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IGBT的结构原理及特性演示幻灯片.ppt

1、现代电力电子技术,3.5,绝缘栅双极晶体管(,IGBT,),CONTENT,IGBT,的基本结构和工作原理,3.5.1,IGBT,的工作特性,3.5.2,IGBT,的主要参数,3.5.3,1 IGBT,简介,IGBT,,绝缘栅双极晶体管(,Insulated Gate Bipolar Transistor,),它是由,BJT,(双极结型晶体管)和,MOSFET,(绝缘栅型场效应管)组合而成的全控型、电压驱动型半导体器件。,BJT,(,Bipolar Junction Transistor,)双极结型晶体管主要特征是:,耐压高、电流大、开关特性好。,缺点:,驱动功率大、驱动电路复杂、开关速度慢

2、MOSFET,绝缘栅型场效应管主要特征是:,驱动电路简单,所需要的驱动功率小;开关速度快、工作频率高。,缺点:,电流容量小、耐压低,英飞凌,IGBT,三菱,IGBT,IGBT,被广泛用于电动汽车、新能源装备、智能电网、轨道交通、和航空航天等领域,,IGBT,是能源变换和传输的最核心器件,俗称电力电子装置的,CPU,,是目前最先进、应用最广泛的第三代半导体器件,作为国家战略新兴产业,,IGBT,在涉及国家经济安全、国防安全等领域占据重要地位。,2 IGBT,的国内外研究现状,纵观全球市场,,IGBT,主要供应厂商基本是欧美及几家日本公司,它们代表着目前,IGBT,技术的最高水平,包括德国英飞

3、凌、瑞士,ABB,、美国,IR,、飞兆以及日本三菱、东芝、富士等公司。在高电压等级 领域(,3300V,以上)更是完全由其中几家公司所控制,在大功率沟槽技术方面,英飞凌与三菱公司处于国际领先水平。这些公司不仅牢牢控制着市场,还在技术上拥有大量的专利。,国外,近几年,国内,IGBT,技术发展也比较快,国外厂商垄断逐渐被打破,已取得一定的突破,国内,IGBT,行业近几年的发展大事记:,(,1,),2011,年,12,月,北车西安永电成为国内第一个、世界第四个能够封装,6500V,以上,IGBT,产品的企业。,(,2,),2013,年,9,月,中车西安永电成功封装国内首件自主设计生产的,50A/33

4、00V IGBT,芯片;,(,3,),2014,年,6,月,中车株洲时代推出全球第二条、国内首条,8,英寸,IGBT,芯片专业生产线投入使用;,(,4,),2015,年,10,月,中车永电,/,上海先进联合开发的国内首个具有完全知识产权的,6500V,高铁机车用,IGBT,芯片通过高铁系统上车试验;,(,5,),2016,年,5,月,华润上华,/,华虹宏力基于,6,英寸和,8,英寸的平面型和沟槽型,1700V,、,2500V,和,3300V IGBT,芯片已进入量产。,国内,1,的基本结构,三端器件:栅极,G,、集电极,C,、发射极,E,。,IGBT,的结构、简化等效电路和电气图形符号,a),

5、内部结构示意图,b),简化等效电路,c),电气图形符号,的工作原理,的驱动原理与电力基本相同,是一种场控器件,其开通和关断,由栅射极电压,u,GE,决定;,导通:,u,GE,大于,开启电压,U,GE(th),时,,MOSFET,内形成沟道,为晶体管提供基极电流,,IGBT,导通;,关断:栅射极间施加反压或不加信号时,,MOSFET,内的沟道消失,晶体管的基极电流被切断,,IGBT,关断。,1,静态特性,图,IGBT,的转移特性和输出特性,a),转移特性,b),输出特性,动态特性,IGBT,的开关特性,(),IGBT,的开通过程,开通延迟时间,t,d(on),从,u,GE,上升至其幅值,10%,

6、到,i,C,上升到幅值的,10%,的时间,;,上升时间,t,r,i,C,从幅值的,10%,上升至,90%,所需时间;,开通时间,t,on,开通延迟时间与上升时间之和。,即:,ton=td(on)+tr,u,CE,的下降过程分为,t,fv1,和,t,fv2,两段。,t,fv1,IGBT,中,MOSFET,单独工作的电压下降过程;,t,fv2,MOSFET,和,PNP,晶体管同时工作的电压下降过程,。,(,2,),IGBT,的关断过程,关断延迟时间,t,d(off),从,u,GE,后沿下降到其幅值,90%,的时刻起,到,i,C,下降至幅值的,90%,;,下降时间,tf,i,C,从幅值的,90%,下

7、降至,10%,的时间;,关断时间,t,off,关断延迟时间与下降时间之和。,即:,toff=td(off)+tf,下降时间又可分为,t,fi1,和,t,fi2,两段。,t,fi1,IGBT,内部的,MOSFET,的关断过程,,i,C,下降较快,t,fi2,IGBT,内部的,PNP,晶体管的关断过程,,i,C,下降较慢,IGBT,中双极型,PNP,晶体管的存在,虽然带来了电导调制效应的好处,但也引入了少子储存现象,因而,IGBT,的开关速度低于电力,MOSFET,。,(,1,),最大集射极间电压,U,CES,由内部,PNP,晶体管的击穿电压确定;,(,2,)最大集电极电流,包括额定直流电流,I,C,和,1ms,脉宽最大电流,I,CP,;,(,3,)最大集电极功耗,P,CM,正常工作温度下允许的最大功耗。,(,2,),IGBT,的的特性和参数特点总结:,IGBT,开关速度高,开关损耗小;,在相同电压和电流情况下,,IGBT,的安全工作区比,GTR,大,具有耐脉冲电流冲击能力;,高压时,IGBT,通态压降比电力,MOSFET,低;,IGBT,输入阻抗高,输入特性与电力,MOSFET,类似。,谢谢!,

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