IQC检验标准书.docx

望天红技术有限公司
进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
塑料件
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 1 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检验
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外
观
检
查
在40W的日光灯下，被检物距灯 1 米处，被检物到眼睛的距离为30cm

卡尺
赛规
标准点菲林
1.硬划伤、裂痕、缺口：任何角度可见
A

2.缩水、批锋：用手摸有明显凹凸感、刮手
A

3.汽泡、污点、杂质：正面一处以上≥0.2㎜2，整配壳体0.5mm2
A

4.丝印、脱漆：内容错乱、模糊、残缺，脱漆面积≥1mm2
A

5.破损、变形、孔堵塞、疤痕、色差、发白：目视明显
A

6.结合间隙: 配套壳体的缝隙≥0.3mm，空扣壳体错位严重
A

尺寸
结构
参照样本
卡尺
赛规
1. 外形：不符规格
A

2. 定位柱（槽/孔）的间距、按键孔、螺丝孔的内径：不符规格
A

耐腐蚀特性
喷油、丝印耐磨特性：用500g的砝码包上3层棉布，醮上工业酒精，在表面来回擦拭20次
1.丝印、油漆：明显变色、脱落
A

材料
参照样本、用剪钳剪破坏壳体
剪钳
1.材料：易碎、变形
A

实配
实配样机

1．实配：影响装配
A

备注：
1. 喷油、丝印耐磨特性检测只适合丝印、喷油加工的塑料件，检验时，批次进料抽检5-10PCS进行试验；
2. 实配：
2.1 1PCS≦来料数量≦500PCS,分箱随机抽检5-10PCS进行试验;
2.2 500PCS≦来料数量≦1000PCS, 分箱随机抽检10-15PCS进行试验;
2.3 1000PCS≦来料数量≦5000PCS, 分箱随机抽检20-30PCS进行试验；
3. 村料检测试验：每批次破坏1-5PCS；

刘朝辉
批 准
刘新文
编制

审 核

批 准

日期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
印刷线路板（PCB板）
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 2 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外
观
检
查
参照样本，用放大镜在40W灯光下目视
放大镜
1.拼板：拼板方式不符合要求
A

2.材质：与样本不一致

B

3.工艺边、边缘：没割平整，有披锋刮手者

B

4.线路：铜皮浮起、铜皮断裂、与相邻的线路短路
A

5.焊盘：氧化以及有污垢、绿油

B

6.定位孔、通孔：没有冲孔、孔内异物堵塞者
A

7.绿油：绿油没干、易脱落、露铜面积明显

B

8.丝印：模糊、严重断字、丝印不全

B

电气性能
用万用表二极管档测量
万用表
1. 线路：相邻线路间短路、线路断路、线路错乱者
A

结构尺寸
参照样本测量
卡尺
1.材料厚度：厚度不符要求，影响装配
A

2.尺寸：关键尺寸不符，影响装配
A

可焊性
焊接面浸泡在280度锡液5S
锡炉
1.线路、铜皮：起泡、烂、脱落、不易上锡
A

2.外观：整体变形严重、烧焦、丝印脱落
A

实配
将PCB板装入相应的机型的壳体内
1. 实配：装配不能落平或固定， 螺丝孔位偏移或前后端与零部件相抵触者
A

备注：
1.可焊性、实配检验：
1.1 1PCS≦来料数量≦1000PCS,随机抽检1-5PCS进行试验;
1.2 1000PCS≦来料数量≦1000PCS, 随机抽检5-10PCS进行试验;

编 制

审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
双向触发二极管(DB3)
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第3 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 丝印：印字或标识不清

B

2. 引脚：附有严重污垢及氧化、打卷、弯曲、易断

C
3. 表面：严重划伤或破裂
A

尺寸
结构
封装尺寸、结构应符合样本要求。
卡尺
1.体积：大于样品：A.影响装配。

B

2. 封装：封装尺寸不符要求，影响使用
A

电性
参数
测试架通市电后，逐渐加大电压
测试架
1.触发电压（28-36V）：不符合要求
A

2. 动态回弹电压（触发电压-5V）：不符合要求
A

可焊性
40W烙铁焊接
40W烙铁
1.焊接：2S上锡效果异常
A

老化
实配产品

1.实配：老化12H性能异常
A

备注：
1.可焊接性、老化检验：
1.1 1PCS≦来料数量≦1000PCS,随机抽检5-10PCS进行试验;
1.2 1000PCS≦来料数量≦1000PCS, 随机抽检10-20PCS进行试验;
2.右图是双向触发二极管相关资料：

编 制

审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
电 容 器
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第4页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
参照样本、目检

1. 引脚：少引脚、松动、氧化

B

2. 标识：字迹模糊、不清、内容错误

B

3. 主体：破裂影响性能、凹凸不平、电解液溢出
A

4. 认证：无相关安全认证（如UL\EMC）
A

尺寸
参照样本、目检
卡尺
1. 封装：直径、引脚距、高度、形状不符合规格，影响插机装配
A

电
气
性
能
用LCR电桥选用适当档电容档测其容量值、D值
LCR电桥
1.容量：超出误差范围
A

2.电容的D值：不符合要求。
A

2.1. 高耐压电解电容：两脚分别接到高压发生器两极上，将电压调至此电容的耐压值，通电3S后；
2.2. 高耐压的CBB电容:
a.两脚短路后接耐压发生器一输出GND端，耐压发生器的另一极接测试棒，将电压调至此电容的耐压值的2倍(DC电压) 5mA，后对电容的表面进行测试；
b.两脚分别接到耐压发生器的两极，将电压调至此电容的耐压值的2倍(DC电压) 5mA，按“启动”键进行测试；

耐压测试仪
1.漏电流：耐压测试报警、电容发烫变形，漏液或爆炸
A

容量换算及识别
1F(法拉)＝106uF(微法)＝109nF(纳法)＝10¹²pF(皮法)；
1.材料符号字母代号的意义：
C 瓷介 Y 云母 I 玻璃釉 O 玻璃膜 Z 纸介J金属化纸 B 聚苯乙烯 L 涤纶 Q 漆膜S 聚碳酸脂 H 复合介质 D 铝 A 钽 N 铌G 合金 T 钛 E 其它
2.常见字母表示的误差：J±5% K±10% Z+80%-20%
实配
1.实配电路
1.实配：装电路后影响产品性能
A

备注：
1. 实配、耐压测试（只适用于电容标称电压高于250V以上的电解电容、CBB电容）：
1.1 1PCS≦来料数量≦500PCS,随机抽检5-10PCS进行试验;
1.2 500PCS≦来料数量≦2000PCS, 随机抽检10-20PCS进行试验;
1.3 200PCS≦来料数量≦5000PCS, 随机抽检20-30PCS进行试验;
2. 耐压试验完毕后，请对电容两脚进行短路放电，放电时注意人身安全；

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审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
电 阻 器
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 5页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 引脚：少引脚、引脚松动、氧化

B

2. 标识：模糊不可辨认、表面丝印不耐沫机水磨擦、易脱落

B

3. 主体：破损影响电气性能、不同电阻混装
A

尺寸
卡尺测量
卡尺
1. 封装：尺寸不符合规格，影响插机装配者。
A

电气
性能
LCR电桥电桥调到相应的测电阻档
LCR电桥
1.阻值：与标称值不符（超出误差范围）
A

可焊接性
40W烙铁对引脚上锡
40W烙铁
1.上锡效果：引脚2S上锡效果异常
A

实配
实配接入测试电路或装机

1.实配：接入测试电路或装机，连续通电10H，电阻异常发烫、冒烟、开裂。
A

备注：
1.电阻器色标符号意义：
颜色
有效数字
倍率
误差
四色环电阻换算工具、设备
黑
0
100
/
1. 把金或银的这一环视为最后一环；
2. 第一、二环分别表示有效数字，可直接读取；
3. 第三环表示乘以10n或直接在第一、二环后面加零(颜色代表的几就在后面加几个零)；
4. 第四环表示误差范围。

例如：

棕 黑 红 银

R=1000Ω＝1KΩ(±10％)
棕
1
101
±1％
红
2
10²
±2％
橙

3
10³
/
黄
4
104
/
绿
5
105
±0.5％
蓝
6
106
±0.25％
紫
7
107
±0.1％
灰
8
108
+20-50
白
9
109
/
金
/
10-1
±5％
银
/
10-2
±10％
无色
/
/
±20％
2.实配（只适用于将1W以上的电阻）：
2.1 1PCS≦来料数量≦500PCS,随机抽检5-10PCS进行试验;
2.2 500PCS≦来料数量≦2000PCS, 随机抽检10-20PCS进行试验;
2.3 200PCS≦来料数量≦5000PCS, 随机抽检20-30PCS进行试验;

编 制

审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
热敏电阻
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 6页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
参照
样本
`
1. 颜色：不符样本要求

C
2. 感温头：严重划伤或破裂，影响电气性能
A

3. 两脚（线）：附有严重污垢及氧化、易脱落、断裂
A

尺寸
结构
测量
卡尺
1. 感温头：尺寸大于正常值（4.0mm），影响装配

B

2. 引脚（线）的长度、外径、间距：尺寸不符要求

B

性能
1.室温下测量阻值
LCR电桥
恒温加热炉电烤箱
1.室温25℃电阻值：不在标称阻值10kΩ±1%之内。
A

2.85℃加热测试
2.升温阻值：不随温度变化而变化，并且不在标称阻值±1%之内。
A

3.烤箱85℃恒温老化1天
3.老化：老化1天后，测量电阻值不符合要求；
A

实配
接入电路

1.实配：接入相应的电路，影响电路工作
A

备注：
1. 室温25℃时电阻为10kΩ±1%，详见《热敏电阻分度表》；
2. 适应环境温度-40℃～+105℃。
3. 老化试验要求100%老化测试；

编 制

审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
二极管、桥堆
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第7 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 标识：印字不清晰、无法辨认、酒精易抹去

B

2. 主体：表面严重划伤、破裂者，影响电气性
A

3. 引脚：附有严重污垢及氧化；引脚断、松动
A

尺寸
结构
封装尺寸、结构应符合样本要求。
测量
1. 封装：尺寸不符要求。

B

2. 引脚:长度、直径不符要求。

B

电
性
参
数
1.万用表打到测“二极管”档，两表笔测量正、反向阻抗
万用表、样品、晶体管直流参数测试表
1.1正、反向阻抗：不符合要求

B

2. 晶体管直流参数测试表稳压管的稳压值；（只适用于稳压管）
2.1稳压值不符合要求
A

3.实配
通电
接入电路后，整机性能不稳定，击穿者
A

备注：
1. 稳压管的稳压电压值测试一项只适用于稳压二极管检验；
2. 实配检验时，批次进料抽检1-5PCS进行试验即可；
以下是常用二极管的型号相关资料：

编 制

审 核

批 准

日 期

日 期

日 期

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
发光二极管
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第8 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1.主体颜色：颜色不符样本要求。

B

2. 主体外观：有明显的疤痕、污点 、严重划伤或破裂；

B

3.引脚：易断、严重污垢及氧化；

尺寸
结构
实测
卡尺
1.主体：直径大于正常值，影响装配；

B

2.引脚：长度、外径、引脚径不符要求。

B

技
术
参
数
1. 用直流电源直接接在LED两引脚，从0V逐渐加高电压致LED完全点亮
直流电源

1.1点亮电压：超出正常值范围较大者（以样本为准）。
A

1.2工作电压：超出正常值范围较大者（以样本为准）。
A

1.3 工作电流：超出正常值范围较大者（以样本为准）。
A

1.4亮度：不符样本要求。
A

1.5发光颜色：不符样本要求。
A

2.老化
老化架
2.1 老化：接入老化架老化8H有性能异常者；
A

备注：
1. 老化试验批量抽取20-50PCS进行8H老化,老化时老化架
供电电压需调到合适的LED正常工作电压；
2.LED尺寸图和构造如右图：

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
O3灯泡
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 9 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

C
外观
检查
目检

1. 主体：有明显的疤痕、破裂、污迹、严重划伤、皱缩、内响、松动、大白点、磨砂不均匀 。

B

2. 灯脚：有严重污垢及氧化、标识不清

B

3. 灯芯：偏高、灯芯偏离中心： 偏离灯泡中心≤5㎜
偏离灯泡中心≥5㎜

A
B

尺寸
结构
测量
卡尺
1. 外形：结构不符要求.影响装配。

B

2. 灯芯:长度、硬度、外径不符要求。
A

3. 灯泡玻璃:结构厚度不符要求。
A

技术
参数
测试架测试
O3测试架
1、O3: 断续、弱、延时5秒以上的；
A

实配
通电

1.实配：实配相应的电路、通电老化8H以上性能不良；
A

备注：
1.实配实验每批次抽取3-8PCS进行实配老化12H老化；
2.臭氧灯泡如右图所示；

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
LED数码管
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 10 页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验 项目
检验方法
检测工具设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检
参照
样本

1. 外形、颜色：不符样本要求。
A

2. 外观：有脏污、杂质严重刮花、缺角、破裂者
A、影响电气性能；
B、不影响电气性能且装配看不到；

A

B

3. 引脚：附有严重污垢及氧化。

B

尺寸
结构
测量
卡尺
1. 外形大于正常值：A.影响装配。
B.不影响装配。
A

B

2 引脚：长度、外径、引脚距不符全要求。
A

技
术
参
数
1.用万用表测量其正、反向阻抗
万用表
1.1极性：与外部引脚不对应，极性反者。
A

1.2正向、反向阻抗：反向无穷大，正向与样本不一致；
A

2.热焊耐抗：烙铁焊接
（260℃±5 ℃,5±1秒）
30W烙铁
2.1 焊接：插件后过高温锡炉或手工焊接，开路、短路者。
A

3.实配
实配
3.1 性能：实配接入电路后，性能不稳定者。
A

3.2亮度：实配接入电路后，发光颜色、亮度不符样本要求。
A

备注：
1. 热焊耐抗测试批量抽取5-10PCS进行试验即可；
2. 实配测试每批次抽取5-10PCS进行老化试验；
3. 常见共阳、共阴数码管引脚等效图；

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
三 极 管
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 11 页
抽样标准：GB/T 2828.12003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 外部印字或标识不清：A.无法辨认。
B. 可辨认。
A

C
2. 主体：有明显的氧化、破裂。
A

3. 引脚：附有严重污垢及氧化、易断、打卷

B

封装结构
测量

1. 封装尺寸：大于正常值A.影响装配。
B.不影响装配。

B

C
2. 引脚：长度、外径、间距不符要求。

B

技术参数
1. 晶体管直流参数测试仪测量IB=1MA时的放大倍数；
2. 万用表测量引脚间的阻抗\极性；
晶体管参数测试仪
万用表
直流电源
1.静态（直流）电流放大系数β：不符要求

B

2.极性：不符要求
A

3.阻抗：不符合要求

B

4.耐压:耐压不符合要求
A

实配
通电老化

1.老化：性能不稳定或发热异常、击穿
A

备注：
1.实配测试检验每批次抽取5-10PCS进行老化试验；
2.常见三极管封装：

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
可 控 硅
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 12页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
参照
样本

1. 丝印标识： A.不清晰，无法辨认。
B. 不清晰，可辨认。
A

C
3. 外观：A、严重划伤或破裂者影响电气性能
B、严重划伤或破裂者不影响电气性能
A

B

4.引脚：断、松动、附有严重污垢及氧化
A

尺寸
结构
卡尺测量
卡尺
1.封装：A.不符合要求，影响装配。
B.不符合要求，不影响装配。

B

C
2. 引脚：长度、外径、间距不符要求。

B

技
术
参
数
1.用万用表测量引脚极性；
2.连接好测试架，用稳压电源逐渐加大电压直到正常工作；
3.实配电路老化；
万用表 稳压电源 测试架
1.阻抗不符合要求
A

2. 极性不符要求
A

3点亮电压、正常工作电压不符合要求；
A

4.触发电流、正常工作电流不符合要求；
A

5.实配电路老化12H异常；
A

备注：
1. 实配测试检验每批次抽取3-5PCS进行老化试验；

可控管引脚辨别： 先用万用表R*1K挡测量三脚之间的阻值，阻值小地两脚辨别为控制极和阴极，所剩地一脚为阳极。再将万用表置于R*10K挡，用手指捏住阳极和另一脚，且不让两脚接触，黑表笔接阳极，红表笔接剩下的一脚，如表针向右摆动，说明红表笔所接为阴极，不摆动则为控制极。

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
集成电路(CPU或IC)
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第13页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1.本体：严重扭曲变形或开裂者。
A

2.印字标识：模糊不清晰（但没完全脱落，标志不耐磨）。

B

3. 引脚：A.附有残余披锋，造成短路者。
B. 有严重污垢及氧化层者.
A

尺寸
测量
卡尺
1. 引脚：长度、间距不符合插机、装配者。
A

2. 封装尺寸：不符合插机、装配者。
A

电气
性能
1.室温实配电路；
2.用测试架发热产生70℃-90℃的温度，实配好的电路放进针扎棉中，10分钟后再测试电路功能。
2.将实配好的电路密封好放进冰箱速冻区（-5℃-5℃）内，30分钟后再测试电路功能。
冰箱
测试架
1. 实配：电路后，性能异常；
A

2. 高温试验：工作环境温度（70℃-90℃）时性能不稳定者。
A

3. 低温试验：工作环境温度（-5℃-5℃）时性能不稳定者。
A

可焊性
40W烙铁焊接（260℃±10 ℃）
40W烙铁
1.1焊接：3S上锡后，开路、短路者。
A

老化
实配

1.实配：电路老化12H异常；
A

备注：
1. 实配测试检验每批次抽取5-10PCS进行老化试验；
常见的IC封装如下图：

编 制
游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
微动开关、轻触开关、自锁开关
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第14页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验 项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 主体：A.破损，表面严重划伤，裂痕。
B. 外形不符样本要求.
C.缺口方向与样本不一致
A
A

B

2. 引脚：脚断，变形，严重污垢及氧化。

B

3.解体：内部弹片大小、结构与样本不一致，影响使用
A

结构 尺寸
测量
卡尺
1. 封装尺寸：不符合规格，影响装配(按钮高度)
A

2. 引脚：间距、长度不符合要求
A

力度
用拉力计测量按弹力度
拉力计
1.力度：开关动作的力度在标称值误差外；
A

可焊性
烙铁焊接
40W烙铁
焊接：3±1秒上锡后，性能异常
A

性能
万用表测量导通
万用表
开关性能：开关无导通、短路等异常；
A

实配

实配：实配产品后组装异常
A

寿命
按键寿命测试架测量
按键寿命测试架
寿命试验：2K次（自锁开关1K）以上无性能不稳定/接触不良。
A

备注：
1. 力度测试、寿命试验只适用于轻触开关、自锁开关，检测时批量抽检5-10PCS进行试验检测；
2. 实配检验批量抽检3-10PCS进行试验检测即可；
3. 常见机型与及应用按键尺寸、力度：
SY-0761 6*6*7 160±50g SY-0101： 6*6*6.5 150±50g SY-0725： 6*4*2.5 180±50g
SY-096：6*4*2.5 250g±30g SY-0763: 6*6*8.5 250±30g 液晶盒: 6*4*2.5 250±30g
SY-088: 6*4*2.5 250±30g SY-089: 6*6*5.5 160±50g

编 制

游光葵
审 核
刘朝辉
批 准
刘新文
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19
日 期
2013-9-19

中山尚荣美容仪器有限公司
进 料 检 验 标 准 书
文件编号：SR-WI-PB-01
版本/版次： A/3
物料名称
开关电源/电源适配器
生效日期：2013-9-19
适用型号：通用型
尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准
页 码：第 15页
抽样标准：GB/T 2828.1-2003一次抽检方案 一般水平Ⅱ
AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）=0.65 轻缺陷（ C）=1.5
检验项目
检验方法
检测
工具、设备
检验内容与缺陷描述
缺陷判定
A
B
C
包装
目检

1.包装箱：破损、混装

B

外观
检查
目检

1. 标识：A.图文标志无、错、模糊，不可辨认。
B. 标志、图文模糊可以辨认。

B

C
2. 主体：A.严重破损、开裂、变形。
B. 面壳与底壳错位大于0.3mm但小于0.6mm
C. 不能承受自身重量线尾易拉松、拉脱者。
A

B
B

3. 拍机：A.上、下、左、右面各拍机一次(h=10cm)摇晃，可听到内有松动、内有物；
B.拍机后，结合边配合不良、有裂缝;

A
A

结构 尺寸
卡尺测量
卡尺
1. AC线、AC插头安规：
A.插头安规不符合样本规格要求
B.线长、规格不符合样本规格要求

A

B

2. 机身:尺寸不符合样本规格
A

3. DC插头、DC线:内径、外径、长度不符合要求
A

性
能
检
验
1.AC输入与DC输出施加AC 3KV 5mA 5S
耐压仪
1.1 耐压：耐压测试报警者；
A

2. 输入100～240V 50HZ 60HZ电压；
变频电源
功率计
测试架
万用表
2.1正负极性：正负极性反（内正外负）
A

2.2测试(空)满载电压：偏离于正常值±5%范围

2.3测试过流保护电流：小于额定值1.2倍
A

2.4 短路保护：无短路保护功能；
A

2.5 静态空载损耗：大于设定值；
A

2.6 启动时间：超过3S;
A

2.7 满载效率：70%以下

B

2.8 对地漏电流：大于5MA；

B

3.76cm高空一个角三个棱六个面自由跌落

3.跌落试验：A.试验外壳破损；
B. 内松动、内响；