快速连接器标准信行业标准.doc

中华人民共和国通信行业标准
ST/PC型单模光纤光缆活动连接器技术规范
Requirements specification of single-mode optical fiber
and cable connector: Type ST/PC
YD/T 987-1998
前　言
　　本标准参照IEC 60874-10-2 光纤光缆连接器 第三10-2部分 BFOC/2.5型单模光纤BI类光纤连接器详细规范和GEC 60874-10-3光纤光缆连接器第10-3部分 BFOC/2.5型单模和多模光纤适配器详细规范，结合我国的实际情况制定。
　　本标准可作通信行业中ST/PC型单模光纤光缆活动连接器产品标准。
　　本标准由邮电部电信科学研究规划院提出并归口。
　　本标准由邮电部武汉邮电科学研究院起草。
　　本标准主要起草人：梁臣桓 金正旺
1 范围
　　本标准规定了一般用途的ST/PC型单模光纤光缆活动连接器（以下简称ST/PC型连接器）、标准插头和标准适配器（Adaptor）的图型、配合尺寸、光学特性、光纤光缆和胶合材料的要求；规定了质量评定程序；规定了测量和试验方法；规定了检验程序和方法；规定了标志、包装、运输及贮存要求。
　　本标准适用于ST/PC型连接器，它包括插头和适配器两部分。属卡口连接型。
　　本标准提供的规范适用于ST/PC型连接器的设计生产、检验和使用。
2 引用标准
　　下列标准包括含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。
　　GB 2421-1989 电工电子产品基本环境试验规程 总则
　　GB 2828-1987 逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）
　　IEC 874-1（1993） 光纤光缆活动连接器 第1部分 总规范
　　IEC 875-1（1992） 纤维光学分路器 第1部分 总规范
　　IEC 61300-3-23（1998）光纤互连器件和光源器件基本试验和测试方法第一-23部分
　　　　　　　　　　　　　光纤相对于插针端面位置的检验和测量
3 定义
3.1 ST/PC型连接器
　　是按照“插头-适配器-插头”的结构组成的光纤活动连接器的一个子系列。单模光纤嵌插在外径标称为2.500mm的高精度插针体（Ferrule）中，插针体端面为凸球面，两插头通过适配器用卡口对形式进行连接。
3.2 跳线
　　两端都装有插头的一段光纤或光缆。
3.3 配合面尺寸
　　确定一套光纤连接器元件之间接插配合的零部件尺寸。
3.4 同轴度误差
　　插针端面处光纤芯轴线与插针圆柱体轴线之间的距离。
3.5 模场同心度误差
　　模场中心和包层中心之间的距离
3.6 角对中误差
　　激励光束轴线与插针圆柱体轴线之音质角度偏移。
3.7 球偏心度
　　插针凸球面顶点与插针圆柱体轴线之间的距离。
3.8 插接参考面
　　光纤适配器的插接参考面是一个垂直于光纤轴线并位于器件的机械零件上的平面，它是器件所有机械零件在光纤轴线方向上进行测量的基准面。
4 技术要求
4.1 分类
　　本标准的连接器分类如下。
　　类型：
　　--名称：ST
　　--结构：插头-适配器-插头
　　--连接方式：卡口式
　　配合图型尺寸：
　　--插头：见图1、2、3、4和表1、2、3、4
　　--适配器：见图5和表5
　　--塞规：见图6和表6
　　式样：
　　--光耦合方式：对接
　　--对中方式：弹性套筒对中
　　--光纤类型：B1类
　　--光缆保持：夹持
　　气候类别：25/70/4
　　环境类别：4
　　评定水平：A
　　评定程序：固定样品程序
4.2 图型和尺寸
　　ST/PC型连接器分为插头和适配器两部分。本标准给出的配合面装置要确保无实际损伤的机械互换性，并保证插头和适配器的精确互接。
4.2.1 插头
　　插头的配合面装置图如图1、2、3、4所示，尺寸分别由1、2、3、4给出。

图1 插头配合面装置图
表1 插头配合面尺寸 mm
标记
最小值
最大值
A
2.4985
2.4995
B
5.25
5.46
C
0.91
1.07
D
7.06
7.24
E
7.75
8.00
F
2.56
4.50
G
0.58
0.76
H
1.60
3.20
J
9.40
9.65
K
0.59
0.89
M
0.60
1.12
N
8.56
--
P
1.60
3.20
U
9.54
11.11
V
37°
90°
　　注：当插针被压缩到规定U的范围位置时，它的压力应从7.0N至15.0N。

注：BK尺雨为负，表示相对于光纤为凸出。尺寸按IEC 61300-3-23测量。

图2 抛磨后插头插针几何图
表2 插头插针端面尺寸 mm
标记
最小值
最大值
注
rBF
10
25

BG
1.90
2.26
直径
BI
25°
35°

　　注：抛光后插针端面的偏心度<50μm。

图3 插针端面允许光纤下陷量与端面曲率半径的关系图
　　允许下陷量计算公式：
　　允许下陷量=-0.02×R2+1.3R2-31R+325 (mm)
　　式中：R为端面曲率半径。

图4 插头外形图
表3 插头型号一览表 mm
型号
所用光缆外径
插针材料
1001
2.0
陶瓷、金属
1002
2.5
陶瓷、金属
1003
2.8
陶瓷、金属
1004
3.0
陶瓷、金属
表4 插头外部尺寸 mm
标记
最小值
最大值
注
S

60

BE
2.2

1
BE
2.8

2
BE
3.1

3
BE
3.3

4
　　注
　　1 适用于型号 1001
　　2 适用于型号 1002
　　3 适用于型号 1003
　　4 适用于型号 1004
4.2.2 适配器
4.2.2.1 适配器配合面装置面如图5所示，尺寸由表5给出。

图5 适配器配合面装置图
表5 适配器配合面尺寸 mm
标记
最小值
最大值

注
A
--
--
1
B
5.49
5.82

C
1.12
1.47

D
6.86
7.04

E
13.98
15.24

F
4.8
5.56

G
0.58
0.84
2
H
1.07
1.57

J
--
4.99

K
--
0.71

L
2.64
2.84

M
--
8.53

N
2.36
3.53

O
--
4.00

P
M9×0.75

rS
--
0.15

T
7.5
7.75

注
　　1 连接器的对中导向键是一个弹性导向套筒，套筒尺寸与所用材料有关。其量规保持力两用两量规针对等长度插到导向槽的中央来测量，保持力应在2.9N至5.9N范围。
　　2 应保持两凸键针的直径大小的一致性。
4.2.2.2 适配器套筒塞规
　　适配器套筒塞规是用来检验弹性套筒的标准量具，其检验针必须用硬质耐磨材料。其图型如图6所示，尺寸由表6给出。

图6 适配器套筒塞规图
表6 适配器套筒塞规尺寸 mm
标记
最小值
最大值
注
CK
2.4985
2.4995

CL
--
5.4

CN
7.75
--

　　注：表面精糙度N4（0.2μRa）
4.3 标准连接器
　　标准连接器是一套精密制造或精选的连接器，它包括标准插头和标准适配器，用作测量连接器的光学性能的参考标准。因此它的尺寸公差要求更高。
4.3.1 标准插头
　　标准插头其图形与插头相同，主要是插头的插针体（Ferrule）精度更高，它的要求如下：
　　--插针体外径：2.4990mm±0.0003mm
　　--光纤纤芯与插针体同轴度误差：<0.3μm
　　--光纤与插针体的角对中误差：<0.2°
　　--插针体凸球面的球偏心度：<30μm
4.3.2 标准适配器
　　标准适配器其图形与适配器相同，主要是选择低插入损耗的适配器。选择的标准必须是：用两个标准插头对适配器进行交换方向的插入连接，共进行10次插拨并测量连接器插入损耗，其最大值应小于0.1dB。
4.4 光纤光缆
　　ST/PC型连接器所使用的光纤及光缆主要参数必须符合下列要求。
4.4.1 光纤
　　a)光学性能
　　--衰减：≤0.4dB/km,λ=1.31μm;≤0.3dB/km,λ=1.55μm
　　--截止波长：1.10μm≤λc≤1.24μm
　　b)几何参数
　　--包层直径：125μm±1μ m
　　--模场直径：9.5μm±0.5μm
　　--包层不圆度：≤1%
　　c）光纤筛选强度：>6N
　　d)温度特性：-40℃~+80℃时，光纤附加衰减≤0.1dB/km。
4.4.2 光缆
　　所用光缆外径分别为2.0mm、2.5mm、2.8mm和3.0mm四种。光缆外表光滑无疵眼，其特性应符合下列条件。
　　a)衰减：≤0.5dB/km
　　b)外径不圆度：≤10%
　　c)抗拉力强度：≥150N
　　d)最小弯曲半径：30mm
　　e)温度特性：-40℃～+80℃时，光纤附加衰减≤0.2dB/km
　　f)颜色：黄色或用于特别场合所需的颜色
4.5 材料
4.5.1 插头和适配器所用材料及光缆必须抗老化并阻燃，能经受连接器所需的试验条件。
4.5.2 胶合材料
　　制作ST/PC型连接器所使用的粘结胶对连接器结构无不良影响，其物理和化学特性应与光纤匹配，不得有损害连接器光学性的情况发生。
4.6 连接器的光学性能
4.6.1 ST/PC型连接器允许的光学性能指标：
　　a)任一插头通过标准适配器与标准插头连接的插入损耗≤0.5dB/（含重复性），回波损耗>40dB。
　　b)两插头任意连接的插入损耗≤0.7dB(95%的概率)，回波损耗>35dB(95%的概率)。
4.6.2 ST/PC型连接器适配器连接两个标准插头的损耗<0.2dB。
4.6.3 各种例行试验后允许的附加损耗及附加回波损耗如表7所示。
表7 各种试验后附加损耗及附加回波损耗 dB
序号
试验名称
附加损耗
≥-5
a
低温
≤0.2
≥-5
b
高温
≤0.2
≥-5
c
湿热（稳态）
≤0.2
≥-5
d
振动
≤0.1
≥-5
e
跌落
≤0.2
≥-5
f
温度循环
≤0.2
≥-5
g
重复性
≤0.2

h
机械耐久性
≤0.2
≥-5
i
盐雾
≤0.2
≥-5
j
光缆抗拉
≤0.1
≥-5
k
光缆扭转
≤0.1
≥-5
4.6.4 ST/PC型连接器的工作温度：-25℃~+70℃；贮存温度：-40℃～+80℃。
4.7 安全
　　ST/PC型连接器应用于光传输系统及光设备时，可能会从未加端帽或未端接的光纤输出端发射出有危害的辐射，必须加以注意。
　　警告：
　　在操作光纤时应小心，以免刺破皮肤，特别是眼睛部位。在光纤或光纤连接器传输光能量时，建议不要直接观看光纤或光纤连接器的端面，除非安全能量输出等级先已得到保证。
5 质量评定程序
5.1 鉴定批准程序
5.1.1 初始制造阶段
　　初始制造阶段定义为：将构成单个元件的零件组装成ST/PC型连接器的制造阶段。
5.1.2 结构类似元器件
　　为鉴定批准和质量一致性检验按下列界限对结构类似元器件分组。
　　结构类似元器件应：
　　a)具有相同的配合面尺寸；
　　b)用基本相同的材料制造；
　　c)按基本相同的设计制造；
　　d)采用基本相同的工艺和方法制造；
　　e)采用相同的光纤保持技术；
　　f)采用相同的光缆保持技术；
　　g)采用相同的光耦合技术；
　　h)采用相同的对中技术。
　　它们可以：
　　a)采用不同长度的光纤；
　　b)采用不同的光缆尺寸；
5.1.3 鉴定标准
　　本标准按固定样品质量检验程序进行。
5.1.3.1 固定样品质量检验
　　按照表8进行并按本标准规定的性能要求检验。检验一经成功完成，作为结构类似元器件而提交的全部规格产品将获得鉴定批准。
　　a)样品
　　被鉴定的样品应是本标准规定的最小模场直径的单模光纤光缆制作的整套连接器在通过了“0”组样品检验后，其它各组样品应从“0”组样品中随机抽取。
　　b)试验
　　按表8规定的方法和顺序进行试验，这些样品应满足本标准规定的光学性能和机械性能要求。
表8 固定样品质量检验程序表
检验项目顺序
试验方法
样品个数
0组检验
--零部件外观检查
--尺寸
6.1
6.2
20
1组检验
--损耗测试
--回波损耗测试
6.4.1,6.4.2
6.5
20
2组检验
--低温试验
--高温试验
--湿热（稳态）试验
6.6.1
6.6.2
6.6.3
6
3组检验
--振动试验
--跌落试验
--温度循环试验
66.4
6.6.5
6.6.6
6
4组检验
--插拔力试验
--重复性试验
--机械耐久性试验
6.6.7
6.6.8
6.6.9
4
5组检验
--盐雾试验
--光缆抗拉试验
--光缆扭转试验
6.6.10
6.6.11
6.6.12
4
　　注：详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出。
5.1.3.2 按逐批和周期检验程序的鉴定
　　当有规定时，进行逐批和周期检验，逐批和周期检验程序按5.2.1和5.2.2进行。
5.2 质量一致性检验
　　质量一致性检验包括逐批检验和周期检验。
5.2.1 逐批检验
　　逐批检验包括对样品进行表9中规定的A组检验和B组检验。被检样品应从近期批量生产中随机抽取，抽取样品数量按国际GB2828规定进行。
　　检验一经成功地完成，以结构类似元器件而提交的全部规模产品将获得鉴定批准。
表9 逐批质量检验程序
检验项目顺序
试验方法
评定水平A
IL
AQL
A组
--外观检查
--尺寸
6.1
6.2
II
4%
B组
--损耗测试
--回波损耗测试
6.4.1,6.4.2
6.5
II
4%
　　注
　　1 详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出。
　　2 IL为检验水平，AQL为允许质量水平。
5.2.2 周期检验
　　周期检验包括对样品进行表10中C组和D组检验。应互相维护检验周期，以便在D组周期内由D组检验代替C组检验。检验一经成功完成，以结构类似元器件而提交的全部规格产品，将获得周期检验批准。
　　a)样品
　　被检验的样品应是本标准规定的最小模场直径的单模光纤光缆制作的整套连接器。在通过了“C0”组或“D0”组检验后，其它各组样品应从“C0”组或“D0”组样品中随机抽取。
　　b)试验
　　按表10规定的方法和顺序进行试验，这些样品应满足本标准规定的光学性能和机械性能要求。
表10 周期质量检验程序
检验项目顺序
试验方法
评定水平A
n
P
C0组
--外观检查
--尺寸
6.1
6.2
18
24
C1组
--损耗测试
--回波损耗测试
6.4.1,6.4.2
6.5
18
24
C2组
--低温试验
--高温试验
--湿热（稳态）试验
6.6.1
6.6.2
6.6.3
6
24
D0组
--外观检查
--尺寸
6.1
6.2
20
48
D1组
--损耗测试
--回波损耗测试
6.4.1,6.4.2
6.5
20
48
D2组检验
--低温试验
--高温试验
--湿热（稳态）试验
6.6.1
6.6.2
6.6.3
20
48
D3组检验
--振动试验
--跌落试验
--温度循环试验
6.6.4
6.6.5
6.6.6
6
48
D4组检验
--插拔力试验
--重复性试验
--机械耐久性试验
6.6.7
6.6.8
6.6.9
6
48
D5组检验
--盐雾试验
--光缆抗拉试验
--光缆扭转试验
6.6.10
6.6.11
6.6.12
4
48
　　注
　　1 详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出。
　　2 n为样品数，p为以月为单位的周期。
6 测量和试验
6.1 外观检查
　　进行光学性能测量前，首先对连接器外观进行检查。
　　a)样品是否与设计制造和标准相一致，加工质量是否符合要求。
　　b)外观必须光滑、平整、洁净，无伤痕和裂纹，一致性好；各零部件组合须平整，插头与适配器的插入和拔出须平顺。
6.2 尺寸
　　为保证产品在要求的环境下机械性能和光学性能的一致性，并确保其通用性和互换性，产品的配合面尺寸必须符合本标准的要求。
6.3 测量和试验条件
　　连接器的测量和试验应GB2421中的规定的环境条件下进行；测量所用仪器仪表的精度均应符合要求，并进行定期检定
6.4 损耗测量
　　连接器的损耗测量包括插头和适配器的插入损耗测量。
6.4.1 插头的插入损耗测量
　　跳线式连接器插头的插入损耗测量采用公共标准连接器法。其步骤如下：
　　a)按照原理图7进行测量，待系统稳定后，分别测量并记录光功率P1及P0值。

图7 插头插入损耗测试原理图

　　b)连接器每端插头的插入损耗按下面公式计算：
　　c)每端插头连续测量3次，其插入损耗取得次的算术平均值，指标应符合4.6.1 a)点要求。
　　注
　　1 为保证包层模不影响测量，在接光源的插头尾纤上打一个φ60mm的小圈。
　　2 光源的波长（谱线的下限值）必须比光纤的截止波长长。
　　3 测量前将插针体端面清洁干净。
6.4.2 适配器的插入损耗测量
　　适配器的插入损耗测量采用两个标准插头进行对插测试。其步骤如下：
　　a)按照原理图8进行测量，测量前把套筒清洁干净待系统稳定后，分别测量并记录光功率P1及P0值。
　　b)适配器插入损耗按6.4.1公式（1）计算。
　　适配器执行者主损耗测试原理图。
　　c)每个适配器不同方位和方向测量3次，其插入损耗取6次算术平均值，指标应符合4.6.2条要求。
　　注：同6.4.1注1、2、3。
6.5 回波损耗测量
　　回波损耗是对诸如连接器等光器件引起的输入光功率中沿输入路径返回部分的量度。光纤连接器引起的回波损耗或反射功率可由任何相邻零件间的折射率差产生，它还与其他因素有关，例如光源的谱线宽度或相干长度，器件的相互靠近程度及其表面光洁度等。
　　ST/PC型活动连接器的回波损耗测量采用基准法即定向耦合器法。其测量步骤如下：
　　a)按照IEC875-1中3.5.2条测量图9定向耦合器的确端与会端之间的传输系统T2、3。耦合器参数测量所采用的光源、激励单元、光功率计应与测量连接器回波损耗采用的光源、激励单元、光功率计相同。
　　b)按照图10组成测量装置，待测量系统稳定后，测量并记录光功率P0。

图9 交向耦合器图。

图10 回波损耗测量原理图

图12 回波损耗测量原理图
　　c) 按照图11组成测量装置，在保证系统的稳定性和重复性后，测量并记录光功率P1。

　　测量装置的回波损RL按下面公式计算：
　　d)把标准插头端面的匹配液清洁干净，按图12接上被测插头组成测量装置，在保证测量系统的稳定性和重复性后，测量并记录P1ˊ。

　　每端连接器插头的回波损耗按下列公式计算：
　　式中：P0--输入功率
　　　　　P1--测量装置的分路返回功率
　　　　　P1ˊ--被测连接器与测量装置分路返回功率之和
　　e)每端连接器插头的回波损耗应符合4.6.1a)点要求。
　　注
　　1 为保证测量精度，定向耦合器的方向性和临时接点的回波损耗至少应与被测连接器的回波损耗回一个数量级；光功率计的最小可探测功率比被测连接器的回波功率小一个数量级以上。
　　2 定向耦合器可带有尾纤或连接端口，若为连接端口，在与连接器连接的端面须加匹配。
　　3 产品的出厂常规测量可采用替代法，替代法通常为仪表直接测量，目前常用“回波损损耗测量仪”。具体测量程序见各种测量仪器的使用说明书。
6.6 试验
　　试验条件同6.3条。
6.6.1 低温
　　a)条件
　　--低温温度：-40℃
　　--温度变化速率：5min内的平均值不大于1℃/min
　　--对试样进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理并测量其光学性能，然后把其置于精度为±3℃的高低温恒温箱内，见图13。以规定的速率降低温度，每降5℃记录一次数据，直至-40℃，保持恒温2h，记录其数据。接着以规定的速率恢复至室温1h，记录其数据。

图13 温度特性试验图
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1a)和表7中a点要求。
6.6.2 高温
　　a)条件
　　--高温温度：+80℃
　　--温度变化速率：5min内的平均值不大于1℃/min。
　　--对试样进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温进行预处理并测量其光学性能，然后把其置于精度为±3℃的高低温恒温箱内，见图13。以规定的速率升温，每升10℃记录一次数据，直至+80℃，保持恒温2h，记录其数据。接着以规定的速率恢复至室温1h后，记录其数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松驰等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中b点要求。
6.6.3 湿热（稳态）
　　a)条件
　　--温度：+40℃
　　--相对湿度：90%~95%
　　--持续时间：4d
　　--对试样不进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温进行预处理并测量其光学性能，记录其数据。然后脱离测量系统，把其置于精度为±3℃的恒温恒湿箱内，以规定的速率升温至40℃，相对温度调至90%～95%，持续保持4d，以规定的速率恢复至室温2h后，把试样取出并清洁干净，测量其光学性能，记录其数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松驰等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中c点要求。
6.6.4 振动（正弦）
　　a)条件
　　--频率范围：10～55Hz
　　--扫频要求：扫频的速率应为每分钟一个倍频程，其容差为±10%。
　　--振幅：0.75mm恒定位移；振动方向为平行于轴向和垂直于轴向。
　　--每个方向持续时间：30min。
　　--对试样进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据。然后将试样固定在振动台上，每个方向振动持续时间为30min。观察并记录其光学性能数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松驰等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中d点要求。
6.6.5 跌落
　　a)条件
　　--跌落高度：h=1m
　　--自由摆动的光缆长度：L=2.25m
　　--跌落次数：5
　　--对试样不进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据，然后脱离测量系统，将插头带好防尘帽，把另一端固定在附着夹具上，将附着夹具固定在离撞击表面高度为h处，把被测试样插头举至水平高度h处，然后让其自由跌落撞击水泥表面，如图14所示。如此撞击5次，取下样品，将插头端面清洁干净并进行光学性能测量，记录其数据。

图14 跌落试验图
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中e点要求。
6.6.6 温度循环
　　a)条件
　　--低温温度TA=-25℃
　　--高温高度TB=+70℃
　　--温度变化速率：5min内的平均值不大于1℃/min
　　--高、低温恒温时间：t=1h
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理并测量其光学性能，记录其数据。然后脱离测量系统，将试样置于精度为±3℃的高低温恒温箱内，以规定的速率降温至TA，怛温1h，接着又按规定的速率升温升TB，恒温1h，以规定的速率恢复至室温，至此构成一个循环。以同样的程序继续进行第一、三个循环试验。高低温循环试验时间曲线如图15所示。

图15 高、低温循环试验曲线图
　　循环试验后，将样品置于室温恢复2h，测量其光学性能，记录其数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中f点要求。
6.6.7 插、拔力
　　本试验旨在测量使一套连接器完全插入或完全拔出所需的力。
　　a)装置
　　--固定夹具
　　--力的施加装置

　　--力的测量仪
　　b)程序
　　将试验整套连接器元件定位于固定夹具中，在插头上施加力使其完全插入适配器，测量其所需的力；在插头上施加力使插头拔出适配器，测量其所需的力。
　　c)允许的插入力：最大为19.6N
　　允许的拔出力：最大为19.6N
6.6.8 重复性
　　本试验指在评价连接器多次插拔的插入损耗一致性。
　　a)条件
　　--插拔次数：10
　　--对试样进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　如图16所示，在对方插头插入状况下，以通常使用的方式予以插入和拔出，记录每一次的插入损耗数据，共10次。

图16 重复性试验图
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，插针表面无明显划痕。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中g点要求。
6.6.9 机械耐久性
　　本试验旨在评价若干次插入和拔出的边续循环对成套连接器性能的影响。
　　a)条件
　　--插拔次数：500
　　--对试样进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　如图16所示，在对方插头插入的状况下，以通常使用的方式予以插入和拔出，每10次记录一次光学性能数据，同时对插针体及适配器的弹性套筒进行清洁。共插拔500次，记录50次数据居。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，插针表面无明显划痕。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中h点要求。
6.6.10 盐雾
　　本试验旨在评价连接器因盐雾所致性能劣化的程度。
　　a)条件
　　--盐雾浓度：5%
　　--严酷度：+35℃，48h
　　--对试验不进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据。然后脱离测试系统，将试样置于盐雾箱内，加温至+35℃后保持48h，把试样取出在室温下放置2h，擦净后测量其光学性能。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松驰等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中i点要求。
6.6.11 光缆抗拉
　　a)条件
　　--负荷：90N
　　--负荷时间：10min
　　--施加负荷速率：50N/min<速率<250N/min
　　--施加负荷点A离插头距离：L=22～28cm
　　--对试样不进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据，然后脱离测量系统。如图17所示，将插头保护好并固定在固定夹具上，自然下垂，以规定的速率在A点处施加负荷，持续10min，取下试样进行光学性能测量，观察并记录其数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中j点要求。
6.6.12 光缆扭转
　　a)条件
　　--负载重量：1.5kg(型号1001)；2.5kg(型号1002，1003，1004)
　　--载重点A离插头距离：L=22～28cm

图17 光缆抗拉试验图
　　--扭转速率：10次/min
　　--扭转次数：200
　　--对试样不进行在线光学性能监测。
　　b)程序
　　先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据，然后脱离测量系统。如图18所示，将插头保护好并固定在固定夹具上，自然下垂，在A点处挂上相应负载重量，将尾缆按规定速率扭转±180°，共计200次。取下试样进行光学性能测量，记录其数据。
　　c)试验后，试样应满足下面要求：
　　1）不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象
　　2）光学性能符合4.6.1b)和表7中k点要求。

图18 光缆扭转试验图
7 检验
7.1 出厂检验
　　分日常检验和抽样检验两种。
7.1.1 日常检验
　　该检验是生产厂家对全部产品进行的检验，其检验数据应随同产品提交给用户，ST/PC型连接器需要进行日常检验的项目是：外观、尺寸、插入损耗、回波损耗。
7.1.2 抽样检验
　　它是从批量生产中或连续批产品中按一定比例抽取完整的产品或样品进行的检验。ST/PC型连接器的抽样检验项目是：插入损耗、回波损耗、低温试验、湿热（稳态）试验、振动试验，重复性试验和机械耐久性试验。抽样数量按GB2828规定进行。
7.2 型式检验
　　ST/PC型连接器有下列情况之一时，一般进行型式检验，型式检验按质量评定程序中的《周期检验》进行，见5.2.2。
　　a)新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定；
　　b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；
　　c)正常生产时，定期或积累一定产量后，应周期性进行一次检验；
　　d)产品长期停产后，恢复生产时；
　　e)出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时；
　　f)国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
8 包装、标志、运输和贮存
8.1 标志
8.1.1 产品上应标有产品编号和生产厂家。
8.1.2 产品包装盒（袋）上应标有产品型号、厂家名称和生产日期。
8.2 包装
　　产品应包装好，每付连接器的插头和适配器均用保护帽盖好，跳线卷直径应不小于尾部光缆直径的25倍。
8.3 运输
　　当产品需要长途运输时，需用木箱或纸箱作外包装，在箱上写明不能大力抛甩、碰、压，应有防雨防油污标志，以免损坏产品。
8.4 贮存
　　产品不能长期放置在露天或有严重腐蚀的环境中，应放置在贮存温度范围（-40℃～+80℃）以内的环境中。