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硬件测试笔试题V1-(附答案).docx

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资源描述
硬件测试工程师笔试题 (本试卷满分100分,请将答案写在答题卡上及试卷一并上交) 姓名: 日期: 分数: 一. 判断题:本题共10小题,每题2分,共20分。 1. 发现错误多的模块,残留在模块中的错误也多。( ) 2. 测试人员在测试过程中发现一处问题,如果问题影响不大,而自己又可以修改,应立即将此问题正确修改,以加快、提高开发的进程。( ) 3. 功能测试是系统测试的主要内容,检查系统的功能、性能是否及需求规格说明相同。( ) 4. 编写测试计划的目的是:使测试工作顺利进行,使项目参及人员沟通更舒畅 ,使测试工作更加系统化。( ) 5. 硬件测试目的是杜绝产品硬件上无任何问题。( )  6. 验收测试是由最终用户来实施的。( ) 7. 钽电容最适合用来滤除高频噪音。( ) 8. 负载测试是验证要检验的系统的能力最高能达到什么程度。( ) 9. 无线电监测中,常用一些单位有dBuv、dBm等,dBm是功率单位。( ) 10. 10W功率可由40dBm表示。( ) 二. 选择题(不定向选择):本题共10小题,每题4分,共40分。 1. 常见的信号完整性问题有:( ) A,过冲 B,反射 C,震荡 D,环绕 2. 下列属于产品可靠性指标的是:( ) A,失效率 B,平均寿命 C,直通率 D,可靠度 E,维修度 3. SRAM中文名称是:( ) A,动态随机存储器 B,动态 C,静态 D,静态随机存储器 4. 以下几种可以做为硬件测试标准的输入:( ) A,用户需求 B,国标 C,产品规格 D,硬件测试工程师经验 5. 稳压管通常工作于( ),来稳定直流输出电压 A,截止区 B,正向导通区 C,反向击穿区 6. 已知如图所示放大电路中的RB=100kΩ,RC=1.5kΩ,Vcc=12V ,晶体管的β=80, UBE=0.6V。则可以判定,该晶体管处于( ) A,放大状态 B,饱和状态 C,截止状态 7. 场效应管是一种( )控制型的电子器件 A,电流 B,光 C,电压 D,功率 8. 数字示波器双踪显示时,触发源选择短周期信号、或是幅度稍小的信号。( ) A,对 B,错 9. 半导体三极管的放大条件是( )。 A. 发射结正偏,集电结反偏   B. 发射结正偏,集电结正偏   C. 发射结反偏,集电结正偏   D. 发射结反偏,集电结反偏 10. 手机适配器选购时主要考虑的因素有( ) A. 输入电压   B. 输出电压   C. 接口外形   D. 输出电流   E. 外形  三. 简答题:本题共6小题,每题5分,共30分。 1. 请你描述什么是硬件测试,测试目的,项目开发过程中硬件测试流程? 2. 请列举出你使用过的测试仪器,并简单表述各测试设备作用。 3. 请描述负反馈种类及其优点 。 4. 基尔霍夫定理的内容是什么?  5. 晶体管基本放大电路有共射、共集、共基三种接法,请简述这三种基本放大电路的特点。 6. IC设计中同步复位及异步复位的区别。 四. 附加题:本题10分 画出CMOS电路的晶体管级电路图,实现Y=A*B+C(D+E)    (提示:首先将表达式全部用及非门和非门表示,然后将用 CMOS 电路实现的非门和及非门代入即可。) 硬件测试工程师笔试题答案 五. 判断题:本题共10小题,每题2分,共20分。 六. 选择题(不定向选择):本题共10小题,每题4分,共40分。 11. ABCD 12. ABDE 13. D 14. ABC 15. C 16. B 17. C 18. B 19. A 20. ABCD 七. 简答题:本题共6小题,每题5分,共30分。 7. 略 8. 略 9. 电压并联反馈,电流串联反馈,电压串联反馈和电流并联反馈  降低放大器的增益灵敏度,改变输入电阻和输出电阻,改善放大器的线性和非线性失真,有效地扩展,放大器的通频带,自动调节作用 10. 基尔霍夫定律包括电流定律和电压定律。  电流定律:在集总电路中,任何时刻,对任一节点,所有流出节点的支路电流代数和恒等于零。 电压定律:在集总电路中,任何时刻,沿任一回路,所有支路电压的代数和恒等于零 11. 共射:共射放大电路具有放大电流和电压的作用,输入电阻大小居中,输出电阻较大,频带较窄,适用于一般放大。 共集:共集放大电路只有电流放大作用,输入电阻高,输出电阻低,具有电压跟随的特点,常做多级放大电路的输入级和输出级。  共基:共基电路只有电压放大作用,输入电阻小,输出电阻和电压放大倍数及共射电路相当,高频特性好,适用于宽频带放大电路。 12. 同步复位在时钟沿采集复位信号,完成复位动作。异步复位不管时钟,只要复位信号满足条件,就完成复位动作。 异步复位对复位信号要求比较高,不能有毛刺,如果其及时钟关系不确定,也可能出现亚稳态。 八. 附加题:本题10分 第 3 页
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