检具设计.ppt

按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,*,檢 治 具 之 設 計,工標處治具課,一,.,檢 驗 治 具 之 定 義,是專門為零,;,組件的受控尺寸而設計,;,制造的檢驗工具,二,.,檢驗治具應用目的,A;,提高生產效率,;,降低成本,.,B;,控制產品品質均質,.,;,消除人為因素對產品之影,三,.,檢驗治具設計原則,.,治具公差選取原則,治具所給公差原則上應占被檢尺寸公差的,1/51/10,但有時確應按實際情況及加工能力而定,總的來講設計當中應盡可能給工件留出最大的制造空間,目前治具公差的選取有,2,種方法,：,一,、,是直接給出公差的同時參考機械加工能力,二,、,是按標準選定,並留有一定備磨量,公 差 帶 選 擇 圖 示,說明,S:,工件公稱尺寸,T:,工件公差帶,T3:,給工件所留制造公差帶,T1,T2:,治具,GO,和,NG,端公差帶,TS:,治具備磨量,(,需查表,),第一種,第二種,兩 种 方 案 對 比,實 例 說 明,已知,:,一個被測孔直徑為,=,.,+,/-,.,則按第一种公差帶選取方法其治具設計尺寸為,:,端為,:,.,+,.,/-,端為,:,.,+,/-,.,則按第二种公差帶選取方法其治具設計尺寸為,:,端為,:,.,+,.,/+,.,端為,:,.,+,/-,.,.,治具一般設計原則,;,檢治具設計應遵守,:,阿貝原則,尺寸鏈傳遞最短原則,變形最小原則,經濟原則,;,治具設計應可靠且操作簡單,;,迅速,;,准确,.,;,治具設計應考慮治具維護性,.,;,治具設計應考慮變更的靈活性,.,四,.,檢驗治具最低要求,;,外觀,:,治具的表面應無明顯影響治具使用的外部缺陷,如,:,划傷,;,嚴重鏽蝕,;,易造成傷害之尖角等,.,;,治具各相配合部分之滑動應平穩,;,靈活,;,無卡滯現象,.,;,治具零件表面粗糙度之要求,.,1.,治具工件與被測工件接觸的定位面,定位銷,定位塊等其表面粗糙度應不低于,Ra0.8.,2.,測量面,滑塊等表面粗糙度應不低于,Ra0.8.,3.,滑軌,導軌表面粗糙度應不低于,Ra0.4.,4.,有一定精度的線割孔,槽,電火花加工面,其表面粗糙度應不低于,Ra1.6.,五,.,檢驗治具測量誤差的主要來源,.,配合間隙產生的誤差,.,.,標准件,;,附件誤差,.,.,工件變形產生的誤差,.,系 統 誤 差,.,系統誤差,:,在同一測量條件下,多次測量同一量值時,.,若誤差的大小和符號固定不變或在條件改變時按一定規律變化的誤差,.,系統誤差之發現,.,實驗對比法,.,計算數据比較法,.,不同公式計算標准誤差比較法,.,剩余誤差觀察法,函數系統誤差計算,間接測量中,:,y=x1+/-x2+/-.+/-,xn,y=x1+/-x2+/-+/-,xn,函數系統誤差計算實例,某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成,=,1+,2,已知,:,1=50.000mm,L1=-0.0008mm,2=7.500mm,L2=-0.0005mm,求,:,和,L,解,:L0=50.000+7.500=57.500mm,L=-0.0008-0.0005=-0.0013mm,L=57.5000-0.0013=57.4987mm,偶然誤差,.,偶然誤差,(,隨機誤差,):,是指在同一定測量條件下,多次測量同一尺寸時,其絕對值和符號以不可預定的方式變化的誤差,.,函數偶然誤差的計算,間接測量中,:,y=x1+/-x2+/-.+/-,xn,y=+/-,QRT(1+2+n),偶然誤差計算實例,某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成,=,1+,2,已知尺寸檢測的极限偏差為,1=50.000mm,1=+/-0.00045mm,2=7.500mm,2=+/-0.00020mm,求,:,和,L,解,:L0=50.000+7.500=57.500mm,L=,=+/-,(1+2,)=+/-0.00049mm,L=(57.5000+/-0.00049)mm,最有利測量條件的确定,如某一測量過程中其測量結果受若干個因素的影響,如何建立測量結果与各因素之間的關系,使得測量誤差最小,這是在測量過程中要考慮的,.,六,.,治具常見的設計形式,.,常見型式,注,:,一般,mm.,.,常見型式,注,:,一般,mm.,.,常見型式,七,.,治具設計中易犯錯誤,1.,定位銷,塊過高,.,如上圖所示定位高度,L,過高,忽略了工件折邊角度之影響,通常定位高度應小于,5mm.,2.,長度檢測,說明,:,由于被測尺寸,L,過大,(,大于,200,以上,),基板又有方孔與,GO-NO GO Block,有配合精度要求,所以基板應熱處理,實踐中發現當時校正合格后,過,3,月個復檢時,多數尺寸會變大,0.07,以上,其原因主要是由於淬火件應力釋放所造成,建議設計成以下型式,基板不淬火,如圖,:,