MSA测量系统分析.pptx

2019/4/25,#,GWM-PPT,V2012.2,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,2019/4/25,#,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,2019/4/25,#,MSA,测量系统分析,1,测量系统基本理念,测量系统变差识别,量具类型,1,研究,偏倚,线性,重复性再现性,稳定性,计数型测量系统分析,测量系统分析,课程目录：,一、测量系统基本理念,推行背景,在,QS9000,（或,TS16949,等）汽车业质量体系中，均具有针对测量系统分析的强制性要求。,亦即：企业除应对相关量具（或测量仪器）执行至少每年一次的定期校正以外，还必须对其实施必要的,“,测量系统分析,”,（即：,MSA),强制要求,一、测量系统基本理念,推行背景,在产品的质量管理中，数据的使用是极其频繁和相当广泛的，产品质量管理的成败与收益在很大程度上决定于所使用数据的质量，所有质量管理中应用的统计方法（,SPC,）都是以数据为基础建立起来的。为了获得高质量的数据，必须对产生数据的测量系统要有充分的理解和深入的分析。,MSA,是,SPC,的前提。,质量保证,一、测量系统基本理念,推行背景,对控制计划中列入的测量系统要进行测量系统分析,分析方法及接受准则应与测量系统分析参考手册一致,经顾客批准，可以采用其他方法及接受准则,与,TS,标准要求的关系,一、测量系统基本理念,推行背景,与,AIAG,其它参考手册的的关系,对新的或改进的量具，测量和试验设备应参考,MSA,手册进行变差研究。,MSA,为“过程设计与开发”、“产品,/,过程确认”阶段的输出之一。,MSA,是控制图必需的准备工作。,MSA,对现行的探测控制方法的探测度产生影响。,PPAP,APQP,SPC,FMEA,MSA,下料中心,冲压车间,商品技术部,设备动力部,涂装车间,测量,拓展活动,7,一、测量系统基本理念,测量误差,通过数据不难发现：,不同测量人使用同一把卡尺，对同一个零部件进行检测，其测量结果,存在巨大,误差，由此,反映,出，虽然量具校准合格,，但由于人员测量技能、操作方法、测量零部件的,位置等不同,，导致测量结果不,一致，而这种测量误差对产品质量保证存在巨大风险。,在生产现场，每个检验员都会认为自己测量的结果都是准确的，而他们的测量结果就是判定产品合格与否的依据，难道他们的测量不存在误差吗？如下表，为在一次测量比赛中，抽取各部门检验员，使用卡尺对某一零部件直径进行测量的结果：,一号检验员,二号检验员,42.567,42.572,同一人同种零部件的不同手法,Y=x +,测量,值,=,真值,(,True Value,)+,测量误差,戴明,说没有,真,值,的,存在,稳定,一致,、最小,一、测量系统基本理念,测量误差,9,一、测量系统基本理念,测量系统变差的影响,1,、测量结果在,区（红色区域），可判定该测量零部件肯定不合格,2,、测量结果在,区（绿色区域），可判定该测量零部件肯定合格,3,、测量结果在,区（灰色区域），,由于测量误差存在，会出现两种误判：合格品误判为不合格品被拒收，不合格品误判为合格品放行。,规格下限,规格上线,工艺要求中心,最佳目标,区,区,区,区,区,测量系统误差宽度,测量系统误差宽度,你的测量系统灰色区域有多大？误判的几率有多高？,对产品决策的影响,好,坏,坏,LSL,USL,改进方法一,改进过程减小偏差,改进方法二,减少测量系统误差,一、测量系统基本理念,测量系统变差的影响,11,一、测量系统基本理念,测量误差产生的原因,量具,的分辨能力,量具,的精密度,(,重复性,),量具,准确度,(,偏差,),量具,的,损坏,不同仪器和夹具,间的差异,不同使用,人员,的差异,(,再现性,),使用不同的,方法,所造成差异,不同,环境,所造成的差异,测量零部件,的清洁及测量位置,一、测量系统基本理念,测量误差产生的原因,量具,现有管理：,只关注,了,量具检定、校准，未对具体的测量方法、环境等进行系统规范和管理，仅能保证量具合格，并不能保证测量,出来的结果是合格、有效,的，造成误判和不合格品流出；,正确方向：,关注于整个测量系统，从人、机、料、法、环等各方面对实际测量进行验证和规范，保证测量系统的可靠性。,环境,人员,制件,方法,例如,，在测量前测量人员对量具表面进行擦拭，实际应该对测量面进行,擦拭,测量系统：,对被测产品特性赋值所使用的设备（包括量具）、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合，也就是说用来获得测量结果的整个过程称为测量系统。,一、测量系统基本理念,测量系统概念,14,一、测量系统基本理念,测量系统概念,2,3,4,标准,量具,过程的单个输出之间不可避免的差异，变差的来源,可分为：普通原因变差和特殊原因变差。,接受的用于比较的基准。,任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用在,车间的装置，包括通过,/,不通过装置。,用于判定接受与否的数据。,变差,15,理想的测量系统,零方差,零偏倚,零错误概率,实际上是不存在的,!,一、测量系统基本理念,测量系统概念,16,尽可能好的测量系统,足够的分辨率和灵敏度,变异和公差相对较小,有良好稳定的溯源性,受控制运行,实际上是存在的,!,一、测量系统基本理念,测量系统概念,17,寻找尽可能好的,测量系统,识别变差源,识别,潜在的变,差,源,监视这些变差源,排除所有的变差源,使测量系统受控制,运行,实际上是可以做到的,!,一、测量系统基本理念,测量系统概念,18,19,一、测量系统基本理念,测量系统变差类型及基本概念,准确性,（偏移性问题）,精确性,（波动性问题）,稳定性（波动变大或偏倚变化）,偏倚,线性,重复性,再现性,稳定性,我们对测量数据有什么期望？,准确性：数据必须告诉我们真相！,重复性：重复测量必须产生同样的结果！,再现性：结果不应该受检验员的影响。,一、测量系统基本理念,测量系统变差类型及基本概念,测量系统分析：,指用统计学的方法来了解测量系统的各个变差源，以及他们对测量结果的影响，最后给出测量系统是否符合使用要求的明确判断。,制造过程,原,辅,料,人,机,法,环,测量,测量,结果,合格,不,合格,测量,测量系统分析的目的是确定所使用的,数据是否可靠,一、测量系统基本理念,测量系统分析,MSA,分析,时机：,新生产之产品,PV(,零件,),有不同时,新仪器，,EV(,设备,),有不同时,新操作人员，,AV(,人员,),有不同时,校准周期,(,文件规定,),。,测量系统分析可以：,评估新的测量仪器,将两种不同的测量方法进行比较,对可能存在问题的测量方法进行评估,确定并解决测量系统误差问题,一、测量系统基本理念,测量系统分析,一、测量系统基本理念,分析前的准备,测试人员和分析人员的选择,测试人员和分析人员不能是同一个人,测试人员实施测量并读数,分析人员进行记录并分析。,评价人应是日常使用被分析检具的操作工,/,检验员。,测试操作人员和分析人员应经过培训,熟悉操作方法和分析方法。,测量时应尽量采用盲测，以排除人为的干扰。,一、测量系统基本理念,分析前的准备,量具的准备,应针对具体尺寸,/,特性选择控制计划指定的量具，若控制计划未明确规定某种编号的量具，则应根据实际情况对现场使用的量具进行,MSA,分析,确保要分析的量具是经校准合格的,仪器的分辨率应允许至少直接读取特性的预期过程变差的十分之一（,1/10,）。,一、测量系统基本理念,分辨率,指测量系统识别并反映被测量最微小变化的能力；测量仪器分辨率可定义为测量仪器能够读取的最小测量单位。,通常要求量具的最小精度，小于公差宽度的,1/10,和过程分布,6,宽度的,1/10,中的较小者。（具体选择和,CP,值大小有关系，,越小量具要求的分辨率就越高）,直尺,卡尺,千分尺,2.8,2.79,2.794,2.8,2.82,2.822,2.8,2.82,2.819,2.8,2.79,2.791,分辨率,一、测量系统基本理念,分辨率,另外还可以通过可区分的类别数,ndc,来表示,:,ndc=INT,（,1.41,过程总变差波动宽度,/,测量系统的波动宽度）,其中,INT,表示取整数，通常要求,ndc,大于等于,5,时，测量系统具备起码的分辨率,极差控制图可显示分辨率是否足够：（看控制限内有多少个数据分级）,分辨率低的极差图,分辨率高的极差图,一、测量系统基本理念,分析前的准备,样品必须从过程中选取并,代表其整个工作范围,。有时每一天取一个样本，持续若干天。这样做是有必要的，因为分析中这些,零件被认为生产过程中产品变差的全部范围,。一般来说，,样品的抽样原则是,1-2-4-2-1,。,样品的选择,二、测量系统变差分析与控制,测量变差识别,方法的,选择,二、测量系统变差分析与控制,测量变差标准化,对每一项测量系统建立测量规范，对测量系统变差影响因素进行规范和标准化，保证测量过程的一致性和可靠性。,30,进行评价时应注意一下几点,：,对于测量次数多、频次高的量具，应做稳定性；对于通用量具，在量程范围内许多点都测，通常做线性不做偏倚性，但是对于专用量具必要时做偏倚；一个人专用一把量具时，不需要再现性分析，只需做重复性；再现性分析时，要覆盖所有测量人员；,建立测量系统变差分析,矩阵,：（三坐标）,二、测量系统变差分析与控制,确定分析特性,二、测量系统变差分析与控制,确定分析特性,测量系统包括操作者、仪器、零件、方法、环境、,标准、假设等各种影响因素，在进行测量系统分析之前，,我们必须充分识别影响测量的各种因素，可以使用的工具,是测量系统变差的因果图或测量系统变差分析矩阵表，考,虑到后者能够对变差类型与变差来源的相关性进行量化，,这里建议使用测量系统变差分析矩阵表。,注：在此基础上制定,MSA,分析计划，选择所需的分析方法。,制定测量系统分析计划：（变差分析后再做,MSA,计划）,二、测量系统变差分析与控制,测量系统分析计划,二、测量系统变差分析与控制,测量变差识别,应尽可能与测量系统实际,使用的环境相一致,测试环境的确定：,二、测量系统变差分析与控制,测量系统分析流程,分析要点：,1.,改变,MSA,就是作分析报告的理念！我们分析的是测量系统，而非测量数据！,2.,学会用分析结果思考问题，清楚分析结论意味着什么！有什么后果！,3.,理解、分析和标准化测量系统变差。,二、测量系统变差分析与控制,测量系统分析要点,三、量具类型,1,研究,三、量具,类型,1,研究,三、量具,类型,1,研究,39,三、量具,类型,1,研究,40,序号,测量变差,规范方法,1,测量人员未进行垂直测量；,使用时，操作者必须佩戴劳保用品，不允许裸手操作，且测量时量爪应在孔的直径方向上测量，使游标卡尺保持水平状态，使量爪垂直孔径,2,未将卡尺进行旋转，并寻找测量过程最大值；,选取孔径三个方向进行旋转测量，并在每个方位上小范围旋转，选取测量过程中最大值,3,过程中用力不均匀，导致测量偏差大；,规范操作人员用力情况，每次测量力度保持一致,4,测量过程中，未对卡尺归零过程进行确认；,轻推尺框，使卡尺量爪测量面合并，显示屏幕数字为零，且用眼睛观察时游标卡尺两量爪紧密结合应无明显的光隙,三、量具,类型,1,研究,41,规范前：,1,、运行,图中绝大部分点超出控制限，说明存在负偏移的现象，,偏移量为,-0.0836,2,、,cg=0.18,和,cgk=-0.58,说明测量能力严重不足，存在较大的测量误差；,3,、重复性（,EV%,）为,109.90%,，大部分点子超出下限，说明,测量误差占公差的,109.90,%,，且存在偏移现象,。,规范后：,1,、运行图中大部分点子在参考值上下波动，过程不存在偏移；,2,、,cg=0.351.33,cgk=0.2910%,，大部分点子超出上下限，说明,测量误差约占公差宽度,的,57,%,；,综上所述：,改进后测量能力,Cg,由,0.36,提升至,0.70,，但该测量能力不足需进行改进,三、量具,类型,1,研究,42,测量误差为公差的,109%,测量误差为公差的,57%,目标：,测量误差为公差的,20%,三、量具,类型,1,研究,43,偏倚,对相同零件上的同一特性的观测平均值与真值的差距。,四、偏倚性分析,2012,年抽取马波斯测量机数据，,PPM,值达到,49048,，严重影响产品一致性；从,2009,年至,2012,年,7,月，缸体线马波斯测量机测量缸孔数据不稳定，屏蔽一半检测功能，导致不能对缸孔特性,100%,监控，存在质量隐患。,发生源在,OP100,珩磨工序，流出源在,OP150,马波斯测量机工序，首先应对马波斯测量机的测量系统进行分析。（先进行偏倚性）,马波斯测量机：,测量缸体缸孔及曲轴孔，测量分辨率,0.1m,，加工节拍,110s,马波斯测量机温度要求：,1,、温度补偿范围：,15C-40C,；,2,、机床周围环境的温度变化在,2,/,每小时的范围内。,方法：,选取,一个落在生产测量范围中间的样件，作为基准件，在测量室中或应用更为精确的工具，进行多次重复测量，,n10,次，求平均值，作为参考值（参考真值）,。,实际操作：,选取,1,件缸体，在机加二车间珩磨机测量工位测量,10,次，取其平均值,75.0053,为基准值（机加二珩磨机测量缸孔测量精度,0.1um,、该过程测量系统合格）,4,.1,确定参考值：,四、偏倚,性分析,所选缸体在机加一车间马波斯测量机，测量,15,次,获得,如下测量,数据,：,4,.2,收集数据：,四、偏倚,性分析,注意：,测量系统分析必须在平时测量的方法、环境等条件下进行，对于需进行刻度读取的必须进行盲测。,4,.3,操作步骤,四、偏倚,性分析,mu=75.0053,与,75.0053,的检验,平均值,变量,N,平均值 标准差 标准误,95%,置信区间,T P,C1 15 75.0022 0.0004 0.0001 (75.0020,75.0025)-27.04 0.000,4,.4,生成图形,四、偏倚,性分析,如上图，,查看直方图,，,H0,未落在蓝线的置信区间之内，且查看对话栏中，参考,值,75.0053,未,落在,置信区间,(75.0020,75.0025),内,，说明测量系统存在偏倚；（反之不偏倚）,查看对话栏，,P=0.0000.05,否定了均值,为,75.0053,的,假设，说明测量系统存在偏倚；,测量系统,的平均偏倚,为,70.002270.0053,=,0.0031,综上所述，该测量系统偏倚性不合格,，偏倚,量为,0.0031.,4.4,图形分析,四、偏倚,性分析,4.5,原因分析与改进,如果偏倚在统计上不等于,0,，检查是否存在以下原因：,基准件或参考值有误,检查确定标准件的程序,仪器磨损,维修,仪器所测量的特性有误,仪器没有经过适当的校准,对校准程序进行评审,评价者使用仪器的方法不正确,对测量指导书进行评审,如果偏倚不等于零，应采用硬体修正法和软体修正法对量具进行重新校准以达到零偏倚；,四、偏倚,性分析,4.5,原因分析与改进,四、偏倚,性分析,原因调查：,抽取不同温度制件，工件,温度在,26-33,之间与缸孔直径为强负相关关系，与金属材料热胀冷缩的温度特性相反，分析为马波斯测量机温度补偿系数不合理。,改进措施：,在,26-33,工件温度范围内，根据回归方程对马波斯测量机的温度补偿系数优化后，两者呈不相关关系，测量系统工件温度变差源消除，解决偏倚性问题,4.6,二次偏倚性验证,四、偏倚,性分析,9,月,27,日，对马波斯测量机进行测量能力分析，结论,：,1,、在“直方图”中，可以看出黑色,H0,落在蓝色区间内,，说明偏倚可接受。,2,、从,MTB,分析报告得出，,0,在,95%,置信区间,(-0.0002,0.0001),内,，说明此结果可信。,线性的各个零件参考值的确定方法同偏倚完全相同，选择了参考值为：,30.0003,、,200.0002,、,300.0003,、,700.0009,、,999.9989,的量块，最大限度的涵盖全部工作量程。,线性,指在测量设备预期的工作量程内，偏倚值的差异，线性可以被视为偏倚相对于量程大小不同所发生的变化。所以在进行零部件选取时，需要,尽可能涵盖所有的工作量程范围,，以量程为,150MM,的卡尺为例，可以选择,10MM,、,20MM,、,50MM,、,100MM,、,130MM,等,5,个零部件进行线性分析，具体评价方法为：,5.1,确定参考值：,五,、线性分析,由,三坐标室的测量员，以正常的方式对,5,个量块分别进行测量,10,次，获得如下测量数据：,5.2,收集数据：,五、线性,分析,5.3,操作步骤,五、线性,分析,5.4,生成图形,五、线性,分析,查看,0,偏倚线和平均偏倚值是否完全在两条红色的,95%,置信区间之内。如图所示，该过程,0,偏倚线在,95%,置信区间之外，平均偏倚值有不在,95%,置信区间之内的现象说明过程存在线性问题；,查看线性百分率为,0%,，说明量具线性问题占过程变异的,0%,；,参考值的偏倚百分率是,0.5%,，这表示量具偏倚占整个过程变异的比率小于,0.5%,。,综上所述,，该测量系统线性不合格，但量具线性问题占过程变异的,0%,，测量系统的能力较高，在实际工作中相对于过程变差，对测量数据的影响较小，可不考虑。,5.5,图形分析,五、线性,分析,造成线性误差的可能原因如下：,仪器需要校准，缩短校准周期,仪器、设备或夹具的磨损,维护保养不好,空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁,基准的磨损或损坏，基准的误差,最小,/,最大,五、线性,分析,重复性：,通常被称为评价人内部的变差或设备变差（,EV,），是同一评价人使用相同的测量仪器对同一零件上的同一特性，进行多次测量所得到的测量系统的变差。,再现性：,通常称为“评价人之间的变差”，它是指用不同评价人使用相同的测量仪器对同一产品的同一特性，进行测量的平均值的变差。,6.1,定义,极差,法、均值极差法、方差分析法,六,、重复性再现性分析,以涂装车间膜厚仪,GRR,分析为例给大家做一下介绍：,交叉式双性研究：,6.2,零部件的选取：,为了保证所选样本能代表过程变差的实际或预期范围，每天早中晚各抽取一台同色同款的车，利用,4,天共抽取,10,台车，选取车身同一位置进行测量。,标本一般为,10,个，能代表过程的分布。,六、重复性,再现性分析,6.3,收集,数据：,选择了三位操作者，对同一台车的同一位置分别测量三次，（由于膜厚仪为数字显示，故未采用盲测），共收集了,10,台车，,90,个数据，如下表：,六、重复性,再现性分析,6.4,生成分析报告，具体操作步骤如下：,六、重复性,再现性分析,量具,R&R,研究,-,方差分析法,包含交互作用的双因子,方差分析表,来源,自由度,SS MS,F,P,零部件,9,110.627,12.2919,337.164,0.000,测量人,2,0.022 0.0108,0.296,0.748,零部件*测量人,18,0.656,0.0365,1.006,0.466,重复性,60 2.173,0.0362,合计,89,113.478,p0.05,，不能拒绝零假设,，说明样本来自相同的正态总体；,6.5,生成,分析报告：,六、重复性,再现性分析,量具,R&R,方差分量,来源 方差分量,贡献率,合计量具,R&R,0.03628,2.59,重复性,0.03628,2.59,再现性,0.00000,0.00,测量,人,0.00000,0.00,部件间,1.36174,97.41,合计变异,1.39801,100.00,过程公差下限,=20,研究,变异,%,研究变,%,公差,来源,标准差,(SD),(,6*SD),异,(%SV),(,SV/Toler),合计量具,R&R,0.19046,1.14278,16.11 31.67,重复性,0.19046 1.14278 16.11,31.67,再现性,0.00000,0.00000,0.00 0.00,测量人,0.00000,0.00000,0.00 0.00,部件间,1.16693,7.00161,98.69 194.01,合计变异,1.18238,7.09425,100.00,196.58,可区分的类别数,=8,六、重复性,再现性分析,六、重复性,再现性分析,查看,分辨率：,在对话栏最后，可区分的类别数,=8,，说明量具的分辨率,ndc=8 5,，说明测量系统分辨力充分满足要求；（注释：量具的分辨率是指量具的精度是否能够识别过程变差的变化，通常用,ndc,表示，,ndc 5,说明分辨率合格，实际过程中评价一个量具分辨率是否合格，通常要求量具的最小精度，小于公差宽度的,1/10,和过程分布,6,宽度的,1/10,中的较小者。,）,GRR,分析：,GRR=16.11%,、重复性变差为：,16.11%,，再现性变差、评价人、人与零部件的交互作用的变差占总变差的,0,%,（,注释,：,a.GRR,代表测量系统变差占过程总变差的比率，通常要求：,GRR,10%,表明测量系统重复性和再现性合格、,10%,GRR,30%,表明为临界状态，可根据企业实际情况决定是否可接受、,GRR 30%,，表明测量系统不可接受；,b.,在对话框中，,%,研究变异,(%SV),列中，可以得到量具,GRR,、重复性、再现性、评价人、人与零部件、零部件变差分别占过程总变差的比率,）,总体评价：,GRR=16.11%,，且全部为重复性变差导致，,测量系统合格但处于,临界范围,，需,采取,措施减小,测量设备的重复性变差。,六、重复性,再现性分析,六、重复性,再现性分析,六、重复性,再现性分析,规格下限,规格上线,工艺要求中心,最佳目标,区,区,区,区,区,测量系统误差宽度,测量系统误差宽度,你的测量系统灰色区域有多大？误判的几率有多高？,七、稳定性控制,均值极差法,（,1,）获取一个样件并建立其与可可溯到相关标准的基准值。如果不能得到这一基准值，选择一件落在生产测量范围中间的生产件，指定它为稳定性分析的基准件。跟踪测量系统稳定性时，不要求该已知的参考值。,（,2,）让一个评价人使用被分析的量检具以正常方式以一定的周期（每天、每周）测量基准件,3-5,次（抽样的数量和频率应该取决于对测量系统的认识）。测量,20,组数据，并将所得测量数据记录到下表。,稳定性分析数据表,70,（,3,）,Minitab,软件操作步骤：,（,a,）将“稳定性数据记录表”中的数据输入到工作表中；,（,b,）点选统计控制图,子组的变量控制图,Xbar-R;,71,（,3,）,Minitab,软件操作步骤：,（,c,）点开“标签”，输入“标题”内容；,（,d,）点开“,Xbar-R,”选项检验，根据,8,大原则对“执行选定的特殊,原因检验”进行设置，设置完成后点选“确定”生成图形。,（,4,）,依据,8,大原则对稳定性进行判定。,72,造成不稳定的可能因素有：,仪器需要校准，需减少校准时间间隔；,仪器、设备或夹紧装置磨损；,正常的老化或损坏；,维护保养不好,空气、动力液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁；,基准磨损或损坏，基准偏差；,不适当的校准或使用基准设定；,仪器质量差；,设计或,符合性不好；,仪器缺少稳健的设计或方法；,不同的测量方法,作业准备、加载、夹紧、技巧；,测量的特性不对；,变形（量具或零件）,环境,温度、湿度、震动、清洁度；,错误的假设，用错常数；,应用,零件数量、位置、操作者技能、疲劳、观测误差（易读性、视差）,。,73,稳定性,指在一段时间内，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性，进行测量所获得的总变差，也就是说稳定性是随着时间的变化,偏倚或波动宽度的,变化。,稳定性的分析方法,均值极差控制图,预见性：先知先得,均值图（偏移大小）,极差图（波动大小）,七、稳定性控制,计数型测量系统是：测量值为一有限分类数量的测量系统，如通止规等，下面以动力缸盖座圈跳动检测为例进行讲解。,八、计数型测量系统分析,现状：我司缸盖加工中，缸盖座圈跳动用红丹粉检测，抽检频次,1/40,，进行目视检测，具体检测方法：由检验人员手动涂抹红丹粉，至缸盖座圈锥面跳动检验标准气门上，用检验标准气门反复在座圈锥面进行接触，次数,2,，然后观察是否涂抹均匀，有无空白部位，如存在空白部位，则检验不合格。,八、计数型测量系统分析,记录准则,（,1,）指定为可接受判断,（,0,）为不可接受判断。,下表中的,基准判断和计量基准值不预先确定。表的“代码”列还用“,-”,、“,X”,、“,+”,显示了零件是否在第,I,，,，,区域,。,假设检验,分析,交叉表方法需要小组使用计量型检具确定零件的基准判断值，以用来比较各评价人与基准值之间的一致性。,8.1,抽取零部件：,为了保证所选样本能代表过程变差的实际或预期范围，工件从生产线随机抽取,50,件作为分析的样本，以覆盖全部的过程变差。,8.2,测量数据：,选择三位评价人分别为，由每位评价人分别对,50,个零部件的进气座圈锥面接触面积各测量一次为,1,个循环，共测量,3,个循环,测量过程中他们并不知道所测样件的编号，且每位评价人测量时另外两名评价人回避，达到了盲测的要求。如下表为测量数据,：,八、计数,型测量系统分析,8.3,进行交叉计算和分析,八、计数,型测量系统分析,测量系统分析,通过因为,A,交,C,的,kappa,值大于,0.75,，但,A,交,B,、,B,交,C,的,kappa,值大于,0.6,且小于,0.75,，故三者之间一致性尚可，但还需要进行改善。,说明：,kappa,值,=1,说明完全一致，,kappa,值大于,0.75,说明一致性较好，,kappa,值小于,0.4,说明一致性不好测量系统不合格，,kappa,值大于,0.4,且小于,0.75,，一致性尚可，但还需要进行改善。,说明：,八、计数,型测量系统分析,1,、,A,和,B,均判定合格的数量,3,、,A,判定合格的总数量*,B,均判定合格的数量,/,总数,2,、,A,和,B,均判定不合格,3,、,A,判定不合格的总数量*,B,均判定不合格的数量,/,总数,4,、,(,均判定合格数,+,均判定不合格数,)/,总数,5,、,(,期望均判定合格数,+,期望均判定不合格数,)/,总数,6,、,8.4,测量系统改进,八、计数,型测量系统分析,改进后：印泥检测方法,印泥涂抹均匀，几乎无厚度,气门与座圈接触次数,=1,，避免重复接触,如图所示，用印泥涂抹座圈密封锥面，各表面厚度比较均匀，且只接触,1,次即达到效果要求。,改进前：红丹粉检测方法,红丹粉涂抹厚度不均匀,气门与座圈接触次数,2,问题：,检验员手动涂抹红丹粉过程中，各表面涂抹厚度不均匀，导致检测结果存在误差,课堂回顾,