48-TS-P-5108-测量系统分析.doc

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批准页

修订次
修 改 内 容
条 款 号

拟 制

签名： 职务：技术质量部经理 日期：
审 核

签名： 职务：管理者代表 日期：
批 准

签名： 职务：总经理 日期：

测量系统分析
1.目的
对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定要求，以达到确保产品质量的目的。
2.适用范围
适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析的管理。
3.职责
3.1技术质量部负责制订测量系统分析计划，负责对统计分析结果进行评估。
3.2计量室负责组织实施测量系统分析计划，收集数据并进行统计。
3.3 APQP小组负责对检测能力不足的量具适用性重新进行评估，确定对策（包括对已检测的产品的处理意见）。
3.4各部门配合测量系统分析工作。
4.定义
4.1量具
任何用于获得测量结果的装置，通常指生产中使用的检验、测量和试验设备。
4.2测量系统
由人员,量具,操作程序,其它设备和软件组成的用来对被测特性赋值的系统。
4.3重复性
由一个评价人（操作员）采用一种测量仪器，多次测量同一个产品的同一个特性时，获得的测量结果的变差。
4.4再现性
由不同的评价人（操作员）采用相同的测量仪器测量同一个产品的同一个特性时，测量结果的变差。
4.5稳定性（或飘移）
测量系统在某持续时间内测量同一基准或产品某一特性时，获得的测量值总变差。
4.6偏倚
测量结果的观测平均值与基准的差值。
4.7盲测
在实际测量环境下，操作员在事先不知道正在对测量系统进行分析的情况下进行的测试。
5.工作程序
5.1测量系统分析范围
对控制计划中规定的测量系统进行分析，也包括更新的量具（在检定有效期内进行）。
5.2测量系统分析的频率、计划
5.2.1测量系统分析频次一般为1年一次。
5.2.2技术质量部负责制定测量系统分析计划经技术质量部主管批准后，由计量室组织相关部门配合实施。
5.2.3对于同种类量具检测同种类产品,分析GR&R（合并的再现性和重复性）时可采用最小公差的项目做测量系统分析。
5.2.4新产品开发过程中根据试生产控制计划由技术质量部制定和组织实施测量系统分析计划。
5.3重复性和再现性分析（R&R或GR&R）
确定研究对象、工序、量具、产品和质量特性采用下列方法进行分析。
5.3.1均值极差法（X&R）
5.3.1.1选择2-3个操作员抽取5-10个样品进行盲测，每个操作员对同一样品的同一特性重复测量2-3次。
5.3.1.2将测量结果记录在《量具重复性和再现性数据表》上。
5.3.1.3负责组织此项研究的人员，依据数据表和质量特性规格，按标准规定的格式出具《量具重复性和再现性报告》。
5.3.1.4结果分析
5.3.1.4.1当重复性变异值（EV）大于再现性变异值（AV）时，可采取下列措施：
5.3.1.4.1.1增强量具的设计结构。
5.3.1.4.1.2改善量具的使用方式。
5.3.1.4.1.3对量具进行保养。
5.3.1.4.2当再现性变异值（AV）大于重复性变异值（EV）时应考虑：
5.3.1.4.2.1修订作业标准，加强对操作员的操作技能培训。
5.3.1.4.2.2是否需采用夹具协助操作，以提高操作的一致性。
5.3.1.4.2.3量具校准后再进行R&R分析。
5.3.1.5 R&R接收准则
5.3.1.5.1 R&R<10%可接受。
5.3.1.5.2 10%≤R&R≤30%，依据量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受。
5.3.1.5.3 R&R>30%不能接受，必须改进。
5.3.2极差（R）法
5.3.2.1选取2位评价人和5个产品，每个评价人对每个产品盲测一次，将测量结果记入《量具分析（极差法）》表格中。
5.3.2.2用表中的公式计算%GR&R（当过程变差不易求得时，公式中过程变差可用规格公差代替）。
5.3.2.3 GR&R接收准则：
5.3.2.3.1 GR&R<10%可接受。
5.3.2.3.2 10%≤GR&R≤30%，依据量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受。
5.3.2.3.3 GR&R>30%不能接受，必须改进。
5.4稳定性研究
5.4.1选取一个样品，并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果没有这样的样品，则从产品中选取一个样品，其测量值应处于预期测量范围的中间区域，将其作为标准样品。可能需要准备对应于预期测量范围的低、中、高数值的三个样品，对每个样品单独测量并绘控制图，但一般只需做中间值一个就可以了。
5.4.2定期（天、周）测量基准样品3-5次，决定样本容量和频率时考虑的因素有：校准周期、使用频率、修理次数和使用环境等。
5.4.3将测量值描绘在X&R、X&S控制图上。
5.4.4计算控制界限，并对不稳定或失控作出判断。
5.4.5计算测量结果的标准偏差，并将其与过程（工序）的标准偏差比较，以确定测量系统的稳定性是否适宜,如分析结果显示测量系统的标准偏差大于过程的标准偏差，那么此量具是不可接受的。
×100%
偏倚%=
5.4.6利用控制图判定稳定性的准则：
5.4.6.1点子不能超出上、下控制线。
5.4.6.2连续3点不能有2点落在2б—3б或（-2б）—（-3б）区域内。
5.4.6.3连续5点中不能有4点落在+1б以外区域内。
5.4.6.4不能有连续7点（或更多点）落在控制中心线的同一侧。
5.4.6.5不能有连续7点（或更多点）持续上升或下降。
凡呈现不稳定状态（失控）时，必须对量具进行校准或维修。
5.5偏倚分析
5.5.1独立样本法
5.5.1.1获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果没有这样的样品，则选取一个样品，但其测量值应处于预期测量范围的中间区域。可能需要建立相应于预期测量范围的低、中、高数值的三个样品，并对每个样品用更精密的量具测量10次计算其平均值，此值即为“基准值”。
5.5.1.2由一位操作员（评价人）以常规的方式对每个样品测量10次，并计算10次的平均值，此值即为“观测平均值”。
5.5.1.3计算偏倚
偏倚=观察平均值－基准值
过程变差=6б
偏倚
过程变差
过程变差无法求得时，可用规格公差代替，这样“偏倚%”的计算公式中分母使用“规格公差”代替。
5.5.2偏倚接受准则：
5.5.2.1对测量重要特性的系统偏倚%≤10%时接受。
5.5.2.2对测量一般特性的系统偏倚%≤30%时接受。
5.5.2.3偏倚%>30%时拒绝接受。
6.相关文件
6.1《测量系统分析手册（MSA）》
6.2 CHALCO-RM/QHSE-P-7601-2011《监视和测量装置控制》
7.质量记录
7.1《MSA定期监查计划表》
7.2《量具重复性和再现性数据表》
7.3《量具重复性和再现性报告》
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