磁旋转编码器常见问题.doc

广州触摸屏维修

磁旋转编码器常见问题 
常见问题：磁旋转编码器IC
一般性问题
Q1:芯片如果不能按预期工作，我需要进行哪些测试才能找出原因？
Q2:可以在不编程的情况下使用旋转编码器芯片吗？
Q3:如何知道上电之后角度数据何时有效？
Q4:启动时间是否会随温度而改变？
Q5:不同类型的输出可用于哪些应用？
Q6:我可以利用数字输出驱动大于4mA 的电流，例如驱动一个10mA 的LED 吗？
Q7:为什么已存在下拉电阻还必须将PROG 连接到VSS？
Q8:对准模式下限制数值32 是什么意思？
Q9:可以得到的最佳精度是多少？
Q10:可以得到优于0.1 度的精度吗？
Q11 地利微电子可以校准芯片以实现最佳的精度吗？
Q12:数据资料中显示的误差曲线对于所有产品都是一样的吗？
Q13:编码器的重复性是指什么？
Q14:重复性怎样随着温度改变？
Q15:CSn 引脚可以永久地连接到VSS 吗？
Q16:角度数据采样与CSn 是同步的吗？
Q17:奥地利微电子可以提供预先编程的定制化编码器吗？
Q18:编码器可承受的振动水平怎样？
Q19:怎样降低AS5040/43/45 的功耗？
磁铁相关问题
Q20:推荐的磁铁水平偏离容差是多少？
Q21:如果不能将磁铁对准在推荐的容差内，会发生什么呢？
Q22:我可以将编码器IC 安装在环形磁铁的周围吗？
Q23:怎样才能扩展磁铁的垂直间距？
Q24:如果在“绿色”（适当）范围之外使用传感器会有什么后果？
Q25:哪些类型的磁铁可以和AS5035/40/43/45 配合使用？
Q26:在旋转轴内安装磁铁的时候需要注意什么？
Q27:为什么在移除磁铁的时候不能触发COF 和LIN 报警？
Q28:为什么即使移除磁铁时我仍可以得到随机的角度数据？
Q29:在什么磁场范围可以得到MagInc/-Dec、LIN 和COF 报警信号？
Q30:如何分辨磁铁场强过弱（或丢失）与磁铁场强过强的情况？
Q31:要获得零位读数时，磁铁要处于哪一个缺省位置？
Q32: 磁编码器是如何做到对于外部磁场不敏感的？
AS5035，AS5040，AS5045
磁旋转编码器产品系列常见问题
AS50000 磁旋转编码器产品系列
常见问题
Q33:是否需要屏蔽传感器以避免外部磁场的影响？
Q34:BLDC 电动机的强磁场转子磁铁会对编码器造成什么影响？
Q35:我可以将其它材料放置到磁铁和IC 之间吗？
Q36:磁铁直径、厚度和形状的影响有多大？
Q37:芯片会受到强磁场的永久性损坏或毁坏吗？
Q38:芯片可使用的最小磁铁是多大？
AS5040/43/45 绝对输出
Q39:AS5040/43/45 在绝对模式下也有滞回吗？
Q40:为什么即使磁铁没有移动，有时绝对输出也不稳定？
Q41:当我将磁铁放在IC 的背面时，推荐的气隙是多少？
Q42:最高数据传输速率是多少？
Q43:我可以并行连接几个编码器，并利用片选引脚进行选择吗？
AS5040/43/45 菊链模式
Q44:我怎样才能避免芯片偶而切换到对准模式？
Q45:我可以在菊链模式下同时测量几个编码器吗？
AS5035/40 增量输出
Q46:我无法得到增量输出脉冲，它们均为1。有什么错误呢？
Q47:为什么即使在恒定转速下增量脉冲宽度也是不同的？
Q48:虽然有1024 步/转，为什么增量脉冲数还是256？
Q49:如果磁铁方向偏离，我会错漏脉冲吗？
Q50为什么当AS5040 与一个参考编码器进行比较时会出现漏脉冲？
Q51:我怎样使用增量输出进行速度测量？
Q52:我怎样才能降低增量抖动噪声？
Q53:当使用一个多极磁铁时，我可以增加增量脉冲数吗？
AS5040/45 PWM 输出
Q54:我怎样才能增加PWM 输出的精度？
Q55:我怎样才能降低PWM 输出的抖动噪声？
AS5040 高速运行
Q56:为什么绝对和增量模式下的最高速率是不同的？
Q57:为什么在较高的速率下周期和相位抖动会降低？
AS5040 无刷直流换向输出
AS50000 磁旋转编码器产品系列
常见问题
Q58:我可以同时得到UVW、增量和绝对输出吗？
AS5043 模拟输出
Q59:虽然我可以读取串行角度数据，但是为什么得不到模拟输出电压呢？
Q60:在模拟输出端只能得到波动的电压！有什么错误吗？
Q61:我如何对AS5043 进行编程，使它在原点位置提供VDD/2 模拟输出？
AS5045 12 位绝对值串行输出
Q62:即使在高转速下，我可以得到完整的12 位分辨率吗？
AS5035/40/43/45 编程
Q63:AS5035/40/43/45 可以在3.3V 电源下进行“软”编程吗？
Q64:一旦器件进行了硬编程，“零”位还可以修改吗？
Q65:我可以采用菊链模式编程多个器件吗？
AS5040/43/45 演示板问题
Q66:我可以将任何基于AS504x 的编码器连接到任何演示板上吗？
Q67:可通过哪些方式对AS5000 系列旋转编码器IC 进行编程？
Q68:为什么在编程操作期间会出现PWM 频率突变？
AS50000 磁旋转编码器产品系列
常见问题
一般性问题
Q1: 芯片如果不能按预期工作，我需要进行哪些测试才能找出原因？
可以采取以下方法进行快速诊断：
1. 在 5V 模式下：检查5V 电源是否稳定，3.3V 电源是否稳定，VDD3V3 引脚是否安装了缓冲电
容(1..10μF)？
2. 在 3.3V 模式下：电源引脚VDD5V 和VDD3V3 是否接在一起，并与稳定的3.3V 电源进行了连
接？
3. 磁场是否在范围内（检查MagIncn、MagDecn 或 MagRngn 输出）？
4. 在启动时 PROG 引脚是否与VSS 连接 (避免意外切换至对准模式，对准模式仅用于测试目
的)？
5. 检查 PWM 输出，如果可用的话。是否随角度线性增加？
在多数情况下，通过以上方法可以解决问题。如果仍然无法奏效，可尝试将编码器连接到任意
AS504x 演示板上，将你的组件选作外部编码器，并用演示板软件测试你的设置。
（欲了解更多信息，可参见AS504x 演示板操作手册）
Q2: 可以在不编程的情况下使用旋转编码器芯片吗？
可以！不校准或编程芯片同样可以使用。缺省（未编程的）设置可以满足绝大多数应用。
Q3: +如何知道上电之后角度数据何时有效？
上电时，芯片将运行一系列的补偿算法并设置OCF（偏差补偿完成）状态位。如果只使用了增量输
出，那么输出A=B=Index 将一直为高，直到芯片完成上电过程（CSn 必须为低）为止。如果CSn 在上
电时为高，那么输出A=B=Index 将一直为高，直到上电完成并且CSn 被拉低为止。
硬件引脚的状态如下：
- MagINCn : 未定义
- MagDECn : 未定义
- A_LSB_U : 高 (见数据资料)
- B_Dir_V : 高 (见数据资料)
Index_W : 高 (见数据资料)
- PWM_LSB : 标准PWM 信号、脉冲宽度直到上电延迟(tPwrUp)结束后才可用
Q4: 启动时间是否会随温度而改变？
启动时间随温度或电压变化的波动很小。规格指标tPwrUp (20 / 50 / 80ms)在全温范围内有效。
如果希望缩短启动时间，你可通过SSI 接口的串行比特流查询OCF 状态位。一旦OCF 为高，启动便
已经完成并可使用芯片。
（还可参考Q3：如何知道上电之后角度数据何时有效？）
Q5: 不同类型的输出可用于哪些应用？
增量输出（适用于AS5040 和35）：增量输出经常用于只需要增量信息的中、高速应用。在上电时，
无法得到绝对角度位置。为得到绝对位置，编码器首先需要转至原点（或零位），该位置会产生索
引脉冲，离开这个参考位置时通过计数脉冲个数获得绝对位置信息。
相比之下，AS5040/43/45 编码器可提供绝对输出信息，角度位置在上电后即可使用。无需进行器件归
零。
为了读取绝对位置，用户可以从若干输出格式中选择最适合特定应用的类型：
串行输出（SSI）（适用于AS5040/43/45）：这个输出适用于快速数据传输，它需要3 个信号：片选、
时钟和数据输出。
AS50000 磁旋转编码器产品系列
常见问题
这种输出类型也可用于读取菊链模式下通过单个3 线接口连接的多个器件。
模拟输出（适用于AS5043）：这一“传统”输出类型已应用了几十年。该输出仅需要一根线（模拟输
出），输出电压与磁铁的转角成正比。例如，它可用作电位器的无接触式替代品。
PWM 输出（适用于AS5040/45）：与模拟输出类似，该输出仅需要一条线（PWM 输出）来传输信号。
但绝对角度信息采用时域（脉宽）方式，而不是信号幅度（电压），因此其在电气噪声环境中非常
坚固可靠。
UVM 输出（适用于AS5040）：无刷直流电机通常使用3 个常规的Hall 开关，安装在磁性转子端点附近
的PCB 上，为电机控制器提供换向信息。AS5040 可以模仿这些信号并替代3 个Hall 开关。在这一模
式下，PWM 输出变为增量脉冲输出，并且除了提供绝对串行输出外还可提供UVW信息。因此，
AS5040 既是一个绝对和增量编码器，同时也是一个换向开关。它能够提供绝对信息并具有零位编程
功能，从而可优化换向操作以实现扭距的最大化。
Q6: 我可以利用数字输出驱动大于4mA 的电流，例如驱动一个10mA 的LED 吗？
数据资料规定的驱动能力是相对VOL 和VOH 电平而言的。你可以源出/吸入更大的电流，但可能不能
继续维持VOH 和VOL 电平。
Q7: 为什么已存在下拉电阻还必须将PROG 连接到VSS？
不是必须要将PROG 引脚连接到VSS。你可以让它保持开路。然而，如果该引脚接有一根长线或长电
缆，它可能会拾取串扰信号，从而不能一直保持低电平。这增加了芯片可能意外切换到对准模式的
危险（在CLK 的下降沿时PROG=高）。因此不使用该引脚进行编程时推荐将其接地。
Q8:对准模式下限制数值32 是什么意思？
这是一个内部值，应该当作一个参考值。请记住，气隙、磁铁的强度和尺寸都会产生影响。数值32
是指采用推荐磁铁（NdFeB ∅6mm x 2.5mm MN-35H）并且气隙间距取为约1mm 典型值时的参考值，该
气隙间距位于推荐间隙范围（~0.5 – 1.8mm）的中间。理想情况是使磁铁对中，不管实际值是多少，
都应该使一整圈内的最大读数和最小读数之差尽可能小。
注意：限制数值32 适用于AS5040/43。AS5045 的限制数值为4x32 = 128，因为它的分辨率是AS5040/43
的4 倍。
Q9: 可以得到的最佳精度是多少？
首先，精度不应该与分辨率混淆。实际上这两者之间没有必然的关系。
分辨率是每圈的步长数（如1024、4096）。
精度是指一整圈内指示的角度与实际角度在最坏情况下的偏离程度（例如±0.5°）
精度又分非校准精度和校准精度。校准是一个耗费时间和成本的过程，因为需要将编码器组件的测
量数据与给定的精密参考设备（例如≥13位的光学编码器）进行比较。
因此，AS5000系列编码器的设计目的是在不进行校准的情况下得到尽可能高的精度。我们的编码器的
非校准精度，也可称为“现货”精度，在磁铁对中时优于± 0.5°。该精度足以满足大多数情况的要求。
当然你仍然可以增加一些外部校准，校准参数存储在外部存储器或微控制器上，以进一步提高编码
器的精度。在这种情况下，精度从根本上受限于校准系统的精度。
可得到的最高精度受编码器转换噪声（=抖动）的限制。缺省情况下，AS5040的转换噪声（rms，1σ）
为0.12°，AS5043/45均为0.06°（快速模式）和0.03°（慢速模式）。在上述情况下，通过数字滤波（取
平均值）可进一步降低转换噪声。
现在，假设我们进行了完美的校准，我们的理论精度为±0°。
还有什么其它限制呢？
a) ：量化误差
这是由ADC有限的步长造成的。换句话说，由于编码器数字步长响应的限制，精度只能在± ½ LSB
以内。
对于10位AS5040/43，这对应± 0.175°
对于12位AS5045，这对应± 0.044°
即使进行了完美的校准，误差也不会比这个数值更低。
b) 转换噪声
每个ADC都有转换噪声，这是两个邻近读数间的抖动。
转换噪声的峰-峰值约为1LSB
AS5035/40为~0.35°p-p，而AS5043/45在慢速模式下为~0.08° p-p。
该值叠加在量化误差上。
可以通过限制带宽来降低转换噪声，即利用数字取平均方法降低有效采样率来实现。
Q10: 我可以得到优于0.1 度的精度吗？
如Q9：“可以得到的最佳精度是多少？”所述，12位的编码器（AS5045）通过较好的校准和最终的数字
取平均方法，可以得到~0.1°的精度。
然而，这个值未考虑
c) 温度
温度变化会引起额外的误差。我们可以在片内补偿磁铁的温度效应，这就是为什么我们不需
要存储任何磁铁温度系数（线性Hall传感器有该要求），但是芯片本身的温度也会影响精
度。
在整个温度范围内，AS5000系列均可实现卓越的性能，但与其它模拟电路一样，你绝不能完
全忽视它的影响。测试表明，在正常工作温度下影响极小。只有在极限温度下，尤其是在-
40°C左右，精度有可能出现~± 0.4°的变化，但是没有普遍规则表明对于所有工艺条件和产品
批次来说哪个温度是好的，哪个温度是不好的。
这在数据资料中也有所说明，在室温下精度（参数INL）为±0.5°。在全温范围内精度为
±0.9°，这包括了温度变化造成的±0.4°额外误差。
为消除这种额外误差，必须评估传感器的温度漂移。这可能是一项耗费时间的工作，而且实
际上只能在几个有限的温度下实施评估（如最低和最高工作温度，以及室温）。
Q11: 奥地利微电子可以校准芯片以实现最佳的精度吗？
这个问题的回答可以是肯定的，也可以是否定的。
否定的回答是因为，在没有磁铁的情况下校准芯片没有什么意义。校准只对完整的组件才有意义。
此时，给定磁铁在给定的温度下和给定（非）对准程度下与芯片作为一个整体进行校准。因此在芯
片级无法完成校准。
肯定的答案是因为，AS5000系列可以提供所谓的“1点校准”，即“零位编程”。一旦你完成了零位编程，
你就获得了非常精确和可重复的点；实际偏差在±1/2 LSB以内。同样，这也只能在组装的最后环节完
成。零位编程本身必须由用户完成，但是数据存储在芯片上。
这种做法很有用，因为有些应用中传感器可能是独立使用的，并没有控制器（例如，增量、PWM或
模拟输出应用）。
Q12: 数据资料中显示的误差曲线对于所有产品都是一样的吗？
磁旋转编解码器的绝对误差取决于几个因素，主要因素是芯片内部的正弦和余弦路径的振幅和偏移
匹配度。正弦和余弦信号路径间的相位误差对总误差也有影响，但由于采用了平行信号处理，AS5000
系列编码器可以忽略此影响。误差曲线包括一个基本（1f）函数和一个二次（2f）函数。该模式在每
次旋转时不断重复，但每个器件之间不一样。因此，数据资料显示的曲线（见注释）仅仅是误差曲
线的一个示例。每个器件之间的偏移及增益匹配都不相同，误差曲线也不相同。
Q13: 编码器的重复性是指什么？
重复性为± ½ LSB。10 位和12 位编码器均适用此指标。换句话说，AS5040 具有±0.17°的重复性，而
AS5045 具有±0.04°的重复性。
这不受磁铁安装位置和温度的影响。在特定的安装位置（对准或偏离）和特定的温度下，重复性为
±1/2 LSB。
这要求磁场强度处于规定的范围内。较弱的磁场会导致更多的噪声，因此重复性可能变差。
Q14: 重复性怎样随着温度改变？
重复性不会随温度改变，但是INL（或精度）会受温度影响。在-40°至+125°的温度范围内，INL 的变化
量可达±0.4°。这意味着如果你不移动磁铁而只是调节温度的话，角度指示会有±0.4°的变化。然而，
在特定温度下，INL 同样是可重复的，而且可以很好地利用校准进行补偿。

Q15: CSn 引脚可以永久地连接到VSS 吗？
这取决于你使用的输出形式：
若使用PWM输出或模拟输出，你可以将CSn永久连接到VSS；若使用增量输出，CSn必须连接到VSS
（至少一个短脉冲）；若使用串行输出，CSn被用于锁存新的测量数据，必须根据数据资料中的时序
图来相应设置。
Q16: 角度数据采样和CSn 是同步的吗？
不是。编码器芯片以10.42kHz（AS5040，AS5043/45在快速模式下）或2.61kHz（AS5043/45在慢速模式
下）的采样率持续测量磁铁的角度，并在每一次测量后更新内部寄存器。CSn的下降沿可将数据锁存
到串行移位寄存器内。这意味着CSn变低以后，你无需等待测量完成，可在500ns (tclkFE)后立即开始读
取数据。
Q17: 奥地利微电子可以提供预先编程的定制化编码器吗？
原则上每年用量大于100 万的话应该可行。定制的器件需要有独立的标记和器件编号，以避免与现有
的ASSP 产品相混。客户需要决定为文件、器件认证和库存等付出的额外费用是否值得。经验告诉我
们，在很多情况下，芯片编程需要组装完成（如零位编程）后进行，并且要求该步骤可以轻松集成
到常规产品测试中。强大的SDK（软件开发套件）有助于将编程操作快速简便地整合到客户的测试
软件中。
Q18: 编码器可承受的振动水平怎样？
振动不是问题。使用AS5000 系列磁旋转编码器IC 的最大好处之一是它们采用标准CMOS 工艺生产。
因此无需额外的后期处理，而且IC 封装内没有机械运动的元件。因此可以断定，它能够承受与其它
“普通”IC 同样的振动水平。
当产生巨大的振动时，这些应用最大的问题并不是旋转编码器IC 本身，而是其它可能造成问题的因
素。这些因素包括：
• 质量较大的元件，如带有中心连接器的电解电容或安装在转轴上的传感器磁铁。
• 没有正确安装的话，经历大幅度振动后，两者都有可能脱落。
编码器IC 封装（SSOP-16）的质量不大，并用很多引脚进行焊接，因此振动有可能造成脱开。
你同样也可以检查磁铁与IC 的对准度是否受到了振动的影响。建议将磁铁的中心对准在以IC 中心为
参考点半径为0.25mm 的区域内。
Q19: 怎样降低AS5040/43/45 的功耗？
该系列编码器的典型功耗为16mA。如果你的应用不需要连续读取编码器数据，则AS5040/43/45 可以
工作在间歇模式下。该操作过程如下：
• 为芯片提供电源（5.5V 或3.3V）。电流消耗将在16mA 左右。
• 等待芯片完成一次测量。你可以等待tpwrup（20/50/80ms；参见数据资料）结束，也可以查询串
行数据的OCF 状态位。当OCF 置为高时，角度数据有效。
• 断开芯片电源，电流消耗降为零。
• 等待预先规定的一段时间（取决于具体应用要求）
• 重复该循环
总的电流消耗将为：
on off
on
avg nom t t
I I t
+
= ∗
其中：
Iavg = 平均电流消耗
Inom = 电源接通状态的标称电流消耗（典型值16mA，最大值21mA）
ton = 传感器的工作时间（最小20 / 50 / 80 ms，取决于产品和模式）
toff = 传感器的断电时间（取决于具体应用要求）
磁铁相关问题
Q20: 推荐的磁铁水平偏离容差是多少？
推荐的磁铁位置是：旋转中心、磁铁中心和IC 中心在一条垂直线上。数据资料给出的规格参数（除
非另行说明）给出了一个距离IC 封装中心半径为0.25mm 的芯片水平偏离容限。这包括了硅片在塑料
封装内的放置偏离误差，最大为±0.235mm。因此，如果磁铁可以与硅片对中（例如使用对准模式或
安装一个裸片）时，偏离容差将更宽，即半径为0.485mm。
Q21: 如果不能将磁铁对准在推荐的容差内，会发生什么呢？
磁铁在 X 和Y 方向产生对中偏离时会影响精度（实际位置与指示位置相比较）。如果磁铁中心对准
IC 封装中心，则完全可以保证精度（±0.5 度）。该数据来自于芯片内部正弦和余弦通道的振幅、相位
和偏移的匹配程度，并考虑了塑料封装内硅片的布局容差。如果偏离程度超出此范围，芯片仍可正
常工作，但精度会下降。在实际情况下，±0.25mm 的偏离半径和整个温度范围内最大的INL 为±1.4°。
考虑到整个-40°至+125°C 温度范围有±0.4°的漂移，室温下半径为±0.25mm 的偏离范围内精度将为
±1.0°。
Q22: 我可以将编码器IC 安装在环形磁铁的周围吗？
遗憾的是，AS50xx 旋转编码器不能离轴安装。转轴的中心必须在IC 中心的上方，如产品演示文档和
数据资料所示。
这是因为编码器是一个使用垂直方向磁场的绝对测量系统，并且芯片必须可以“看到”整个磁铁，以确
定精确的绝对位置。
Q23: 怎样才能扩展磁铁的垂直间距？
0.5 至1.8mm 的垂直间距是采用参考磁铁（NdFeB N35H, d=6mm h=2.5mm）时的间距范围。此间距指明
了磁铁处于45 至75mT “绿色”范围的界限。
你可以通过使用更强或更弱的磁铁来改变该范围。实际上，长达~5mm 的垂直间距也可以得到“绿色”
磁场范围。
Q24: 如果在“绿色”范围之外使用传感器会有什么后果？
芯片可继续工作，即使磁场已经超出范围。然而，由于弱磁场下噪声更高，抖动将会增加（＝磁铁
静止位置的最小／最大读数）。对绝对测量来说，可以通过取几个后续读数的平均值来降低这种抖
动。数字串行输出和PWM 输出将始终工作，不受磁场强度影响。但AS5043 在“红色”磁场范围时会关
闭模拟输出。通过OTP 编程可禁止该安全功能（参见AS5043 数据资料）。
Q25: 哪些类型的磁铁可以和AS5035/40/43/45 配合使用？
你需要一个径向磁化的（俯视：左侧-右侧）双极磁铁，而且其转轴需对准ＩＣ中心。不可使用极性
分布在顶部和底部的磁铁或者多极环形磁铁。我们推荐使用稀土磁铁，如钕铁硼 (NdFeB)或钐钴
(SmCo)磁铁。
Q26: 在旋转轴内安装磁铁的时候需要注意什么？
在轴内安装磁铁的方法取决于轴的制作材料。如果是非磁性材料，那么磁铁可以直接插在轴内。通
常情况下，这可以通过将磁铁按入轴内一个紧密、同心的孔内实现。
因为磁铁旋转角度通常不需要调整（这可以通过软件零位编程实现），所以圆柱形磁铁更加容易处
理。有时也可使用一些粘合剂，但仅用于孔与磁铁严密配合的情况下。
如果是磁性轴（如铁轴），轴的铁磁材料将使插入的磁铁的磁场线形成“短路”。这会减弱磁铁并要求
磁铁必须更加靠近IC。在这种情况下，更好的方法是磁铁不要直接插在轴中，而是使用非磁性材料
（如塑料、铜等）将其与磁性轴隔开。
换句话说，将非磁性隔离物插到磁性轴内，并将磁铁插入隔离物内。该隔离物必须足够厚，以使磁
铁和磁性轴隔离。大于3mm 的隔离距离就足够了。隔离距离越大，磁性轴的影响就越小。
另一个考虑是环境温度范围。由于磁性轴会随温度变化而膨胀或收缩，用户必须确保磁铁的位置足
够稳定。
Q27: 为什么在移除磁铁的时候不能触发COF 和LIN 报警？
对 AS5040 来说，COF 和LIN 报警只有在磁场太强的时候才会触发。磁场太弱时这些位不会置位。
AS5045 可以通过编程使LIN 位在磁场过强或过弱的时候都可以置位。AS5043 在缺省情况下使能LIN 报
警功能，无论磁场过强还是过弱。只有当超强的外部磁场引起太强的磁场时，COF 报警才会置位。使
用AMS 参考磁铁在正常工作情况下不会触发这种报警。
Q28: 为什么即使移除磁铁时我仍可以得到随机的角度数据？
当磁场不存在时，Hall 传感器仅会拾取噪声。在这种情况下编码器会显示随机信息。然而，MagInc-
MagDec 状态位会清楚地指明超范围状态。
这种情况下，有意不禁用数字输出，因为有些用户会在较弱磁场环境下使用编码器，有时会使用额
外的外部数字滤波（取平均值），在这种极端条件下使用传感器IC 仍可得到可以接受的结果。
Q29: 在什么磁场范围可以得到MagInc/-Dec、LIN 和COF 报警信号？
如果磁场介于45 至75mT，则不会设置报警位。这属于“绿色”范围，AS5035/40/43/45 应该工作在该范围
内。采用推荐的磁铁（NdFeB ∅6mm x 2.5mm N-35H）时，该磁场范围对应于芯片表面与磁铁表面之间
大约0.5 至 1.8mm 的气隙。
如果磁场低于45mT 或高于75mT，状态位MagInc 和MagDec 均被置位。MagInc+MagDec 报警位置位而
LIN 报警位没有置位时，对应的磁场范围称作“黄色”范围。在黄色范围内，AS5040 仍可工作，且有很
好的性能表现。
LIN（线性）—大于135mT 时所有编码器都将触发此报警信号。此外，当磁场太微弱时，AS5043/45 也
将设置LIN 报警（当磁铁和IC 之间气隙大于~2.8mm 时）。MagInc+MagDec 位和LIN 报警位均被置位时
对应的磁场范围称为“红色”范围。在红色范围内，尽管芯片仍然可以使用，但可能产生更大的线性误
差。
COF（Cordic 溢出）在磁场大于~165mT 时被置位。一旦COF 报警置位，角度数据就不再有效。COF 位
在正常工作时不会置位，仅当磁场强度比正常范围大很多时才可以置位。
你可以通过将磁铁调整至推荐的气隙范围，或者可能的话移除所有外部磁场，来解除这些报警。

参考资料：