应要求下列相关原因具体范围或要求：如相关原因改变超出要求时，应重新编制或修订工艺规程：
a） 适用范围中结构（对接接头、角接接头）、材料类别（钢及复合材料）及厚度（2～120mm）；
b） 射线源种类、能量及焦点尺寸；
c） 检测技术等级（AB级）；
d） 透照技术；
e） 透照方法；
f） 胶片型号及等级；
g）像质计种类；
h） 增感屏和滤光板型号（如使用） ；
i） 暗室处理方法或条件 ；
j） 底片观察技术。
8.2射线检测操作指导书
8.2.1射线检测操作指导书应由含有对应方法Ⅱ级及以上资格人员依据对应工艺规程并结合无损检测委托单和实际工件结构进行编制。
8.2.2射线检测操作指导书最少包含以下内容。
a） 适用范围：被检测工件类型（形状、结构等）、尺寸范围（厚度及其它几何尺寸）、所用材料类型 ；
b） 检测设备器材：射线源（种类、型号、焦点尺寸） 、胶片（牌号及其分类等级）、增感屏（类型、数量和厚度）、像质计（种类、型号）、滤光板、背散射屏蔽铅板、标识、胶片暗室处理和观察设备等；
c） 检测技术和工艺：采取检测技术等级、透照技术、透照方法、射线源、胶片、曝光参数、像质计类型、摆放位置和数量，标识符号类型和放置、布片标准等
d） 胶片暗室处理方法和条件要求；
e） 底片观察技术（双片叠加或单片观察评定） ；
f） 底片质量要求：几何不清楚度、黑度、像质计灵敏度、标识等；
g）验收标准；
i ）操作指导书验证要求。
8.2.3 射线检测操作指导书验证
当首次使用射线检测操作指导书时， 应对工艺验证， 以验证底片质量是否能达成标准要求要求。 验证可经过专门透照试验进行， 或以产品第一批底片作为验证依据。在这两种情况下，作为依据验证底片均应做出标识“S”。

9 辐射安全防护
9.1 放射卫生防护应符合 GB 18871、GBZ 117 和 GBZ 132 相关要求。
9.2 现场进行Ｘ射线检测时，应按 GBZ 117 要求划定控制区和管理区、设置警告标志。检测
工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。

10 检测工艺及其选择
10.1 检测时机
检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件要求，同时还应满足协议双方约定其它技术要求。
除非另有要求，射线检测应在焊后进行，且对有延迟裂纹倾向材料，最少应在焊接完成 24h 后进行射线检测。
10.2检测程序
1.对照无损检测委托单查对实物→2.选择或新编制对应操作指导书→3. 依据操作指导书对工件进行检测→4. 暗室处理→5.对合格底片进行评定、统计→对操作指导书进行验证（新编操作指导书）。
10.3 检测区
检测区宽度应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件要求，同时还应满足协议双方约定其它技术要求，如无尤其要求，应满足以下要求：
10.3.1 对接焊缝
检测区包含焊缝金属及相对于焊缝边缘最少为 5mm 相邻母材区域。
10.3.2 管座角焊缝
检测区包含焊缝金属及相对于焊缝边缘最少为 5mm 安放式接管相邻母材区域或插入式主管（或筒体、封头、平板等）相邻母材区域。
10.4 表面要求
在射线检测之前， 对接焊接接头表面应经目视检测并合格。 表面不规则状态在底片上影像不得掩盖或干扰缺点影像，不然应对表面作合适修整。
10.5 透照部署
10.5.1 胶片透照技术
许可以下两种胶片透照技术：
a） 单胶片透照技术使用单张胶片。X 射线（≤100kV）只许可采取单胶片透照技术。
b） 双胶片透照技术使用两张分类等级相同或相近胶片。
10.5.2 透照方法
10.5.2.1 应依据工件特点和技术条件要求选择适宜透照方法。在能够实施情况下应优先选择单壁透照方法，在单壁透照不能实施时才许可采取双壁透照方法。
10.5.2.2经典纵、环缝和小径管透照方法
图1～图8给出了常见经典透照方法示意图，可供透照部署时参考。图中d表示射线源，F表示焦距，b表示工件至胶片距离，f表示射线源至工件距离，T表示公称厚度，D0表示管子外径。

图1 纵、环向焊接接头源在外单壁透照方法

图2环向焊接接头源在中心周向透照方法

图3纵、环焊接接头源在内单壁透照方法

图4环向焊焊接接头源在外双壁单影透照方法（1）

图5 环向焊接接头源在外双壁单影透照方法（2）

图6.纵向焊接接头源在外双壁单影透照方法

图7 小径管环向焊接接头倾斜透照方法（椭圆成像）

图8 小径管环向对接接头垂直透照方法（重合成像）

10.5.2.3 安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方法。插入式管座角焊缝源在内透照方法时，应优先选择射线源放置在支管轴线上透照部署。
管座角焊缝经典透照方法
图 D.9～图 D.14 给出了常见管座角焊缝经典透照方法示意图

图 D.9 插入式接管角焊缝单壁中心内透照方法

图 D.10 插入式接管角焊缝单壁偏心内透照方法

注：射线源放在和支管母线呈 20°～30°角轴线上
图 D.11 插入式接管角焊缝单壁外透照方法

注：射线源应放在管外侧缝坡口轴线上，偏差在 0～+10°以内
图 D.12 安放式接管角焊缝单壁外透照方法

图 D.13 安放式接管角焊缝单壁中心透照方法

图 D.14 安放式接管角焊缝单壁偏心透照方法
10.5.3 透照方向
透照时射线束中心通常应垂直指向透照区中心， 并应和工件表面法线重合， 需要时也可选择有利于发觉缺点方向透照。
10.5.4 一次透照长度
a） 一次透照长度应以透照厚度比 K 进行控制。 不一样等级射线检测技术和不一样类型对接焊接接头
透照厚度比应符合表 1 要求。整条环向对接焊接接头所需透照次数可参考图9-12曲线图确定。
b) 管座角焊缝、椭圆形封头、碟形封头小 r 区焊缝，和其它曲率连续改变焊缝可不采取以K 值确定一次透照长度方法，许可用黑度范围来确定一次透照长度，底片满足黑度要求长度范围即为许可采取一次透照长度。
表1许可透照厚度比K
射线检测技术等级
AB级
纵向焊接接头
K≤1.03
环向焊接接头
K≤1.1
1) 对100mm＜D0≤400环向对接接头（包含曲率相同曲面焊接接头），A级，AB级许可采取K≤1.2。
2) 环向对接接头许可采取K≤1.2,只针对20R,20g,Q235-A等低碳钢材料。

图9源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时透照次数图

图10.其它透照方法透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时透照次数图

图11.源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时透照次数图

图12.其它方法透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时透照次数图

10.5.4透照次数曲线图
对外径D0＞100mm对接焊接接头进行100％检测，所需最少透照次数和透照方法和透照厚度比相关，这一数值可从图9～12中直接确定。
a)图9为源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时透照次数曲线图。
b)图10为其它透照方法（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时透照次数曲线图。
c)图11为源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时透照次数曲线图。
d)图12为其它透照方法（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时透照次数曲线图。
10..5.5图9～图12确定透照次数方法从图中确定透照次数步骤是:计算出T/ D0、D0/f，在横坐标上找到T/ D0值对应点,过此点画一垂直于横坐标直线; 在纵坐标上找到D0/f对应点,过此点画一垂直于纵坐标直线;从两直线交点所在区域确定所需透照次数;当交点在两区域分界线上时,应取较大数值作为所需最少透照次数。
10.5.6 有效评定区搭接
10.5.6.1 焊缝进行全部射线检测时，采取曝光次数和有效评定区重合应能确保检测到被检测区整个体积范围。
10.5.6.2 假如采取暗盒直接搭接透照方法，也应确保整个有效评定区底片满足黑度要求。
10.5.7小径管透照部署和透照次数
10.5.7.1小径管透照部署
当同时满足T（壁厚）≤8㎜和g(焊缝宽度)≤D0/4时，可采取倾斜透照方法椭圆成像。不满足上述条件或椭圆成像有困难可采取垂直透照方法重合成像。椭圆成像时，应控制影像开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在一倍焊缝宽度左右。
10.5.7.2小径管透照次数
采取倾斜透照方法椭圆成像时，当T/D0≤0.12时，应相隔90°透照2次。当T/D0＞0.12时，应相隔120°或60°透照3次。垂直透照方法重合成像时，通常应相隔120°或60°透照3次。因结构原因无法实施数次透照时，可采取椭圆成像或重合成像方法透照1次。此时应采取有效方法扩大缺点可检出范围，并确保底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。
根据上述要求进行数次透照时， 底片上被检测区满足标准黑度要求区域为有效评定区， 相邻底片有效评定区重合应确保覆盖被检测区整个体积范围，如最少曝光次数不能满足 100%覆盖要求，则应增加曝光次数。
10.5.8特殊情况
因为结构原因不能根据要求间隔角度数次透照时，经协议各方约定，可不再强制限制要求间隔角度， 但应采取有效方法尽可能扩大缺点可检出范围， 同时应确保底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求，并在检测汇报中对相关情况进行说明
11 射线能量
11.1 X 射线摄影应尽可能选择较低管电压。在采取较高管电压时，应确保合适曝光量。图 1要求了不一样材料、不一样透照厚度许可采取最高Ｘ射线管电压。
5.5.2 对截面厚度改变大承压设备，在确保灵敏度要求前提下，许可采取超出图 1 要求Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超出 50kV；

注：1-铜及铜合金；2-钢；3-钛及钛合金；4-铝及铝合金
图 1 不一样透照厚度许可 Ｘ 射线最高透照管电压

12 射线源至工件表面最小距离
12.1 所选择射线源至工件表面距离 f 应满足下式要求：
AB 级射线检测技术： f ≥ 10d·b 2/3
图 3 是 AB 级射线检测技术确定 f 诺模图。
焦点尺寸d计算见附录A

图 3 AB 级射线检测技术确定焦点至工件表面距离诺模图

.12.2 采取源在内中心透照方法周向曝光时，只要得到底片质量符合21.1.1 和21.1.2 要求，f值能够减小，但减小值不应超出要求值 50%。
12.3 采取源在内单壁透照方法时，只要得到底片质量符合21.1.1 和21.1.2 要求，f 值能够减小，但减小值不应超出要求值 20%。
12.4 安放式和插入式管座角焊缝采取源在内单壁中心透照方法 （图 D9 和图 D13） 时，只要得到底片质量符合 5.15.1 和 5.15.2 要求 f 值能够减小，但减小值不应超出要求值 50%。
12.5 安放式和插入式管座角焊缝采取源在内单壁偏心透照方法 （图 D10 和图 D14） 时，只要得到底片质量符合 5.15.1 和 5.15.2 要求 f 值能够减小，但减小值不应超出要求值 20%。

13 胶片和被检工件之间距离
曝光期间，胶片应紧贴于工件，除非有特殊要求或透照部署能使被检区域得到愈加好透照影像。管座角焊缝源在内透照时，胶片应尽可能靠近被检工件焊缝。

14 曝光量
14.1 Ｘ射线摄影，当焦距为 700mm 时，曝光量推荐值为：A 级和 AB 级射线检测技术大于15mA·min；B 级射线检测技术大于 20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量推荐值进行换算。

15 曝光曲线
15.1 对每台在用射线设备均应做出常常检测材料曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。
15.2 制作曝光曲线所采取胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件和底片应达成灵敏度、
黑度等参数均应符合本部分要求。
15.3 对使用中曝光曲线，每十二个月最少应核查一次。射线设备更换关键部件或经较大修理后应立即对曝光曲线进行核查或重新制作。

16 无用射线和散射线屏蔽
16.1 应采取金属增感屏、铅板、滤光板、准直器等合适方法，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。
16.2 对首次制订检测工艺,和在使用中检测条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检验。检验背散射防护方法是：在暗盒后面贴附“B”铅字标识，通常 B 铅字高度为 13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺要求进行透照和暗室处理。 若在底片上出现黑度低于周围背景黑度 “B” 字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。
在背散射轻微或后增感屏足以屏蔽背散射线情况下，可不使用背散射防护铅板。

17 像质计使用
17.1 像质计放置标准
丝型像质计像质计通常应放置在焊接接头一端 （在被检区长度 1/4 左右位置） ,金属丝应横跨焊
缝，细丝置于外侧.当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘焊缝处，还应满足以下要求：
a） 单壁透照要求像质计放置在源侧。双壁单影透照要求像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质
计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
b） 单壁透照中，假如像质计无法放置在源侧，许可放置在胶片侧（球罐全景曝光除外） 。
c） 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用和工件相同条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧灵敏度差异，以此修正像质计灵敏度要求，以确保实际透照底片灵敏度符合要求。
d） 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上合适位置放置铅字“F”作为标识， F 标识影像应和像质计标识同时出现在底片上，且应在检测汇报中注明。
17.2 像质计数量
标准上每张底片上全部应有像质计影像。 当一次曝光完成多张胶片摄影时， 使用像质计数量许可
降低但应符合以下要求:
a） 环形对接焊接接头采取源置于中心周向曝光时，最少在圆周上等间隔地放置 3 个像质计。
b） 球罐对接焊接接头采取源置于球心全景曝光时， 在上极和下极焊缝每张底片上全部应放置像质计，且在每带纵缝和环缝上沿经度方向等间隔最少放置 3 个像质计。
c） 一次曝光连续排列多张胶片时，最少在第一张、中间一张和最终一张胶片处各放置一个像质计。
17.3 小径管对接焊缝
小径管使用通用丝型和专用等径丝型像质计时， 金属丝应横跨垂直焊缝放置。 像质计应放置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧，但应在检测统计和汇报中说明。
17.4 不等厚或不一样种类材料之间对接焊缝
假如焊接接头几何形状许可， 不一样厚度或材料类型不一样部位应分别采取和被检材料厚度或类型相匹配像质计，并分别放置在焊接接头相对应部位。
17.5 管座角焊缝
推荐采取丝型像质计，依据像质计能够投影到被检测区位置而放置。假如许可，像质计尽可能置于黑度最小区域。
17.6 像质计影像识别
使用丝型像质计时， 底片上能够识别最细线编号即为像质计灵敏度值。 如底片黑度均匀部位 （通常是邻近焊缝母材金属区）能够清楚地看到长度大于 10mm 连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别。专用等径丝型像质计最少应能识别两根金属丝。

18 标识
18.1 透照部位标识由识别标识和定位标识组成。标识通常由合适尺寸铅（或其它适宜重
金属）制数字、拼音字母和符号等组成。底片标识能清楚阅读且不至于对底片评定带来影响，
标识材料和厚度应依据被检工件厚度来选择，确保标识影像不模糊，也不至于产生眩光．
18.2 识别标识通常包含：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后透
照还应有返修标识,扩大检测百分比透照应有扩大检测标识。
18.3 定位标识通常包含中心标识、搭接标识、检测区标识等。中心标识指示透照部位区段中
心位置和分段编号方向,通常见十字箭头“ ”表示。搭接标识是连续检测时透照分段标识，
可用符号“↑”或其它能显示搭接情况方法（如数字等）表示。检测区标识采取方法能够清楚标识检测区范围即可。
18.4 内外焊缝余高均磨平情况，底片上不能直接正确测定和区分检测区位置和宽度时，应采取合适定位标识（如采取铅质窄条）进行标识。
18.5 定位标识放置部位还应符合附录c和 d要求。全部标识影像不应重合，且不应干扰有效评定范围内影像。当因为结构原因，定位标识需要放置于胶片侧时，检测统计和汇报应标注实际评定范围，标识影像不得进入检测区源侧表面在底片上投影区内。
18.6 识别标识许可放置于源侧或胶片侧，全部标识影像不应重合，且不应干扰有效评定范围内影像。
18.7 搭接标识放置位置还应符合图10～17要求

图10 平面工件或纵焊接接头

图11 射线源到胶片距离F小于曲面工件曲率半径

图12 凸面朝向射线源曲面部件

图16 射线源到胶片距离F大于曲面工件曲率半径

图17 射线源在曲面工件曲率中心

19 胶片处理
19.1 底片处理
胶片处理通常应按胶片使用说明书要求进行。手工冲洗胶片宜在曝光后 8 小时之内完成，不得超出 24 小时。
19.2手工处理推荐条件：
显影温度：18～22℃ 显影时间： 4 min～6 min
定影温度：18～22℃ 定影时间： 10min～12min
水洗温度：16～24℃ 水洗时间： 20min～30min
19.3显影液应采取胶片制造商推荐配方。
19.4高温季节应采取高温坚膜剂配方，高温季节不得使用低电压曝光、高温显影。而低温季节不得使用高电压曝光、低温显影。
19.5定影液也应采取胶片制造商推荐配方。
19.6配制显、定影液关键是药品称关键正确，配制显影液 水温通常在30℃～50℃，配制订影液 水温通常在60℃～70℃，药品应按次序投入，每一个药品需根本溶解后再放入下一个药品，配制好显、定影液应静置二十四小时后再使用。

20评片要求
20.1 评片通常应在专用评片室内进行。评片室应整齐、平静，温度适宜,光线应暗且柔和。
20.2 评片人员在评片前应经历一定暗适应时间。从阳光下进入评片暗适应时间通常为 5
min～10min；从通常室内进入评片暗适应时间应不少于 30s。
20.3 评片时，底片评定范围内亮度应符合下列要求：
a） 当底片评定范围内黑度 D≤2.5 时，透过底片评定范围内亮度应不低于 30cd/m 2 ；
b） 当底片评定范围内黑度 D＞2.5 时,透过底片评定范围内亮度应不低于 10cd/m 2

21 底片质量
21.1 黑度
底片黑度应采取黑度计（光学密度计）进行测量，不一样胶片透照技术和底片观察技术对应黑度范围以下：
21.1.1 单胶片透照技术，单底片观察评定，底片评定范围内黑度 D 应符合下列要求：
A 级：1.5≤D≤4.5；
AB 级：2.0≤D≤4.5；
B 级：2.3≤D≤4.5。
21.1.2 双胶片透照技术，双底片叠加观察评定，评定范围内黑度 D 应符合 2.7≤D≤4.5 要求：
注 1：采取分类相同胶片时，在有效评定区内每张底片上相同点测量黑度差应不超出 0.5。
注 2：用于双底片叠加评定任何单底片黑度应不低于 1.3。
注 3：应同时观察、分析和保留每张底片。
21.1.3 用 X 射线透照小径管或其它截面厚度改变大工件，单底片观察评定时，AB 级最低黑
度许可降至 1.5；B 级最低黑度可降至 2.0。
21.1.4 对检测区进行评定时，对应着不一样胶片透照技术或不一样底片观察技术区域黑度范围应分别在检测汇报中进行标识。
21.1.5 评定区最大黑度限值许可提升，但观片灯应经过校验，观片灯亮度应确保在底片最高黑度评定范围内亮度能够满足 20.3 要求。
21.2 底片像质计灵敏度
单壁透照、像质计置于源侧时应符合表 1 要求；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表 2要求要求； 双壁单影或双壁双影透照、 像质计置于胶片侧时应符合表 3 要求。
21.3 其它要求
底片上,定位和识别标识影像应显示完整、位置正确。底片评定范围内不应存在干扰缺点影像识别水迹、划痕、斑纹等伪缺点影像。在采取双胶片叠加观察评定时，假如其中一张底片存在轻微伪缺点或划伤，在能够识别和不妨碍底片评定情况下，能够接收该底片。
表 5 丝型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧
表1 像质计灵敏度值――单壁透照、像质计置于源侧
应识别丝号
(丝径,mm)
公称壁厚（T）范围，mm
AB级
18（0.063）
≤1.2
17(0.080)
＞1.2～2.0
16(0.100)
＞2.0～3.5
15(0.125)
＞3.5～5.0
14(0.160)
＞5.0～7.0
13(0.20)
＞7～10
12(0.25)
＞10～15
11(0.32)
＞15～25
10(0.40)
＞25～32
9(0.50)
＞32～40
8(0.63)
＞40～55

表2像质计灵敏度值－双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片测
应识别丝号
(丝径,mm)
公称壁厚（T）范围，mm
AB级
18(0.063)
≤1.2
17(0.080)
＞1.2～2.0
16(0.100)
＞2.0～3.5
15(0.125)
＞3.5～5.0
14(0.160)
＞5.0～10
13(0.20)
＞10～15
12(0.25)
＞15～22
11(0.32)
＞22～38
10(0.40)
＞38～48

表3像质计灵敏度值－双壁双影透照、像质计置于源测
应识别丝号
(丝径,mm)
公称壁厚（T）范围，mm
AB级
18(0.063)
≤1.2
17(0.080)
≤1.2～2.0
16(0.100)
＞2.0～3.5
15(0.125)
＞3.5～5.0
14(0.160)
＞5.0～7.0
13(0.20)
＞7～12
12(0.25)
＞12～18
11(0.32)
＞18～30
10(0.40)
＞30～40
9(0.50)
＞40～50
8(0.63)
＞50～60
22承压设备熔化焊对接接头射线检测质量分级
22.1 缺点类型
对接焊接接头中缺点按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺点和圆形缺点五类。
22.2 质量分级依据
依据对接焊接接头中存在缺点性质、尺寸、数量和密集程度，焊缝质量分为I、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个等级。
22.3 质量分级通常要求
a)I级对接焊接接头内不许可存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺点。
b)Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不许可存在裂纹、未熔合和未焊透。
c) 圆形缺点评定区内同时存在圆形缺点和条形缺点，应进行综合评级，即分别评定圆形缺点评定区内圆形缺点和条形缺点，将二者等级之和减一作为综合评级质量等级。
d)当各类缺点评定质量等级不一样时，以质量最差等级作为对焊接接头质量等级。
e) 对接焊接接头中缺点超出Ⅲ级者为IV级。
22.4 圆形缺点质量分级
a) 圆形缺点用圆形缺点评定区进行质量分级评定，圆形缺点评定区为一个和焊缝平行矩形，其尺寸见下表。圆形缺点评定区应选在缺点最严重区域。
圆形缺点评定区 单位：mm
母材厚度 T
≤25
＞25～100
评定区尺寸
10×10
10×20
b) 在圆形缺点评定区内或和圆形缺点评定区边界线相割缺点均应划入评定区内。将评定
区内缺点按下表要求换算为点数。
缺点点数换算表 单位 (mm)
缺点长径
≤1
1～2
2～3
3～4
4～6
6～8
＞8
缺点点数
1
2
3
6
10
12
25
不计点数缺点尺寸单位 (mm)
母材公称厚度 T
缺点长径
≤25
≤0.5
25<T≤50
≤0.7
＞50
≤1.4％T
c) 依据