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1、 文件名称 正装芯片进料检验标准 文件编号 QA-WI-064 文件版次 A/0 文件页次 第 6 页 共 6 页 修订记录 日期 版次 修订条款 修订内容简述 修订人 备注 编
2、制/日期： 审核/日期： 批准/日期： 会签 □总经办 □财务中心 □营销中心 □市场部 □研发 □资材中心 □采购 □仓库 □体系课 □项目办 □人力资源 □行政 □事业部 □品保 □工程设备处 □OJT □运营中心 □照明（SMD） □灯丝 □插件 □COB □工程 □设备 □IE 本资料为源磊科技有限公司之所有财产，未经书面许可——不准透露或使用本资料，亦不准复印、复制或转变成其它形式使用。 1. 目的 规范公司内LED正装芯
3、片检验判定标准。避免不合格原材料流入产线，提高生产良率。 2. 范围 适用于公司LED正装芯片类产品 3. 定义 CR：功能不正常﹑严重影响信赖性或严重影响成品规格或严重影响客户作业等。 MA：成品质量有明显性或潜在性的影响而不能正常使用。 MI：使用上有一定的影响，但不是功能上的影响。 4. 权责 品保部：品质标准的建立、修改、执行及相关品质记录。 5.内容 5.1抽样依据：依照《MIL-STD-105E》并结合实际情况。 5.2必须是合格供应商，承认书和环保资料齐全，才可进行下一步，否则拒绝检验。 5.3检验标准: 检验项目 检验内容及标
4、准 不良图示及说明 抽样水准 检验方法、工具 缺陷 资料 检查 1.型号、数量、参数与送货单据一致 无 全检 目视 送货单 CR 包装标识 1. 包装完好，纸盒整齐、芯片静电袋、蓝膜完好无破损，无受潮现象 2.可使用期限必须在保质期内一半及以上 无 包装全检，蓝膜抽10张检查 目视 CR 外观检测 电极 变色 芯片正负极氧化变色 允收标准：不可有 10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 电极 色差 同一片中不同芯片间和一颗芯片正负电极间颜色差异大 允收标准：不可有 10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 探针
5、 痕迹 电极上探针痕迹不得超过电极面积的1/3，不可露底材，不可偏移超过电极范围 10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 检验项目 检验内容及标准 不良图示及说明 抽样水准 检验方法、工具 缺陷 外观检测 切割 不良 芯片破损、增生、形状大小不规则、裂纹， 允收标准： 芯片破损（增生）面积≤1/5芯片面积, 裂纹不可有。 10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 电极 刮花 芯片表面的电极区域有刮伤的痕迹 允收标准： 电极区：芯片任一电极刮伤面积＜该电极面积的1/5 非电极区：非电极区刮伤面积＜该芯片面积的1/4且不可损伤到PN结。
6、10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 芯片表面脏污 芯片表面有污染痕迹 允收标准： 电极区：污染面积＜该电极面积的1/5 非电极区：污染面积＜该芯片面积的1/4 10张蓝膜/批 显微镜*20 MA 掉电极 1.电极脱落，有缺口 允收标准： 不可有 2. 金手指脱落 允收标准：距离电极1/2以内脱落不可接受 10张蓝膜/批 显微镜*20 CR 排列 方向 错误 芯片中有一排（列）或几排（列）与其他多数材料排列方向相反，排列不整齐 10张蓝膜/批 显微镜*20 CR 检验项目 检验内容及标准 不良图示及说明 抽样水准 检验
7、方法、工具 缺陷 外观检测 表面 多金 芯片表面任何地方有多出的残金 允收标准：不可有 10张蓝膜/批 显微镜*20 CR 外表 漏洞 芯片任何部位有漏洞、烧黑或其他疑似击穿现象 允收标准：不可有 10张蓝膜/批 显微镜*45 CR 尺寸检测 芯片 尺寸 每批抽10PCS检验芯片的长、宽，及电极正负极尺寸是否在规格范围内 无 10PCS 二次元 CR 性能检测 DVF 校正过的厂商芯片每批抽0.5K测试DVF，VFM11和VFM12设置1uA，DVF1设置为规格电流，时间设置为5ms，未校正的厂商芯片暂无法测试。 允收标准：-0.
8、1V 9、水准
检验方法、工具
缺陷
反向
电流
校正过的厂商芯片每批进料抽0.5K测试；未校正的厂商芯片每批进料抽10PCS测试，测试条件和判定按规格书标准。
无
0.5K/10PCS
裸晶测试仪/积分球/IS机
CR
波长
校正过的厂商芯片每批进料抽0.5K测试；未校正的厂商芯片每批进料抽10PCS测试。
允收标准：标签波长
±1nm，且平均值在标签范围内
无
0.5K/10PCS
裸晶测试仪/积分球/IS机
CR
亮度
检测
正装双电极芯片每批进料抽0.5K测试PO值（mw），其它类型的芯片暂无法测试
允收标准：实测平均值在标签范围内，最小值不 10、低于芯片标签下限的5%，且低于标签下限的数量占测试数量比例不得超过10%，不管控上限。
无
0.5K
裸晶测试仪
MA
静电
检测
每批进料抽10PCS用反向2000V击打，然后测试IR
允收标准：按承认书标准判定IR2，通过率不低于80%
无
10PCS
静电测试仪
裸晶测试仪
/
启动
电压
静电检测后的芯片用小电流再测试启动电压；其中3V档、6V档和9V档芯片用1uA测试VF5，18V档和24V档芯片用10uA测试VF4
允收标准：
3V档芯片：VF5：2-2.8V
6V档芯片：VF5：4-5.5V
9V档芯片：VF5：6-8V
18V档 11、芯片：VF4：12-16V
24V档芯片：VF4：16-21V
无
10PCS
裸晶测试仪
CR
6、 参考文件
《产品检验控制程序》 YL-QA-003、《MIL-STD-105E》、《不合格品控制程序》YL-QA-001
7、 附件：相关表单
《正装芯片进料检验报告》RF-QA-013、《原材料MRB评审单》FR-QIP-155
8、 流程
无
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