延迟量测量2.ppt

按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,*,RETS,原理測量動作簡易説明,大塚科技,Jaffrey Wang,重點,一、偏光子（板）特性,二,、,何謂,位相差、屈折,率,三,、,直線偏光與,円偏光,的,形成,四,、,RETS,的,基本構成,五,、,RETSCalibration,測量動作,六,、,RETS,測量動作,(,Rotate Analyzer Method,),七,、,Retardation,Gap,的,計算,八,、,RETS,的,位相差公式,一、,偏光子（板）特性,限制光的行進方向,。,只向某方向行進的光稱為,直線偏光,。,將,二枚偏光板,垂直重疊的話,、,光將不能通過,P,自然光,p,光方進行向,偏光子方向,偏光子方向,二,、,何謂,位相差、屈折,率,光学的異方性,當光通過液晶時、不同振幅方向的光撞擊液晶分子、而造成光伝播速度的改變。這種會造成光速度改變的性質就稱為,光学的異方性,。,90度,二,、,何謂,位相差、屈折,率,位相差,當光射入帶有光学異方性的物質（如:液晶分子）時、因會造成光伝播速度的改變、所以會產生,先從液晶分子出來的波長和後出來的波長的速度差,。而這個速度差就會造成,位相差,。,90度,位相差,常光、,異常光,二,、,何謂,位相差、屈折率,屈折率,光,和,液晶分子,的,接触,面積愈大、受屈折率的影響越大、伝播速度就越慢。,相反的,接触,面積越小、受屈折率的影響越小、伝播速度越快,。,屈折率真空中光速度物質中光速度,縦波、,從,側方向,看,横波、,從,上方向,看,接触部分大,接触部分小,三,、,直線,偏光,的,形成,直線偏光,複屈折位相差：,、,當,某一偏光進入具有光學的異方性的物質時、因受其屈折率的影響、改變它本身的傳播速度而產生位相差。,當位相差為,0或,(360,度,),產生,増幅,直線偏,光。,而、當位相差為,(180),或,3,(540,度,),產生,減幅,直線偏,光,。,複屈折位相差：,、,直線偏光,+,0,/4,/2,3,/4,5,/4,3,/2,7,/4,2,透過光複屈折位相差,、,場合、,透過光直線偏光（方向）。（検光子透過光振幅最大：）,0,0,0,偏光子,光源,検光子,分解,合成,三,、,直線,偏光,的,形成 ,三,、円偏光,的,形成,複屈折位相差：,円偏光,當,某一偏光進入具有光學的異方性的物質時、因受其屈折率的影響、改變它本身的傳播速度而產生位相差。,當位相差為,/2(90,度,),時會產生圓偏光,三,、円偏光,的,形成 ,Y,-,-,90度,360度,180度,270度,0度,0度（、）,90度（、）,180度（、1）,270度（1、）,360度（、）,Y,横波,縦波,円偏光（正面）,-,-,0,度,90度,180度,270度,0,度,（、）,90度（1、0）,270度（1、0）,円偏光（立体）,180度（、）,四,、,RETS,的,基本構成,MCPD,検出器,受光,Fiber,投光,Fiber,Halogen Lamp,偏光,Unit,偏光解消,Unit,大型,X-Y-Z Stage,A,P,四,、,RETS,的,基本構成,五,、,RETS-Calibration,測量動作,目的：,1.,對齊,A,與,P,的角度,。,2.,求,A,的透過補正率,。,3.,用,板,來,校正,A,和,P,對,於機台的角度,。,4.測,量,板、,來,確認,RETS,有無異常,。,A,P,基準,Sample,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,五,、,RETS-Calibration,測量動作,A,P,Air,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,動作,對齊,A,與,P,的角度,Analyzer,回転、,來檢測從,Polarizer,射出的偏,光,。,之後,調整及記憶其角度,。,P,A,五,、,RETS-Calibration,測量動作,A,P,Air,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,動作,求,Analyzer,內的,Prism,補正透過率,a、A,在,OFF,状,態時,、,測量,AIR,。,b、,A,在,ON,状態,時,、測,量,AIR,。,、,用,a,和,b,求,得的值,、,來求,A,的,補,正,透過率。,Air,on,off,五,、,RETS-Calibration,測量動作,A,P,板,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,動作,用,板,來校正,A,和,P,對於,機台的角度,。,a、,放入,板,、,以,其,方向為基準,、,校,正,A,和,P,對於機台,的角度,。,測,量,板、,來,確認,RETS,有無異常,。,b、,最後,以,Rotate,Analyzer Method,來求,Sample,的,Re,。,板（位相板）,：,將,測量,結果與,基準,Date,做,比較、,確認,装置,的,狀態是否正常,。,動作,經由,Fiber,所,傳遞出來的,光,經過,Polarizer,後,、,形成,直線偏光,。,之後以,Rubbing Angle+45,度角,射入,Panel,。,A,P,Panel,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,六,、,RETS,測量,Rotate Analyzer Method,A,P,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,動作,求平行,Nicols,透過率,求,Reference,透過,Spectrum,a、A,在,OFF,状,態時,測量。,求,Measure,透過,Spectrum,b、,A,在,ON,状態,時,測量。,、,用,a,和,b,求得,的值,、,來求,平行,Nicols,透過率。,此時,A,和,P,的角度皆為,Rubbing Angle+45,度,on,off,六,、,RETS,測量,Rotate Analyzer Method,Panel,六,、,RETS,測量,Rotate Analyzer Method,動作,求,Cross Nicols,透過率,A,回轉,90度後(成為135度),求,Measure,透過,Spectrum,a、,A,在,ON,状態,時,測量。,b、,用,已求得的,Reference,值,、,來求,Cross,Nicols,透過率。,此時,A,的角度為,Rubbing Angle+135,度,P,的角度皆為,Rubbing Angle+45,度,A,P,Panel,MCPD,偏光解消,Unit,45度,135度,on,六,、,RETS,測量,Rotate Analyzer Method,動作,用,MCPD,分析,平,行,Nicols,與,Cross Nicols,透過率後求計算,Retardation,A,P,Panel,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,透過率（）,六,、,Retardation,Gap,的,計算(,Rotate Analyzer Method),（）,1.25,0.75,用,Graph,來,特定（,）,（例）（,）,時,、,從,Graph,可,找到,()。,最後以已知的,、,計算,（,Gap）,（例）,時,、,所以,（,Gap）,（）,（,）,比較平行,Cross,的,透過率、計算,平行透過測定,Cross,透過測定,Re=,=,：複屈折位相差（度）,：,波長（）,：屈折率（）,：,Gap（,）,：,Twist,角,透過率（）,Tc,（）T,（,）,=,tan,2,白岩,A,P,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,動作,只求平行,Nicols,透過率,求,Reference,透過,Spectrum,a、A,在,OFF,状,態時,測量。,求,Measure,透過,Spectrum,b、,A,在,ON,状態,時,測量。,、,用,a,和,b,求得,的值,、,來求,平行,Nicols,透過率。,此時,A,和,P,的角度皆為,Rubbing Angle+45,度,on,off,七,、,RETS,測量,Light Interference Method,Panel,動作,用,MCPD,分析,平行,Nicols,透過率後求計算,Retardation,。,A,P,Panel,MCPD,Halogen Lamp,偏光解消,Unit,透過率（）,七,、,RETS,測量,Light Interference Method,七,、,Retardation,Gap,的,計算,（,Light Interference Method,）,用,Graph,來,特定（,）,（例）（,）場合、,()読取。,最後以已知的,、,計算,（,Gap）,（例）,場合、,（,Gap）,検出,Perk,和,Valley,的,波長、計算,Reference,測定,平行透過率測定,Re=,=,：複屈折位相差（度）,：,波長（）,：屈折率（）,：,Gap（,）,：,Twist,角,Tp,=,cos,2,=m,=1/2（2m,1）,透過率（）,2.5,1.5,0.5,（）,（,）,八,、,RETS,的,位相差公式,Re=,=,的,由来,複屈折位相差,位相,的,差,公式,x,（,x ,）,屈折,的,法則,x,、,=,代入,代入,計算,計算,計算,