1、Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,EMC电子学系统,BESIIIEMC电子学系统,由前放、主放、Q插件、测试控制器、扇出插件等部分组成。前放设计采取了若干低噪声技术和抗干扰办法，对探测器输出微弱信号进行放大，确
2、保了后端电荷测量精度;电荷测量采取分三个量程数字化方法实现15bit动态范围；,采取FPGA来完成数据缓存、预处理，提升系统集成度、增加了数据处理并行度灵活性,经过了三次束流测试和384通道小系统长时间测试证实，,EMC电子学系统,已经到达或超出预定设计指标,第1页,BES,EMC电子学系统主要功效是测量电荷量，从而确定粒子在CsI晶体中能量损失，同时给出粗略粒子击中晶体时间信息。另外一个主要任务是向触发判选系统提供晶体能量信息作为事例筛选依据之一。,EMC电子学系统设计框图,第2页,安装EMC电子学系统前放,第3页,EMC电子学系统主放和电荷测量插件,第4页,EMC电子学384通道测试系统,第5页,EMC,与在线系统联合测试,第6页,安装在晶体上前放和电缆,第7页,
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